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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析
蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析
在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + 机械结构” 的协同，以泓川 LTP 系列为例，构造可拆解为四部分：（1）光学模块：精准控光的 “核心”光源：定制 405nm 蓝色激光二极管（功率可定制，如 LTP025 蓝光版 Max 4.9mW），输出稳定单色光，避免多波长干扰；物镜系统：分 “聚焦型” 和 “宽光斑型”—— 聚焦型（如 LTPD08）用高精度透镜组形成 Φ20-35μm 小光斑，测细小组件；宽光斑型（如 LTP030W）用圆...
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更新日期： 2025 - 10 - 21
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜厚度测量，广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点：极薄检测能力：最小测量厚度低至 20nm，20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景；超高准确度：±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度，精准捕捉极细微厚度变化，严控工艺偏差；在线适配：最高 100Hz 采样速度，可融入生产线实现快速在线检测，不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器：复杂环境测...
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更新日期： 2025 - 09 - 05
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泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题？
泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题？
在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中，一个棘手的矛盾始终存在：一方面，设备内部空间日益紧凑，毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”；另一方面，随着产品结构复杂化，对测量量程的需求不断提升，5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量？无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜，以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”，既节省安装空间，又兼容大量程需求，重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点：空间与量程难以两全在精密测量领域，侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号，凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计，其量程多集中在 2.5mm 以内（如 LTCR4000 量程为 ±2mm），难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择传统端面出光的大量程传感器（如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm），虽能覆盖测量需求，却因轴向出光设计需预留足够安装高度，在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程，似乎成了不可调和的矛盾。光学转折镜：让大量程探头 “直角转身”，释放空间潜力泓川科技创新研发的光学转折镜...
发布时间: 2025 - 08 - 12
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By Aleksandar Nikcevic
泓川科技 LTP 系列激光位移传感器全国产化制造流程细节全披露
泓川科技 LTP 系列激光位移传感器全国产化制造流程细节全披露
一、国产化背景与战略意义在全球供应链竞争加剧的背景下，激光位移传感器作为工业自动化核心测量部件，其国产化生产对打破技术垄断、保障产业链安全具有重要战略意义。泓川科技 LTP 系列依托国内完整的光学、电子、机械产业链体系，实现了从核心零部件到整机制造的全流程国产化，彻底解决了接口卡脖子问题，产品精度与稳定性达到国际先进水平，同时具备更强的成本竞争力与定制化服务能力。二、核心部件全国产化组成体系（一）光学系统组件激光发射单元激光二极管：采用深圳镭尔特光电 655nm 红光 PLD650 系列（功率 0.5-4.9mW）及埃赛力达 905nm 红外三腔脉冲激光二极管，支持准直快轴压缩技术，波长稳定性 ±0.1nm，满足工业级高稳定性需求。准直透镜：选用杭州秋籁科技 KEWLAB CL-UV 系列，表面粗糙度 光学滤光片：深圳激埃特光电定制窄带滤光片，红外截止率 99.9%，有效消除环境光干扰。激光接收单元光电探测器：上海欧光电子代理 OTRON 品牌 PSD 位置敏感探测器，分辨率达 0.03μm（如 LTPD08 型号），北京中教金源量子点探测器正在实现自主替代。聚焦透镜组：福州合创光电高精度分光棱镜，偏振消光比 1000:1，配合广州明毅电子阳极氧化支架，确保光路同轴度≤5μm。（二）电子电路组件信号处理模块微处理器：龙芯中科 3A5000 工业级芯片，支持 - 40℃...
发布时间: 2025 - 06 - 22
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By Aleksandar Nikcevic
有没有量程1米，测量精度误差1mm的国产激光位移传感器，频率5Khz以上？
有没有量程1米，测量精度误差1mm的国产激光位移传感器，频率5Khz以上？
有！LTM 系列三款国产激光位移传感器满足需求在工业检测领域，量程 1 米、精度误差 1mm、频率 5KHz 以上的激光位移传感器是高端测量的刚需，而国产传感器常因精度或频率不足被进口品牌垄断。无锡泓川科技的 LTM2-800W、LTM3-800W、LTM5-800W 三款产品，不仅全面覆盖上述指标，更以进口品牌一半的成本优势，成为国产替代的优选方案。以下从性能参数、优劣分析、场景适配及成本对比展开详细介绍。一、核心性能参数对比型号LTM2-800WLTM3-800WLTM5-800W参考距离800mm800mm800mm测量范围±500mm（总量程 1000mm）±500mm（总量程 1000mm）±500mm（总量程 1000mm）光斑尺寸450×6000μm450×6000μm450×6000μm重复精度45μm45μm45μm线性误差采样频率5KHz10KHz31.25KHz工业接口485 串口 / 模拟信号（二选一）以太网 / 485 串口 / 模拟信号以太网 / 485 串口 / 模拟信号光源660nm，Max.50mW660nm，Max.50mW660nm，Max.50mW防护等级IP67IP67IP67工作温度0~+50℃0~+50℃0~+50℃功耗约 2.0W约 2.0W约 2.0W二、产品优势分析（一）...
发布时间: 2025 - 06 - 19
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By Aleksandar Nikcevic
泓川科技HC26激光位移传感器：高性价国产比替代奥泰斯CD33的优选方案
泓川科技HC26激光位移传感器：高性价国产比替代奥泰斯CD33的优选方案
在工业精密测量领域，无锡泓川科技的HC26系列激光位移传感器凭借出色的性能参数与显著的成本优势，成为替代奥泰斯CD33系列的高竞争力选择。以下从核心性能、特殊应用适配性及成本三方面进行对比分析：一、核心性能参数对标（HC26 vs CD33）参数泓川HC26系列奥泰斯CD33 (行业标准)HC26优势重复精度2μm (30mm款) → 50μm (195mm款)通常1~3μm (高端款)接近主流精度线性度±0.1%F.S.±0.05%~0.1%F.S.达到同级水平响应时间最快333μs (多档可调)通常500μs~1ms速度更快输出接口RS485(Modbus RTU)+模拟量(4-20mA/0-10V)类似接口组合同等兼容性防护等级IP67 (防尘防水)IP67/IP65同等工业防护温度特性0.05%F.S/℃0.03~0.05%F.S/℃稳定性接近注：HC26提供4种基准距离型号（30/50/85/195mm），覆盖小量程高精度（±4mm@30mm）至大量程（±99.98mm@195mm）场景，满足CD33主流应用范围。二、核心替代优势：全系支持正反射安装HC26系列所有型号均内置正反射光路设计，解决CD33在特殊材质检测中的痛点：镜面材料：通过正反射接收强光信号，避免漫反射信号微弱导致的测量失效。透明材质（如玻璃、薄...
发布时间: 2025 - 06 - 09
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By Aleksandar Nikcevic
Hot News / 热点新闻
蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析
蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析
2025 - 10 - 21
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在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655n...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
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  • 9
    汽车发动机缸孔内壁瑕疵检测报告--激光光纤内孔内管孔壁测量仪
    汽车发动机缸孔内壁瑕疵检测报告--激光光纤内孔内管孔壁测量仪
    2024 - 11 - 24
    样品检查报告书添加图片注释，不超过 140 字（可选）□ 全部可检出 □ 全部可检出（存在过度判定） ■ 部分可检出（6个孔中有2个可检出） □ 不可检出 □ 需要追加检查检查结果】由于未收到客户对于本次检查对象孔洞的判定结果，我们已通过⽬视确认将可⻅的划痕作为缺陷进⾏了检测。在6个被检孔洞中，有2个孔洞通过⽬视检测到了可⻅的划痕。剩余的4个孔洞，⽆论是通过⽬视还是数据分析，均未发现划痕或其他缺陷，因此未检出。（请参考第5⻚及之后的成像数据）【制造商意⻅】请客户也确认本次检测出的缺陷部位是否符合缺陷规格，即这些是否确实为应检出的缺陷。另外，在检测出缺陷的第②和第⑤个⼯作件中，还存在对⾮缺陷部位的误检。如果是在清洗前的状态下进⾏检查，由于污垢的附着，可能会导致难以捕捉到真正的缺陷部位，或者像本次⼀样，将污垢误判为缺陷。因此，如果考虑引⼊系统进⾏检测，请考虑将其安排在清洗后的⼯序中进⾏。此外，关于④A和④B两个孔洞，由于本次提供了切割⼯作件作为样本，因此能够进⾏拍摄。但在正规产品中，可能会因为探头⽀架等部件的接触⽽⽆法进⾏全⻓度的检查。考虑到实际的检查环境，我们认为有必要评估在产品状态下进⾏检查的可⾏性。（详情请参阅第3⻚）【后续推进⽅案】基于本次结果，如果您考虑引⼊内孔瑕疵检测系统，我们⾸先建议在图纸上评估④A和④B部位在产品状态下是否可以进⾏检查，并随后进⾏n次追加验证（有偿）。在...
  • 10
    泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题？
    泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题？
    2025 - 08 - 12
    在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中，一个棘手的矛盾始终存在：一方面，设备内部空间日益紧凑，毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”；另一方面，随着产品结构复杂化，对测量量程的需求不断提升，5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量？无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜，以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”，既节省安装空间，又兼容大量程需求，重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点：空间与量程难以两全在精密测量领域，侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号，凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计，其量程多集中在 2.5mm 以内（如 LTCR4000 量程为 ±2mm），难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择传统端面出光的大量程传感器（如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm），虽能覆盖测量需求，却因轴向出光设计需预留足够安装高度，在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程，似乎成了不可调和的矛盾。光学转折镜：让大量程探头 “直角转身”，释放空间潜力泓川科技创新研发的光学转折镜...
  • 11
    有没有做的比较好的国产高精度高速激光位移传感器？
    有没有做的比较好的国产高精度高速激光位移传感器？
    2023 - 09 - 30
    国产LTP系列激光位移传感器具备一系列突出的特点，如光量自适应算法、高速高灵敏度的测量性能、高精度长距离非接触测量、高可靠性一体化传感器结构等。然而，在面对进口品牌如松下、基恩士、欧姆龙、米铱和奥泰斯等的竞争时，国产激光位移传感器仍面临着挑战。主体：国产LTP系列激光位移传感器的突出特点：1. 光量自适应算法：通过动态调整激光功率、曝光时间等参数，实现1000000:1的光量动态调整范围，适应不同被测表面的测量，包括胶水、PCB、碟片、陶瓷和金属等多种材料。2. 高速高灵敏度测量性能：借助像素宽度和数量提升的CMOS及高速驱动与低噪声信号读取技术，国产LTP系列激光位移传感器能够实现最高160kHz的测量速度和亚微米级的测量精度，满足压电陶瓷等物体的极端测量需求。3. 高精度长距离非接触测量：专门设计开发的高分辨物镜可最小化被测物体表面光斑变化对测量结果的影响，并降低光学畸变。可根据需要选择测量工作距离在30-2250mm之间，满足了高温、窗口限制等远距离测量的场景需求。4. 高可靠性一体化传感器结构：国产LTP系列激光位移传感器经过高低温、振动、冲击等测试，能够适应大多数工业应用场景。此外，常用的工业接口（如以太网、485、模拟量输出等）可直接从探头接出，便于集成。国产激光位移传感器面临的挑战：1. 进口品牌把持高端市场：目前国内高端的激光位移传感器几乎都被进口品牌如松下、基恩士...
  • 12
    激光测振技术：旋转机械检测的核心手段
    激光测振技术：旋转机械检测的核心手段
    2024 - 12 - 22
    在旋转机械的运行过程中，振动情况直接关乎其性能与安全。激光测振动传感器凭借其独特优势，成为该领域不可或缺的检测利器。它采用非接触式测量，有效避免了对旋转机械的物理干扰，确保测量的精准性。其高精度的特性，能够捕捉到极其微小的振动变化，为故障诊断提供可靠依据。广泛的应用范围涵盖了电机、风机、轴承等各类旋转机械，在能源、化工、机械制造等众多行业都发挥着关键作用。通过实时监测振动数据，可及时发现潜在问题，预防设备故障，保障生产的连续性与稳定性，大大降低维修成本与停机风险。工作原理：激光与振动的深度互动激光测振动传感器基于激光多普勒效应工作。当激光照射到旋转机械的振动表面时，由于物体表面的振动，反射光的频率会发生多普勒频移。设激光源发射的激光频率为，物体表面振动速度为，激光波长为，则多普勒频移可由公式计算得出。通过精确测量多普勒频移，就能得到物体表面的振动速度，进而获取振动信息。与传统测量原理相比，激光多普勒测振具有显著优势。传统的接触式测量方法，如压电式传感器，需要与被测物体直接接触，这不仅会对旋转机械的运行产生一定干扰，还可能因安装问题影响测量精度，而且在高速旋转或微小振动测量时，接触式传感器的响应速度和精度受限。而激光测振传感器采用非接触式测量，避免了对旋转机械的物理干扰，可实现高精度、宽频带的测量，适用于各种复杂工况下的旋转机械振动测量。实验设置：精准测量的基石（一）微型激光多普勒测...
  • 13
    光谱共焦传感器在IC芯片测量领域的应用剖析（下）
    光谱共焦传感器在IC芯片测量领域的应用剖析（下）
    2025 - 01 - 20
    五、应用优势深度解析5.1 提升测量精度与效率光谱共焦传感器在 IC 芯片测量中，能够实现快速、高精度的测量，这一特性极大地提升了生产效率。其工作原理基于独特的光学共焦成像和光谱解析技术，使其能够精准地捕捉到芯片表面的细微特征和尺寸变化。在测量芯片关键尺寸时，如线宽和间距，光谱共焦传感器可以达到亚微米级甚至更高的精度，能够精确测量出极其微小的尺寸偏差，为芯片制造工艺的精细控制提供了有力保障。同时，该传感器具备快速的数据采集和处理能力。在实际生产线上，它可以在短时间内对大量芯片进行测量，大大减少了检测时间。与传统测量方法相比，光谱共焦传感器能够实现自动化、连续测量，无需人工频繁干预，有效提高了生产效率，满足了大规模生产对测量速度和精度的双重要求。 5.2 降低成本与风险采用光谱共焦传感器进行 IC 芯片测量，有助于显著降低生产成本与风险。一方面，高精度的测量能够有效减少因尺寸偏差或其他质量问题导致的废品率。在芯片制造过程中，废品的产生不仅意味着原材料的浪费，还会增加后续的返工成本和时间成本。光谱共焦传感器通过精确检测，能够及时发现芯片制造过程中的问题，帮助制造商在早期阶段采取纠正措施，避免生产出大量不合格产品，从而降低了废品率，节约了生产成本。另一方面，通过对芯片制造过程的实时监测和反馈，光谱共焦传感器能够帮助制造商优化生产工艺，提高生产效率，减少不必要的资源浪费。例如，在...
  • 14
    蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析
    蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析
    2025 - 10 - 21
    在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
  • 15
    相位法激光测距传感器原理简述
    相位法激光测距传感器原理简述
    2023 - 02 - 20
    相位法激光测距传感器是一种用于测量距离的传感器，它使用衰减激光来测量距离。激光在一个激光发射器中发出，并由一个接收器接收。激光发射持续一段时间，称为测量时间，根据接收信号的强度和相位推导出一般的相对距离和数据。       激光距离传感器的原理有点像各种闪烁的表盘表，只是发射的激光光源更小而且激光传播时间更短，所以更快。传感器通过测量当激光发出后多久接收到信号来测量物体之间的相对位置，也就是距离。由于抛物线和容积衰减，激光越远越弱，为了准确测量距离，必须使用准确的激光，并且随着距离的增加接收性能衰减越多，因此必须调整传感器的接收阈值，以确保可以正确测量所需的距离。       当激光被发射出去时，传感器会记录发射的时间，当激光被接收时，传感器记录激光接收的时间。然后，将发射时间和接收时间相减，就可以得到大约的信号传播时间，就可以用它来测量形成到目标物体的距离。       然而，如果电路中的任何一部分停顿，传感器就不能正确测量距离，可能会产生一些不准确的测量。因此，为了防止这种情况的发生，许多传感器使用了自适应滤波器，可以有效地滤除由尘埃、碰撞或干扰引起的杂散信号，从而确保测量准确。       相位法激光测距传感器具有较低...
  • 16
    泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章
    泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章
    2024 - 12 - 01
    标题：泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章在科技日新月异的今天，每一个微小的进步都可能成为推动行业变革的巨大力量。然而，在高端激光位移传感器领域，长期以来，我国一直面临着国外技术的严密封锁与市场垄断。西克SICK、米铱、基恩士、奥泰斯等国际品牌如同难以逾越的高山，让国内企业在这一关键领域步履维艰。但在这片看似无望的疆域中，泓川科技有限公司却以一腔热血和不懈追求，书写了一段打破垄断、实现全国产化替代的传奇故事。破冰之始：挑战与决心面对国际巨头的强势地位，泓川科技没有选择退缩，而是迎难而上。他们深知，要在这片被外资品牌牢牢掌控的市场中开辟新天地，就必须拿出过硬的产品和技术。于是，LTP系列高精度激光位移传感器的研发项目应运而生，这不仅是泓川科技对技术创新的执着追求，更是对国家科技自立自强战略的积极响应。技术攻坚：细节决定成败在LTP系列的研发过程中，泓川科技团队对每一个部件、每一个环节都进行了极致的打磨和优化。从激光器的选择到激光检测器的设计，从测量电路的构建到光学元件的精密调校，每一步都凝聚着科研人员的智慧和汗水。激光器：为了确保激光束的高方向性和集中度，泓川科技与国内顶尖的光电子企业合作，共同研发出适用于LTP系列的定制化激光器，其性能指标直追国际先进水平。激光检测器与测量电路：通过引进先进的信号处理技术和算法，泓川科技大幅提升了检测器的灵敏度和测量电...
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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户： 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...
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