在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中，一个棘手的矛盾始终存在：一方面，设备内部空间日益紧凑，毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”；另一方面，随着产品结构复杂化，对测量量程的需求不断提升，5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量？无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜，以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”，既节省安装空间，又兼容大量程需求，重新定义精密测量的空间可能性。
在精密测量领域，侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号，凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计，其量程多集中在 2.5mm 以内（如 LTCR4000 量程为 ±2mm），难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。
若选择传统端面出光的大量程传感器（如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm），虽能覆盖测量需求，却因轴向出光设计需预留足够安装高度，在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程，似乎成了不可调和的矛盾。
泓川科技创新研发的光学转折镜，为这一矛盾提供了完美解法。通过精密光学设计，它可将光谱共焦传感器的端面出光无损转为 90° 直角侧面出光，实现三大核心突破：
空间节省最大化：无需为轴向出光预留高度空间，探头可沿水平方向安装，在半导体设备、精密仪器的狭小腔体内灵活部署，安装高度较传统方案降低 60% 以上。
大量程优势无损延续：兼容泓川全系列大量程传感器，从 ±5mm 到 ±25mm 的测量需求均可满足，无论是晶圆厚度、大型模具磨损量还是曲面轮廓扫描，都能保持亚微米级测量精度（如 LTC10000 线性误差 <±2μm）。
抗干扰与稳定性不减：光学转折镜采用高透光率材料与精密镀膜工艺，确保光信号传输损耗低于 3%，配合传感器本身的抗干扰设计，即使在多光环境、金属反光场景中，仍能保持 0.012μm 的重复精度。
这一创新设计，与国际知名品牌基恩士的同类方案异曲同工，却更贴合国内制造业的实际需求。无论是半导体晶圆的位置与厚度检测、新能源电池极片的高度差测量，还是大型模具的曲面轮廓扫描，泓川光学转折镜都能让大量程传感器在狭小空间内 “游刃有余”，既避免了传统侧出光传感器的量程局限，又突破了轴向出光的空间束缚。
作为专注于光学测量与检测的民族企业，泓川科技始终以技术创新破解行业痛点。光学转折镜的推出，不仅是空间与量程的双重突破，更彰显了中国精密测量技术向国际一流水准的迈进。
当空间不再是限制，量程不再是妥协，精密测量的未来，正在泓川科技的创新中展开新篇。