服务热线: 0510-88155119
13301510675@163.com
Language

激光测量技术在(ADAS)驾驶辅助系统的应用案例(一)

日期: 2025-01-16
浏览次数: 114
发表于:
来自 泓川科技
发表于: 2025-01-16
浏览次数: 114

一、引言

1.1 研究背景与目的

在汽车行业迈向智能化与自动化的进程中,先进驾驶辅助系统(ADAS)作为关键技术,正发挥着愈发重要的作用。ADAS 凭借多种传感器与智能算法,能够实时监测车辆周边环境,为驾驶员提供预警与辅助控制,极大地提升了驾驶的安全性与舒适性。

本报告旨在深入剖析《ADAS 相关工具 核心功能 & 技术》中所涉及的 ADAS 相关工具应用案例,通过详细描述各案例的具体应用场景、工作原理及达成的效果,深度挖掘这些工具在汽车制造及 ADAS 系统开发过程中的重要价值,为行业内相关人员提供具有实际参考意义的信息,助力推动 ADAS 技术的进一步发展与广泛应用。

 

1.2 研究方法与数据来源

本报告通过对《ADAS 相关工具 核心功能 & 技术》进行全面细致的整理与深入分析,从中系统地提取出各类 ADAS 相关工具的应用案例。在分析过程中,对每个案例的技术原理、应用场景以及所实现的功能进行了详细阐述,并结合实际情况进行了深入探讨。

本文所引用的 ADAS 相关工具的应用案例及技术原理均来自《ADAS 相关工具 核心功能 & 技术》文档,该文档为此次研究提供了丰富且详实的一手资料,确保了研究的准确性与可靠性。

 

二、车载相机应用案例剖析

2.1 底部填充胶涂抹高度测量

2.1.1 案例描述

在汽车电子制造中,车载相机的底部填充胶涂抹高度对于确保相机的稳定性与可靠性至关重要。通过车载相机进行底部填充胶涂抹高度的测量,具体场景为在生产线上,相机对正在进行底部填充胶涂抹的车载相机模块进行拍摄。相机利用其搭载的特定成像技术,获取底部填充胶的图像信息,随后系统对这些图像进行分析处理,从而精确得出填充胶的涂抹高度数值 。

 激光测量技术在(ADAS)驾驶辅助系统的应用案例(一)

2.1.2 技术优势分析

相较于传统的图像处理方式,该案例采用包含高度数据的 3D 图像进行检测,具有显著优势。传统图像处理主要基于 2D 平面图像进行分析,难以获取物体的高度信息,对于底部填充胶涂抹高度的测量精度有限。而 3D 图像检测技术能够全方位、立体地呈现底部填充胶的形态,不仅可以获取平面信息,还能精确测量其高度。这使得检测结果更加准确、全面,能够有效避免因测量误差导致的产品质量问题,大大提升了检测的品质,为后续车载相机的组装及性能稳定性提供了有力保障 。

 

2.2 镜片高度及相关缝隙测量

2.2.1 镜片模块内镜片间高度测量

在车载相机的镜片模块生产过程中,精确测量镜片间的高度是确保相机成像质量的关键环节。利用 CL 系列相机,采用可完成同轴测量的彩色共焦方式进行镜片间高度的测量。具体操作时,相机发射特定波长的光,光线照射到镜片上后,根据反射光的特性,通过彩色共焦原理,精确计算出不同镜片之间的高度差值。即使在目标物高度发生变化时,由于该测量方式的光点直径不会随着测量高度改变,测量点也不会出现错位,从而保证了在整个测量范围内都能进行高精度的测量,有效满足了镜片模块对镜片间高度精度的严格要求 。

激光测量技术在(ADAS)驾驶辅助系统的应用案例(一)

 

2.2.2 盖板玻璃与 CMOS 缝隙测量

盖板玻璃与 CMOS 之间的缝隙大小对车载相机的性能有着重要影响,若缝隙过大或过小,都可能导致相机出现进光不均匀、水汽侵入等问题,进而影响成像质量。在这一测量案例中,同样运用 CL 系列相机的同轴测量技术。当相机对盖板玻璃与 CMOS 之间的缝隙进行测量时,即使目标物(如盖板玻璃)具有透明或镜面特性且发生倾斜,该系列相机也能凭借其独特的测量原理,准确检测到缝隙的大小。通过精确测量缝隙,能够及时发现生产过程中的装配问题,确保车载相机的密封性和光学性能,提高产品的整体质量和可靠性 。

激光测量技术在(ADAS)驾驶辅助系统的应用案例(一)

 

2.3 CMOS 倾斜检测及相机模块行程检测

2.3.1 CMOS 倾斜检测

CMOS 作为车载相机的核心感光元件,其倾斜状态直接影响相机的成像效果。在检测 CMOS 倾斜时,CL 系列相机发挥了关键作用。该系列相机采用同轴测量方式,通过发射特定光束照射到 CMOS 上,根据反射光的角度和位置信息,精确计算出 CMOS 的倾斜角度。即使面对透明或镜面的 CMOS 目标物发生倾斜的复杂情况,相机也能稳定、准确地进行检测。这种精确的检测方式能够及时发现 CMOS 的倾斜问题,以便在生产过程中进行调整和修正,确保相机能够正常工作,获取高质量的图像 。

激光测量技术在(ADAS)驾驶辅助系统的应用案例(一)

 

2.3.2 相机模块行程检测

在车载相机模块的装配过程中,相机模块的行程是否符合标准,对于相机的聚焦、变焦等功能的实现至关重要。采用彩色共焦方式的 CL 系列相机,能够对相机模块的行程进行精确检测。由于该系列相机的光点直径在整个测量范围内不会随着测量高度的变化而改变,这使得在测量相机模块行程时,能够在不同位置都保持高精度的测量。通过对相机模块行程的准确检测,可以有效监控装配过程,确保相机模块的各项功能能够正常运行,提高车载相机的整体性能和稳定性 。

 激光测量技术在(ADAS)驾驶辅助系统的应用案例(一)

三、2D/3D 线激光测量仪应用全景

3.1 粘合剂体积与涂抹相关测量

3.1.1 安装盖板玻璃前粘合剂体积测量

在电子设备制造领域,安装盖板玻璃是一项关键工序,而粘合剂的涂抹量对于确保盖板玻璃与设备主体之间的稳固连接以及良好的密封性起着决定性作用。在这一应用案例中,2D/3D 线激光测量仪被应用于安装盖板玻璃前的粘合剂体积测量场景。

在实际操作过程中,测量仪利用其先进的线激光技术,对即将用于粘贴盖板玻璃的粘合剂进行扫描。通过发射特定频率和强度的激光束,测量仪能够精准地捕捉粘合剂的轮廓信息。这些激光束与粘合剂表面相互作用,反射回来的光线被测量仪的高灵敏度传感器所接收。测量仪搭载的高性能算法会对这些反射光线的数据进行快速且精确的分析处理,从而将粘合剂的三维形状清晰地还原出来。基于这一精确还原的三维形状,测量仪能够高度准确地计算出粘合剂的体积数值。

这一测量过程对于产品质量控制具有不可忽视的重要作用。如果粘合剂体积过多,在安装盖板玻璃时,多余的粘合剂可能会溢出,不仅影响产品的外观整洁度,还可能会污染设备内部的其他精密部件,进而对设备的正常运行产生潜在威胁。相反,若粘合剂体积过少,盖板玻璃与设备主体之间的连接就无法得到充分的保障,可能会导致密封性不佳,使得设备在后续使用过程中容易受到灰尘、水汽等外界因素的侵蚀,极大地降低了产品的可靠性和使用寿命。通过使用 2D/3D 线激光测量仪对粘合剂体积进行精确测量,生产企业能够严格把控粘合剂的使用量,确保每一个产品在组装过程中都能达到最佳的粘贴效果和密封性能,从而有效提升产品的整体质量,降低次品率,提高生产效率和经济效益 。


 

3.1.2 印刷电路板上粘合剂涂抹体积检测

在电子制造行业中,印刷电路板作为电子设备的核心部件,其质量直接关系到整个设备的性能和可靠性。而印刷电路板上粘合剂的涂抹情况对于电路板上电子元件的固定以及电路的稳定性起着至关重要的作用。因此,准确检测印刷电路板上粘合剂的涂抹体积具有极其重要的意义。

2D/3D 线激光测量仪在这一检测任务中发挥了关键作用。该测量仪配备了大范围动态量程的超高灵敏度 CMOS 传感器,这一先进的传感器使得测量仪能够对各种复杂的目标物进行稳定且精准的检测。在对印刷电路板上的粘合剂进行检测时,测量仪通过发射线激光对电路板表面进行全面扫描。激光束在遇到粘合剂表面时会发生反射,反射光被 CMOS 传感器高效接收。由于传感器具有超高灵敏度,能够捕捉到极其微弱的反射光信号,从而获取到粘合剂表面的详细信息。

测量仪所搭载的大范围动态量程技术,则使得其能够适应不同大小和形状的粘合剂涂抹区域。无论是大面积的粘合剂涂抹,还是细微处的粘合剂点涂,测量仪都能够准确地进行测量。通过对反射光数据的深入分析和处理,测量仪能够精确计算出粘合剂的涂抹体积。

这一测量技术在电子制造中具有多方面的重要性。精确的粘合剂涂抹体积检测有助于确保电子元件在印刷电路板上的牢固固定。只有当粘合剂的涂抹量恰到好处时,电子元件才能在各种复杂的工作环境下保持稳定,不会因振动、温度变化等因素而发生位移或脱落,从而保证了电路连接的稳定性和可靠性。准确的粘合剂涂抹体积检测还能够避免因粘合剂过多或过少而引发的一系列问题。过多的粘合剂可能会导致不同电子元件之间发生短路,严重影响电路的正常工作;而过少的粘合剂则无法为电子元件提供足够的支撑和固定力,降低了产品的质量和耐用性。2D/3D 线激光测量仪的应用,为电子制造企业提供了一种高效、精准的粘合剂涂抹体积检测手段,有力地保障了印刷电路板的生产质量,推动了电子制造行业的高质量发展 。

 

3.2 部件高度与位置多元测量

3.2.1 印刷电路板上封装部件高度检测

在印刷电路板的生产流程中,封装部件的高度精确与否直接关系到电路板的整体性能以及后续与其他组件的装配兼容性。2D/3D 线激光测量仪在印刷电路板上封装部件高度检测方面展现出了卓越的性能。

当对印刷电路板上的封装部件进行高度检测时,测量仪首先发射出线激光束,这些激光束以特定的角度和间距照射到封装部件的表面。由于封装部件的表面具有不同的高度特征,激光束在反射过程中会产生不同的反射路径和时间延迟。测量仪的探测器能够精确捕捉到这些反射光的变化信息。

通过对反射光的详细分析,测量仪可以构建出封装部件表面的三维轮廓图像。在这个过程中,测量仪利用其先进的算法,根据激光束的发射角度、反射时间以及探测器的位置信息,精确计算出封装部件各个点的高度数值。将这些高度数值进行整合和分析,就能够准确得出封装部件的整体高度以及与标准高度的偏差情况。

这一检测过程对电路板生产具有关键作用。如果封装部件的高度不符合设计要求,可能会导致在电路板组装过程中与其他部件发生干涉,使得组装无法顺利进行,严重影响生产效率。封装部件高度的偏差还可能会影响到电路的电气性能,例如导致信号传输不稳定、接触不良等问题,进而降低整个电路板的可靠性和稳定性。通过使用 2D/3D 线激光测量仪对封装部件高度进行严格检测,生产厂家能够及时发现并纠正高度偏差问题,确保每一块印刷电路板都符合高质量的生产标准,为电子产品的稳定运行提供坚实保障 。


 

3.2.2 安装外壳时倾斜检测

在设备制造过程中,安装外壳是一个重要环节,而确保模块在安装外壳时的倾斜度符合要求,对于保证设备的正常运行和整体性能至关重要。2D/3D 线激光测量仪在安装外壳时的倾斜检测中发挥了关键作用。

测量仪以 3D 形状捕捉目标物的方式进行工作。它通过发射多束线激光,从不同角度对即将安装外壳的模块进行全方位扫描。这些激光束在接触到模块表面后,会根据模块的形状和位置产生不同的反射模式。测量仪的传感器迅速捕捉这些反射光,并将其转化为详细的空间坐标数据。

基于这些丰富的空间坐标数据,测量仪能够构建出模块的精确 3D 模型。通过对这个 3D 模型的深入分析,测量仪可以同时检测出模块多个点的高度及位置信息。通过对比这些点的实际高度和位置与预设的标准值,测量仪能够准确判断出模块是否存在倾斜以及倾斜的程度和方向。

这种倾斜检测对于避免安装不良具有重要的原理和实际效果。如果在安装外壳时模块存在倾斜,那么外壳在安装过程中可能无法与模块紧密贴合,导致密封性能下降,使得设备容易受到外界环境因素的影响,如灰尘、水汽等的侵入,从而降低设备的使用寿命和可靠性。倾斜的模块还可能会导致内部组件之间的相对位置发生变化,影响设备内部的电路连接和机械结构的正常运行,进而引发各种故障。通过在安装外壳前使用 2D/3D 线激光测量仪进行倾斜检测,能够及时发现并纠正模块的倾斜问题,确保外壳能够正确、紧密地安装在模块上,有效提高产品的质量和稳定性,减少因安装不良而导致的产品故障率,提升生产效率和企业的经济效益 。

 

3.3 其他特色测量案例

3.3.1 密封材料多维度测量

在众多工业产品中,密封材料的性能直接关系到产品的密封性、防水性、防尘性等关键特性,进而影响产品的质量和使用寿命。2D/3D 线激光测量仪能够对密封材料进行高度、宽度、体积等多维度的测量,为确保密封材料的质量和性能提供了有力支持。

在对密封材料进行高度测量时,测量仪发射的线激光束垂直照射到密封材料的表面,通过分析激光束的反射情况,精确计算出密封材料表面各点的高度信息,从而得到密封材料的整体高度数值。对于宽度测量,测量仪从侧面发射激光束,扫描密封材料的横向轮廓,根据反射光的变化确定密封材料的宽度边界,进而准确测量出宽度尺寸。在测量体积时,测量仪结合之前获取的高度和宽度数据,以及通过对密封材料整体形状的扫描和分析,利用先进的算法计算出密封材料的体积。

这些多维度的测量对于产品的密封性具有重要影响。如果密封材料的高度不足,可能无法完全填充密封间隙,导致密封不严密,出现泄漏现象。宽度不合适则可能导致密封材料与密封部位无法良好匹配,同样影响密封效果。而体积的准确测量有助于确保在使用密封材料时,其用量既能满足密封需求,又不会造成浪费。通过对密封材料进行全面、精确的多维度测量,生产企业能够严格把控密封材料的质量和安装效果,有效提升产品的密封性和防护性能,保障产品在各种复杂环境下的正常运行 。

 

3.3.2 皮带轮形状及凹痕检测

在工业生产中,皮带轮作为传动系统的重要组成部分,其形状的准确性和表面的完整性对于确保传动系统的稳定运行、提高传动效率以及延长设备使用寿命起着至关重要的作用。2D/3D 线激光测量仪在皮带轮形状及凹痕检测方面具有独特的优势。

测量仪通过发射线激光束对皮带轮的表面进行全面扫描。激光束在接触到皮带轮表面时,会根据皮带轮的形状产生不同的反射路径和强度变化。测量仪的高灵敏度传感器能够精确捕捉这些反射光的细微变化,并将其转化为详细的数字信号。通过对这些数字信号的深入分析和处理,测量仪能够构建出皮带轮表面的精确三维模型。

在这个三维模型的基础上,测量仪可以准确检测皮带轮的形状是否符合设计标准。它能够精确测量皮带轮的直径、轮槽的深度和宽度、轮缘的厚度等关键尺寸参数,并与预设的标准值进行对比,及时发现形状偏差。测量仪还能够敏锐地检测出皮带轮表面是否存在凹痕。对于任何微小的凹痕,测量仪都能通过反射光的异常变化识别出来,并确定凹痕的位置、大小和深度。

这种检测在工业生产中具有重要的应用场景和意义。如果皮带轮的形状不准确,在传动过程中会导致皮带与皮带轮之间的接触不良,从而产生打滑现象,降低传动效率,甚至可能引发设备故障,影响生产的正常进行。而皮带轮表面的凹痕则会降低皮带轮的结构强度,在长期高速运转过程中,凹痕处可能会逐渐产生裂纹,进一步扩展导致皮带轮损坏,增加设备维修成本和停机时间。通过使用 2D/3D 线激光测量仪对皮带轮进行定期的形状及凹痕检测,企业能够及时发现并修复潜在的问题,确保皮带轮始终处于良好的工作状态,保障工业生产的高效、稳定运行 。


News / 推荐阅读 +More
2025 - 09 - 05
点击次数: 12
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦...
2025 - 09 - 02
点击次数: 30
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 4...
2025 - 08 - 30
点击次数: 14
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着...
2025 - 08 - 12
点击次数: 32
在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中,一个棘手的矛盾始终存在:一方面,设备内部空间日益紧凑,毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”;另一方面,随着产品结构复杂化,对测量量程的需求不断提升,5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量?无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜,以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”,既节省安装空间,又兼容大量程需求,重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点:空间与量程难以两全在精密测量领域,侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号,凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计,其量程多集中在 2.5mm 以内(如 LTCR4000 量程为 ±2mm),难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择...
2025 - 06 - 22
点击次数: 92
一、国产化背景与战略意义在全球供应链竞争加剧的背景下,激光位移传感器作为工业自动化核心测量部件,其国产化生产对打破技术垄断、保障产业链安全具有重要战略意义。泓川科技 LTP 系列依托国内完整的光学、电子、机械产业链体系,实现了从核心零部件到整机制造的全流程国产化,彻底解决了接口卡脖子问题,产品精度与稳定性达到国际先进水平,同时具备更强的成本竞争力与定制化服务能力。二、核心部件全国产化组成体系(一)光学系统组件激光发射单元激光二极管:采用深圳镭尔特光电 655nm 红光 PLD650 系列(功率 0.5-4.9mW)及埃赛力达 905nm 红外三腔脉冲激光二极管,支持准直快轴压缩技术,波长稳定性 ±0.1nm,满足工业级高稳定性需求。准直透镜:选用杭州秋籁科技 KEWLAB CL-UV 系列,表面粗糙度 光学滤光片:深圳激埃特光电定制窄带滤光片,红外截止率 99.9%,有效消除环...
About Us
关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
销售热线:0510-88155119 
图文传真:0510-88152650
Working Time
我们的工作时间
周一至周五:8:00-18:00
周六至周日:9:00-15:00
Shown 企业秀 More
  • 1
    2023 - 03 - 09
    激光位移传感器被广泛应用于各种领域中。其中一个很有用的应用是测量薄膜厚度。这种传感器可以在离表面很近的距离下进行高精度测量,因此非常适合这种应用。本文将介绍激光位移传感器如何用于测量薄膜厚度,包括测量方法、测量原理和市场应用。一、测量方法测量薄膜厚度的基本思路是利用激光位移传感器测量薄膜前后表面的距离差,然后通过几何公式计算出薄膜厚度。在实际操作中,测量方法大致可分为以下几种:1. 手持式测量手持式测量通常用于快速的现场检测。用户只需要将激光位移传感器靠近待测表面,然后通过读取显示屏上的数值判断薄膜厚度是否符合要求。这种方法不需要复杂的设备和步骤,非常易于使用。但是由于人手的震动和误差等因素,手持式测量的精度相对较低,只适用于需求不是特别高的场合。2. 自动化在线测量自动化在线测量一般用于工业生产线上的质量控制。这种方法需要将激光位移传感器与自动化设备相连接,将测量数据传递给计算机进行分析。在这种情况下,测量过程可以完全自动化,精度也可以得到保证。但是相对于手持式测量来说,这种方法需要的设备和技术要求更高,成本也更高。3. 显微镜下测量显微镜下测量常用于对细小薄膜厚度的测量。在这种情况下,用户需要将激光位移传感器与显微镜相结合进行测量。由于显微镜的存在,可以大大增强测量精度。但是相对于其他两种方法,这种方法需要的设备更多,并且技巧要求也更高。二、测量原理激光位移传感器利用的是激光三...
  • 2
    2025 - 01 - 14
    四、光学传感器应用对薄膜涂布生产的影响4.1 提升生产效率4.1.1 实时监测与反馈在薄膜涂布生产的复杂乐章中,光学传感器实时监测与反馈机制宛如精准的指挥棒,引领着生产的节奏。凭借其卓越的高速数据采集能力,光学传感器能够如同闪电般迅速捕捉涂布过程中的关键参数变化。在高速涂布生产线以每分钟数百米的速度运行时,传感器能够在瞬间采集到薄膜厚度、涂布速度、位置偏差等数据,为生产过程的实时监控提供了坚实的数据基础。这些采集到的数据如同及时的情报,被迅速传输至控制系统。控制系统则如同智慧的大脑,对这些数据进行深入分析。一旦发现参数偏离预设的理想范围,控制系统会立即发出指令,如同指挥官下达作战命令,对涂布设备的相关参数进行精准调整。当检测到薄膜厚度略微超出标准时,控制系统会迅速调整涂布头的压力,使涂布量精确减少,确保薄膜厚度回归正常范围。这种实时监测与反馈机制的存在,使得生产过程能够始终保持在最佳状态。它避免了因参数失控而导致的生产中断和产品质量问题,如同为生产线安装了一个智能的 “稳定器”。与传统的生产方式相比,生产调整的时间大幅缩短,从过去的数小时甚至数天,缩短至现在的几分钟甚至几秒钟,极大地提高了生产效率。4.1.2 减少停机时间在薄膜涂布生产的漫长旅程中,设备故障和产品质量问题如同隐藏在道路上的绊脚石,可能导致停机时间的增加,严重影响生产效率。而光学传感器的实时监测功能,就像一位警惕的卫...
  • 3
    2023 - 08 - 21
    摘要:基膜厚度是许多工业领域中重要的参数,特别是在薄膜涂覆和半导体制造等领域。本报告提出了一种基于高精度光谱感测的基膜厚度测量方案,该方案采用非接触测量技术,具有高重复性精度要求和不损伤产品表面的优势。通过详细的方案设计、设备选择和实验验证,展示了如何实现基膜厚度的准确测量,并最终提高生产效率。引言基膜厚度的精确测量对于许多行业来说至关重要。传统测量方法中的接触式测量存在损伤产品表面和对射测量不准确的问题。相比之下,高精度光谱感测技术具有非接触、高重复性和高精度的优势,因此成为了基膜厚度测量的理想方案。方案设计基于高精度光谱感测的基膜厚度测量方案设计如下:2.1 设备选择选择一台高精度光谱感测仪器,具备以下特点:微米级或亚微米级分辨率:满足对基膜厚度的高精度要求。宽波长范围:覆盖整个感兴趣的波长范围。快速采集速度:能够快速获取数据,提高生产效率。稳定性和重复性好:确保测量结果的准确性和可靠性。2.2 光谱感测技术采用反射式光谱感测技术,原理如下:在感测仪器中,发射一个宽光谱的光源,照射到待测样品表面。根据不同厚度的基膜对光的反射率不同,形成一个光谱反射率图像。通过对反射率图像的分析和处理,可以确定基膜的厚度。2.3 实验设计设计实验验证基膜厚度测量方案的准确性和重复性。选择一系列已知厚度的基膜作为标准样品。使用高精度光谱感测仪器对标准样品进行测量,并记录测量结果。重复多次测量,并计...
  • 4
    2023 - 12 - 23
    摘要:圆筒内壁的检测在工业生产中具有重要意义,传统方法存在诸多问题。本文介绍了一种新型的检测系统,该系统结合了改进的激光三角测距法和机器视觉技术,旨在解决传统方法的不足。新方法可以在高温环境下工作,对小径圆筒进行测量,且测量精度高、速度快。通过实验验证,该系统能够实现圆筒内壁的高质量、高速度的在线检测,为现代工业生产提供了有力支持。关键词:圆筒内壁检测;机器视觉;激光三角测距法;在线检测引言圆筒内壁检测是工业生产中的重要环节,其质量直接关系到产品的性能和使用寿命。传统的检测方法存在诸多问题,如检测精度不高、速度慢、无法在线检测等。为了解决这些问题,本文提出了一种新型的检测系统,该系统结合了改进的激光三角测距法和机器视觉技术,旨在实现圆筒内壁的高质量、高速度的在线检测。工作原理本系统采用激光三角测距法作为主要测量手段。激光三角测距法是一种非接触式测量方法,通过激光投射到被测物体表面并反射回来,再通过传感器接收,经过处理后可以得到被测物体的距离和尺寸信息。本系统对传统的激光三角测距法进行了改进,使其能够在高温环境下工作,并对小径圆筒进行测量。同时,本系统还采用了机器视觉技术进行辅助测量和判断。机器视觉技术是通过计算机模拟人类的视觉功能,实现对图像的采集、处理和分析。本系统利用机器视觉技术对圆筒内壁表面进行图像采集和处理,通过算法识别和判断内壁表面的缺陷和尺寸信息。通过将激光三角测距法和...
  • 5
    2025 - 03 - 05
    在工业自动化领域,激光位移传感器是精密测量的核心器件。本文以国产泓川科技的LTP150与基恩士的LK-G150为对比对象,从核心技术参数、功能设计及性价比等维度,解析国产传感器的创新突破与本土化优势。一、核心参数对比:性能旗鼓相当,国产线性度更优精度与稳定性LTP150的线性度为±0.02%F.S.,优于LK-G150的±0.05%F.S.,表明其全量程范围内的测量一致性更佳。重复精度方面,LK-G150(0.5μm)略高于LTP150(1.2μm),但需注意LK-G150数据基于4096次平均化处理,而LTP150在无平均条件下的65536次采样仍保持1.2μm偏差,实际动态场景下稳定性更可靠。采样频率与响应速度LTP150支持50kHz全量程采样,并可扩展至160kHz(量程缩小至20%),远超LK-G150的1kHz上限。高频采样能力使其在高速生产线(如电池极片、半导体晶圆检测)中可捕捉更多细节,避免数据遗漏。环境适应性两者均具备IP67防护与抗振设计,但LTP150可选**-40°C至70°C宽温版本**,覆盖极寒或高温车间环境,而LK-G150仅支持050°C,适用场景受限。以下是 LTP150(泓川科技) 与 LK-G150(基恩士) 激光位移传感器的核心参数对比表格,重点突出国产...
  • 6
    2025 - 01 - 14
    一、引言1.1 研究背景与意义在工业制造、科研等众多领域,精密测量技术如同基石,支撑着产品质量的提升与科学研究的深入。光谱共焦传感器作为精密测量领域的关键技术,正以其独特的优势,在诸多行业中发挥着无可替代的作用。它能精确测量物体的位移、厚度、表面轮廓等参数,为生产过程的精确控制与产品质量的严格把控提供了关键数据支持。基恩士作为传感器领域的佼佼者,其推出的光谱共焦传感器在市场上备受瞩目。基恩士光谱共焦传感器凭借卓越的性能,如高精度、高稳定性、快速响应等,在精密测量领域中脱颖而出。在半导体制造过程中,芯片的生产对精度要求极高,基恩士光谱共焦传感器可精准测量芯片的厚度、线宽等关键参数,保障芯片的性能与质量。在光学元件制造领域,其能够精确测量透镜的曲率、厚度等参数,助力生产出高质量的光学元件。研究基恩士光谱共焦传感器,对于推动精密测量技术的发展具有重要意义。通过深入剖析其原理、结构、性能以及应用案例,能够为相关领域的技术创新提供参考,促进测量技术的不断进步。在实际应用中,有助于用户更合理地选择和使用该传感器,提高生产效率,降低生产成本。在汽车制造中,利用基恩士光谱共焦传感器对零部件进行精密测量,可优化生产流程,减少废品率。 1.2 研究现状在国外,光谱共焦传感器的研究起步较早,技术也相对成熟。法国的STIL公司作为光谱共焦传感器的发明者,一直处于该领域的技术前沿。其研发的光谱共焦...
  • 7
    2025 - 02 - 19
    一、测量原理与技术框架高精度激光位移传感器实现1μm以下精度的核心在于三角测量法的深度优化。如图1所示,当激光束投射到被测表面时,散射光斑经接收透镜在CMOS/CCD阵列上形成位移图像。根据几何关系:\Delta x = \frac{L \cdot \sinθ}{M \cdot \cos(α±θ)}Δx=M⋅cos(α±θ)L⋅sinθ其中L为基距,θ为接收角,M为放大倍数。要实现亚微米分辨率需突破传统三角法的三个技术瓶颈:光斑质量退化、环境噪声干扰、信号处理延迟。二、关键算法突破1. 光斑中心定位算法采用改进型高斯混合模型(GMM)结合小波变换降噪,可有效抑制散斑噪声。研究显示[1],基于Marr小波的边缘检测算法可使定位精度提升至0.12像素(对应0.05μm)。2. 动态补偿算法LTP系列采用专利技术(CN202310456789.1)中的自适应卡尔曼滤波:PYTHONclass AdaptiveKalman:    def update(self, z):        # 实时调整过程噪声协方差Q        se...
  • 8
    2023 - 03 - 20
    介绍工业光电传感器是现代制造业中最常用的检测设备之一,广泛应用于自动化生产线、机械加工、装配、物流搬运等行业。随着国民经济的不断发展,中国的工业光电传感器制造业也不断发展壮大,成为制造业的一支重要力量。本文旨在对中国产的工业光电传感器现状进行描述。发展历史20世纪80年代初期,我国的工业自动化程度比较低,大部分生产线仍采用人力操作,制造业存在高人力成本、低效率、品质难以保证等问题。为了提高制造业的效率和品质,中国开始引入外国的工业自动化设备,其中就包括工业光电传感器。80年代中后期,国内开始试水制造工业光电传感器,并逐步发展壮大。90年代初期,随着国民经济的增长和工业自动化的加速推进,中国的工业光电传感器制造业进入快速发展期。如今,中国的工业光电传感器制造业已经处于全球领先地位,成为世界闻名的光电传感器生产基地之一。产业链分析商业模式中国的工业光电传感器制造业商业模式主要是以生产销售为主,较少采用研发生产销售一体化模式。生产企业主要供应给自动化设备制造商,然后这些自动化设备制造商销售给最终用户,最终用户则使用这些设备来自动化生产线。除此之外,还有一些企业将工业光电传感器产品应用到自己的设备制造中,以提高自己产品的品质和效率,然后再将自己的产品销售给最终用户。在商业模式上,中国的工业光电传感器制造业与欧美等发达国家还存在一定的差距。技术研发中国的工业光电传感器制造业在技术研发方面逐渐...
Message 最新动态
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
Copyright ©2005 - 2013 无锡泓川科技有限公司

1

犀牛云提供企业云服务
Our Link
X
3

SKYPE 设置

4

阿里旺旺设置

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

5

电话号码管理

  • 0510-88155119
6

二维码管理

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

展开