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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览

高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜厚度测量，广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点：极薄检测能力：最小测量厚度低至 20nm，20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景；超高准确度：±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度，精准捕捉极细微厚度变化，严控工艺偏差；在线适配：最高 100Hz 采样速度，可融入生产线实现快速在线检测，不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器：复杂环境测...

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更新日期： 2025 - 09 - 05

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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器

泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms，最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz（全量程）/Max. 160kHz（全量程缩小到 20%）-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67（IEC）-工作温度0°C+50℃（不可结露、结冰）；保存温度：-20℃+70℃（可订制 - 40℃70℃...

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更新日期： 2025 - 09 - 02

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泓川科技对市面上非接触激光测量传感器的方案研究报告

一、引言1.1 研究背景与目的在现代工业生产与科学研究中，精确测量物体的尺寸、形状、位置及位移等参数至关重要，其对于保证产品质量、提高生产效率、推动技术创新有着不可或缺的作用。传统接触式测量方法因需与被测物体直接接触，容易对物体表面造成损伤，在面对柔软、易变形、高精度或特殊材质的物体时，测量精度与效率大打折扣。此外，在高速运动物体测量以及复杂环境下的测量任务中，接触式测量方法更是难以满足需求。随着激光技术、光电探测技术以及信号处理技术的迅猛发展，非接触激光测量传感器应运而生。非接触激光测量传感器凭借高精度、高速度、非接触、抗干扰能力强等显著优势，在工业自动化、航空航天、汽车制造、电子半导体、医疗等众多领域得到广泛应用，成为现代测量技术的重要发展方向。本研究旨在深入剖析非接触激光测量传感器的工作原理、关键技术、性能特点以及应用领域，全面评估其在不同场景下的测量精度与可靠性，通过对市场上主流产品的对比分析，为相关行业在选择和应用非接触激光测量传感器时提供科学、系统的参考依据，推动该技术在更多领域的推广与应用，助力产业升级与技术创新。1.2 研究方法与数据来源本研究综合运用了多种研究方法，以确保研究的全面性与深入性。在理论研究方面，广泛查阅国内外相关文献资料，涵盖学术期刊论文、专利文献、技术报告等，深入研究非接触激光测量传感器的工作原理、技术发展历程以及最新研究成果，构建起系统的理论框架...

发布时间: 2025 - 03 - 05

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By Aleksandar Nikcevic

激光测距传感器激光测距望远镜的安全和非安全之分

激光测距的工作原理，激光测距仪、激光测距传感器，一般采用两种方式来测量距离。脉冲法和相位法。激光测距激光测距望远镜主要运用领域是由于激光测距望远镜使用方便操作简单等优势已被广泛应用于电力安防，建筑，地质，消防，铁路，农业林业，房地产等领域。区别激光测距仪所谓的安全和不安全之分，顾名思义激光测距望远镜使用激光作为主要工作物质来进行工作的。目前市场上手持式激光测距传感器的工作物质主要是有以下几种。工作波长905纳米和1540纳米的半导体激光。工作波长为1064纳米的Y ag激光。1064纳米的波长对人体皮肤和眼睛是有害的，特别是眼睛不小心接触到了106 10纳米波长的激光，会造成不可逆的损伤。而对于波长为905纳米和1540纳米的激光，我们就称之为安全的。对于1064纳米的激光测距网已经由于它对人体目前具有潜在的危害性。所以我们就称之为不安全的。总结购买激光测距传感器，激光测距望远镜，首先从测量距离和精度入手，基本上就不会错了。

发布时间: 2022 - 12 - 13

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By Aleksandar Nikcevic

泓川传感器学堂之光电测距传感器的三角测量法距离测量

大家好，我是无锡泓川传感器学堂的李同学，今天给大家介绍的是光电测距传感器的三角测量法距离测量是基于三角测量原理，激光束打在物体上形成一个小点，传感器的接收器对该点的位置进行检测。入射角随距离而变化，因而激光点在接收器上的位置也相应变化。光电二极管阵列由内置微控制器读取。控制器根据光电二极管阵列上的光分布精确的计算角度，然后据此计算出与目标物之间的距离。此距离值可以通过串口发送，也可以转换为与距离成正比的输出电流或者电压模拟量信号。微处理器确保获得很高的线性度和测量精度，光电二极管阵列与微控制器相结合，抑制了干扰性反射光。从而提供可靠的南侧表面数据。传感器通过调节内部灵敏度来适应不同的颜色，从而使其不受物体颜色的影响如果在测量范围内没有物体，或者如果所接受的光不足以准确的检测物体。则将触发一个数字量输出，分辨率和精度会随着距离的变化而变化，对于相同的距离变化三角形D在靠近传感器处它是角阿尔法一发生较大的变化，而在远距离传感器则使角阿尔法二发生较小的变化这种非线性控制器可以通过微控制器进行矫正，从而使输出信号与距离保持线性关系。

发布时间: 2022 - 12 - 03

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By Aleksandar Nikcevic

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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览

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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器

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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...

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