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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
为了保证拥有可靠的焊接质量,很多加工企业会使用激光焊缝跟踪系统来对焊缝进行质量管理,通过对焊缝扫描来获得各个方面的数据,从而了解到焊缝在技术指标上是否能够满足图纸上的要求,此外激光焊缝跟踪系统还能了解焊缝是否有如下这些缺陷。1、裂纹裂纹是焊缝中的一个缺陷,通过广受好评的激光焊缝跟踪系统就能将裂缝检查出来。因为焊接是为了将两个独立的工件结合在一起,不仅要保证牢固而且还要确保具有良好的密封性,如果有裂缝这一缺陷存在,不仅会影响密封性和牢固行,而且还会对产品的机械性能造成影响。2、气孔完美的焊缝当中是不应该含有直径大于规定数值范围的气孔,此外,如果激光焊缝跟踪系统在进行检查的时候若发现气孔的比例超过了整个焊缝的百分之三,也会将其视作一种缺陷存在,因为,焊缝中若是又过多或者过大的气孔存在,将会直接影响工件焊接的强度,对焊接工艺的整体质量都会造成不良的影响。3、凹陷如果成型而且均匀的焊缝当中,激光焊缝跟踪系统会检查高度是否一致,如果有一段焊缝的高度是低于正常高度的,就会形成凹陷,这种缺陷不但会让焊缝的表面变得不美观,而且,凹陷下去的这个部位焊接的厚度会比其他地方要薄,因此也会影响焊接的强度。运行质量稳定的激光焊缝跟踪系统除了可以检查焊缝中是否有裂纹、气孔以及凹陷等缺陷存在以外,激光焊缝跟踪系统还能检查焊缝中是否有咬边、烧穿、焊瘤、断弧、夹渣等等多种缺陷,因此,可以从各个方面对焊缝的质量进行检...
发布时间: 2018 - 08 - 24
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作为老牌的传感器生产厂家,德国的SICK经过多年的研发生产成为了世界数一数二的品牌,不管是在技术还是在生产领域都能独占鳌头,其所能提供的产品品质、产品功效、产品服务都有目共睹,因而是目前整体销售量最多的传感器,下面德国西克SICK代理就针对德国西克SICK品牌产品的优势做简单叙述。一、品牌市场口碑好德国西克SICK的品牌悠久,有着多年的历史,因而行业内的认可度及知名度极高,可以作为产品生产的重要竞争力进行展现,这也是缘何国际大牌在需要依托传感器的过程中都更愿意选择德国西克SICK品牌的原因。也是德国西克SICK代理想要给国内企业带来的正面意义,一方面希望依托德国西克SICK的产品品质落实使用,另一方面显然的依托其所带来的品牌效应,能进一步促进市场竞争力的实现。二、产品本身的卓越性和先进性销量好的德国西克SICK代理依托多年的代理合作经验发现,德国西克SICK一直处于不断的研发和制作中,因而德国西克SICK代理都能占领市场的先机,总能在第一时间内确保德国西克SICK代理产品的脱颖而出,这也是为何德国西克SICK代理近年来整体收益有保障的重要原因,实现德国西克SICK产品使用需求满足的前体条件,显然能更好的确保选择合作的高效有序性。品质好服务优的德国西克SICK代理认为不管在品牌上还是在产品的本身上,德国西克SICK所生产的产品都有显著的优势,从而为采购使用企业的优化开展落实提供更强有...
发布时间: 2018 - 08 - 23
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代表性极强的德国西克SICK代理,通过代理销售德国知名的SICK品牌,且为了更好的与国内的市场相匹配吻合,呈现出于我国市场和消费者需求更相匹配的特点,旨在更好的依托德国的SICK为国内的使用需求者提供服务和保障,下面本文就我国品质好服务优的德国西克SICK代理所具备的特点内容做简单介绍。一、产品品类齐全,符合我国的设备使用需求众所周知近年来我国的工业发展迅速,这就在一定程度上势必需要更多的生产辅助仪器,而为了更好的满足市场需求的不断增加,销量好的德国西克SICK代理在引进的品类上有了大幅的提升。现如今德国西克SICK代理所销售开展的SICK品牌产品与日俱增,与国内企业的需求更好的吻合,从而为整体一致的销售使用需求满足奠定更强劲的落实保障。二、服务完善,能根据需求进行落实德国西克SICK代理为了更好的与国内企业的需求想吻合和匹配,不仅通过网络平台进行销售的开展,更会通过多种手段渗透落实服务的完善实现,更好更便捷的满足全国性的区域购买需求,为更便捷的购买、维保的实现奠定更具综合价值的保障落实。尤其随着使用面的不断增加,市场口碑极好的德国西克SICK代理更是完善和落实了维保团队的扩编,确保第一时间、高效的使用突发事件解决。由此可见德国西克SICK代理为了更好的与国内的销售市场想吻合匹配,不管是在德国西克SICK品牌的产品引进上做了更严格的审核,更会根据我国的销售市场进行服务的针对性完善,...
发布时间: 2018 - 08 - 23
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摘要 随着制造业对高精度、高效率检测需求的提升,非接触式测量技术逐渐成为工业检测领域的重要发展方向。本文以基恩士CL-3000系列彩色激光同轴位移计为研究对象,通过树脂板、胚料和玻璃薄膜三类典型应用案例,系统分析了其技术原理、测量优势及实际应用效果。研究表明,该技术通过共焦光路设计、光轴校准算法及多传感器融合技术,能够实现±0.2μm级测量精度,解决了传统接触式测量存在的效率低、误差大、损伤工件等痛点,为工业检测智能化转型提供了有效解决方案。1. 引言 在精密制造领域,厚度作为关键尺寸参数直接影响产品质量。传统接触式测量工具(如千分尺、接触式传感器)存在检测效率低(单次测量耗时3-5秒)、人为误差率高(约0.5%-1.2%)、易损伤工件等问题。非接触式激光测量技术因具有无磨损、高速度(可达10kHz采样率)等优势,逐渐成为行业主流方案。基恩士CL-3000系列通过彩色同轴共焦技术,在复杂表面适应性、测量稳定性等方面实现突破,本文通过具体案例验证其应用价值。2. 技术原理与创新 2.1 彩色共焦测量系统 CL-3000采用同轴光路设计,通过分光棱镜将多波长激光束(红、绿、蓝)聚焦于被测物表面。各波长对应不同焦距(图1),当目标物高度变化时,反射光经针孔滤光后在Quad CMOS阵列上形成特征光谱。通过解析光谱峰值波长,系统可计算物距变化量,实现0.1μm级分辨率。相较于传统...
发布时间: 2025 - 03 - 05
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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