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关于泓川科技

专业从事激光位移传感器，激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司

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激光三角测量法是如何实现对透明物体测量的？折射率校正在这个过程中起到了什么作用？

2024 - 03 - 05

激光三角测量法：精确测量透明物体的科技新突破在精密测量领域，激光三角测量法已成为一种非常重要的技术手段。这种测量方法尤其适用于透明物体的测量，因为它可以有效地解决透明物体测量中的诸多难题。本文将详细介绍激光三角测量法的原理、步骤，以及折射率校正在此过程中所起到的关键作用。一、激光三角测量法的原理激光三角测量法是一种基于光学三角测量原理的非接触式测量方法。其基本原理是：半导体激光器发出的激光束照射在目标物体上，接收器透镜聚集目标物体反射的光线并聚焦到感光元件上。当目标物体与测量设备之间的距离发生改变时，通过接收器透镜的反射光的位置也会相应改变，光线聚焦在感光元件上的部分也会有所不同。通过精确测量这些变化，就可以得出目标物体的位移、形状等参数。二、激光三角测量法的步骤设定参照距离：首先，需要设定一个参照距离，即在此距离下，激光束与感光元件之间的位置关系已知且稳定。照射激光：然后，通过半导体激光器发出激光束，照射在待测的透明物体上。接收反射光：接收器透镜会聚集从透明物体反射回来的光线，并将其聚焦到感光元件上。分析数据：当透明物体移动或形状发生变化时，反射光在感光元件上的位置也会发生变化。通过精确分析这些变化，就可以得出透明物体的位移、形状等参数。三、折射率校正的作用在测量透明物体时，一个关键的问题是需要考虑光的折射现象。由于透明物体的折射率与空气不同，光线在从空气进入透明物体时会发生折射...
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关于德国米铱（Micro-Epsilon）optoNCDT 1420 系列激光位移传感器的深度研究报告

2025 - 04 - 02

一、引言1.1 研究背景与意义在现代工业生产与精密测量领域，对高精度、高可靠性位移测量技术的需求与日俱增。激光位移传感器凭借其非接触测量、高精度、高响应速度以及抗干扰能力强等显著优势，已成为实现自动化生产、质量控制与精密检测的关键技术手段，广泛应用于汽车制造、电子生产、机械加工、航空航天等众多行业。optoNCDT 1420 系列激光位移传感器作为德国米铱（Micro-Epsilon）公司推出的微型化、高精度位移测量解决方案，在尺寸、性能与功能集成等方面展现出独特的优势。其紧凑的设计使其能够轻松集成到空间受限的设备与系统中，满足了现代工业对设备小型化、集成化的发展需求；同时，该系列传感器具备出色的测量精度与稳定性，可实现对微小位移变化的精确检测，为精密测量与控制提供了可靠的数据支持。深入研究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器的技术原理、性能特点及应用场景，对于推动激光位移测量技术的发展，拓展其在各行业的应用范围，提升工业生产的自动化水平与产品质量具有重要的理论与实际意义。通过对该系列传感器的全面剖析，能够为相关领域的工程师、技术人员提供有价值的参考依据，帮助他们更好地选择与应用激光位移传感器，解决实际工程中的测量难题。1.2 研究目标与范围本研究旨在全面深入地探究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器，具体目标包括：详细阐述该传感器的工作原理，深入分析其技术...
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激光测量技术在（ADAS）驾驶辅助系统的应用案例（三）

2025 - 01 - 16

七、声纳传感器应用案例深析7.1 外壳相关检测7.1.1 外壳的外观检测在声纳传感器的实际应用中，对外壳的外观检测是确保产品质量的关键步骤。在进行外壳外观检测时，声纳传感器并非仅依赖传统的图像明暗判断方式，而是借助先进的技术，利用 3D 形状的图像来实现精准的形状变化识别。其工作过程如下：传感器发射特定频率和模式的声波，这些声波以特定的角度和范围向外传播，当遇到外壳表面时，会根据外壳表面的形状、材质以及纹理等特征产生不同的反射模式。反射回来的声波被传感器的接收装置高效捕捉，然后转化为电信号。系统对这些电信号进行复杂的处理和分析，通过独特的算法将其转换为详细的 3D 形状数据。在这个过程中，系统会对 3D 形状数据进行精确的分析和比对，与预先设定的标准外壳模型进行细致的匹配。一旦发现外壳的形状与标准模型存在差异，系统会立即识别出这些变化，从而确定外壳是否存在缺陷或不符合规格的情况。这种利用 3D 形状图像进行外观检测的方式具有诸多显著优势。它极大地提高了检测的准确性和可靠性。传统的基于图像明暗判断的方法，容易受到环境光、外壳表面光泽度以及颜色等多种因素的干扰，导致检测结果出现偏差。而 3D 形状图像检测技术能够直接获取外壳的真实形状信息，不受这些外部因素的影响，从而能够更准确地发现外壳表面的细微瑕疵，如划痕、凹陷、凸起等，以及形状上的偏差。该技术具有较强的稳定性。无论环境光如何变化，...
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泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列激光位移传感器深度对比：高性价比之选

2025 - 05 - 26

一、引言在工业自动化领域，激光位移传感器作为精密测量的核心部件，其性能与成本直接影响设备的竞争力。本文聚焦泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列，从技术参数、应用场景及成本等维度展开深度对比，揭示 LTM3 系列如何以卓越性能和显著成本优势成为更具性价比的选择。二、核心参数对比指标泓川科技 LTM3 系列米铱 ILD1750 系列测量频率最高 10kHz，适用于高速动态测量场景最高 7.5kHz，满足常规工业速度需求重复性精度0.25μm 起（如 LTM3 - 030），达到亚微米级精度0.1μm 起，精度表现优异线性误差低至 0.06% FSO 起，基于百分比的误差控制防护等级IP67，可抵御粉尘、液体喷射及短时浸水IP65，防护性能良好但略逊于 LTM3外形尺寸605020.4mm，体积小巧，适配狭窄空间未明确标注，但工业通用设计体积较大重量约 150g，轻便易安装未明确标注，推测重于 LTM3 系列输出接口以太网、485 串口、模拟信号（±10V/4 - 20mA），支持工业网络集成模拟量（U/I）、数字量（RS422），传统工业接口配置光源655nm/660nm 红光激光，稳定可靠670nm 红光激光，测量光斑控制优秀工作温度0 - 50°C，适应多数工业环境0 - 50°C，环境适应性相当三、LTM3 系列核心优势解析（一）性能...
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激光测距传感器的功能，你了解多少呢？

2022 - 12 - 03

激光测距传感器的功能，你了解多少呢？大家好，我是无锡宏川传感学堂的李同学。激光测距传感器的功能可分为距离测量和窗口测量。其中距离测量在测距应用中传感器可以随时投入使用。直接给出与物体之间的距离。测量值可用于系统控制或者物体的精准定位。此外还可以选择对数字量模拟，量输出进行调整。如果需要检测尺寸较小的物体。可直接进行窗口测量。通过对参照物进行自学习，传感器可直接测得与标称尺寸的偏差。在这种情况下，数字量输出也可以进行相应的参数进行。除了传感器的尺寸和测量范围。光斑的形状也尤其重要，点击光代表精准聚焦。能精确测量小尺寸的物体。线激光能可靠测量粗糙度比较大的表面积。带纹理的彩色表面。在光泽不均匀或极其粗糙的表面上也能进行稳定的测量。
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新品牌发布："新吴科之匠，泓川科创新力场。高精度传感技术，探索未知，领航未来。"

2023 - 10 - 01

'新吴科之匠'，泓川科技有限公司全新打造的传感器新标杆，我们凝聚高端技术力量，专注于高精度、高性能的激光位移传感器LTP系列，光谱共焦传感器LTC系列，白光干涉测厚传感器，线光谱共焦传感器，以及3D结构光和3D线激光。强大的研发能力和对细节无穷追求，让我们的产品在每个细微处都彰显出卓越品质。'新吴科之匠'不仅寓意着尖端科技的集中体现，更代表着对品质的极致追求。我们相信，只有最好，才能过硬。
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泓川科技国产激光位移传感器HC16-15与进口Micro-Epsilon米铱ILD1420-10技术对比及国产替代可行性研究

2025 - 04 - 02

以下为HC16-15国产激光位移传感器与进口ILD1420-10的对比分析报告，重点围绕技术参数、性能指标及国产替代可行性展开：一、核心参数对比指标HC16-15（泓川科技）ILD1420-10（Micro-Epsilon）测量范围±5mm（总10mm）10mm（SMR 20mm至EMR 30mm）线性度±0.1% F.S.±0.08% F.S.重复精度1μm0.5μm采样频率3000Hz（最高）4000Hz（最高）光源波长655nm（可见红光）670nm（可见红光）输出接口RS485（Modbus RTU）、0-10V/4-20mARS422、4-20mA/1-5V工作温度-10°C ~ +50°C0°C ~ +50°C防护等级IP67IP65尺寸（mm）44×31×18约47.5×14（主体）重量70g（含线缆）60g（含线缆）激光安全等级Class 2Class 2（ILD1420）/ Class 1（CL1版本）二、性能深度分析1. 精度与稳定性HC16-15：线性度±0.1% F.S.（优于多数国产传感器），1μm重复精度满足工业级需求，温度特性0.05% F.S/°C，适合宽温环境。ILD1420-10：线性度±0.08% F.S....
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简述十种非接触测量材料厚度的原理及优缺点

2023 - 09 - 26

1 激光光热技术测厚：原理是利用激光照射材料，产生的热量使材料产生变化，再通过光学方式检测这种变化以确定材料的厚度。优点是非接触式、无损伤、准确；缺点也是显而易见的，对于颜色、形状、表面纹理等都有不同程度的影响。2 白光干涉测厚：原理是使用白光干涉仪产生干涉图案，然后通过分析干涉图案得材料厚度。优点是测量精度高、灵敏度高；缺点是设备复杂且成本高昂。3 激光干涉测厚：主要是利用激光波的相干性，测量物体的干涉条纹来反推出物体的厚度。优点是测量精度高、速度快；但激光源的稳定性和调节技术要求比较高。4 光谱共聚焦测厚：该方法是根据材料对不同波长光的反射、折射和吸收特性，同时探测所有波长的光谱，从而计算出材料厚度。优点是测量准确、适用范围广；缺点是设备复杂、操作要求高。5 椭圆偏光法测厚：原理是利用光的偏振特性对材料进行测量，根据计算出材料厚度。优点是接触、无损伤，但适用范围有限。6 红外吸收法测厚：红外吸收法是指通过测定红外光在材料中吸收的程度来推断优点是测量过程简单、直观、精度高；缺点是对材料的红外吸收特性有严格要求。7 X/β射线测厚：主要是利用X射线或者β射线穿透材料时，穿透的射线强度和物体的厚度之间存在一定的关系。优点是精确、可靠；缺点是人体安全需要考虑。8 电容测厚：原理是利用两极板间的电容量与介质厚度成正比，通过测量电容量来测量厚度。优点是设备简单、便宜；缺点是精度较低。9 反...

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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...

泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

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