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专业从事激光位移传感器，激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司

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激光测振技术：旋转机械检测的核心手段

2024 - 12 - 22

在旋转机械的运行过程中，振动情况直接关乎其性能与安全。激光测振动传感器凭借其独特优势，成为该领域不可或缺的检测利器。它采用非接触式测量，有效避免了对旋转机械的物理干扰，确保测量的精准性。其高精度的特性，能够捕捉到极其微小的振动变化，为故障诊断提供可靠依据。广泛的应用范围涵盖了电机、风机、轴承等各类旋转机械，在能源、化工、机械制造等众多行业都发挥着关键作用。通过实时监测振动数据，可及时发现潜在问题，预防设备故障，保障生产的连续性与稳定性，大大降低维修成本与停机风险。工作原理：激光与振动的深度互动激光测振动传感器基于激光多普勒效应工作。当激光照射到旋转机械的振动表面时，由于物体表面的振动，反射光的频率会发生多普勒频移。设激光源发射的激光频率为，物体表面振动速度为，激光波长为，则多普勒频移可由公式计算得出。通过精确测量多普勒频移，就能得到物体表面的振动速度，进而获取振动信息。与传统测量原理相比，激光多普勒测振具有显著优势。传统的接触式测量方法，如压电式传感器，需要与被测物体直接接触，这不仅会对旋转机械的运行产生一定干扰，还可能因安装问题影响测量精度，而且在高速旋转或微小振动测量时，接触式传感器的响应速度和精度受限。而激光测振传感器采用非接触式测量，避免了对旋转机械的物理干扰，可实现高精度、宽频带的测量，适用于各种复杂工况下的旋转机械振动测量。实验设置：精准测量的基石（一）微型激光多普勒测...
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光谱共焦传感器在IC芯片测量领域的应用剖析（下）

2025 - 01 - 20

五、应用优势深度解析5.1 提升测量精度与效率光谱共焦传感器在 IC 芯片测量中，能够实现快速、高精度的测量，这一特性极大地提升了生产效率。其工作原理基于独特的光学共焦成像和光谱解析技术，使其能够精准地捕捉到芯片表面的细微特征和尺寸变化。在测量芯片关键尺寸时，如线宽和间距，光谱共焦传感器可以达到亚微米级甚至更高的精度，能够精确测量出极其微小的尺寸偏差，为芯片制造工艺的精细控制提供了有力保障。同时，该传感器具备快速的数据采集和处理能力。在实际生产线上，它可以在短时间内对大量芯片进行测量，大大减少了检测时间。与传统测量方法相比，光谱共焦传感器能够实现自动化、连续测量，无需人工频繁干预，有效提高了生产效率，满足了大规模生产对测量速度和精度的双重要求。 5.2 降低成本与风险采用光谱共焦传感器进行 IC 芯片测量，有助于显著降低生产成本与风险。一方面，高精度的测量能够有效减少因尺寸偏差或其他质量问题导致的废品率。在芯片制造过程中，废品的产生不仅意味着原材料的浪费，还会增加后续的返工成本和时间成本。光谱共焦传感器通过精确检测，能够及时发现芯片制造过程中的问题，帮助制造商在早期阶段采取纠正措施，避免生产出大量不合格产品，从而降低了废品率，节约了生产成本。另一方面，通过对芯片制造过程的实时监测和反馈，光谱共焦传感器能够帮助制造商优化生产工艺，提高生产效率，减少不必要的资源浪费。例如，在...
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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制方案解析

2025 - 10 - 21

在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
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相位法激光测距传感器原理简述

2023 - 02 - 20

相位法激光测距传感器是一种用于测量距离的传感器，它使用衰减激光来测量距离。激光在一个激光发射器中发出，并由一个接收器接收。激光发射持续一段时间，称为测量时间，根据接收信号的强度和相位推导出一般的相对距离和数据。激光距离传感器的原理有点像各种闪烁的表盘表，只是发射的激光光源更小而且激光传播时间更短，所以更快。传感器通过测量当激光发出后多久接收到信号来测量物体之间的相对位置，也就是距离。由于抛物线和容积衰减，激光越远越弱，为了准确测量距离，必须使用准确的激光，并且随着距离的增加接收性能衰减越多，因此必须调整传感器的接收阈值，以确保可以正确测量所需的距离。当激光被发射出去时，传感器会记录发射的时间，当激光被接收时，传感器记录激光接收的时间。然后，将发射时间和接收时间相减，就可以得到大约的信号传播时间，就可以用它来测量形成到目标物体的距离。然而，如果电路中的任何一部分停顿，传感器就不能正确测量距离，可能会产生一些不准确的测量。因此，为了防止这种情况的发生，许多传感器使用了自适应滤波器，可以有效地滤除由尘埃、碰撞或干扰引起的杂散信号，从而确保测量准确。相位法激光测距传感器具有较低...
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泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章

2024 - 12 - 01

标题：泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章在科技日新月异的今天，每一个微小的进步都可能成为推动行业变革的巨大力量。然而，在高端激光位移传感器领域，长期以来，我国一直面临着国外技术的严密封锁与市场垄断。西克SICK、米铱、基恩士、奥泰斯等国际品牌如同难以逾越的高山，让国内企业在这一关键领域步履维艰。但在这片看似无望的疆域中，泓川科技有限公司却以一腔热血和不懈追求，书写了一段打破垄断、实现全国产化替代的传奇故事。破冰之始：挑战与决心面对国际巨头的强势地位，泓川科技没有选择退缩，而是迎难而上。他们深知，要在这片被外资品牌牢牢掌控的市场中开辟新天地，就必须拿出过硬的产品和技术。于是，LTP系列高精度激光位移传感器的研发项目应运而生，这不仅是泓川科技对技术创新的执着追求，更是对国家科技自立自强战略的积极响应。技术攻坚：细节决定成败在LTP系列的研发过程中，泓川科技团队对每一个部件、每一个环节都进行了极致的打磨和优化。从激光器的选择到激光检测器的设计，从测量电路的构建到光学元件的精密调校，每一步都凝聚着科研人员的智慧和汗水。激光器：为了确保激光束的高方向性和集中度，泓川科技与国内顶尖的光电子企业合作，共同研发出适用于LTP系列的定制化激光器，其性能指标直追国际先进水平。激光检测器与测量电路：通过引进先进的信号处理技术和算法，泓川科技大幅提升了检测器的灵敏度和测量电...
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泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新

2025 - 08 - 30

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...
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使用对射的激光距离传感器测量橡胶带接缝位置

2023 - 10 - 11

激光测距传感器对射技术在自动化生产线上的应用愈发广泛，今天我们将介绍一个基于两台激光测距传感器上下对射来检测橡胶带接缝的案例。在橡胶带的生产过程中，橡胶带的接缝是一个非常关键的部位。由于橡胶带在运输行走的过程中，其厚度会随着接缝的存在而变化。接缝是由两个橡胶带重叠在一起形成的，因此接缝的厚度显然会大于橡胶带本身。为了保证产品质量和生产效率，我们需要及时准确地检测并计数橡胶带的接缝。我们采用了两台激光测距传感器进行上下对射的方式来实现这一目标。具体操作如下：首先，将一台激光测距传感器安装在橡胶带上方，另一台安装在橡胶带下方，使得两台传感器之间垂直对射。通过激光束的反射和接收时间的测量，可以获取到橡胶带表面和接缝的距离信息。当橡胶带的接缝位置经过测距传感器时，根据上文提到的厚度大于阈值的特点，我们可以通过一个内部的比较器来判断是否检测到了接缝。当橡胶带的厚度数据高于预设的阈值时，比较器将输出一个开关量信号，表示接缝位置被检测到。通过这种方式，我们不需要具体测量接缝的厚度数值，只需要一个开关量信号，就可以实现对橡胶带接缝位置质量的检测和接缝数量的计数。这对于保证产品质量、提高生产效率具有重要意义。总结起来，利用两台激光测距传感器上下对射的方法，结合内部的比较器功能，我们可以实现对橡胶带接缝位置的检测。这种技术应用既简单又有效，可以在自动化生产线中广泛应用，提高生产效率并确保产品质量的稳定...
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片材/板材/薄膜/薄板厚度测量的 “神器”—— 对射激光位移传感器

2025 - 01 - 04

在工业生产的众多环节中，板材厚度测量的重要性不言而喻。无论是建筑领域的钢梁结构、汽车制造的车身板材，还是电子设备的外壳，板材的厚度都直接关乎产品质量与性能。哪怕是微小的厚度偏差，都可能引发严重的安全隐患或使用问题。传统的板材厚度测量方法，如卡尺测量、超声波测量等，各有弊端。卡尺测量效率低、易受人为因素干扰；超声波测量则在精度和稳定性上有所欠缺，面对高精度需求时常力不从心。而激光位移传感器的出现，为板材厚度测量带来了革命性的变化。它宛如一位精准的 “测量大师”，凭借先进的激光技术，实现非接触式测量，不仅精度极高，还能快速、稳定地获取数据，有效规避了传统测量方式的诸多问题。接下来，让我们一同深入探究，两台激光位移传感器是如何默契配合，精准测量板材片材厚度的。激光位移传感器测厚原理大揭秘当谈及利用两台激光位移传感器对射安装测量板材片材厚度的原理，其实并不复杂。想象一下，在板材的上下方各精准安置一台激光位移传感器，它们如同两位目光犀利的 “卫士”，紧紧 “盯” 着板材。上方的传感器发射出一道激光束，这束激光垂直射向板材的上表面，而后经板材上表面反射回来。传感器凭借内部精密的光学系统与信号处理单元，迅速捕捉反射光的信息，并通过复杂而精准的算法，计算出传感器到板材上表面的距离，我们暂且将这个距离记为。与此同时，下方的传感器也在同步运作。它发射的激光束射向板材的下表面，同样经过反射、捕捉与计算...

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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...

泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

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