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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
检测设备是否标准的工作在市场上非常多,琳琅满目的产品往往容易让消费者迷失了方向。当然选择激光位移传感器时也会是这种情况。一般来说选择到合适的商家往往就能选择到比较靠谱的无线激光位移传感器。那么大家应该选择具有什么特点的激光位移传感器商家?一、具有多种认证的从某种程度上说一家激光位移传感器商家若是能够具有多种认证则可以说这个商家是靠谱的。比如说一些比较客观的IOS认证,这些是消费者在选择激光位移传感器时的一个参照标准。二、具有服务团队能衔接各个服务流程的一个专业的服务团队能够很好的衔接各个服务的流程,在激光位移传感器与客户对接的过程中服务团队也能起到很好的作用。而客户朋友们往往也只需要按照服务团队人员的提示指导就能顺利的完成相关的事项,所以在拥有专业服务团队的商家也是消费者们可以选择的。三、具有提供技术支持的因为激光位移传感器在使用之后也许可能出现一些问题。所以还可以选择有技术支持的商家,激光位移传感器的应用领域其实可以说是比较固定的,并且这些固定的领域与激光位移传感器需要有一定的磨合期。这时候就需要有技术人员的帮忙。由此可见应该选择具有以上这些特点的商家。一是选择激光位移传感器厂家应该具有多种证明,二是激光位移传感器商家需要具有专业的服务团队,团队的人员可以有效的贯穿与各个服务流程为客户提供提示性的指导帮助,三则是激光位移传感器商家需要能提供技术支持,有效率的技术支持能帮助激光位移...
发布时间: 2019 - 05 - 22
浏览次数:4103
激光位移传感器作为一种精密的设备正悄然取代传统的传感器设备,面对专业提供激光位移传感器厂家以及复杂的激光位移传感器型号能选择到恰到好处的产品是每位用户的需求。下面就先来介绍一下激光位移传感器的用途有哪些?1、工程机械以及高附加值产品行业现在对激光位移传感器的应用领域和用户提出的技术要求,激光位移传感器未来的发展方向无疑是大功率、大表面,高效率。激光位移传感器在机车行业中一般应用重工业给用户带来高效、优质的生产率,对工艺外观各方面的检查也需要伴随着对相关参数数据的了解,这是评价激光位移传感器设备核心内部手工艺质量的关键。对这两个方面的研究有助于对激光位移传感器的基本质量和质量标准进行综合评价,高销量的激光位移传感器是好的选择。2、机器人和汽车行业激光位移传感器与机器人配对的柔性加工系统在汽车工业和配套行业有着悠久的历史,过去被国外集成商垄断。特别是国内激光技术高端厂家在范围内的支持下政策上的技术,许多外国汽车在高端品牌和民族品牌尝试,近年来激光位移传感器为汽车用户提供汽车白色车身焊接、汽车仪表板激光减弱、汽车安全气囊激光焊接、汽车保险杠、门、中柱等机器人柔性切割机、汽车可变套筒激光自动切割设备等。因此激光位移传感器生产是高科技的具体应用和体现,传感器是否具有高技术增值体,现在包括在技术含量和加工技术上都不是高技术。总而言之,激光位移传感器的用途分别是工程机械以及高附加值产品行业、机器...
发布时间: 2019 - 05 - 09
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激光位移传感器需要检测研究对象的物理或化学信息,其工作过程需要稳定性、可靠性和高精度,因此对激光位移传感器有很严格的要求。激光位移传感器对其仪器进行校准,该标准根据标准物理常数(如水中的温度上升)提供不确定性,精度错误应标记为每个传感器和监视器的百分比。而激光位移传感器选购要求有很多,其中比较惹人注意的两大选购要点如下:1、价格合理要求良好的激光位移传感器一致性适用于自动化批量生产,加工设备有很高的要求以消除了手动操作带来的不一致和错误然后进行科学测试。当然有必要在专业技术人员的支持下对每个功能的操作效果和整个设备的压缩能力等。设备的安全状态和可调状态是需要测试的关键内容之一,从极冷到炎热的地区许多工作在露天环境中能抵抗沙土,而且高销量的激光位移传感器还应该是耐湿性,耐盐性强,耐酸腐蚀能力强能抵抗污染气体干扰、能适应高温极端寒冷。2、高技术增值激光位移传感器是一种高精度的测试设备,在军事、航空、航天等方面有严格的要求。当然也需要简单的激光位移传感器设备的调试,这个过程主要是看到设备实现相关功能的性能然后还需要重点关注什么样的稳定设备在运行时特别是对安全模块等方面的运行做好评价工作。总而言之,激光位移传感器选购的两大要求分别是适应恶劣环境能力强、价格合理、具体高可靠性。专业提供激光位移传感器的公司也可根据用户的特殊需要定制激光传感器。如果不了解产品的性能是否能满足需求,专业的公司还可...
发布时间: 2019 - 05 - 09
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激光位移传感器用于测量功率的热电反应堆探测器的尺寸往往很大,具有高损伤阈值和功率测量范围从毫瓦到千瓦不等。基于半导体的光电二极管探测器不仅体积小,而且灵敏度高,高销量的激光位移传感器的功率测量范围不等。下面介绍一下激光位移传感器质量的衡量指标有哪些?1、波长功率以及能量的测量范围选择激光位移传感器时要考虑测量仪器应该能够在非饱和状态下进行测量。一般来说,饱和电流是峰值响应时的大功率,高功率测量通常使用积分球或光衰减器来降低饱和度。另一个重要指标该系统的系数是在低可测量功率/能量水平下的信噪比。2、故障阈值以及能量密度激光位移传感器选择合适的探头测量激光或宽带光源后,下一个需要考虑的问题是故障阈值。用户需要知道测量的功率和能量密度以便探头不被损坏,这需要一个理解点的大小和能量的分布。高斯光束在光束顶部具有非常高的功率密度。3、脉冲宽度大多数传感器根据峰值功率具有不同的故障阈值;当脉冲能量相同时短脉冲的峰值功率会比时间高得多这更有可能摧毁传感器。对于超过故障阈值的应用用户可用的衰减方式包括光谱仪、漫反射和中性滤波器等一致性。总而言之,激光位移传感器质量的衡量指标分别是传感器的波长范围以及功率和能量的测量范围,故障阈值以及能量密度以及脉冲宽度。专业提供激光位移传感器的每种类型的探头和测量仪器的关键指标的工作范围差别很大。激光位移传感器选择的关键是将激光或光源的输出参数与探测器和仪器的指示...
发布时间: 2019 - 05 - 09
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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