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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
随着传感器在技术方面的不断突破,已经从人体移动传感到激光直线传感的重大转变。在工业生产行业及建筑行业经常使用传感器进行一些数值的测量,激光位移传感器的出现可以说是又为这些行业创造了新的动力。那么下文就其几个重点关注的方面来为大家介绍利用激光进行测量的传感器。一、产品的分类在市场中由于多样化的规律使得激光位移传感器也有着不同的分类,可以肯定的是分类主要是方便不同场景的使用。在选择品种多样的激光位移传感器之前需要了解自己所需作用在何处,具体是用于车流量监控,车辆行人违法监测,还是无人机、无人搬运车、自动驾驶有着不同的产品。二、作用的对象激光位移传感器主要是由探头发射出光来进行物体的位移、平整度、厚度等进行检测,这个时候就需要了解它主要作用的对象具体是什么。如果激光位移传感器在使用过程中的作用对象具有强光或者是透明的物体,那么这个时候就需要引起人们的关注,因为由于这些因素可能导致传感值有所误差。三、参数的选择深受欢迎的激光位移传感器在于参数性能是非常可靠的,这里所说的参数具有几个方面的值。它的常用参数主要是指传感器的精度,也可以成为偏差程度,这直接决定了机器测得是否准确。除外还有分辨率、测量速度等其他重要参数,把握好对参数的了解可以知道激光位移传感器的性能高低。以上的就是对激光位移传感器的重点方面知识的介绍,通过介绍可以加速对此类产品的了解。多样性的产品需要关注不同的产品分类和它的主要作...
发布时间: 2020 - 03 - 03
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据悉激光位移检测的方式在现如今公共领域之中发挥了尤为重要的价值,能够精准的检测其图像的位移情况和相应的制造效果,而如今高精度激光位移传感器则能够有效的提高其检测的品质,为高精度的检测效果带来更加全面的保障基础,而这种高精度激光位移传感器呈现良好品质的原因更是丰富多样。1.图像采集和分析技术更专业据悉目前市面上高品质的传感器采用了更加专业的图像采集系统,在其图像拍摄和数据分析的过程之中,能够有效的减少图像之中存在的噪点,提升其分析的精准度。而如今质量佳的高精度激光位移传感器则引进了这种图像视觉技术,通过其原件成像的效果进行改良让其优化后的图像拥有更好的品质能够精准的应用于机器视觉系统的检测过程中,为其精准的数据分析和其输出带来了更长期的基础保障。2.可靠的视觉检测工具更匹配专业的工艺设备能够有效的提高其本身的定位和测量能力,而目前品质优良的高精度激光位移传感器则实现了多种工具的有效匹配,在检测的过程之中,保证物品定位和测量等一系列的流程更加稳定。就此而言,品质可靠的高精度激光位移传感器提供了更加集成式的开发环境,让各种优良的检测技术同时兼备达成良好的检测品质。总之高品质高精度激光位移传感器为其本身的分析和检测带来了更加优质的条件,而良好的测量效果也从其本身精密的属性设计之中得以凸显。就此而言将这种品质可靠的高精度激光位移传感器应用在其数据分析和其原件的检测过程之中,也能够让目前工业领...
发布时间: 2020 - 03 - 02
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大家都知道的是激光的直线性能非常的好,可以很轻松地去测量一个地方的物体是否发生位移。在工厂的车间很需要这样的测量机器去计量产品的数量和计量产品的质量,它的应用场所具有多样化。随着越来越多的人选择了激光位移传感器,下文就来看看它主要有着哪些未来发展趋势。一、市场需求增大化在传感器的市场中新的产品组建代替旧的产品是一种正常的经济规律,激光位移传感器的未来发展市场也必然会随着技术的升级而提高。纵观整个工业的发展传感器是一种生产的重要辅助工具,随着不断发展供不应求的激光位移传感器会顺应消费者的需求,也会不断拓展市场位置。二、多场景应用模式转化激光位移传感器是动态的机器,相比于超声波和普通的传感器有着不同的核心技术。可预见的是激光位移传感器已经逐渐在各个场景中进行运用,包括各大商场的客流量值传感监测和自动化驾驶的距离感测等。重要的是它能够在多个场景中利用相应的指令进行自由转化,是一种技术的突破。三、定价区间亲民化随着科学技术的发展,很多激光位移传感器公司在不断研发传感器和激光技术,主要是为了让产品的价格有所调整。在未来发展中价格公道的激光位移传感器会越来越多,普遍的消费者都有能力选择,在定位区间会有着一定的控制,避免过高的价格让使用者产生购买经济压力。关于激光位移传感器的未来发展趋势是可预见的,随着市场的不断发展对它的需求会不断增大,从而达到供不应求的状态。随着核心技术的发展,激光位移传感器...
发布时间: 2020 - 02 - 25
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在现如今光控自动化需求日渐提高的情况之下,更高的稳定性和更高的精度则成为了许多用品设计的重要标准,而高精度激光位移传感器则以其精准高效的反应能力成为工控自动化领域之中的重要仪器。而目前这种指标可靠的高精度激光位移传感器则展现了其分析的优质能力,通过优势的表现提高激光扫描和其反应的实际品质。1.扫描分析的效率更高在位移变化的监测过程之中,质量佳的高精度激光位移传感器则有效的提高了其本身的扫描速度,采用更加专业的高分辨拍摄设备能够快速的进行成像和传输,在短暂的时间之内能够完成各种完整画幅的扫描和分析。就此而言颇具优势的高精度激光位移传感器能够有效的缩短采取同样所耗费的时间,通过这种颇具优势的高精度激光位移传感器能够有效的提高产量并维持其扫描的效率。2.细节效果更好更精准品质优良的高精度激光位移传感器能够有效的分析其视觉内部分布的轮廓点在其监测的过程之中,能够有效地描绘其原件的细节。因此目前品质可靠的高精度激光位移传感器能够有效的提高其成像的精准度,让其实现更加精准更加可靠的三地检测模式,为其本身的分析和其精准检验带来更多的选择。综合而言颇具优势的高精度激光位移传感器为其激光成像的效果带来了更好的条件,而其稳定的拍摄能力和更好的耐用性也让目前高品质的激光位移传感器适应了其公共领域的复杂环境。就此而言将这种高精度激光位移传感器应用在其工控摄影的过程之中,也能够让其视觉检测和反应的能力更加稳...
发布时间: 2020 - 02 - 18
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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