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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
在很多领域中的一些项目所需要的距离精度非常高而为了能够满足高精度的需要人们往往会使用二维激光测距传感器来检测距离。一般来说使用过这种高精度的测距传感器之后都能有较好的体验,激光测距传感器也能帮助人们完成精准的测量工作,因此购买的人数在不断的增多。那么在购买激光测距传感器时需要注意哪些问题才能在多种品牌中挑选出适合的产品呢一、注意被测物体的结构和材料因为激光测距传感器使用的场所是非常不同的,不同场所以及想要测量的物体的结构材料不同所使用的传感器也会不同。正常情况下在使用激光测距传感器设备时需要完整的三角光路,若是测量物体的表面有凹凸的现象出现则不容易测量。而若是测量物体的材料是黑色橡胶等物质则也需要调整购买策略。为了避免黑色的反光在选购的传感器时需要进行实际的操作测验。二、注意传感器的参数指标当然在选择激光测距传感器时也需要注意其参数指标,这些参数主表包括一些线性度以及分辨率等参数,因为参数指标能够直接反应出测量数据的准确性与否,所以在选择的时候一定要足够重视。虽然说激光测距传感器品质保证的厂家在制造产品的时候使用的是比较复杂的工艺技术也能在很大程度上保证传感器参数指标的合格,但是在购买时也还是需要检查一些参数问题。以上这些就是选择激光测距传感器时需要注意的一些问题。首先是需要注意测量物体的结构和材料,测量物体的表明凹凸现象以及采用反光材料往往会直接影响到激光测距传感器的使用效果。其...
发布时间: 2020 - 06 - 29
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简单来说,激光测距传感器就是通过发射激光来确定激光往返目标物体的所需时间,然后再通过计算得出距离。由于测距过程简单,这种传感器在很多领域都可以使用。接下来就来为大家介绍几个激光测距传感器比较常用的领域。1、建筑领域受人称赞的激光测距传感器在建筑领域中得到普遍使用,可以用其来确定檐槽的水平长度 ,以及 按照当地建筑规定测量与道路和界址线之间的距离,除此之外,在安装灯具时也可以利用激光测距传感器来寻找顶棚中心点或者其合适的位置,并根据顶棚高度确定照明灯具的光量要求。2、有轨巷道码垛领域将激光测距传感器应用在有轨巷道码垛机当中,可以与其他控制系统一起解决有轨巷道码垛机的计数、定位精度与可靠性的问题,并且还可以方便地实现平滑调速,优化调速曲线、优化起激光测距传感器动与制动性能,从而大幅提升了有轨巷道码垛机的整机性能,确保整机性能可靠、平稳、高效。3、林业领域植被是重要的自然资源,在林业领域中使用激光测距传感器,就可以获得树高、野生格外树种、优异树种定位参数,从而判定区域内树的等级及经济价值在进行苗木培育过程中发挥重要的作用。此外,当需要制造砍木量剖面图,判定资源距离时也可以通过传感器来测量。除了这三个领域可以使用激光测距传感器之外,在考古、起重设备以及其他各种生活领域中,也可以使用到性价比好的激光测距传感器。所以,只要是需要进行距离测量的地方都可以使用这种传感器设备,并且还可以根据实际情况...
发布时间: 2020 - 03 - 17
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在工业应用中,经常会使用激光测距传感器,因为这种传感器可以检测到非常微弱的光信号,并且还会记录、处理从光脉冲发出到返回被接收的时间,从而对目标距离进行准确的测量。那么,在使用性价比好的激光测距传感器之时需要注意什么问题呢?1、注意使用检查并避免使用有故障的仪器如果激光测距传感器已经存在故障,或者被猛烈撞击过、私自改造过,那么在测距的时候就有可能导致结果有误差。因此,在使用激光测距传感器的时候一定要注意对其进行检查,在确认传感器没有任何异常情况之后再使用,以免出现检测结果有误差的问题。2、注意测距时不要瞄准强光源或反光物体表面虽然大家需要获得准确额距离测量结果,但是大家也要注意保护好自己的健康,所以,在使用激光测距传感器对物体的距离进行检测的时候,要注意不要将其直接瞄准强烈的光源,或者金属、镜面以及棱镜等可以放光物体的表面,否则,操作者的眼睛容易受到反射光的伤害。3、注意避免对不合适的物体表面进行测量对不合适的物体使用激光测距传感器来测距,获得测量结果可能不会准确。因此,要想获得理想的数据结果就要注意避开一些不合适的表面,例如粗糙的表面;透明的表面;潮湿、光滑或高光泽的物表面等等。要想获得准确的距离测量结果,大家不仅要使用受人称赞的激光测距传感器,而且在用其来测量距离的时候还一定要注意先做一番检查,避免因为使用有故障的传感器而导致测距失误。此外,还应该注意不要将传感器瞄准强光和镜面反...
发布时间: 2020 - 03 - 16
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在众多行业的生产中都需要对物体或者材料进行测量,随着社会对生产率要求的不断提高,进而作为提高生产的辅助工具也随之产生。由激光器、激光检测器和测量电路组成的激光位移传感器作为测量的一种新型工具,下面就一同来看看它有着哪些优势特点从而成就了其不断发展。一、体积小巧、精准度高从外形上来看深受欢迎的激光位移传感器的体积小巧,无需占用特别的大的空间便能进行工作。另一方面,激光位移传感器是利用激光直线的原理来进行测量,由探头发出一束激光,在被测物体表面发生漫反射,反射的一束光线可以到达探头的接收器件,所得到的测量值误差几乎没有。二、灵活度强、应用广泛如果对激光位移传感器有所了解便知道它的灵活性是比超声波传感器更强,它成功地由静转换成了动态的测量。关于激光位移传感器的应用范围是很新的也是很为广泛的一种,小到商场的人流量监测,大到高速公路的车辆监测都运用了位移的特点,在市场中也有被运用于无人机等高科技领域。三、性价比高、经济耐用作为新型的测量仪,大部分人都很乐意选择使用,作为薄利多销的激光位移传感器给出了消费者合理的价格。激光位移传感器虽然科技成分高,但是价格很为实惠,尽管看起来体积较小但是耐用。从市场来看这种传感器的使用寿命很长,在各种复杂的环境中的耐用性都高于普通传感器。以上便是激光位移传感器优势特点的一种说明,希望能够给人们以参考。它所具有体型小巧和精准度高的特点,既不占用空间又能发挥重要的...
发布时间: 2020 - 03 - 03
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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