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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
在当代工业生产及相关技术领域当中人们比较热衷于采用激光来进行定位,而一些知名品牌旗下的高精度激光位移传感器在很多领域当中都受到了大家的信任,通过质量认证的高精度激光位移传感器在技术精度和基础工艺等方面的优良品质令人印象深刻。那这样的高精度激光位移传感器这么好用的原因主要有哪些?一、核心技术先进性足够强首先在当代技术环境整体进步的情况下高精度激光位移传感器用到的核心技术走在了时代的前列,具体表现在相关技术厂商多年来坚持对激光位移定位技术的研发和在不同领域中的实践,因此可以发现这些高精度激光位移传感器在实际使用中表现出来很好的可靠性。二、基础工艺品质足够扎实当然有相关使用体验的人们也发现了优质可靠的高精度激光位移传感器基础工艺品质达到了业界先进水平,良好的技术工艺意识的厂商坚持在各个环节当中严控高精度激光位移传感器的工艺水平。三、功能设计足够符合实际另外很多用户也体验到了高质量,完善的高精度激光位移传感器的功能有很不错的实用性表现,这是由于技术商在技术功能设计研发的时候是站在不同领域客户实际身份角度上思考的,所以这些功能很多时候都能够达到不同用户对于高精度激光位移传感器的要求。不得不说技术不断向前发展的大环境下高精度激光位移传感器这样的先进性仪器设备很值得关注,当前一些工业生产及技术领域中的用户用切身体会证明了这类设备的优质实用,当然其好用的原因除了核心技术足够先进以外也得益于功能设计...
发布时间: 2020 - 02 - 12
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根据物品的位移进行管理是工业控制管理中的常见技术模式,优质的高精度激光位移传感器则成为了现代化自动仓库管理的好帮手。而为了提升其本身的应用效果和其位移检测的实际成效,更需要挑选品质可靠的高精度激光位移传感器产品保证其位移检测的水准,借此为其仓库的物品变化和其仓库的智能管理带来了更加科学的模式。1.看其测量的参数和其光路精准度时至今日高品质的传感器能够精准的得知其本身的数据并且快速进行应用,而其数据的可靠性也决定了后续应用的实际效果及其操作管理的稳定程度,因此在挑选可靠的高精度激光位移传感器时需要分析其本身的线性度和误差,确保质量佳的高精度激光位移传感器使则需要针对其本身的传感精度合理测试,保证这种传感器能够精准的得知数据并且相应的误差值符合日常管理的标准。2.看其光学测量的稳定性和其涵盖面据调查了解可以发现现如今市面上各种位移传感器通过激光感应的方式进行应用,而根据测量的任务量可以选择其本身的量程和精准度灵活操作。就此可知相关用户在挑选品质优良的高精度激光位移传感器时,需要根据其本身可见光斑的尺寸和其条件的效果进行对比,保证这种品牌好的高精度激光位移传感器所拥有的光学补偿效果更好,更能以其更高的稳定性和定位控制来提高其光斑投射反应。总之选择技术好的高精度激光位移传感器时需要考虑其传感器的实际品质及其运转质量,而在位移感应的过程之中这种设备本身的稳定性和其耐用性也同样影响到检测的准确...
发布时间: 2020 - 02 - 06
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高精度激光位移传感器作为一种以激光技术为核心的位移识别设备,在如今很多领域的自动化识别进出管理系统当中都发挥着至关重要的作用,在时代向前发展的过程中越来越多的人们想要了解高精度激光位移传感器哪家公司好,也证明了确实大品牌可靠公司旗下的相关设备和技术足够让人感到放心。那为什么针对高精度激光位移传感器的使用有必要关注和信赖大品牌?一、整体功能设计更加合理首先从高精度激光位移传感器的核心架构和技术机制的设计角度可以发现其合理性很强,这主要是由于高精度激光位移传感器的设计团队在大量的经验基础上对市场足够了解,所以可以发现这类设备在当代很多实际应用领域当中都表现出不错的实用性。二、设备工作稳定性更可靠当然同时很多用户都切身体验到了通过质量认证的高精度激光位移传感器很稳定很可靠,而这主要是因为设备在基础工艺以及出厂前的全方位检验方面做得很到位,来自大品牌厂商严谨的管理机制和高度负责任的态度让这类设备足以成为人们工作的重要伙伴。三、设备技术应用支持更好另外大量的事实也证明了大品牌高精度激光位移传感器在后续技术应用支持方面的可靠性也更强,简单来说就是大品牌厂商会根据用户实际应用需求以及市场环境变化而进行技术升级和优化。如今在地铁站等地方优质的自动化进出管理系统给人们带来便捷的同时也提高了管理水平,而这些系统中高精度激光位移传感器所发挥出来的功能是十分关键的,而相关系统设计制造单位愿意信任大品牌高精...
发布时间: 2020 - 01 - 20
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激光焊缝跟踪系统有多种复杂结构组合而成,它虽不是一种抽象的跟踪系统,但是复杂程度不亚于普通的多维跟踪系统,在跟踪系统的工作方式中可以任选其一来提高跟踪的效率和精准度,两种工作方式各有特色也适用于不同的场合当中,那么质量有保证的激光焊缝跟踪系统到底有哪几种形式呢?1、结构光式  传感器的光源可以是激光或白光,它被作成一条或多条窄带形状,故称结构光,该光带位于焊炬前方斜射在工件上,激光焊缝跟踪系统摄象机在工件正上方,拍摄到光带和工件的交线能反映坡口的形状和深浅,能求出工件的三维尺寸,故称三维传感器。由微机对图象进行处理后,可求出焊缝位置及坡口尺寸。由于信息量大故处理时间较长,激光焊缝跟踪系统可以快速的处理一幅图象。它的跟踪特点极为清晰,由于跟踪信号直接取自电弧,故没有传感器位置的附加导前误差,同时它能测量熔池宽度等参数,能对焊接规范进行自动控制故其功能很强。2、直接拍摄电弧式将摄像机置于电弧前方,从固定角度直接拍摄电弧、熔池、焊丝等图像。所得德图形式倒像,下部的黑色凸起是焊丝,上部的白色凸起是焊缝缝隙,大块白色区域是熔池。激光焊缝跟踪系统由图可求出焊丝对焊缝中心的偏移量,从而输出跟踪信号。激光焊缝跟踪系统的工作原理是以激光传感器采用了激光三角光学原理为核心,传感器打出一条激光线到工件表面,激光线与工件表面相交于一条轮廓线并由CCD元件提出来,值得信任的激光焊缝跟踪系统经过算法处理后可以...
发布时间: 2020 - 01 - 08
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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