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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
在各种工艺行业的生产中往往离不开焊接的技术改造,而对于该生产过程中的检测效果直接影响到了产品的质量。通过机器视觉检测设备能够更好的对焊接产品进行精准的检测,确保效果能够拥有更高的质量,机器视觉检测之所以如此受到大家的欢迎和工业的认可是因为以下的原因。1、实现了自动化工艺生产现如今在焊接相关的行业里机器视觉检测哪家好已经成为了大家关注的话题,根据该设备的使用情况和使用范围可以发现它能够用于自动化焊接技术的精准度检测。通过这种设备的运用实现自动焊接技术的相互匹配和辅助,利用机器视觉检测能够精准地进行这种自动化技术识别。2、提高了工业产品的质量为了打造出更加精美的工艺产品,更多的工业产品要求以更为严格的外观和更优秀的产品形象为消费者带来更好产品质量。而将这种机器视觉检测应用在我国生产行业之中,很大程度上提高了生产的工艺并保证每一个产品的质量,能够让该产品投入市场拥有更大的竞争力也能够拥有更加广阔充实的营销空间。3、高效工作节省人力精力这样的机器视觉检测可以通过一系列技术精进的方式来提高检测的效果,这种技术的落实不仅使自动化生产工艺得到了充分的实现。并且在人工难以检测的情况下也能够保证质量的完成相应的检测工作,只要设置好就可以进行检测免去厂家付出大量的人力和精力消耗。结合上面的描述我们也就不难明白为什么机器视觉检测会受到欢迎了,它逐渐代替了传统的人工肉眼检测方式成为自动化生产工艺中的重要工...
发布时间: 2018 - 10 - 12
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众所周知焊缝跟踪器具有多种类型,那么每种类型所生产出来的细节与功能也各异,所以如果没有选择到正确的焊缝跟踪器则会让自己在焊接过程中更加地麻烦,因此我们在选择焊缝跟踪器就必须要知道每种类型的作用,从而可以得到更多安全性能的选择,而消费者该如何去挑选焊缝跟踪器?第一:向有经验的人借鉴在选择评价高的焊缝跟踪器时也可以找有经验的人士请教,因为他们在焊接行业比较久远,对任何牌子的跟踪器都了如指掌,很多品牌他们都有进行合作使用,所以请教他们最可以得知哪种牌子适合自己的焊接活动。第二:查看跟踪器的用途因为当在焊接的时候出现焊缝比较宽的时候都需要用焊接跟踪器来解决宽度比较窄的问题,这样就不会出现焊缝中间两边高低不一样,所以当需要用到跟踪器这个用途时就可以选择它,如此一来可以让焊枪沿焊缝宽度方向有规律地来回往复摆动。第三:检查跟踪器的品质质量有保证的焊缝跟踪器对于整个焊接过程起着举足轻重的作用,所以在购买的时候一定要先事先检查好跟踪器的品质,这样才可以由高质量的焊缝跟踪器通过自身有的程序来控制摆动焊枪的运动,并且要挑选可以随时摆动速度与幅度,容易实现不同焊缝宽度与摆动速度的要求。以上是挑选广受好评的焊缝跟踪器的几个步骤。当然在选择合适的焊缝跟踪器后就要懂得如何去安装,正常来说焊缝跟踪器由两个部分组成,主要是机械摆动机构与电气控制,因此这两个部分一定要懂得如何安装正确,切忌不可以接错路线,只有正确的连...
发布时间: 2018 - 09 - 13
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现如今科技的发展,很多电焊企业为了保证拥有质量可靠的焊接结果都会选择评价高的焊缝跟踪器来对整个焊缝进行质量上的管理,它可以通过对焊缝扫描来获得各个方面的缺陷,从而满足焊缝在技术指标上是否能够符合图纸上的要求,那么采用焊缝跟踪器具有哪些作用?第一:可以检查裂纹众所周知裂纹是焊工证焊缝中经常出现的一个缺陷,那么这个时候我们就可以采用质量有保证的焊缝跟踪器将裂缝检查出来,因为很多产品都是通过焊接将两个独立的产品结合在一起,所以一定要保证牢固与密封性,一旦裂缝这个缺陷存在的话就会影响到整个产品的使用,所以采用焊缝跟踪器就可以检查出焊接时产生的裂纹。第二:可以发现气孔很多工人在焊缝的过程中都会让直径大于规定数值范围的气孔,这样如果没有使用焊缝跟踪器那么则会变成那个产品的缺陷存在,因此采用跟踪器不仅可以检查出气孔的多少与范围,还可以将整体的焊接工艺质量都设计得更加完美,所以在焊缝的过程中一定要采用焊缝跟踪器来发现更多的气孔使得产品更加地完美。第三:检查高度是否一致在已经成型且均匀的焊缝当中,采用焊缝跟踪器就可以检查出高度是否一致,那么如果有一段的焊缝高度低于正常高度的话就会形成凹陷,这样就使得整体的焊缝表面变得更加地不美观,因此一定要使用跟踪器将高度是否一致检查处理,才不会影响到焊接的美观。以上是采用焊缝跟踪器时会检查出的一些问题。当然跟踪器还可以检查出多种缺陷,所以我们一定要选择正确品牌的焊...
发布时间: 2018 - 09 - 13
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焊缝是焊接时的一种专业术语,通过焊缝可以观察了解到焊接工艺的质量,现在可以通过激光焊缝跟踪系统来对焊缝进行跟踪观察以确保焊接工艺的质量良好。那么,在使用激光焊缝跟踪系统进行检测时,焊接焊缝需要达到哪些方面的要求呢?1.焊缝的长度要求在进行焊接的时候如果焊缝的尺寸大但是长度太小,焊件的局部就会产生比较严重的受热,而且焊缝起落弧的弧坑距离太近就会让焊缝焊接的不够牢靠。因此,在使用稳定的激光焊缝跟踪系统对焊缝进行检测时焊缝的长度应该达到图纸要求的长度,而实际长度则为有效长度再加上一定的起收弧长度。2.焊缝的宽度要求在焊接过程中如果焊缝过宽而焊脚尺寸过大,会让焊接的接头严重受热,从而导致焊缝晶粒变得粗大,其塑性和韧性都会下降,而且焊缝太宽会让焊接热影响区变大,容易导致焊接应力及变形的产生,同时也会浪费材料。所以需要用激光焊缝跟踪系统对焊缝的宽度进行检测,如果合图纸上有要求就要符合图纸要求,如果没有要求则宽度不能大于百分之六十。3.熔深的要求焊缝的熔深是指母材熔化的最深部位和母材表面之间的距离,使用激光焊缝跟踪系统进行检测时要确保熔深能够达到相应的要求,即,符合图纸要求、外熔透率应该大于百分之三十。激光焊缝跟踪系统是一种检测焊缝质量的专业设备,能够对焊缝的长度、宽度以及熔深进行有效的检测以确保焊接的整体质量可靠。而为了得到最准确的检测结果,企业就要注意先了解激光焊缝跟踪系统哪里产的好,从优质...
发布时间: 2018 - 08 - 29
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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