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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
激光位移传感器‍可以进行模块化设计使装调更加方便,由于它各个部件的准入门槛高,所以它的生产时间被大幅度延长,该种设备具有很强的可行性,激光位移传感器‍还可以在化学工业中使用,比如对复合纤维材料进行修补,那么以下便是关于激光位移传感器‍修复复合纤维材料的介绍。1、为什么复合纤维材料修要用到补激光位移传感器‍激光位移传感器量程‍大,增强复合纤维材料被越来越多的应用于航空和汽车工业,该类材料的坚固性和轻重量特性特别适合上述行业。当纤维出现损坏时需要克服特殊困难对其进行修复,被损坏的部分必须被层层剥离以实现薄层的重建。这一工作的难点在于避免切断纤维和剥落分层。目前类似的复杂维修工作都是由人工进行的,采用激光位移传感器‍可以实现自动化非接触表面测量在短时间内排除瑕疵。为了在飞机上进行维修许多公司开发激光位移传感器‍移动模块,实际上是五轴加工单元。2、它如何帮助实现复合纤维材料修为了识别部件瑕疵激光位移传感器和激光轮廓仪获取瑕疵的几何形貌,应为被测器件可能在任何位置发生损坏,在维修之前需要测量表面的几何形貌。激光位移传感器必须能够胜任测量多种表面,包括喷漆表面无喷漆表面和风化表面。为了防止测量产生二次损伤该测量任务采用大量程系列激光位移传感器远离被测物进行测量,在这之后采用激光位移传感器‍轮廓扫描仪(2D激光传感器)扫描表面,获得3D形貌数据后根据相应的数据进行维修。宽光点激光位移传感器‍可以...
发布时间: 2020 - 09 - 09
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激光位移传感器‍在航空航天领域有所应用,它可以与空间技术联合应用来起到多元化应用的目的,许多人仅仅知道它在海上利润的比例较高,但实际上航天当中也需要用其进行轨道的定位,而且还可以进行空间碰撞的预判,是空间碰撞预警系统的参与者之一,那么宽光点激光位移传感器‍在卫星领域有哪些应用呢?1、精准测定地球引力场模型及其时变性激光位移传感器盲区‍小,在研究地球质心的位置变化过程中,激光位移传感器‍技术测定了目前准确的地球引力常数GM,其利用不同轨道倾角和高度的激光卫星,精准测定了地球引力场模型,并且测定了地球引力场低阶球谐系数的季节性变化;同时激光位移传感器‍还得出了地球质心位置的周期性变化,包括季节性和年际变化,地球引力场的变化反映了地球内部及各圈层(包括海洋、大气、地下水、冰层等)的复杂运动和相互作用过程,激光位移传感器‍具有重要研究价值。2、监测全球地壳板块运动利用激光位移传感器‍长期观测数据可以精准地测定地面测站的地心坐标,高精度测站坐标的解算使得人们监测板块运动的愿望成为可能。利用激光位移传感器‍获得的数据,已经估计了数十个测站的站速度和站间基线的变化率。如果测站位于板块的刚性部分,则其站速度就代表了板块运动,利用测站基线的变化率和站速度可以解算板块间的相对运动。激光距离传感器可以将信息进行碎片化再进行整合,实现距离的测定,通过该种传感器得到的误差相对较小,在未来的航空航天发展中都需...
发布时间: 2020 - 09 - 08
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激光测距传感器大多在民用工业和道路指挥系统当中使用,因为它可以根据激光的反射速度来判断物体的移动状态,尤其对于平面并不大的物体测速时间更快,还可以临时的测速,还可以进行相应的取证,但业内人士称该种传感器在军事领域也有许多应用,那么红外激光测距传感器‍在军事领域有哪些应用呢?1、轻型便携式脉冲激光测距仪轻型便携式脉冲激光测距传感器包括步兵和炮兵侦察用的手持式以及前沿侦察和前沿对空控制双用途的目标指示器,对上述用途的系统要求机动灵活、重复轻、体积小、用电池组作电源、可靠性和维修性高以及单一产品的成本低等。现代战争中由以前单一的步兵、炮兵独立作战发展到有步兵、炮兵和海军陆战队组成的特种部队联合作战,武器系统也由单一的地炮、高炮逐渐采用多功能综合高技术。因此防水激光测距传感器模块‍也由单一测距功能的便携式、手持式发展到激光测距、红外瞄准的昼夜观测仪以及激光测距、目标指示、红外瞄准的激光红外目标指示器等。2、地面车载脉冲激光测距仪地面车载脉冲激光测距仪包括坦克、步兵战车、火控、对空防御、火炮或导弹制导火控以及目前发展的地面车载激光测距仪目标指示器等。激光测距传感器制成的设备技术性能测程大、测距精度高、目标分辨大,光测距仪在坦克火控系统中的应用是提供弹道轨迹的超仰角修正信息和因逆风或目标移动引起的方位角校正信息以及距离信息。步兵战车主要是使用激光测距传感器去测量目标是否在反坦克导弹的距离内,其...
发布时间: 2020 - 09 - 07
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国产激光位移传感器‍设备的自我保护措施较多,因为它们在对外防御或对外打击中需要保护自我的安全,与作战系统或者其他的控制系统相互配合,才可以与多系统共同完成工作,无论是使用其进行跟踪或者距离探测都需要有相应的载体,那么激光位移传感器‍的承载形式有哪几种呢?1、机载机载激光位移传感器‍设备可以用来装备武装直升机的导弹指令制导和装备固定翼飞机,用于封锁支援的光电飞行器等目标以及拦截飞机和导弹的攻击。同时机载设备应体积小、重量轻并要与航空指示器共用。因此激光位移传感器‍必须使用高效循环液体作冷却器以适应高的运转速率要求,否则要采用气体或混合气体升压冷却。2、舰载舰载激光位移传感器‍的发展在轻型便携式、车载和对空防御激光测距仪之后,它包括水面舰载和潜艇潜望两大类。水面舰载脉冲激光测距仪在技术性能指标方面与车载火控和对空防御激光测距仪相同,在环境使用方面要适应舰载海空、海面以及海上盐雾的荷刻要求,而在体积、重量、电效率、维护保养能力和成本等方面的要求又不苛刻。因此目前大量用来装备常规火控和对空防御的海军舰只,如掩护(无声雷达)舰载飞机回收和与红外热成像、电视等组成跟踪系统,全天候监视和跟踪空中目标等独特的舰上应用正在出现,2d激光位移传感器‍应用前景相当广泛。近些年来相关部门和相关企业在大力研发水上激光位移传感器‍设备系统,尤其一些潜艇有望通过该种传感设备来实现高精度打击,这要求系统具有潜水能...
发布时间: 2020 - 09 - 04
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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