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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
激光测距传感器既特别适宜应用于各类形状物体的位置、尺寸以及长宽高的测量,同时又特别适宜测试部分在轨道上运动的物体位置、速度以及长度等相关参数。许多人非常疑惑激光测距传感器发出的什么光线,事实上它们所发出的是光脉冲,现在就激光测距传感器的现场使用建议包括哪些内容作简要阐述:1.确定模拟输出量的稳定性激光测距传感器是通过光学发射系统和光学接受系统实现的,故而在现场测试需要确定模拟输出量的稳定性。若是模拟量输出不稳定,那么有可能导致信号强度低于固定标准值,这时需要现场检查待测目标的反射率情况,从而使其拥有足够强的信号强度。2.经常检查激光点的位置和亮度在现场应用激光测距传感器测量工业起重机的定位以及进行轨道式车辆定位测量时,要注意经常检查激光点的位置和亮度。如果激光点偏离轨道式车辆或者工业起重机指定的测量区域,那么就需要及时进行调整,避免偏差过大影响测量结果。3.露天测量需增加遮阳防雨罩据了解现今绝大多数的激光测距传感器都是用于露天测量。为了避免激光测距传感器在露天测量时受到风雨点或者过高温度环境的影响,建议增加遮阳防雨装置后再行测量,同时现场测量时还应尽量保证具有良好的通风散热性能。激光测距传感器的应用范围已随其性能的提升而不断扩展,因此现今无论是大型测距器还是小型激光测距传感器都得到广泛应用。激光测距传感器在现场使用时除了需要注意确定模拟输出量的稳定性,同时还需要经常检查激光点的位置...
发布时间: 2020 - 09 - 17
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激光位移传感器的性能与应用功能已得到不断完善与提升,它在食品、钢铁以及冶金等加工领域都实现了广泛应用。这是因为激光位移传感器精度非常高,无论选用哪一种测量方法都不会造成较大偏差,现在就激光位移传感器各内部组成单元的作用是什么作简要阐述:1.处理器单元处理脉冲信号激光位移传感器内置数字处理器单元,通过数字处理器单元的控制与分析便于迅速计算出传感器和被测物之间的距离。光束在接收元件的位置后便会通过模拟以及数字电路处理并且通过微处理器分析获得相应的输出值,同时在模拟窗口按比例输出标准信号数据。2.激光发射器发射检测脉冲激光位移传感器是利用激光发射器发射数百万个脉冲到待检测物中并返回至接收器。因为激光发射器是测距、测位移必不可缺的重要组成单元,现今绝大多数的激光发射器都具有相干性好、平行度好以及亮度高等多重特性,故而它可确保所发射的脉冲具有恒定的强度以及稳定的行进路线。3.回波处理单元处理回波脉冲信号回波处理单元是激光位移传感器较为重要的组成部分之一。它的主要作用是将被测物返回的脉冲进行必要的处理,故而它可辅助位移传感器完成对振动、直径以及距离等精密几何数据的分析与处理,许多的检测者更是将它大量应用于长距离检测领域。激光位移传感器是高科技作用下新型的非接触性测量装置,许多人也是基于此而密切关注激光位移传感器西安。而据相关反馈表明激光位移传感器的处理器单元会实时处理各类脉冲信号,它的激光发射...
发布时间: 2020 - 09 - 16
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话说,在工业传感器界,邦纳工程早就针对广大用户的痛点,推出了双模检测的Q4X激光传感器,在检测目标物距离的同时还能检测对比度,堪称工业传感器界的双卡双待机!让我们通过下面某位工控帅哥的真情告白,一窥邦纳双模英雄Q4X!你那不锈钢316L外壳第一眼就让我无法忘却,带角度的显示屏让我们通过你清晰地了解这个世界,明亮的LED指示灯让我们随时感知到这个世界的危险和精彩。IP69K的防护以及耐腐蚀的素质使我们觉得你是如此的安全可靠。这个多彩的世界让你的竞争者对于黑、白、金属色泽爱莫能助,而你却能够稳定可靠的检测。你的横空出世给了兄弟姐妹们无限的信心,他们不仅仅在舞台上展示了你们固有的能力和特征,还从你们高贵的血统中延伸出了“DAUL MODE”的超能力,使得透明物体在你们面前无处可逃。你的家族还与时俱进的增加了IO-link的通讯方式,让你们成为了时髦的代言。刚出生的老幺,却具备超长的感知能力(610mm),让家族的制空能力得到提升。战斗力:• 双模模式,可以解决检测透明物和防错应用;• 无论目标表面反射率如何Q4XT/F系列产品可解决基于距离检测困难的应用,例如黑色泡沫,黑色的橡胶,金属材质,彩色的包装,多种颜色的目标物;• 可靠的检测距离为25到100 mm、25到300mm、35mm到610mm;• 能够检测到最小变化量为0.5 mm;• 直观的输出指示灯和带角度的...
发布时间: 2018 - 12 - 09
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据调查反馈激光测距传感器既可以采用脉冲测距法,也可以采用相位测距法,这两者各有各的优势。但是绝大多数的激光测距传感器应用都是优先考虑脉冲测距法,但是这时的光脉冲需要符合相应的条件方可执行,现在就用于激光测距传感器的光脉冲应符合哪些要求作简要阐述:1.光脉冲要有足够的强度激光测距传感器的脉冲激光测距指的是向被测目标发射一个光脉冲,再由接收系统接收目标反射回来的光脉冲,由此通过测算光脉冲往返的时间来推算目标的距离。但是若是测量距离较远,那么激光器所发射的光脉冲必须要有足够的强度,以免强度不够无法支撑反射来回。2.光脉冲的方向性和单色性要好用于激光测距传感器的光脉冲还应符合光脉冲的方向性和单色性要好等要求。因为测程的精度与光脉冲的方向性和单色性息息相关,若是光脉冲的方向性和单色性较差,那么便不利于迅速捕捉待测物体的信息,同时也会大大影响待测精度的高低。3.光脉冲的宽度要窄据众多专家分析表明光脉冲的宽度也会大大影响激光测距传感器的测量精度。因为它的测量主要是通过时钟脉冲进行计数,若是光脉冲的宽度越宽,那么其测量精度也会随之变高;反之,若是光脉冲的宽度较窄,那么时钟脉冲也会因此受到影响。激光测距传感器拥有可靠的距离测量功能,且不惧风雨以及其它恶劣环境的影响。但是若想准确掌握激光测距传感器范围,那么激光测距传感器所用的光脉冲除了需要符合满足强度的要求外,还需要满足方向性和单色性好以及光脉冲的宽...
发布时间: 2020 - 09 - 15
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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