答案是肯定的，LTS-I 系列通过关键参数设计，直接满足纳米级测量需求，核心精度指标如下：
重复精度达纳米级：测量 n=1.5 的玻璃样品时，重复精度 < 2nm rms，误差控制在纳米级别，确保多次测量结果稳定一致。
线性误差极小：线性误差 <±0.1μm，进一步降低测量偏差，适合对线性度要求极高的精密场景。
精准光斑保障精度：光斑直径仅 Φ20μm（测厚型探头为参考距离处数值，测距型探头为量程中心位置数值），能聚焦于微小测量点，减少非目标区域干扰。
可以，LTS-I 系列通过 “控制器 + 适配探头” 的组合，同时覆盖位移（测距）与厚度测量，具体配置与参数如下：
控制器核心：统一搭配 LTS-IRC5400-S 控制器，支持 1 个传感头连接，采样频率最高达 40kHz，可快速捕捉动态测量数据。
测距型方案（LTS-IRP-D20 探头）：参考距离 20mm，适合高精度位移检测，如精密部件的位置偏移、振动位移测量。
测厚型方案（LTS-IRP-T50 探头）：参考距离 50mm，量程范围随被测物体折射率（n）变化，覆盖多类材料：
n=1 时，量程 50~4000μm（如透明薄膜）；
n=1.5 时，量程 33.3~2667μm（如玻璃、光学镜片）；
n=3.5 时，量程 14.3~1143μm（如高折射率晶体）。
LTS-I 系列的纳米级精度与多场景适配性，使其能支撑以下高精尖领域的核心测量需求：
半导体制造领域：晶圆厚度检测、芯片键合位移校准
半导体晶圆厚度需精准控制在微米级，LTS-I 的 <±0.1μm 线性误差与 Φ20μm 小光斑，可避免损伤晶圆表面，同时 40kHz 高采样频率能匹配晶圆生产线的高速检测节奏。
光学元件制造领域：透镜厚度测量、镜片表面位移检测
光学透镜（如相机镜头、激光镜片）对厚度均匀性要求极高，LTS-IRP-T50 探头可适配不同折射率镜片（n=1.5 常见玻璃材质），结合 TSConfocalStudio 测控软件，能实时生成厚度数据报表，便于质量管控。
精密机械装配领域：导轨位移校准、轴承间隙测量
高端数控机床、机器人导轨的位移精度直接影响加工精度，LTS-IRP-D20 探头的 20mm 参考距离与 ±2° 测量角度，可精准校准导轨直线度，RS485 接口（支持 Modbus 协议）还能与机械控制系统联动，实现实时调整。
航空航天零部件测试领域：涡轮叶片厚度检测、舱体密封件位移监测
航空发动机涡轮叶片厚度需耐受高温且精度达标，LTS-I 系列 IP40 防护等级与 10~40℃工作温度范围，可适应车间测试环境，4~20mA 模拟电流输出能直接对接航空零部件测试系统，输出标准化数据。
除核心精度外，LTS-I 系列的硬件与软件设计进一步适配高精尖领域的工业场景：
丰富接口兼容工业系统：支持 100BASE-TX Ethernet、USB2.0 High Speed、RS485（9600~115200 波特率）接口，可对接 PLC、工业电脑、数据采集系统，满足自动化测量需求。
软件与二次开发支持：自带 TSConfocalStudio 测控软件，可直接设置参数、查看数据；提供 C++ 及 C# 二次开发包，方便企业根据自身场景定制测量程序。
稳定的工业级性能：控制器采用 24VDC±10% 供电，电流消耗约 0.4A，重量约 5700g，便于集成到工业设备中；探头外径 Φ10mm（D20 探头长度 58.5mm，T50 探头长度 26.5mm），可在狭小空间安装。
应用场景 | 核心测量需求 | 适配探头型号 | 关键性能参数 | 接口与通信配置 | 适配优势及备注 |
半导体制造领域 | 晶圆厚度检测、芯片键合位移校准 | LTS-IRP-T50（测厚） | 重复精度＜2nm rms（n=1.5 时），线性误差＜±0.1μm，量程 33.3~2667μm（n=1.5），光斑 Φ20μm，采样频率 40kHz | 控制器：LTS-IRC5400-S接口：100BASE-TX Ethernet、USB2.0、RS485（Modbus）输出：4~20mA 电流、数字信号 | 零接触测量避免晶圆损伤，Ethernet 支持高速在线检测，搭配 TSConfocalStudio 生成质量报表 |
光学元件制造领域 | 透镜 / 镜片厚度测量、表面位移检测 | LTS-IRP-T50（测厚） | 量程 50~4000μm（n=1，薄膜）、33.3~2667μm（n=1.5，玻璃），测量角度 ±2°，光斑 Φ20μm | 控制器：LTS-IRC5400-S接口：USB2.0（参数配置）、RS485（数据传输）输出：0~10V 电压、警报信号 | 适配不同折射率光学材料，小光斑确保边缘测量精度，支持二次开发定制检测流程 |
精密机械装配领域 | 导轨位移校准、轴承间隙测量 | LTS-IRP-D20（测距） | 参考距离 20mm，重复精度＜2nm rms，采样频率 40kHz，探头尺寸 Φ10×58.5mm | 控制器：LTS-IRC5400-S接口：RS485（Modbus，联动 PLC）、USB2.0输入：AB/ABZ 编码器信号 | 小尺寸探头适配狭小安装空间，RS485 实现与机械系统实时联动校准，测量角度 ±2° 适配多方位检测 |
航空航天零部件测试领域 | 涡轮叶片厚度检测、密封件位移监测 | LTS-IRP-T50（测厚） | 量程 14.3~1143μm（n=3.5，晶体），防护等级 IP40，工作温度 10~40℃ | 控制器：LTS-IRC5400-S接口：100BASE-TX Ethernet、RS485输出：4~20mA 电流、比较器输出 | 耐受工业测试环境，模拟电流输出适配航空测试系统，高采样频率捕捉动态位移变化 |