服务热线: 0510-88155119
13301510675@163.com
Language

激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南 (上)

日期: 2025-01-14
浏览次数: 328
发表于:
来自 泓川科技
发表于: 2025-01-14
浏览次数: 328

一、引言

1.1 激光位移传感器概述

激光位移传感器,作为工业测量领域的关键设备,凭借其卓越的非接触测量特性,正日益成为众多行业实现高精度测量与自动化控制的核心技术。它主要利用激光的反射特性,通过精确测量反射光的相关参数,实现对目标物体的位移、距离、厚度等几何量的精准测定。这一技术的诞生,为现代制造业、科研实验以及诸多工业生产过程,提供了高效、可靠且精准的测量手段。

其工作原理基于激光三角测量法和激光回波分析法。激光三角测量法常用于高精度、短距离测量场景。在该方法中,激光位移传感器发射出一束激光,射向被测物体表面,物体表面反射的激光经由特定的光学系统,被传感器内部的探测器接收。根据激光发射点、反射点以及探测器接收点之间所构成的三角几何关系,通过精密的计算,能够精确得出物体与传感器之间的距离 。激光回波分析法更适用于远距离测量,传感器以每秒发射大量激光脉冲的方式,向被测物体发送信号,随后依据激光脉冲从发射到被接收的时间差,精确计算出物体与传感器之间的距离。

激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南 (上)

在工业测量领域,激光位移传感器的重要地位不容小觑。在汽车制造行业,它被广泛应用于车身零部件的尺寸检测、装配精度控制等环节。通过对汽车零部件的精确测量,能够确保各个部件的尺寸符合设计要求,从而提升整车的装配质量和性能。在电子制造领域,激光位移传感器可用于检测芯片的尺寸、平整度以及电子元件的贴装精度等。在芯片制造过程中,其微小的尺寸和极高的精度要求,使得激光位移传感器成为保证产品质量的关键工具。在航空航天领域,该传感器更是发挥着不可或缺的作用,从飞机零部件的制造到飞行器的装配,都离不开激光位移传感器对尺寸和位置的精确测量,这对于保障航空航天设备的安全性和可靠性至关重要。


1.2 研究目的与意义

本指南旨在为激光位移传感器的初学者提供全面且实用的测量技巧,帮助他们快速掌握该技术的应用要点,提升测量的准确性与效率。通过深入剖析在不同环境和测量对象下的应对策略,如高温环境、强反射镜面以及存在障碍物的场景,为初学者提供针对性的解决方案,使其能够根据实际情况灵活选择和调整测量方法。介绍扩大测量范围的技巧以及PC分析技巧,有助于初学者充分挖掘激光位移传感器的性能潜力,实现更广泛、更深入的测量应用。

在学术研究方面,对激光位移传感器测量技巧的深入探讨,能够丰富该领域的理论与实践知识体系。为相关学科的研究提供更为详实的技术参考,推动激光测量技术在学术层面的进一步发展。在实际应用中,正确运用这些测量技巧,对于工业生产而言,可显著提升产品质量控制水平。在汽车制造、电子设备生产等行业,精准的测量能够确保零部件的尺寸精度和装配质量,减少次品率,提高生产效率和企业经济效益。在科研实验中,精确的测量结果是保证实验数据可靠性和科学性的关键,有助于科研人员得出准确的研究结论,推动科学技术的创新与发展。

二、激光位移传感器基础原理与类型

2.1 工作原理详解

2.1.1 激光三角测量法

激光三角测量法是激光位移传感器中一种广泛应用的测量原理,其工作过程基于精确的几何光学原理。在这一测量机制中,激光位移传感器主要由激光发射器、镜头、CCD线性相机以及信号处理单元构成。当激光发射器开启时,它会发射出一束具有高度方向性和能量集中特性的可见红色激光 ,该激光束在镜头的作用下,以特定的角度射向被测物体表面。

当激光束照射到物体表面后,会遵循光的反射定律发生反射。反射光在经过镜头的聚焦和折射后,被引导至内部的CCD线性相机进行接收。CCD线性相机作为一种重要的光电转换器件,能够将接收到的光信号转化为电信号,并以像素的形式记录下来。由于物体与传感器之间的距离不同,反射光在CCD线性相机上的成像位置也会相应地发生变化 。这就意味着,当物体距离传感器较近时,反射光在CCD线性相机上的成像点会偏向一侧;而当物体距离传感器较远时,成像点则会偏向另一侧。

为了更直观地理解这一原理,我们可以通过一个简单的例子来说明。假设我们有一个CCD线性相机,其像素排列成一条直线,共有1000个像素点。当激光束照射到距离传感器较近的物体表面时,反射光在CCD线性相机上的成像点可能位于第200个像素点处;而当物体距离传感器较远时,反射光的成像点可能会移动到第800个像素点处。这种成像点位置的变化,实际上反映了物体与传感器之间距离的改变。

数字信号处理器正是基于这种成像点位置的变化以及已知的激光和相机之间的固定距离,通过精密的三角几何关系计算,来确定传感器与被测物体之间的准确距离。具体的计算过程涉及到三角函数的运用,例如,已知激光发射器与CCD线性相机之间的距离为L,激光束的发射角度为θ,以及反射光在CCD线性相机上的成像点相对于相机中心的偏移量为x,那么根据三角函数的关系,可以计算出物体与传感器之间的距离d为:d = L * tan(θ) / (1 + tan(θ) * x / L) 。通过这种精确的计算方式,激光位移传感器能够实现对物体距离的高精度测量。

在实际应用中,激光三角测量法具有诸多显著的优势。由于它采用非接触式测量方式,避免了对被测物体表面的物理接触,从而不会对物体造成任何损伤,这对于一些表面质量要求较高或易损的物体来说尤为重要。该方法能够实现高精度的测量,其分辨率通常可以达到微米甚至亚微米级别,满足了许多对精度要求苛刻的工业生产和科研实验需求。然而,激光三角测量法也存在一定的局限性。它的测量范围相对较窄,一般适用于近距离的测量场景,通常在数毫米到数米之间 。在测量过程中,它对被测物体的表面特性较为敏感,例如物体表面的粗糙度、颜色和反射率等因素,都可能会对测量结果产生一定的影响。当被测物体表面过于光滑或具有高反射率时,可能会导致反射光过于强烈,从而使CCD线性相机出现饱和现象,影响测量的准确性 。如果物体表面颜色较深或吸收率较高,反射光的强度可能会减弱,同样也会对测量精度产生不利影响。

2.1.2 激光回波分析法

激光回波分析法是另一种常见的激光位移传感器测量原理,它主要通过精确计算激光脉冲的往返时间来确定物体与传感器之间的距离。在采用激光回波分析法的激光位移传感器中,核心部件包括激光发射器、激光接收器、高速计时器以及信号处理单元。

工作时,激光发射器会以极高的频率,通常每秒发射数百万个激光脉冲,向被测物体所在方向发射短而强的激光脉冲 。这些激光脉冲以光速在空气中传播,当遇到被测物体后,部分脉冲会被物体表面反射回来。激光接收器的作用就是捕获这些反射回来的激光回波信号。

高速计时器在整个测量过程中扮演着至关重要的角色,它能够精确记录激光脉冲从发射到被接收所经历的时间。由于光在空气中的传播速度是一个已知的常量,约为299,792,458米/秒,根据距离等于速度乘以时间的原理,通过测量激光脉冲的往返时间t,就可以计算出物体与传感器之间的距离d,计算公式为d = c * t / 2,其中c为光速。在实际应用中,为了提高测量的准确性和可靠性,传感器通常会对多次测量的结果进行平均处理。这是因为在测量过程中,可能会受到各种因素的干扰,如环境噪声、物体表面的反射特性不均匀等,这些因素可能导致单次测量结果存在一定的误差。通过对多次测量结果进行平均,可以有效地降低这些误差的影响,提高测量的精度。

例如,在一次测量中,高速计时器记录的激光脉冲往返时间为10纳秒,根据上述公式计算可得,物体与传感器之间的距离d = 299,792,458 * 10 * 10^-9 / 2 ≈ 1.5米。为了确保测量的准确性,传感器可能会进行100次这样的测量,并将这100次测量结果进行平均。假设这100次测量结果的总和为150米,那么平均距离则为1.5米,通过这种方式,可以得到更为可靠的测量结果。

激光回波分析法的最大优势在于其能够实现远距离的测量,其测量范围可以达到几十米甚至数百米,这使得它在一些需要对远距离物体进行监测和测量的场景中具有不可替代的作用。在大型建筑工程的测量中,如高楼大厦的高度测量、桥梁跨度的监测等,激光回波分析法能够轻松地实现对这些远距离目标的精确测量。在港口物流领域,用于测量集装箱的位置和距离,以及在矿山开采中,对矿石堆的高度和体积进行测量等,都离不开激光回波分析法的应用。
然而,与激光三角测量法相比,激光回波分析法的测量精度相对较低。这是因为在测量过程中,激光脉冲的往返时间非常短暂,对高速计时器的精度要求极高。尽管现代技术已经能够制造出高精度的高速计时器,但在实际应用中,仍然难以避免受到各种因素的影响,如电子噪声、温度变化等,这些因素都可能导致时间测量的误差,从而影响距离测量的精度 。激光回波分析法对测量环境的要求也较高,例如在恶劣的天气条件下,如大雨、大雾或沙尘天气,激光脉冲在传播过程中可能会受到散射和吸收,导致反射光的强度减弱,从而影响测量的准确性。在强电磁干扰环境中,也可能会对传感器的电子元件产生影响,导致测量误差增大。

2.2 常见类型及特点

2.2.1 不同原理传感器特点

激光位移传感器根据其工作原理的不同,主要可分为基于三角测量法的传感器和基于回波分析法的传感器,它们在精度、测量范围等特性上存在着显著的差异。

基于三角测量法的传感器,以其卓越的精度表现而备受关注。在工业生产中,对于一些高精度要求的场景,如电子芯片制造过程中对芯片引脚间距的测量,其精度通常能够达到微米甚至亚微米级别。这是因为三角测量法利用激光发射点、反射点和接收器之间精确的三角几何关系进行距离计算,通过对反射光在CCD或CMOS探测器上成像位置的精确测量,能够实现对微小距离变化的敏锐感知。这种高精度的测量能力,使得它在对尺寸精度要求极高的精密制造领域,如航空航天零部件加工、精密机械制造等行业中,发挥着不可或缺的作用。

在测量范围方面,三角测量法传感器相对较为有限,一般适用于近距离测量,通常在数毫米到数米之间 。这是由于随着测量距离的增加,反射光的强度会逐渐减弱,同时反射光在探测器上成像的角度变化也会变得更加微小,从而导致测量精度的下降。在对小型精密零部件进行检测时,由于零部件尺寸较小,测量距离通常在较短范围内,三角测量法传感器能够很好地满足高精度测量的需求。
基于回波分析法的传感器,其最大的优势在于能够实现远距离测量。在一些大型基础设施建设、物流仓储管理等领域,对远距离物体的测量需求较为常见。在港口集装箱堆放区域,需要对集装箱的位置和距离进行监测,以确保集装箱的安全堆放和高效搬运。回波分析法传感器的测量范围可以轻松达到几十米甚至数百米,这使得它能够在这些远距离测量场景中发挥重要作用。

回波分析法传感器的精度相对较低,一般在毫米到厘米级别。这是因为其测量原理是基于激光脉冲的往返时间,而在实际测量过程中,激光脉冲的往返时间非常短暂,对时间测量的精度要求极高。尽管现代技术能够实现高精度的时间测量,但在实际应用中,仍然难以避免受到各种因素的干扰,如环境噪声、物体表面的反射特性不均匀等,这些因素都可能导致测量误差的产生。在大型建筑工程中,对建筑物的整体尺寸进行测量时,虽然对精度要求相对不是特别高,但需要测量的距离较远,回波分析法传感器能够满足这种远距离测量的需求。

2.2.2 各类传感器适用场景

不同类型的激光位移传感器因其独特的性能特点,在各自适用的场景中发挥着关键作用。在电子制造行业,芯片制造环节对精度的要求极高。芯片上的电路线条宽度通常在微米甚至更小的尺度,任何微小的尺寸偏差都可能导致芯片性能下降甚至失效。在这种情况下,基于三角测量法的激光位移传感器成为了首选。它能够精确测量芯片的尺寸、引脚间距以及表面平整度等参数,确保芯片的制造质量符合严格的标准。在手机屏幕制造过程中,需要对屏幕的尺寸、贴合精度等进行检测,三角测量法传感器同样能够凭借其高精度的特性,为生产过程提供可靠的测量数据。

在大型物体的位置监测场景中,如港口码头的集装箱定位、大型仓库中货物的堆放位置检测等,基于回波分析法的激光位移传感器则更具优势。由于这些场景中需要测量的距离较远,回波分析法传感器能够轻松覆盖所需的测量范围。在港口,通过在岸边安装回波分析法激光位移传感器,可以实时监测集装箱在码头上的位置,为装卸作业提供准确的位置信息,提高装卸效率和安全性。在大型仓库中,利用这种传感器可以对货物的堆放位置进行精确监测,便于仓库管理系统对货物进行高效的管理和调度。

汽车制造领域,激光位移传感器在多个环节都有广泛应用。在车身焊接过程中,需要确保各个零部件的焊接位置准确无误,以保证车身的整体结构强度和外观质量。基于三角测量法的传感器可以精确测量零部件的位置和尺寸,为焊接机器人提供准确的定位信息,实现高精度的焊接作业。在汽车零部件的质量检测环节,如发动机缸体的尺寸检测、车轮的动平衡测量等,不同类型的激光位移传感器可以根据具体的测量需求进行选择。对于高精度的尺寸测量,三角测量法传感器能够满足要求;而对于一些相对远距离的测量,如车轮与车身之间的距离测量,回波分析法传感器则更为适用。

三、测量前准备工作

3.1 传感器选型要点

3.1.1 根据测量需求选参数

在选择激光位移传感器时,测量精度是首要考量的关键参数。对于精密电子元件的制造,如芯片引脚间距的测量,往往需要精度达到微米甚至亚微米级别的传感器。这是因为芯片引脚间距极为微小,任何细微的偏差都可能导致芯片在后续的组装和使用过程中出现电气性能问题,甚至使整个芯片失效。在电子芯片制造中,芯片引脚间距通常在几十微米左右,若测量精度不足,可能会导致引脚焊接不精确,从而影响芯片的电气连接性能 。

测量范围同样不容忽视。在大型机械制造中,如船舶、飞机的零部件加工,由于零部件尺寸较大,需要测量的距离范围也相应较大。在船舶制造中,测量船体板材的厚度、零部件的安装位置等,可能需要测量范围在数米甚至数十米的传感器。若选择的传感器测量范围过小,将无法满足实际测量需求,导致无法对这些大型零部件进行全面、准确的测量。

测量速度也是一个重要的参数,尤其在高速生产线中。以汽车零部件的自动化装配生产线为例,零部件在生产线上快速移动,需要传感器能够快速捕捉并测量其位置和尺寸信息。若传感器的测量速度过慢,可能会导致数据采集不及时,无法实时反馈生产线上零部件的状态,从而影响整个生产线的运行效率,甚至可能导致生产过程中的错误装配。

3.1.2 考虑环境因素

环境因素对激光位移传感器的性能有着显著的影响,在选型时必须予以充分考虑。在高温环境下,如钢铁冶炼、玻璃制造等行业,传感器会受到高温的直接作用。高温可能导致传感器内部的电子元件性能下降,甚至损坏。钢铁冶炼过程中,熔炉附近的温度可高达上千摄氏度,普通的激光位移传感器在这样的环境下很难正常工作。因此,需要选择具有耐高温特性的传感器,这类传感器通常采用特殊的散热设计和耐高温材料,以确保在高温环境下能够稳定运行。

激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南 (上)

强光环境也是一个需要关注的问题。在户外的大型工程测量中,如桥梁建设、道路施工等,传感器可能会受到阳光直射以及周围环境反射光的影响。强光可能会干扰传感器接收反射光的信号,导致测量数据出现偏差。在阳光强烈的天气下,对桥梁结构进行变形监测时,阳光的直射可能会使传感器接收到的反射光信号变得不稳定,从而影响测量结果的准确性。为应对这种情况,可选择具有抗强光干扰功能的传感器,这类传感器通常配备特殊的光学滤镜或信号处理算法,能够有效过滤强光干扰,保证测量的准确性。

振动环境同样会对传感器的测量精度产生影响。在机械加工车间,各种机械设备在运行过程中会产生不同程度的振动。振动可能导致传感器的安装位置发生微小变化,进而影响测量结果的准确性。在数控机床加工过程中,机床的振动可能会使安装在其工作台上的激光位移传感器发生位移,导致对加工零件的尺寸测量出现偏差。为解决这一问题,应选择具有良好抗震性能的传感器,或者采用特殊的安装方式和减震装置,以减少振动对传感器的影响 。

激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南 (上)


3.2 安装与调试

3.2.1 正确安装方法

安装位置的选择对激光位移传感器的测量精度有着至关重要的影响。在工业生产中,若安装位置不当,可能会导致传感器无法准确获取被测物体的反射光信号。在机械加工车间,若将传感器安装在靠近大型机械设备的位置,机械设备运行时产生的振动可能会使传感器的安装位置发生微小变化,从而导致测量误差的产生。为避免这种情况,应选择远离振动源的稳定位置进行安装,如专门的安装支架或平台,确保传感器在测量过程中能够保持稳定。

安装角度同样不容忽视。当激光束以不合适的角度照射到被测物体表面时,反射光可能无法被传感器准确接收。在测量具有复杂表面形状的物体时,如果传感器的安装角度不合适,可能会导致部分反射光无法进入传感器的接收范围,从而影响测量的准确性。因此,在安装前,需根据被测物体的形状和表面特性,精确计算并调整传感器的安装角度,以确保激光束能够垂直或近似垂直地照射到被测物体表面,使反射光能够最大限度地被传感器接收 。

3.2.2 调试流程与要点

调试激光位移传感器时,参数设置是关键环节。测量频率的设置需根据被测物体的运动速度来确定。在高速生产线中,被测物体快速移动,此时应设置较高的测量频率,以确保传感器能够及时捕捉到物体的位置变化。若测量频率设置过低,可能会导致数据采集不完整,无法准确反映物体的运动状态。在汽车零部件的高速装配线上,零部件的移动速度较快,需要将传感器的测量频率设置在较高水平,如每秒测量数百次甚至上千次,以保证能够准确测量零部件的位置和尺寸。

校准是确保测量准确性的重要步骤。校准过程中,需使用标准的测量器具对传感器进行标定。在对长度进行测量时,可使用高精度的标准量块作为校准基准。将标准量块放置在传感器的测量范围内,记录传感器的测量值,并与标准量块的实际尺寸进行对比。若存在偏差,需根据传感器的操作手册进行相应的调整,以消除测量误差。在使用激光位移传感器测量工件长度时,若标准量块的实际长度为100毫米,而传感器测量值为100.05毫米,此时就需要对传感器进行校准调整,使其测量值接近标准量块的实际长度 。在校准过程中,还需注意环境因素的影响,如温度、湿度等,尽量在校准和实际测量过程中保持环境条件的一致性,以提高校准的准确性和测量结果的可靠性。



News / 推荐阅读 +More
2025 - 10 - 21
点击次数: 129
在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、...
2025 - 09 - 05
点击次数: 124
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦...
2025 - 09 - 02
点击次数: 108
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 4...
2025 - 08 - 30
点击次数: 139
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着...
2025 - 08 - 12
点击次数: 157
在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中,一个棘手的矛盾始终存在:一方面,设备内部空间日益紧凑,毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”;另一方面,随着产品结构复杂化,对测量量程的需求不断提升,5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量?无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜,以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”,既节省安装空间,又兼容大量程需求,重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点:空间与量程难以两全在精密测量领域,侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号,凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计,其量程多集中在 2.5mm 以内(如 LTCR4000 量程为 ±2mm),难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择...
About Us
关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
销售热线:0510-88155119 
图文传真:0510-88152650
Working Time
我们的工作时间
周一至周五:8:00-18:00
周六至周日:9:00-15:00
Shown 企业秀 More
  • 1
    2022 - 12 - 03
    无论是半导体加工过程中还是锂电池制造过程中总是伴随着腐蚀,高温振动等恶劣环境,为了保证生产的高效稳定,无锡泓川科技推出了多种具有不同钢铁不锈钢金属外壳的激光位移传感器,具有高防护性,可以从容的面对各种复杂的环境。在生产过程中总是在恶劣的环境中进行。在当今的环境中,自动化解决方案有时会暴露在非常困难的生产条件下。而且还必须具有可靠的功能,这对传感器技术来说是一个挑战。无锡泓川科技有限公司广泛的测试程序,确保了我们的激光位移传感器能够承受恶劣的环境要求。例如在电子行业中电子产品在我们日常生活中扮演着重要的角色。无论是在电动巴士和汽车的电池中,还是在太阳能发电模块中。自动化生产在电子工业的许多领域都是非常复杂的。真空和高温环境是随处可见的。使用的化学物质具有腐蚀性。这不仅影响生产条件和机器在许多应用领域,传感器解决方案也面临着新的挑战。那么能满足这些挑战的出色的激光位移传感器是什么样的呢?在某些情况他必须能抗抵抗至少70度到100度的高温。或者他必须能承受真空环境并且具有腐蚀性,化学物质的过程中也能抗拒。他应该有特别耐用的材料制成如不锈钢甚至特氟龙材料。无锡泓川科技有限公司提供范围广泛的激光位移传感器和激光位移传感器技术,尤其适用于恶劣环境。
  • 2
    2024 - 01 - 21
    摘要:本文将详细阐述高精度激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中的应用情况。我们使用的激光测距传感器能够准确测量涂层厚度在1-10μm之间的极片,而且其精度能达到0.15μm。并且,通过特殊的同步计算过程和测厚技术,我们成功解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差。我们的传感器还具有定制化的宽光斑特性,能够应对涂层厚度不均匀的情况,从而得到极片全表面的平均值。1. 导言锂电池在移动设备、电动汽车等领域的应用日益广泛,其中极片的涂层厚度对电池性能影响显著。传统的接触式和机械式测量方法经常无法满足需求,而我们的高精度激光测距传感器正好拥有非接触测量和高精度测量的优势。2. 测量系统与技术我们使用的是一种高精度激光测距传感器,它可以准确测量出微米级别的厚度,并且精度能够达到0.15μm。我们通过使用专业的同步运算程序和射测厚技术,成功地解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差问题。此外,该传感器还具有定制化的宽光斑特性,能够应对涂层厚度不均匀的情况,从而得到极片全表面的平均值。3. 实验结果与效果分析多次实验结果证明,我们使用的激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中展现出了可靠性和准确性。实验结果显示,该传感器能够稳定地测量出微米级别的涂层厚度。通过专业的同步运算程序和射测厚技术,我们成功地解决了测量误差问题。定制化的宽光斑特性使得传感器可以应对涂层厚度不均匀的情况,从而...
  • 3
    2025 - 04 - 07
    在大型工件检测、锂电池极片测厚、航空航天等高精度长距测量场景中,传感器需兼具大范围扫描能力与微米级精度,同时解决多设备空间协同难题。无锡泓川科技LTPD50激光位移传感器创新采用中空分体式结构设计,以50mm超长参考距离、0.05μm重复精度及进口半价成本,突破进口设备在长距高精度领域的垄断,为工业用户提供“远距精准测量+多设备同轴集成”的国产化标杆方案。核心优势:中空架构+超长量程,重构工业检测边界中空同轴设计,赋能多设备协同φ25mm贯通孔:传感器主体中空,支持工业相机、激光打标头等外设直接穿过,实现测量点与操作中心零偏差同轴,解决传统长距传感器体积大、遮挡视野的痛点。超薄机身:紧凑型设计(74205110mm),适配机器人导轨、自动化产线等空间受限场景,安装灵活性提升60%。长距高精度,性能对标进口50mm参考距离±0.8mm量程:覆盖锂电池极片、金属板材等大尺寸工件的高精度厚度检测需求,减少传感器移动频次。0.05μm重复精度:媲美基恩士LK-G系列,线性误差**成本颠覆:售价仅为进口同类产品的40%~50%,且无需外置控制器,综合成本降低70%。硬核参数:长距测量的性能标杆参数LTPD50(无锡泓川)进口竞品(如基恩士LK-G500)参考距离50mm50mm测量范围±0.8mm±0.5mm重复精度0.05μm(无平均)0.1μm采样频率160...
  • 4
    2023 - 09 - 26
    1 激光光热技术测厚:原理是利用激光照射材料,产生的热量使材料产生变化,再通过光学方式检测这种变化以确定材料的厚度。优点是非接触式、无损伤、准确;缺点也是显而易见的,对于颜色、形状、表面纹理等都有不同程度的影响。2 白光干涉测厚:原理是使用白光干涉仪产生干涉图案,然后通过分析干涉图案得材料厚度。优点是测量精度高、灵敏度高;缺点是设备复杂且成本高昂。3 激光干涉测厚:主要是利用激光波的相干性,测量物体的干涉条纹来反推出物体的厚度。优点是测量精度高、速度快;但激光源的稳定性和调节技术要求比较高。4 光谱共聚焦测厚:该方法是根据材料对不同波长光的反射、折射和吸收特性,同时探测所有波长的光谱,从而计算出材料厚度。优点是测量准确、适用范围广;缺点是设备复杂、操作要求高。5 椭圆偏光法测厚:原理是利用光的偏振特性对材料进行测量,根据计算出材料厚度。优点是接触、无损伤,但适用范围有限。6 红外吸收法测厚:红外吸收法是指通过测定红外光在材料中吸收的程度来推断优点是测量过程简单、直观、精度高;缺点是对材料的红外吸收特性有严格要求。7 X/β射线测厚:主要是利用X射线或者β射线穿透材料时,穿透的射线强度和物体的厚度之间存在一定的关系。优点是精确、可靠;缺点是人体安全需要考虑。8 电容测厚:原理是利用两极板间的电容量与介质厚度成正比,通过测量电容量来测量厚度。优点是设备简单、便宜;缺点是精度较低。9 反...
  • 5
    2024 - 03 - 05
    在测量被透明物体覆盖的目标时,环境照明补偿和透视测量是提高测量准确性的重要手段。这些技术的应用,在智能手机等电子设备的制造过程中,具有至关重要的作用。首先,让我们来探讨一下环境照明补偿的作用。在生产线环境中,照明条件往往并不稳定,这会对测量精度产生严重影响。环境照明补偿技术通过自动调整传感器参数,以补偿外部光照条件的变化,使得测量系统能在不同的照明条件下都能保持稳定的测量性能。这就使得我们在测量被透明物体(如手机屏幕)覆盖的目标时,能够得到更为准确的结果。其次,透视测量技术则能够解决透明物体对测量造成的干扰。由于透明物体会让部分光线穿过,使得传统的测量技术难以准确捕捉目标的位置和形状。而透视测量技术则能够通过特殊的光学设计和算法处理,使得传感器能够“看透”透明物体,直接对其背后的目标进行测量。这样,我们就可以在不接触目标的情况下,对其进行准确的测量。在智能手机等电子设备的制造过程中,这两种技术都有着广泛的应用。例如,在手机屏幕的生产过程中,环境照明补偿技术可以帮助我们确保屏幕在各种光线条件下都能显示清晰。而透视测量技术则可以用于测量手机屏幕下的各种元器件,如触摸屏、摄像头等,确保它们的位置和尺寸都符合设计要求。此外,这两种技术还可以结合使用,以提高测量的精度和效率。例如,我们可以先使用透视测量技术确定目标的位置,然后使用环境照明补偿技术对其进行精确测量。这样,我们不仅可以得到更准确...
  • 6
    2025 - 04 - 12
    在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能直接影响生产精度与效率。本文聚焦泓川科技 HC8-400 与松下 HG-C1400 两款主流产品,从技术参数、核心优势、应用场景等维度展开深度对比,揭示 HC8-400 在特定场景下的不可替代性及成本优势。一、技术参数对比:细节见真章1. 基础性能指标参数HC8-400HG-C1400差异分析测量范围400±200mm(200-600mm)400±200mm(200-600mm)两者一致,覆盖中长距离测量场景。重复精度200-400mm:150μm 400-600mm:400μm200-400mm:300μm 400-600mm:800μmHC8-400 在全量程精度表现更优,尤其在 400-600mm 远距段,重复精度提升 50%,适合对稳定性要求高的精密测量。线性度200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.线性度一致,满足工业级测量标准。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1400 理论温漂略优,但 HC8-400 通过独特热稳设计,实际在高温环境(如 80℃)下表现更可靠,弥补参数...
  • 7
    2025 - 01 - 16
    七、声纳传感器应用案例深析7.1 外壳相关检测7.1.1 外壳的外观检测在声纳传感器的实际应用中,对外壳的外观检测是确保产品质量的关键步骤。在进行外壳外观检测时,声纳传感器并非仅依赖传统的图像明暗判断方式,而是借助先进的技术,利用 3D 形状的图像来实现精准的形状变化识别。其工作过程如下:传感器发射特定频率和模式的声波,这些声波以特定的角度和范围向外传播,当遇到外壳表面时,会根据外壳表面的形状、材质以及纹理等特征产生不同的反射模式。反射回来的声波被传感器的接收装置高效捕捉,然后转化为电信号。系统对这些电信号进行复杂的处理和分析,通过独特的算法将其转换为详细的 3D 形状数据。在这个过程中,系统会对 3D 形状数据进行精确的分析和比对,与预先设定的标准外壳模型进行细致的匹配。一旦发现外壳的形状与标准模型存在差异,系统会立即识别出这些变化,从而确定外壳是否存在缺陷或不符合规格的情况。这种利用 3D 形状图像进行外观检测的方式具有诸多显著优势。它极大地提高了检测的准确性和可靠性。传统的基于图像明暗判断的方法,容易受到环境光、外壳表面光泽度以及颜色等多种因素的干扰,导致检测结果出现偏差。而 3D 形状图像检测技术能够直接获取外壳的真实形状信息,不受这些外部因素的影响,从而能够更准确地发现外壳表面的细微瑕疵,如划痕、凹陷、凸起等,以及形状上的偏差。该技术具有较强的稳定性。无论环境光如何变化,...
  • 8
    2025 - 05 - 26
    一、引言在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能与成本直接影响设备的竞争力。本文聚焦泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列,从技术参数、应用场景及成本等维度展开深度对比,揭示 LTM3 系列如何以卓越性能和显著成本优势成为更具性价比的选择。二、核心参数对比指标泓川科技 LTM3 系列米铱 ILD1750 系列测量频率最高 10kHz,适用于高速动态测量场景最高 7.5kHz,满足常规工业速度需求重复性精度0.25μm 起(如 LTM3 - 030),达到亚微米级精度0.1μm 起,精度表现优异线性误差低至 0.06% FSO 起,基于百分比的误差控制防护等级IP67,可抵御粉尘、液体喷射及短时浸水IP65,防护性能良好但略逊于 LTM3外形尺寸605020.4mm,体积小巧,适配狭窄空间未明确标注,但工业通用设计体积较大重量约 150g,轻便易安装未明确标注,推测重于 LTM3 系列输出接口以太网、485 串口、模拟信号(±10V/4 - 20mA),支持工业网络集成模拟量(U/I)、数字量(RS422),传统工业接口配置光源655nm/660nm 红光激光,稳定可靠670nm 红光激光,测量光斑控制优秀工作温度0 - 50°C,适应多数工业环境0 - 50°C,环境适应性相当三、LTM3 系列核心优势解析(一)性能...
Message 最新动态
蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
Copyright ©2005 - 2013 无锡泓川科技有限公司

1

犀牛云提供企业云服务
Our Link
X
3

SKYPE 设置

4

阿里旺旺设置

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

5

电话号码管理

  • 0510-88155119
6

二维码管理

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

展开