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Case 激光位移

激光在线测厚振动分析与精度优化

日期: 2022-01-17
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摘要:激光测厚具有安全可靠、测量精度高、测量范围大等优点,广泛应用于纸张、电池极片等薄膜类材料厚度的在线测量。带材宽幅方向扫描测厚时由于扫描架往复运动会产生机械振动,影响在线测厚精度。针对该问题,以锂离子电池极片厚度测量为例,使用双激光差动式测厚平台对电池极片和铜箔分别进行厚度测量,然后对测厚数据进行频谱分析,探究其振动规律的相似性,并基于频谱分析结果采用滑动带阻滤波方式对测厚数据进行处理,滤波后极片和铜箔的厚度极差分别降低了33.4%和73.8%,有效过滤了机械振动导致的测量误差,可满足极片和铜箔厚度测量的精度要求。


关键词:激光测厚;振动;频谱;滤波


0引言

激光测厚具有安全可靠、测量精度高、测量范围大等优点,广泛应用于纸张、木板、钢板、传输带、橡胶片、电池极片等材料厚度的在线检测。如在锂离子电池生产制造过程中,激光测厚就被用于极片涂布和辊压厚度的在线测量,以保证电池极片的良品率,从而保障电池的安全性、容量和寿命等关键指标。薄膜材料的制造大多采用低成本、高效率的卷对卷制造工艺,在加工制造的过程中,为了实现带材宽幅方向的厚度测量,一般需要采用多传感器或扫描式测量的方式,后者由于低成本优势在工业界应用较多。


扫描式测厚时由于扫描架的往复运动产生的机械振动,极大地影响了其测量精度,使得其无法满足电池极片等高精度应用领域的测量需求。在扫描过程中,激光位移传感器固定于扫描架上,受扫描运动影响,会产生姿态和相对位置的变化,大致测量值出现波动,最终导致测量结果出现偏差。除了振动之外,其他因素如激光束旋转、带材偏转等也会引起测量误差,但这些均属于静态误差,可通过标定的方式去除。因此,在激光测厚的过程中,对振动的控制和消除成为保证测量精度的关键。


对于如何降低激光测厚中的动态偏差,研究人员做了多方面的研究。在扫描架结构优化方面,中南大学的周俊峰和敖世奇对激光测厚C型架进行了模态分析与振动实验,并改进了C型架的结构;Kramer等提出了矩形框架结构,并通过添加额外的激光器和探测器来实现对上下激光位移传感器之间距离波动的补偿。在数据处理方面,郭媛等通过对钢板厚度测量结果进行补偿,弥补了因温度、板材材质不同及振动偏移引起的误差,大大提高了测量精度;关淑玲等运用数据处理的方法来消除环境白噪声的污染,比较了多种滤波方式对激光测厚振动误差消除的效果,运用加权平均法和小波滤波对数据进行处理,提高了测量精度;陈功等使用多尺度小波变换、稀疏矩阵解法对激光测厚的数据进行处理,降低了振动对测量结果的影响。这些技术和研究工作在不同层面上减小了激光扫描测厚过程中振动导致的测量误差,但同时也存在着成本高、安装精度要求高等局限性,无法满足薄膜激光测厚的需求。


基于此,本文以高精度的锂离子电池极片厚度测量为例,通过多次实验测量,探究扫描式机械振动所致误差的规律性,并分析比较了测量数据的频谱。在此基础上,采用滑动带阻滤波方法,通过匹配频率相似区间并对测量结果进行修正,来消除了振动对测量结果的影响,提高了测量精度。


基于滑动带阻滤波的振动补偿方法

振动干扰对应的频率并非是固定的,而是表现为一定区间的复杂频谱,是许多不同频率和不同振幅的谐振组合。解决复杂频谱去噪问题的关键是要有效区分有用信号和噪声信号,并去除噪声信号。为此,本文提出一种滑动带阻滤波的方法,通过滑动区间的方式寻找频谱之间相似度最大的部分,从而确定振动噪声频率段,最终达到去除噪声的目的。


在激光测厚过程中,有用信息为待测材料的厚度波动信息,噪声信号主要成分为机械振动。基于此,含机械振动噪声的厚度数据滑动带阻滤波的具体步骤如下:

1)在同一工作条件下采集不同对象的多组厚度数据,对采集到的厚度信号值进行傅里叶变换并进行归一化处理;

2)选择起始频率值f(f大于厚度波动频率)、终止频率值f和振动频率所在范围边界f。利用余弦相似度计算公式计算待测带材在所选频率区间内的余弦相似度C,其计算公式为

激光在线测厚振动分析与精度优化

式中,X,Y为两组频谱所选区间的数据点,n为带宽,n=f-f

3)将频率区间向右扩展L,即起始频率值为fa,终止频率值为f+L,利用余弦相似度计算公

式计算待测带材在新频率区间内的余弦相似度C1,同时记录对应的频率区间;

4)重复步骤3)m次,每次计算的余弦相似度为C,直至终止频率值f+mL到达振动频率所在的范围边界f

5)比较多次计算得到的余弦相似度(C~C),选择最大相似度Cmax的对应区间作为相似区间;

6)当数据组数量超过2时,应综合考虑各个数据组之间的相似度,依据平均相似度选择最终的相似区间,平均相似度Cavg的计算方法见式(2):

激光在线测厚振动分析与精度优化

式中,αij为权重,Cij,m为第i组与第j组数据在第m次时的相似度,Cavg,m为第m次的相似度平均值,不做特殊说明时α=1/n;

7)针对相似区间,设计带阻滤波器对数据进行滤波处理,实现振动补偿。整个算法的流程如图1所示。

激光在线测厚振动分析与精度优化

图1滑动带阻滤波算法流程图


2激光测厚实验

2.1实验装置

双激光位移传感器上下差动式测厚系统主要包括激光测量装置、校准装置、横向扫描运动机构、机架等四部分。系统原理图如图2所示,整个装置通过地脚固定在地面,极片经张力辊绷直后水平铺放在传送辊之间,激光位移传感器固定于扫描C架上下两臂,对极片进行差动式测厚。激光测厚系统基本原理如图2所示,根据C架间隔距离S和两个激光位移传感器测得的位移值A,B可得带材厚度h=S-A-B。激光测量装置采用某品牌激光位移传感器(测量范围为±3mm,重复精度为0.02μm),能够满足极片测厚的精度要求;电机控制C架做扫描运动,实现对带材宽幅方向厚度的动态测量。测量过程中,激光位移传感器将测得的厚度数据实时传输至上位机进行读取和存储。

激光在线测厚振动分析与精度优化

图2测厚系统原理图


为了探究测厚系统的精度以及振动对测量结果的影响,设计并进行了多组实验。实验材料包括500μm(制造精度为±μm)的标准厚度量块、15μm的空铜箔(制造精度为±μm)和180.5μm的电池极片(制造精度为±μm)。其中标准厚度量块用于测厚系统的精度检验和标定,其余材料用于检验测厚系统的有效性并分析机械振动对测量精度的影响。实验方式包括静态测厚和动态扫描测厚,其中静态实验为静态定点测厚,动态实验为C架以55mm/s速度移动的扫描测厚。


2.2实验步骤

1)测厚系统精度检验实验

首先对500μm的标准厚度量块进行厚度测量,将标准厚度量块置于中空载物台,进行单点静态测厚,检验静态条件下该测厚系统的厚度测量结果是否满足精度要求。

2)测厚系统标定

将标准片调整为水平状态,移动C型架到标准片的位置进行测量,重复多次得到平均厚度测量值H,与标准片实际厚度值h相减得到差值,则标准片的测量值H被校准成了实际值h,系统静态误差得以消除,实现系统标定。

3)重复性测量实验

系统标定后,将带材绷紧固定于张力辊和过辊上,对厚度为180.5μm的电池极片同一部分进行多

次厚度扫描测量,对比测量结果,检验该测厚系统是否具有较高的重复精度。

4)空铜箔、极片厚度测量实验

将15μm的空铜箔和180.5μm的电池极片固定于张力辊和过辊上,用55mm/s的扫描速度对铜箔和电池极片进行动态横向扫描测量。根据测厚结果检验测厚系统是否满足实际锂离子电池极片生产制造过程中的测量精度要求。


3结果与讨论

3.1测厚实验标定及重复性验证

本实验采用500μm的标准厚度量块,目的是检验测厚系统的精度,测量结果如图3(a)所示,厚度极差仅为0.28μm(优于制造精度1μm),说明测厚平台的精度满足测量要求。

激光在线测厚振动分析与精度优化

(a)测厚数据


实验中对同一极片的同一部位以55mm/s的扫描速度进行两次扫描测量,结果如图3(b)所示,两次测厚结果基本吻合,相差最大值约为1.5μm,验证了测厚系统的重复精度。

激光在线测厚振动分析与精度优化

(b)两次重复扫描测量结果

图3标准厚度量块测厚及重复性验证结果


3.2极片、空铜箔扫描测厚

在上一节图3(b)中,扫描测厚过程测量结果波动较大,对图3(b)测厚数据进行频谱分析,结果如图4所示。对比静态测量数据的频谱和扫描测量数据的频谱,可以看出静态误差对频域的影响远低于振动和带材本身厚度波动带来的影响,因而去除测量过程中振动的影响是保证测量精度的关键。此外,在测厚数据的频域分析中,厚度波动为低频信号,而振动带来的干扰在频谱中也体现为低频信号,故在数据处理时,应注意保留真实的厚度波动信息。

激光在线测厚振动分析与精度优化

图4静态、扫描测量频谱图


极片和铜箔在55mm/s的扫描速度下得到的测厚数据的频谱如图5所示。可以看出,极片与铜箔的频谱变化规律十分相似,在低频、250Hz和400Hz附近都有着相近的频率分布,且高幅值的信号主要集中在低频部分,与实际机械振动和厚度波动的频谱相符。由频谱的相似性推断,在相同的试验环境下,极片和铜箔测厚过程受到的影响是相近的。在本文的实验条件下,C架的振动是低频的,在对测厚数据进行处理的过程中,运用求交的思想,找到低频段中相似的部分,以此作为振动的影响。

激光在线测厚振动分析与精度优化

(a)电极1       (b)铜箔1


激光在线测厚振动分析与精度优化

(c)电极2       (d)铜箔2


激光在线测厚振动分析与精度优化

(e)电极3       (f)铜箔3

图5电池极片、铜箔振动频谱图


匹配最佳相似区间采用第1节中所述方法,对频谱数据进行滑动带阻滤波处理。根据图5及机械振动频率,选择fa=10Hz,fb=15Hz,fv=150Hz,L=1Hz,最终选择Cmax对应频率区间10~103Hz作为相似区间,此时极片1,2,3和铜箔1,2,3相似度结果如图6所示。

激光在线测厚振动分析与精度优化

图6相似度


通过对比极片和铜箔频谱,发现在10~103Hz区间极片与铜箔的频谱吻合度较高,而极片和铜箔基于相同条件进行扫描测量,因此该频率段即为振动干扰的体现;而在1~5Hz区间,极片幅值远大于铜箔幅值,可视为本身厚度的波动体现。由此可见,厚度本身的波动频率和振动所致的频率有着数量级上的区别,通过滑动带阻滤波能较好地分离出厚度信息。


基于此,设计带阻滤波器对数据进行处理,滤除10~103Hz区间信号,得到了修正后的数据,结果如图7及表1所示。可看出在C架移动扫描的情况下,滤波处理前极片和空铜箔厚度测量值波动较大,经滤波处理后,整体数据较为平稳。其中铜箔滤波后极差为0.73μm(降低了73.8%),满足铜箔制造精度±1μm的要求。极片滤波后极差为4.06μm(降低了33.4%),此外,在工业生产中,极片本身涂布厚度约有±2μm的精度偏差,图7中修正后的数据波动符合实际厚度变化,说明滑动带阻滤波处理有效消除了振动对测厚结果的干扰,同时较好地保留了厚度的真实值。

激光在线测厚振动分析与精度优化

(a)极片厚度


激光在线测厚振动分析与精度优化

(b)铜箔厚度

图7扫描厚度测量结果


激光在线测厚振动分析与精度优化


4结语

带材宽幅方向动态扫描测厚时,扫描架的往复运动会产生复杂的机械振动,影响激光测厚精度。本文以锂离子电池极片和空铜箔测量为例,发现空铜箔测厚数据的频谱和电池极片测厚数据频谱十分相似,且高幅值干扰信号主要集中于低频部分,其频率与机械振动频率较为符合,说明二者在测量的过程中受到了相似机械振动的干扰,最终导致了测量误差。基于此,提出了滑动带阻滤波的方法,寻找信号频谱最佳相似区间作为振动噪声区间,并设计滤波器对测量数据进行处理。通过相似度匹配可得,振动所致的噪声频率为10~103Hz,与带材本身厚度波动频率(1~5Hz)存在数量级上的差别,两者能够较好地分离。通过带阻滤波器去除10~103Hz区间的振动频率,滤波后极片和铜箔的极差分别降低了33.4%和73.8%,可满足实际的测厚精度要求。



论文标题: Vibration Analysis And Precision Optimization of Laser OnlineThickness Measuremen


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    在测量被透明物体覆盖的目标时,环境照明补偿和透视测量是提高测量准确性的重要手段。这些技术的应用,在智能手机等电子设备的制造过程中,具有至关重要的作用。首先,让我们来探讨一下环境照明补偿的作用。在生产线环境中,照明条件往往并不稳定,这会对测量精度产生严重影响。环境照明补偿技术通过自动调整传感器参数,以补偿外部光照条件的变化,使得测量系统能在不同的照明条件下都能保持稳定的测量性能。这就使得我们在测量被透明物体(如手机屏幕)覆盖的目标时,能够得到更为准确的结果。其次,透视测量技术则能够解决透明物体对测量造成的干扰。由于透明物体会让部分光线穿过,使得传统的测量技术难以准确捕捉目标的位置和形状。而透视测量技术则能够通过特殊的光学设计和算法处理,使得传感器能够“看透”透明物体,直接对其背后的目标进行测量。这样,我们就可以在不接触目标的情况下,对其进行准确的测量。在智能手机等电子设备的制造过程中,这两种技术都有着广泛的应用。例如,在手机屏幕的生产过程中,环境照明补偿技术可以帮助我们确保屏幕在各种光线条件下都能显示清晰。而透视测量技术则可以用于测量手机屏幕下的各种元器件,如触摸屏、摄像头等,确保它们的位置和尺寸都符合设计要求。此外,这两种技术还可以结合使用,以提高测量的精度和效率。例如,我们可以先使用透视测量技术确定目标的位置,然后使用环境照明补偿技术对其进行精确测量。这样,我们不仅可以得到更准确...
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泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题? 2025 - 08 - 12 在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中,一个棘手的矛盾始终存在:一方面,设备内部空间日益紧凑,毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”;另一方面,随着产品结构复杂化,对测量量程的需求不断提升,5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量?无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜,以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”,既节省安装空间,又兼容大量程需求,重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点:空间与量程难以两全在精密测量领域,侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号,凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计,其量程多集中在 2.5mm 以内(如 LTCR4000 量程为 ±2mm),难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择传统端面出光的大量程传感器(如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm),虽能覆盖测量需求,却因轴向出光设计需预留足够安装高度,在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程,似乎成了不可调和的矛盾。光学转折镜:让大量程探头 “直角转身”,释放空间潜力泓川科技创新研发的光学转折镜...
泓川科技 LTP 系列激光位移传感器全国产化制造流程细节全披露 2025 - 06 - 22 一、国产化背景与战略意义在全球供应链竞争加剧的背景下,激光位移传感器作为工业自动化核心测量部件,其国产化生产对打破技术垄断、保障产业链安全具有重要战略意义。泓川科技 LTP 系列依托国内完整的光学、电子、机械产业链体系,实现了从核心零部件到整机制造的全流程国产化,彻底解决了接口卡脖子问题,产品精度与稳定性达到国际先进水平,同时具备更强的成本竞争力与定制化服务能力。二、核心部件全国产化组成体系(一)光学系统组件激光发射单元激光二极管:采用深圳镭尔特光电 655nm 红光 PLD650 系列(功率 0.5-4.9mW)及埃赛力达 905nm 红外三腔脉冲激光二极管,支持准直快轴压缩技术,波长稳定性 ±0.1nm,满足工业级高稳定性需求。准直透镜:选用杭州秋籁科技 KEWLAB CL-UV 系列,表面粗糙度 光学滤光片:深圳激埃特光电定制窄带滤光片,红外截止率 99.9%,有效消除环境光干扰。激光接收单元光电探测器:上海欧光电子代理 OTRON 品牌 PSD 位置敏感探测器,分辨率达 0.03μm(如 LTPD08 型号),北京中教金源量子点探测器正在实现自主替代。聚焦透镜组:福州合创光电高精度分光棱镜,偏振消光比 1000:1,配合广州明毅电子阳极氧化支架,确保光路同轴度≤5μm。(二)电子电路组件信号处理模块微处理器:龙芯中科 3A5000 工业级芯片,支持 - 40℃...
有没有量程1米,测量精度误差1mm的国产激光位移传感器,频率5Khz以上? 2025 - 06 - 19 有!LTM 系列三款国产激光位移传感器满足需求在工业检测领域,量程 1 米、精度误差 1mm、频率 5KHz 以上的激光位移传感器是高端测量的刚需,而国产传感器常因精度或频率不足被进口品牌垄断。无锡泓川科技的 LTM2-800W、LTM3-800W、LTM5-800W 三款产品,不仅全面覆盖上述指标,更以进口品牌一半的成本优势,成为国产替代的优选方案。以下从性能参数、优劣分析、场景适配及成本对比展开详细介绍。一、核心性能参数对比型号LTM2-800WLTM3-800WLTM5-800W参考距离800mm800mm800mm测量范围±500mm(总量程 1000mm)±500mm(总量程 1000mm)±500mm(总量程 1000mm)光斑尺寸450×6000μm450×6000μm450×6000μm重复精度45μm45μm45μm线性误差采样频率5KHz10KHz31.25KHz工业接口485 串口 / 模拟信号(二选一)以太网 / 485 串口 / 模拟信号以太网 / 485 串口 / 模拟信号光源660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW防护等级IP67IP67IP67工作温度0~+50℃0~+50℃0~+50℃功耗约 2.0W约 2.0W约 2.0W二、产品优势分析(一)...
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