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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器

日期: 2025-09-02
浏览次数: 115
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来自 泓川科技
发表于: 2025-09-02
浏览次数: 115

泓川科技激光位移传感器产品技术报告

尊敬的客户:

 

感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。

一、参数指标

我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:

表 1:LTP400EA参数表

参数类别

具体参数

LTP400EA

备注

基础测量参数

测量中心距离

400mm

以量程中心位置计算(*1)

量程

200mm

-

重复精度(静态)

3μm

测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)

线性度

±0.03%F.S.(F.S.=200mm)

采用纳米级激光干涉仪标定(*3)

光源与光斑

光源类型

-

激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)

光束直径

聚焦点光斑 Φ300μm

中心位置直径,两端相对变大(*5)

电气参数

电源电压

DC9-36V

-

功耗

约 2.5W

-

短路保护

反向连接保护、过电流保护

-

输出与通信

模拟量输出(选配)

电压:0-5V/0~10V/-10~10V;电流:4~20mA

探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)

通讯接口

RS485 串口、TCP/IP 网口

可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)

响应时间

20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选

-

性能参数

采样频率

Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)

-

外部输入功能

激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等

-

环境与结构

防护等级

IP67(IEC)

-

工作温度

0°C~+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃~+70℃(可订制 - 40℃~70℃宽温版)

-

工作湿度

0~50℃ / 35~95% RH(无结冰 / 结霜)

-

尺寸

115×85×37mm

-

重量

438g

-

表 2:LTP450EA参数表

参数类别

具体参数

LTP450EA

备注

基础测量参数

测量中心距离

450mm

以量程中心位置计算(*1)

量程

500mm

-

重复精度(静态)

8μm

测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)

线性度

±0.05%F.S.(F.S.=500mm)

采用纳米级激光干涉仪标定(*3)

光源与光斑

光源类型

红色半导体激光 2 类,655nm,4.9mw

激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)


光束直径

聚焦点光斑 Φ320μm

中心位置直径,两端相对变大(*5)

电气参数

电源电压

DC 9~36V,最大允许 ±10% 波动

-

功耗

-

-

短路保护

反向连接保护、过电流保护

-

输出与通信

模拟量输出(选配)

电压:0-5V/0~10V/-10~10V;电流:4~20mA

探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)

通讯接口

RS485 串口、TCP/IP 网口

可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)

环境与结构

防护等级

IP67(IEC)

-

尺寸

120×75×37mm

-

重量

416g

-

表 3:计量标定关键指标(以 LTP400EA 为例)

计量项目

数值

计量标准

线性度

0.0178%F.S.(F.S.=200mm)

Keysight E1733A 激光干涉仪

分辨率

2.654μm

-

参考距离光斑直径

274μm

Thorlabs BP-VIS 光束分析仪

激光功率

4.2mW

-

计量环境

千级洁净室,温度 24.5℃,相对湿度 47.8%

-

 

 

二、传感器设计原理

我司激光位移传感器基于激光三角测量原理设计,通过光学、电学与算法的协同,实现高速、高精度距离测量,具体原理如下:

 

 

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器

1. 核心原理

  1. 激光发射:电路板上的激光器驱动模块输出电信号,驱动红色半导体激光管(655nm,2 类激光)发出平行光束,经发射镜头校准后照射至目标物表面。

  2. 光线反射与接收:目标物表面漫反射的光线被接收镜头聚焦,穿透滤光片(过滤环境杂光)后,在 CMOS 光电成像器件上形成光斑成像。

  3. 位移 - 光斑位置关联:当传感器与目标物的距离发生变化时,反射光线的角度随之改变,导致 CMOS 上的光斑位置偏移 —— 距离增大时,光斑向接收镜头边缘偏移;距离减小时,光斑向中心偏移。

  4. 数据解析:电路板上的光电信号处理模块将 CMOS 采集的光斑位置信号转换为电信号,再通过内置算法(如峰检测、线性修正算法)将电信号解析为实际距离数据,最终通过 RS485/TCP/IP 接口或模拟量输出。

 

2. 关键技术支撑

  • 峰检测算法:通过设置峰高度阈值(100-3000)、峰锐度阈值(100-5000)、峰最小间距(5-500 像素),滤除杂光与噪声,精准识别有效光斑峰值。

  • 温度补偿技术:温度特性控制在 0.01% F.S./℃,通过内置温度传感器(如 NST1001-QDNR)实时监测环境温度,动态修正测量数据,抵消温度漂移影响。

  • 同步测量技术:支持主机 - 从机模式,通过 SYNC 接口实现多探头同步测厚、交替曝光抗干扰,确保动态测量时的数据同步性。

 

 

三、传感器结构设计

传感器采用 “光学系统 + 电路系统 + 机械结构” 三位一体设计,各部分模块化集成,兼顾精度、稳定性与工业环境适应性:

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器

 

 

1. 光学系统

核心功能为激光发射与反射光接收,组件及参数如下:

 

组件名称

型号 / 规格

功能

激光管

红色半导体激光(655nm,4.9mw)

发射测量光束

发射镜头

-

校准激光束,确保平行输出

接收镜头

LTP155 接收镜组(MK.23.2002)

聚焦反射光至 CMOS

滤光片

-

过滤环境光(如可见光、红外光),提升信噪比

CMOS 传感器

GL3504 CMOS 板(PCB 集成 BGA)

采集光斑成像信号

2. 电路系统

负责信号驱动、处理与数据传输,核心组件如下:

 

组件类别

型号 / 规格

功能

核心控制板

LTP 全国产化主板 V5.0 PCBA

集成 MCU、信号处理电路,统筹各模块工作

MCU 芯片

GD32H759IMK6(BGA176 封装)

运行测量算法、控制接口输出

电路总成 IC

MK.01.0003(红光带模拟)

激光驱动、模拟信号处理

电源板

DZ.60.2027(扬杰 / 韦尔方案)

提供稳定直流电源,具备过压 / 欠压保护

隔离芯片

电源板隔离芯片(纳芯微方案)

隔离电源与信号,抗电磁干扰

接口驱动

RS485/TCP/IP 驱动电路

实现数据通信与模拟量输出

3. 机械结构

采用工业级材质与紧凑设计,保障机械稳定性与防护性能:

 

结构部件

型号 / 规格

材质 / 工艺

功能

外壳

上盖总成(MK.25.0004)、下盖总成(MK.23.0003)

压铸铝

保护内部组件,抗冲击

安装件

2×Φ5.0 安装孔(建议 M5 内六角螺钉)

-

固定传感器,确保测量角度稳定

连接件

34P 主板连接线(JS05A-34P)、14P 激光板连接线(JS05A-14P)

高柔耐油 PVC

实现内部模块信号传输

调焦部件

调焦压圈(JX.20.0007)

金属机械加工

校准镜头焦距,确保光斑清晰

防护部件

电缆线

高柔耐油 PVC

外部接线防护,适应工业油污环境

 

 

 

 

 

 

四、传感器的维修维护

为保障传感器长期稳定运行,建议按以下规范进行维修维护:

1. 日常维护(每月 1 次)

  • 清洁防护玻璃罩:使用洁净空气吹除表面灰尘;若有顽固污物,用蘸有酒精的软布轻擦(避免划伤玻璃),防止污物遮挡光束导致测量波动。

  • 检查电缆与接口:查看 M12 17 芯连接口、电缆线是否破损、松动,若有破损需及时更换高柔耐油 PVC 电缆,避免短路或信号中断。

  • 环境检查:确认传感器工作环境符合温度(0°C~+50℃)、湿度(35~95% RH 无结露)要求,远离腐蚀性气体、强震动源(如冲压设备)。

2. 常见故障排查

故障现象

可能原因

解决方法

无数据输出(数据为 0 或 - 2147)

1. 修正系数(映射斜率)设为 0;2. 未选择输出数据;3. 峰检测参数设置不合理

1. 进入上位机 “数据修正” 界面,将映射斜率恢复为 1;2. 在 “输出数据选择” 中勾选位置 1/2、厚度等数据;3. 调整峰高度阈值(70-80%)、峰锐度阈值(500-1000)

连接不成功

1. 设备刚上电(需 10 秒启动时间);2. 计算机 IP 与传感器不在同一网段;3. 通信端口被占用

1. 上电 10 秒后重新连接;2. 将计算机 IP 改为与传感器同一网段(如传感器默认 192.168.0.10,计算机设为 192.168.0.20);3. 更换通信端口(范围 1024-65535)

测量数据波动大

1. 防护玻璃罩污染;2. 环境温度剧烈变化;3. 存在强电磁干扰

1. 清洁防护玻璃罩;2. 保持环境温度稳定,避免阳光直射;3. 远离高压线 / 变频器,或安装杂波过滤器

3. 定期校准(每年 1 次)

  • 校准设备:采用 Keysight E1733A 激光干涉仪(线性度标定)、Thorlabs BP-VIS 光束分析仪(光斑直径检测)。

  • 校准流程:1. 将传感器安装在千级洁净室(温度 23±2℃,湿度 45-60% RH);2. 以标准白色陶瓷样件为目标,在全量程内均匀选取 10 个测量点;3. 对比传感器输出值与激光干涉仪标准值,修正线性度偏差(通过上位机 “数据修正” 功能);4. 记录校准数据,生成校准报告。

4. 维修注意事项

  • 禁止自行拆解传感器(外壳为压铸铝一体结构,拆解会破坏密封与光学 alignment),维修需由泓川科技授权工程师操作。

  • 更换核心部件(如 CMOS 传感器、激光管)后,需重新进行光学校准与参数标定,确保精度符合要求。

  • 若传感器出现严重故障(如激光管烧毁、主板损坏),请联系泓川科技技术支持(电话:0510-88155119),提供序列号与故障现象,以便快速维修。

 

 

 

五、传感器的使用方法

传感器使用需完成 “安装 - 软件配置 - 数据采集” 三大步骤,支持单探头独立测量、双探头对射测厚、多探头同步采集等场景,具体操作如下:

1. 安装步骤

(1)机械安装

  1. 选择平整、无震动的安装面,通过传感器上的 2×Φ5.0 安装孔,使用 M5 内六角螺钉固定(扭矩≤2Nm,避免过度拧紧损坏外壳)。

  2. 调整传感器角度:确保激光束垂直于目标物表面(误差≤±1°),测量中心距离符合型号要求(如 LTP400 为 400mm),避免光束被侧壁遮挡产生杂光。

(2)电气连接

  • 电源连接:通过 M12 17 芯接口的 2 脚(VIN)、3 脚(GND)接入 DC 9~36V 电源,确保正负极无反接(具备反向连接保护,但长期反接会损坏电源板)。

  • 通信连接:若用 TCP/IP 通信,将 M12 接口 14-17 脚(Ethernet TX+/TX-/RX+/RX-)通过网线连接至计算机或交换机;若用 RS485 通信,连接 10 脚(RS485 TX+)、11 脚(RS485 TX-)。

  • 同步连接(双探头测厚):将两台传感器的 12 脚(SYNC+)、13 脚(SYNC-)交叉连接,实现 SYNC 协议同步。

2. 软件配置(使用 MPLaserStudio 上位机)

(1)软件安装

  • 环境要求:Windows 7/8/10 64 位系统,Core i5 2.3GHz 以上 CPU,2GB 以上内存,100M 速率 RJ45 网卡。

  • 安装步骤:1. 双击 “MPLaserStudio_setup.exe”,选择安装路径(需≥97.3MB 空间);2. 勾选 “创建桌面快捷方式”,点击 “安装”;3. 安装完成后,双击桌面图标启动软件。

(2)通信配置

  1. IP 地址设置:传感器默认 IP 为 192.168.0.10,将计算机 IP 改为同一网段(如 192.168.0.20),子网掩码 255.255.255.0,网关 192.168.0.1。

  2. 设备搜索:启动软件,默认端口 8002(可修改为 1024-65535),点击 “搜索设备”,选中搜索到的传感器(显示序列号),点击 “连接”。

  3. 参数配置

    • 图像配置:设置图像截取范围(起始像素 0-1024,像素数目≤1024)、曝光方式(自动曝光建议目标强度 70-80%)、峰检测参数(峰高度 100-3000,峰锐度 500-1000)。

    • 测量配置:设置采样间隔(如 20us,全量程采样)、数据滤波(中值滤波 + 滑动平均,减少噪声)、数据修正(默认映射斜率 1,偏置 0,无需修改)。

    • 输入输出配置:模拟量输出选择数据源(如位置 1)、输出范围(如 0-10V);NPN 输入设为 “激光使能”(导通时激光点亮)。

3. 数据采集与操作

(1)单探头测量

  1. 点击软件 “刷新数据”,实时数据窗口显示位置 1(目标距离)、激光功率、曝光时间等数据;若需记录数据,点击 “开始记录”,选择保存路径(默认 data 文件夹,格式 CSV)。

  2. 置零操作:若需以当前位置为零点,点击 “软件置零”,置零基准点设为 0,位置 1 数据变为 0 附近值(偏移值 = 0 - 置零前数据)。

(2)双探头对射测厚(同步测量)

  1. 将探头 1 设为 SYNC 主机(端口模式 “作为 SYNC 主机”,交替曝光节拍数 1),探头 2 设为 SYNC 从机(端口模式 “作为 SYNC 从机”,距离 2 数据选择 “主机数据”)。

  2. 点击 “跳转到 MATH 界面”,选择 “对射测厚” 模式,输入量块厚度(如 1mm),点击 “标定”(自动计算 offset 值)。

  3. 放置被测物,实时数据窗口显示厚度值(计算公式:厚度 = offset - 探头 1 位置 1 - 探头 2 位置 1)。

(3)多探头采集(最多 8 台)

  1. 连接多台传感器(通过交换机),在 “显示设置” 中勾选 “多窗口显示”,点击 “切换多窗口”。

  2. 每个窗口选择对应传感器与数据源(如位置 1、厚度),点击 “刷新数据”,同时查看多台传感器数据,支持曲线显示与数据记录。

 

 

六、传感器的使用环境

传感器设计符合工业级防护标准,需在以下环境条件下使用,以确保性能稳定:

1. 环境温湿度

  • 工作温度:0°C~+50℃,不可结露、结冰(若需低温环境,可订制 - 40℃~70℃宽温版)。

  • 保存温度:-20℃~+70℃,避免长期存放于高温高湿环境(防止内部元器件受潮老化)。

  • 相对湿度:35~95% RH(0~50℃,无结冰 / 结霜),湿度超过 95% RH 时需安装除湿装置。

2. 防护与抗干扰

  • 防护等级:IP67(IEC 标准),可防尘、防短时浸水(水深 1m,30 分钟),但不可长期浸泡或喷淋。

  • 抗振性能:55Hz 双振幅 1.5mm,X/Y/Z 各方向 2 小时,避免安装在冲压机、机床等强震动设备旁(若无法避免,需加装减震支架)。

  • 电磁兼容:远离高压线、变频器、射频设备(如对讲机),避免电磁干扰导致数据波动;若存在强干扰,需在电源端安装 EMC 滤波器,通信线采用屏蔽双绞线。

3. 清洁度与光照

  • 清洁度:安装环境需无大量粉尘、油污(如焊接车间、面粉厂),建议安装空气净化装置或防护罩,防止污物粘附在防护玻璃罩上。

  • 光照条件:避免强光直射(如阳光、强光 LED 灯),强光会导致 CMOS 饱和,影响测量精度;若无法避免,需安装遮光板,或开启 “背景抑制” 功能(软件中设置,扣除环境光影响)。

4. 禁止使用环境

  • 湿度高、灰尘多、通风差的封闭空间;

  • 存在腐蚀性气体(如氯气、氨气)或可燃性气体(如甲烷)的环境;

  • 水、油或化学药品直接溅落的位置(如喷涂线、清洗槽旁);

  • 容易产生静电的环境(如塑料加工车间,需接地处理)。

 

 

七、传感器研制过程自主可控

我司从核心元器件选型、硬件设计、软件开发到生产标定,全流程实现自主可控,保障产品稳定性与供应链安全:

1. 核心元器件自主选型与国产化

核心元器件均来自国内优质供应商,性能符合工业级标准,供应链稳定,具体如下:

 

元器件类别

核心型号

供应商

自主可控说明

CMOS 传感器

GL3504

长光辰芯(国内领先 CMOS 厂商)

自主选型,支持定制化参数(如像素数、帧率)

MCU 芯片

GD32H759IMK6

兆易创新(国内 32 位 MCU 龙头)

自主开发驱动程序,适配测量算法

激光驱动 IC

MK.01.0003

杭州瑞盟、川土微

联合厂商定制,优化激光功率稳定性

电源器件

扬杰方案 / 韦尔方案

扬杰电子、上海韦尔

自主设计电源电路,保障供电稳定

机械结构件

上盖 / 下盖总成

无锡汉纳科技

自主设计图纸,委托加工,确保尺寸精度

2. 硬件与软件自主开发

  • 硬件设计:传感器主板(V5.0 PCBA)、电源板(DZ.60.2027)的电路原理图、PCB layout 均由泓川科技硬件团队自主设计,通过 EMC 测试、高低温测试验证,确保工业环境适应性。

  • 软件开发

    • 上位机软件 MPLaserStudio:自主开发,支持中文 / 英文 / 日文切换,具备设备配置、数据采集、曲线显示、报表生成等功能,提供 C++/C# SDK,方便客户二次开发。

    • 内置算法:峰检测、线性修正、温度补偿、同步通信等核心算法均为自主研发,可根据客户需求优化(如透明体测厚算法、高速采样算法)。

3. 生产与标定自主可控

  • 生产过程:无锡泓川科技自有生产车间,配备 SMT 贴片设备、焊接设备、组装生产线,生产流程符合 ISO9001 质量体系,每台传感器需经过通电测试、光学校准、参数标定三道工序,合格后方可出厂。

  • 标定过程:采用 Keysight E1733A 激光干涉仪(国际认可标准设备)进行线性度标定,自主编写标定程序,记录每台传感器的标定数据,确保精度可追溯。

4. 知识产权自主

传感器的硬件设计、软件算法已申请多项专利(如 “一种激光位移传感器的同步测厚方法”“一种抗干扰激光位移测量电路”),软件著作权(MPLaserStudio 上位机软件)归属无锡泓川科技,无知识产权纠纷。

 

 

 

八、传感器的计量

传感器计量严格遵循国家计量标准与行业规范,确保测量结果准确、可靠、可追溯:

1. 计量标准与设备

计量项目

计量标准设备

设备精度

计量依据

线性度

Keysight E1733A 激光干涉仪

线性误差≤±0.5ppm

JJF 1303-2011《激光位移传感器校准规范》

重复精度

标准白色陶瓷样件(平面度≤0.1μm)

-

GB/T 26824-2011《激光位移传感器通用技术条件》

光斑直径

Thorlabs BP-VIS 光束分析仪

测量误差≤±2%

ISO 11146-1:2005《激光光束宽度、发散角和光束传输比的测试方法》

激光功率

激光功率计(量程 0-10mw,精度 ±3%)

-

JJG 245-2005《激光功率计检定规程》

2. 计量项目与流程

(1)计量前准备

  • 环境条件:千级洁净室,温度 23±2℃,相对湿度 45-60% RH,无震动、无强光干扰。

  • 设备准备:传感器上电预热 30 分钟(确保电路稳定);激光干涉仪、光束分析仪校准合格(在检定有效期内);标准陶瓷样件清洁无污物。

(2)核心计量项目流程

  1. 线性度计量

    • 将传感器固定在精密导轨上,标准陶瓷样件置于导轨滑块上,激光干涉仪与传感器同轴对准样件。

    • 在传感器全量程内均匀选取 10 个测量点(如 LTP400 为 - 100mm、-80mm…+100mm),移动导轨至每个点,记录传感器输出值(X1)与激光干涉仪标准值(X2)。

    • 计算线性误差:Δ=(X1-X2)/F.S.×100%,要求≤±0.03% F.S.(LTP400)、≤±0.05% F.S.(LTP450)。

  2. 重复精度计量

    • 固定传感器与样件距离(如 LTP400 为 400mm),设置采样频率 50kHz,无平均,采集 65536 组数据。

    • 计算均方根偏差(1δS),要求≤3μm(LTP400)、≤8μm(LTP450)、≤12μm(LTP450-OT)。

  3. 光斑直径计量

    • 将光束分析仪置于传感器参考距离处(如 LTP400 为 400mm),接收激光光斑,记录光斑中心直径(1/e² 能量法)。

    • 要求聚焦点光斑≤Φ300μm(LTP400)、≤Φ320μm(LTP450),宽光斑符合型号规格。

  4. 激光功率计量

    • 将激光功率计探头置于激光输出路径上,距离传感器 1m,记录功率值。

    • 要求功率≈4.9mw(红光型号)、≈50mw(LTP450-OT),偏差≤±10%。

3. 计量结果与报告

  • 计量结果判定:所有计量项目均符合设计要求(如线性度≤±0.03% F.S.、重复精度≤3μm),判定为 “通过”,出具《激光位移传感器计量标定报告》(含传感器序列号、计量设备、环境条件、数据表格、误差分析)。

  • 计量周期:建议每年进行 1 次计量标定;若传感器用于关键工序(如精密制造)或环境恶劣(如高温、高震动),建议每 6 个月标定 1 次。

  • 追溯性:计量报告加盖泓川科技计量专用章,计量设备的检定证书可提供查询,确保测量结果可追溯至国家计量基准。

结语

泓川科技激光位移传感器凭借高精度、高稳定性、高适应性的特点,广泛应用于精密制造、汽车零部件、电子半导体等领域。我们始终坚持自主研发与品质管控,为客户提供从产品选型、技术支持到维修维护的全生命周期服务。若您需进一步了解产品细节或定制化需求,欢迎联系我司技术支持团队(电话:0510-88155119,官网:www.chuantec.com)。

 

无锡泓川科技有限公司
2024 年 8 月


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2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 4...
2025 - 08 - 30
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泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着...
2025 - 08 - 12
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在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中,一个棘手的矛盾始终存在:一方面,设备内部空间日益紧凑,毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”;另一方面,随着产品结构复杂化,对测量量程的需求不断提升,5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量?无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜,以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”,既节省安装空间,又兼容大量程需求,重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点:空间与量程难以两全在精密测量领域,侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号,凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计,其量程多集中在 2.5mm 以内(如 LTCR4000 量程为 ±2mm),难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择...
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专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
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  • 1
    2022 - 12 - 03
    无论是半导体加工过程中还是锂电池制造过程中总是伴随着腐蚀,高温振动等恶劣环境,为了保证生产的高效稳定,无锡泓川科技推出了多种具有不同钢铁不锈钢金属外壳的激光位移传感器,具有高防护性,可以从容的面对各种复杂的环境。在生产过程中总是在恶劣的环境中进行。在当今的环境中,自动化解决方案有时会暴露在非常困难的生产条件下。而且还必须具有可靠的功能,这对传感器技术来说是一个挑战。无锡泓川科技有限公司广泛的测试程序,确保了我们的激光位移传感器能够承受恶劣的环境要求。例如在电子行业中电子产品在我们日常生活中扮演着重要的角色。无论是在电动巴士和汽车的电池中,还是在太阳能发电模块中。自动化生产在电子工业的许多领域都是非常复杂的。真空和高温环境是随处可见的。使用的化学物质具有腐蚀性。这不仅影响生产条件和机器在许多应用领域,传感器解决方案也面临着新的挑战。那么能满足这些挑战的出色的激光位移传感器是什么样的呢?在某些情况他必须能抗抵抗至少70度到100度的高温。或者他必须能承受真空环境并且具有腐蚀性,化学物质的过程中也能抗拒。他应该有特别耐用的材料制成如不锈钢甚至特氟龙材料。无锡泓川科技有限公司提供范围广泛的激光位移传感器和激光位移传感器技术,尤其适用于恶劣环境。
  • 2
    2024 - 01 - 21
    摘要:本文将详细阐述高精度激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中的应用情况。我们使用的激光测距传感器能够准确测量涂层厚度在1-10μm之间的极片,而且其精度能达到0.15μm。并且,通过特殊的同步计算过程和测厚技术,我们成功解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差。我们的传感器还具有定制化的宽光斑特性,能够应对涂层厚度不均匀的情况,从而得到极片全表面的平均值。1. 导言锂电池在移动设备、电动汽车等领域的应用日益广泛,其中极片的涂层厚度对电池性能影响显著。传统的接触式和机械式测量方法经常无法满足需求,而我们的高精度激光测距传感器正好拥有非接触测量和高精度测量的优势。2. 测量系统与技术我们使用的是一种高精度激光测距传感器,它可以准确测量出微米级别的厚度,并且精度能够达到0.15μm。我们通过使用专业的同步运算程序和射测厚技术,成功地解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差问题。此外,该传感器还具有定制化的宽光斑特性,能够应对涂层厚度不均匀的情况,从而得到极片全表面的平均值。3. 实验结果与效果分析多次实验结果证明,我们使用的激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中展现出了可靠性和准确性。实验结果显示,该传感器能够稳定地测量出微米级别的涂层厚度。通过专业的同步运算程序和射测厚技术,我们成功地解决了测量误差问题。定制化的宽光斑特性使得传感器可以应对涂层厚度不均匀的情况,从而...
  • 3
    2025 - 04 - 07
    在大型工件检测、锂电池极片测厚、航空航天等高精度长距测量场景中,传感器需兼具大范围扫描能力与微米级精度,同时解决多设备空间协同难题。无锡泓川科技LTPD50激光位移传感器创新采用中空分体式结构设计,以50mm超长参考距离、0.05μm重复精度及进口半价成本,突破进口设备在长距高精度领域的垄断,为工业用户提供“远距精准测量+多设备同轴集成”的国产化标杆方案。核心优势:中空架构+超长量程,重构工业检测边界中空同轴设计,赋能多设备协同φ25mm贯通孔:传感器主体中空,支持工业相机、激光打标头等外设直接穿过,实现测量点与操作中心零偏差同轴,解决传统长距传感器体积大、遮挡视野的痛点。超薄机身:紧凑型设计(74205110mm),适配机器人导轨、自动化产线等空间受限场景,安装灵活性提升60%。长距高精度,性能对标进口50mm参考距离±0.8mm量程:覆盖锂电池极片、金属板材等大尺寸工件的高精度厚度检测需求,减少传感器移动频次。0.05μm重复精度:媲美基恩士LK-G系列,线性误差**成本颠覆:售价仅为进口同类产品的40%~50%,且无需外置控制器,综合成本降低70%。硬核参数:长距测量的性能标杆参数LTPD50(无锡泓川)进口竞品(如基恩士LK-G500)参考距离50mm50mm测量范围±0.8mm±0.5mm重复精度0.05μm(无平均)0.1μm采样频率160...
  • 4
    2023 - 09 - 26
    1 激光光热技术测厚:原理是利用激光照射材料,产生的热量使材料产生变化,再通过光学方式检测这种变化以确定材料的厚度。优点是非接触式、无损伤、准确;缺点也是显而易见的,对于颜色、形状、表面纹理等都有不同程度的影响。2 白光干涉测厚:原理是使用白光干涉仪产生干涉图案,然后通过分析干涉图案得材料厚度。优点是测量精度高、灵敏度高;缺点是设备复杂且成本高昂。3 激光干涉测厚:主要是利用激光波的相干性,测量物体的干涉条纹来反推出物体的厚度。优点是测量精度高、速度快;但激光源的稳定性和调节技术要求比较高。4 光谱共聚焦测厚:该方法是根据材料对不同波长光的反射、折射和吸收特性,同时探测所有波长的光谱,从而计算出材料厚度。优点是测量准确、适用范围广;缺点是设备复杂、操作要求高。5 椭圆偏光法测厚:原理是利用光的偏振特性对材料进行测量,根据计算出材料厚度。优点是接触、无损伤,但适用范围有限。6 红外吸收法测厚:红外吸收法是指通过测定红外光在材料中吸收的程度来推断优点是测量过程简单、直观、精度高;缺点是对材料的红外吸收特性有严格要求。7 X/β射线测厚:主要是利用X射线或者β射线穿透材料时,穿透的射线强度和物体的厚度之间存在一定的关系。优点是精确、可靠;缺点是人体安全需要考虑。8 电容测厚:原理是利用两极板间的电容量与介质厚度成正比,通过测量电容量来测量厚度。优点是设备简单、便宜;缺点是精度较低。9 反...
  • 5
    2024 - 03 - 05
    在测量被透明物体覆盖的目标时,环境照明补偿和透视测量是提高测量准确性的重要手段。这些技术的应用,在智能手机等电子设备的制造过程中,具有至关重要的作用。首先,让我们来探讨一下环境照明补偿的作用。在生产线环境中,照明条件往往并不稳定,这会对测量精度产生严重影响。环境照明补偿技术通过自动调整传感器参数,以补偿外部光照条件的变化,使得测量系统能在不同的照明条件下都能保持稳定的测量性能。这就使得我们在测量被透明物体(如手机屏幕)覆盖的目标时,能够得到更为准确的结果。其次,透视测量技术则能够解决透明物体对测量造成的干扰。由于透明物体会让部分光线穿过,使得传统的测量技术难以准确捕捉目标的位置和形状。而透视测量技术则能够通过特殊的光学设计和算法处理,使得传感器能够“看透”透明物体,直接对其背后的目标进行测量。这样,我们就可以在不接触目标的情况下,对其进行准确的测量。在智能手机等电子设备的制造过程中,这两种技术都有着广泛的应用。例如,在手机屏幕的生产过程中,环境照明补偿技术可以帮助我们确保屏幕在各种光线条件下都能显示清晰。而透视测量技术则可以用于测量手机屏幕下的各种元器件,如触摸屏、摄像头等,确保它们的位置和尺寸都符合设计要求。此外,这两种技术还可以结合使用,以提高测量的精度和效率。例如,我们可以先使用透视测量技术确定目标的位置,然后使用环境照明补偿技术对其进行精确测量。这样,我们不仅可以得到更准确...
  • 6
    2025 - 04 - 12
    在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能直接影响生产精度与效率。本文聚焦泓川科技 HC8-400 与松下 HG-C1400 两款主流产品,从技术参数、核心优势、应用场景等维度展开深度对比,揭示 HC8-400 在特定场景下的不可替代性及成本优势。一、技术参数对比:细节见真章1. 基础性能指标参数HC8-400HG-C1400差异分析测量范围400±200mm(200-600mm)400±200mm(200-600mm)两者一致,覆盖中长距离测量场景。重复精度200-400mm:150μm 400-600mm:400μm200-400mm:300μm 400-600mm:800μmHC8-400 在全量程精度表现更优,尤其在 400-600mm 远距段,重复精度提升 50%,适合对稳定性要求高的精密测量。线性度200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.线性度一致,满足工业级测量标准。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1400 理论温漂略优,但 HC8-400 通过独特热稳设计,实际在高温环境(如 80℃)下表现更可靠,弥补参数...
  • 7
    2025 - 01 - 16
    七、声纳传感器应用案例深析7.1 外壳相关检测7.1.1 外壳的外观检测在声纳传感器的实际应用中,对外壳的外观检测是确保产品质量的关键步骤。在进行外壳外观检测时,声纳传感器并非仅依赖传统的图像明暗判断方式,而是借助先进的技术,利用 3D 形状的图像来实现精准的形状变化识别。其工作过程如下:传感器发射特定频率和模式的声波,这些声波以特定的角度和范围向外传播,当遇到外壳表面时,会根据外壳表面的形状、材质以及纹理等特征产生不同的反射模式。反射回来的声波被传感器的接收装置高效捕捉,然后转化为电信号。系统对这些电信号进行复杂的处理和分析,通过独特的算法将其转换为详细的 3D 形状数据。在这个过程中,系统会对 3D 形状数据进行精确的分析和比对,与预先设定的标准外壳模型进行细致的匹配。一旦发现外壳的形状与标准模型存在差异,系统会立即识别出这些变化,从而确定外壳是否存在缺陷或不符合规格的情况。这种利用 3D 形状图像进行外观检测的方式具有诸多显著优势。它极大地提高了检测的准确性和可靠性。传统的基于图像明暗判断的方法,容易受到环境光、外壳表面光泽度以及颜色等多种因素的干扰,导致检测结果出现偏差。而 3D 形状图像检测技术能够直接获取外壳的真实形状信息,不受这些外部因素的影响,从而能够更准确地发现外壳表面的细微瑕疵,如划痕、凹陷、凸起等,以及形状上的偏差。该技术具有较强的稳定性。无论环境光如何变化,...
  • 8
    2025 - 05 - 26
    一、引言在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能与成本直接影响设备的竞争力。本文聚焦泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列,从技术参数、应用场景及成本等维度展开深度对比,揭示 LTM3 系列如何以卓越性能和显著成本优势成为更具性价比的选择。二、核心参数对比指标泓川科技 LTM3 系列米铱 ILD1750 系列测量频率最高 10kHz,适用于高速动态测量场景最高 7.5kHz,满足常规工业速度需求重复性精度0.25μm 起(如 LTM3 - 030),达到亚微米级精度0.1μm 起,精度表现优异线性误差低至 0.06% FSO 起,基于百分比的误差控制防护等级IP67,可抵御粉尘、液体喷射及短时浸水IP65,防护性能良好但略逊于 LTM3外形尺寸605020.4mm,体积小巧,适配狭窄空间未明确标注,但工业通用设计体积较大重量约 150g,轻便易安装未明确标注,推测重于 LTM3 系列输出接口以太网、485 串口、模拟信号(±10V/4 - 20mA),支持工业网络集成模拟量(U/I)、数字量(RS422),传统工业接口配置光源655nm/660nm 红光激光,稳定可靠670nm 红光激光,测量光斑控制优秀工作温度0 - 50°C,适应多数工业环境0 - 50°C,环境适应性相当三、LTM3 系列核心优势解析(一)性能...
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蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
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