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泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题？

2025 - 08 - 12

在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中，一个棘手的矛盾始终存在：一方面，设备内部空间日益紧凑，毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”；另一方面，随着产品结构复杂化，对测量量程的需求不断提升，5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量？无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜，以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”，既节省安装空间，又兼容大量程需求，重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点：空间与量程难以两全在精密测量领域，侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号，凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计，其量程多集中在 2.5mm 以内（如 LTCR4000 量程为 ±2mm），难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择传统端面出光的大量程传感器（如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm），虽能覆盖测量需求，却因轴向出光设计需预留足够安装高度，在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程，似乎成了不可调和的矛盾。光学转折镜：让大量程探头 “直角转身”，释放空间潜力泓川科技创新研发的光学转折镜...
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使用对射的激光距离传感器测量橡胶带接缝位置

2023 - 10 - 11

激光测距传感器对射技术在自动化生产线上的应用愈发广泛，今天我们将介绍一个基于两台激光测距传感器上下对射来检测橡胶带接缝的案例。在橡胶带的生产过程中，橡胶带的接缝是一个非常关键的部位。由于橡胶带在运输行走的过程中，其厚度会随着接缝的存在而变化。接缝是由两个橡胶带重叠在一起形成的，因此接缝的厚度显然会大于橡胶带本身。为了保证产品质量和生产效率，我们需要及时准确地检测并计数橡胶带的接缝。我们采用了两台激光测距传感器进行上下对射的方式来实现这一目标。具体操作如下：首先，将一台激光测距传感器安装在橡胶带上方，另一台安装在橡胶带下方，使得两台传感器之间垂直对射。通过激光束的反射和接收时间的测量，可以获取到橡胶带表面和接缝的距离信息。当橡胶带的接缝位置经过测距传感器时，根据上文提到的厚度大于阈值的特点，我们可以通过一个内部的比较器来判断是否检测到了接缝。当橡胶带的厚度数据高于预设的阈值时，比较器将输出一个开关量信号，表示接缝位置被检测到。通过这种方式，我们不需要具体测量接缝的厚度数值，只需要一个开关量信号，就可以实现对橡胶带接缝位置质量的检测和接缝数量的计数。这对于保证产品质量、提高生产效率具有重要意义。总结起来，利用两台激光测距传感器上下对射的方法，结合内部的比较器功能，我们可以实现对橡胶带接缝位置的检测。这种技术应用既简单又有效，可以在自动化生产线中广泛应用，提高生产效率并确保产品质量的稳定...
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片材/板材/薄膜/薄板厚度测量的 “神器”—— 对射激光位移传感器

2025 - 01 - 04

在工业生产的众多环节中，板材厚度测量的重要性不言而喻。无论是建筑领域的钢梁结构、汽车制造的车身板材，还是电子设备的外壳，板材的厚度都直接关乎产品质量与性能。哪怕是微小的厚度偏差，都可能引发严重的安全隐患或使用问题。传统的板材厚度测量方法，如卡尺测量、超声波测量等，各有弊端。卡尺测量效率低、易受人为因素干扰；超声波测量则在精度和稳定性上有所欠缺，面对高精度需求时常力不从心。而激光位移传感器的出现，为板材厚度测量带来了革命性的变化。它宛如一位精准的 “测量大师”，凭借先进的激光技术，实现非接触式测量，不仅精度极高，还能快速、稳定地获取数据，有效规避了传统测量方式的诸多问题。接下来，让我们一同深入探究，两台激光位移传感器是如何默契配合，精准测量板材片材厚度的。激光位移传感器测厚原理大揭秘当谈及利用两台激光位移传感器对射安装测量板材片材厚度的原理，其实并不复杂。想象一下，在板材的上下方各精准安置一台激光位移传感器，它们如同两位目光犀利的 “卫士”，紧紧 “盯” 着板材。上方的传感器发射出一道激光束，这束激光垂直射向板材的上表面，而后经板材上表面反射回来。传感器凭借内部精密的光学系统与信号处理单元，迅速捕捉反射光的信息，并通过复杂而精准的算法，计算出传感器到板材上表面的距离，我们暂且将这个距离记为。与此同时，下方的传感器也在同步运作。它发射的激光束射向板材的下表面，同样经过反射、捕捉与计算...
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激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南（上）

2025 - 01 - 14

一、引言1.1 激光位移传感器概述激光位移传感器，作为工业测量领域的关键设备，凭借其卓越的非接触测量特性，正日益成为众多行业实现高精度测量与自动化控制的核心技术。它主要利用激光的反射特性，通过精确测量反射光的相关参数，实现对目标物体的位移、距离、厚度等几何量的精准测定。这一技术的诞生，为现代制造业、科研实验以及诸多工业生产过程，提供了高效、可靠且精准的测量手段。其工作原理基于激光三角测量法和激光回波分析法。激光三角测量法常用于高精度、短距离测量场景。在该方法中，激光位移传感器发射出一束激光，射向被测物体表面，物体表面反射的激光经由特定的光学系统，被传感器内部的探测器接收。根据激光发射点、反射点以及探测器接收点之间所构成的三角几何关系，通过精密的计算，能够精确得出物体与传感器之间的距离。激光回波分析法更适用于远距离测量，传感器以每秒发射大量激光脉冲的方式，向被测物体发送信号，随后依据激光脉冲从发射到被接收的时间差，精确计算出物体与传感器之间的距离。在工业测量领域，激光位移传感器的重要地位不容小觑。在汽车制造行业，它被广泛应用于车身零部件的尺寸检测、装配精度控制等环节。通过对汽车零部件的精确测量，能够确保各个部件的尺寸符合设计要求，从而提升整车的装配质量和性能。在电子制造领域，激光位移传感器可用于检测芯片的尺寸、平整度以及电子元件的贴装精度等。在芯片制造过程中，其微小的尺寸和极高的精...
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光谱共焦传感器在厚度测量中的应用研究报告（下）

2025 - 01 - 29

五、光谱共焦传感器测量厚度的局限性及解决措施5.1 局限性分析5.1.1 测量范围限制光谱共焦传感器的测量范围相对有限，一般在几毫米到几十毫米之间。这是由于其测量原理基于色散物镜对不同波长光的聚焦特性，测量范围主要取决于色散物镜的轴向色差范围以及光谱仪的工作波段。在实际应用中，对于一些大尺寸物体的厚度测量，如厚壁管材、大型板材等，可能需要多次测量拼接数据，增加了测量的复杂性和误差来源。例如，在测量厚度超过传感器量程的大型金属板材时，需要移动传感器进行多次测量，然后将测量数据进行拼接处理，但在拼接过程中可能会因测量位置的定位误差、测量角度的变化等因素导致测量结果的不准确。5.1.2 对被测物体表面状态的要求虽然光谱共焦传感器对多种材料具有良好的适用性，但被测物体表面的粗糙度、平整度等因素仍会对测量精度产生一定影响。当被测物体表面粗糙度较大时，表面的微观起伏会导致反射光的散射和漫反射增强，使得反射光的强度分布不均匀，从而影响光谱仪对反射光波长的准确检测，导致测量误差增大。对于表面平整度较差的物体，如存在明显翘曲或弯曲的板材，会使传感器与物体表面的距离在不同位置发生变化，超出传感器的测量精度范围，进而影响厚度测量的准确性。例如，在测量表面粗糙的橡胶板材时，由于橡胶表面的微观纹理和不规则性，测量精度会明显下降，难以达到对光滑表面测量时的高精度水平。5.1.3 成本相对较高光谱共焦传感器作为...
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相位法激光测距传感器原理简述

2023 - 02 - 20

相位法激光测距传感器是一种用于测量距离的传感器，它使用衰减激光来测量距离。激光在一个激光发射器中发出，并由一个接收器接收。激光发射持续一段时间，称为测量时间，根据接收信号的强度和相位推导出一般的相对距离和数据。激光距离传感器的原理有点像各种闪烁的表盘表，只是发射的激光光源更小而且激光传播时间更短，所以更快。传感器通过测量当激光发出后多久接收到信号来测量物体之间的相对位置，也就是距离。由于抛物线和容积衰减，激光越远越弱，为了准确测量距离，必须使用准确的激光，并且随着距离的增加接收性能衰减越多，因此必须调整传感器的接收阈值，以确保可以正确测量所需的距离。当激光被发射出去时，传感器会记录发射的时间，当激光被接收时，传感器记录激光接收的时间。然后，将发射时间和接收时间相减，就可以得到大约的信号传播时间，就可以用它来测量形成到目标物体的距离。然而，如果电路中的任何一部分停顿，传感器就不能正确测量距离，可能会产生一些不准确的测量。因此，为了防止这种情况的发生，许多传感器使用了自适应滤波器，可以有效地滤除由尘埃、碰撞或干扰引起的杂散信号，从而确保测量准确。相位法激光测距传感器具有较低...
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泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章

2024 - 12 - 01

标题：泓川科技：破冰之旅——LTP系列激光位移传感器，全国产化的辉煌篇章在科技日新月异的今天，每一个微小的进步都可能成为推动行业变革的巨大力量。然而，在高端激光位移传感器领域，长期以来，我国一直面临着国外技术的严密封锁与市场垄断。西克SICK、米铱、基恩士、奥泰斯等国际品牌如同难以逾越的高山，让国内企业在这一关键领域步履维艰。但在这片看似无望的疆域中，泓川科技有限公司却以一腔热血和不懈追求，书写了一段打破垄断、实现全国产化替代的传奇故事。破冰之始：挑战与决心面对国际巨头的强势地位，泓川科技没有选择退缩，而是迎难而上。他们深知，要在这片被外资品牌牢牢掌控的市场中开辟新天地，就必须拿出过硬的产品和技术。于是，LTP系列高精度激光位移传感器的研发项目应运而生，这不仅是泓川科技对技术创新的执着追求，更是对国家科技自立自强战略的积极响应。技术攻坚：细节决定成败在LTP系列的研发过程中，泓川科技团队对每一个部件、每一个环节都进行了极致的打磨和优化。从激光器的选择到激光检测器的设计，从测量电路的构建到光学元件的精密调校，每一步都凝聚着科研人员的智慧和汗水。激光器：为了确保激光束的高方向性和集中度，泓川科技与国内顶尖的光电子企业合作，共同研发出适用于LTP系列的定制化激光器，其性能指标直追国际先进水平。激光检测器与测量电路：通过引进先进的信号处理技术和算法，泓川科技大幅提升了检测器的灵敏度和测量电...
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泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新

2025 - 08 - 30

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...

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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...

泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

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