服务热线: 0510-88155119
13301510675@163.com
Language
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
浏览次数: 12
更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
浏览次数: 30
更新日期: 2025 - 09 - 02
在工业生产的众多环节中,板材厚度测量的重要性不言而喻。无论是建筑领域的钢梁结构、汽车制造的车身板材,还是电子设备的外壳,板材的厚度都直接关乎产品质量与性能。哪怕是微小的厚度偏差,都可能引发严重的安全隐患或使用问题。传统的板材厚度测量方法,如卡尺测量、超声波测量等,各有弊端。卡尺测量效率低、易受人为因素干扰;超声波测量则在精度和稳定性上有所欠缺,面对高精度需求时常力不从心。而激光位移传感器的出现,为板材厚度测量带来了革命性的变化。它宛如一位精准的 “测量大师”,凭借先进的激光技术,实现非接触式测量,不仅精度极高,还能快速、稳定地获取数据,有效规避了传统测量方式的诸多问题。接下来,让我们一同深入探究,两台激光位移传感器是如何默契配合,精准测量板材片材厚度的。激光位移传感器测厚原理大揭秘当谈及利用两台激光位移传感器对射安装测量板材片材厚度的原理,其实并不复杂。想象一下,在板材的上下方各精准安置一台激光位移传感器,它们如同两位目光犀利的 “卫士”,紧紧 “盯” 着板材。上方的传感器发射出一道激光束,这束激光垂直射向板材的上表面,而后经板材上表面反射回来。传感器凭借内部精密的光学系统与信号处理单元,迅速捕捉反射光的信息,并通过复杂而精准的算法,计算出传感器到板材上表面的距离,我们暂且将这个距离记为 。与此同时,下方的传感器也在同步运作。它发射的激光束射向板材的下表面,同样经过反射、捕捉与计算...
发布时间: 2025 - 01 - 04
浏览次数:168
在旋转机械的运行过程中,振动情况直接关乎其性能与安全。激光测振动传感器凭借其独特优势,成为该领域不可或缺的检测利器。它采用非接触式测量,有效避免了对旋转机械的物理干扰,确保测量的精准性。其高精度的特性,能够捕捉到极其微小的振动变化,为故障诊断提供可靠依据。广泛的应用范围涵盖了电机、风机、轴承等各类旋转机械,在能源、化工、机械制造等众多行业都发挥着关键作用。通过实时监测振动数据,可及时发现潜在问题,预防设备故障,保障生产的连续性与稳定性,大大降低维修成本与停机风险。工作原理:激光与振动的深度互动激光测振动传感器基于激光多普勒效应工作。当激光照射到旋转机械的振动表面时,由于物体表面的振动,反射光的频率会发生多普勒频移。设激光源发射的激光频率为,物体表面振动速度为,激光波长为,则多普勒频移可由公式计算得出。通过精确测量多普勒频移,就能得到物体表面的振动速度,进而获取振动信息。与传统测量原理相比,激光多普勒测振具有显著优势。传统的接触式测量方法,如压电式传感器,需要与被测物体直接接触,这不仅会对旋转机械的运行产生一定干扰,还可能因安装问题影响测量精度,而且在高速旋转或微小振动测量时,接触式传感器的响应速度和精度受限。而激光测振传感器采用非接触式测量,避免了对旋转机械的物理干扰,可实现高精度、宽频带的测量,适用于各种复杂工况下的旋转机械振动测量。实验设置:精准测量的基石(一)微型激光多普勒测...
发布时间: 2024 - 12 - 22
浏览次数:212
引言光谱共焦传感器凭借非接触、高精度、高效率等优势,成为几何量精密测量的前沿技术。本文将从原理到应用,系统解析这一技术的核心价值与发展趋势。一、核心工作原理:当光波成为标尺1.1 光波与位移的精准映射通过色散物镜将宽光谱光源分解为不同波长的光,各波长光在轴向形成阶梯状焦点阵列。当物体表面反射特定波长时,光谱仪捕捉该波长,通过预设的波长-位移对应模型实现亚微米级定位。1.2 关键技术突破轴向色散线性度:通过组合SKIO、H-ZLAF52A等特殊玻璃材料,实现波长与位移判定系数R²0.97的线性关系衍射极限优化:ZEMAX仿真优化后,焦点RMS半径低至1.552μm(文献案例)抗干扰设计:棱镜-光栅分光技术消除谱线弯曲,提升检测稳定性二、核心组件架构组件功能特性技术指标案例宽光谱光源覆盖450-700nm波段色散范围达3.9mm(超大量程型号)色散物镜正负透镜组分离结构2mm量程下数值孔径0.3,FWHM光谱检测仪高速CCD/CMOS传感器线扫描速率达24mm/s,分辨率0.8μm三、扫描方式演进3.1 点扫描(传统方案)优势:单点精度达纳米级局限:10mm线长扫描耗时分钟级,数据重构复杂3.2 线扫描(革新方案)效率提升:单次扫描覆盖24mm线长,较点扫描提速300%工业适配:3mm轴向量程满足多数工业件检测需求四、应用场景全景图4.1 当前主流应用微观检测:半导体晶圆表面...
发布时间: 2024 - 12 - 22
浏览次数:752
摘要光谱共焦位移传感器是一种高精度、非接触式的光电位移传感器,广泛应用于光学镜片检测、半导体制造、医疗器械生产等多个领域。本文详细阐述了光谱共焦位移传感器的制造技术,包括生产技术细节、工艺流程以及需要注意的具体事项,为相关领域的研发和生产提供参考。引言随着精密仪器制造业的发展,对于工业生产测量的要求越来越高。光谱共焦位移传感器以其高精度、非接触式、实时无损检测等特性,成为解决这一问题的有效手段。本文旨在详细介绍光谱共焦位移传感器的制造技术,包括关键零部件的选择、生产工艺流程以及制造过程中需要注意的事项。一、光谱共焦位移传感器的基本原理光谱共焦位移传感器由光源、分光镜、光学色散镜头组、小孔以及光谱仪等部分组成。传感器通过色散镜头将位移信息转换成波长信息,再利用光谱仪进行光谱分解,反解得出被测位移。其中,色散镜头作为光学部分完成了波长和位移的一一映射,是传感器的核心部件。二、关键零部件的选择1. 光源选择白光LED作为光源,其光谱分布范围广泛,能够满足不同测量需求。同时,白光LED具有寿命长、稳定性好等优点,适合用于工业生产环境。2. 色散镜头色散镜头是光谱共焦位移传感器的关键部件,其性能直接影响传感器的测量精度和分辨率。在选择色散镜头时,需要考虑其轴向色散与波长之间的线性度、色散范围以及镜头材料等因素。3. 光谱仪光谱仪用于接收通过小孔的光信号,并确定其波长,从而实现位移分辨。在选择...
发布时间: 2024 - 12 - 11
浏览次数:183
Hot News / 热点新闻
2025 - 09 - 05
点击次数: 12
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
点击次数: 30
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
中国 · 无锡 · 总部地址: 无锡新吴区天山路六号818
我们的工作时间
周一至周五:8:00-18:00 周六至周日:9:00-15:00
About Us
关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
销售热线:0510-88155119 
图文传真:0510-88152650
Working Time
我们的工作时间
周一至周五:8:00-18:00
周六至周日:9:00-15:00
Shown 企业秀 More
  • 121
    2020 - 09 - 24
    激光位移传感器是位移、厚度以及高度等不同参数检测新的突破点,许多人更是借助激光位移传感器视频预备深入了解其测量方法以及应用功能。而三角测量法和激光回波分析法是位移传感器较为常用的测量方法,现在就三角测量法和激光回波分析法具有哪些区别为大家作进一步解析:1.适宜测量的距离远近不同激光位移传感器的三角测量法和激光回波分析法在测量物体远近上有较大差别。一般来说三角测量法可通过镜头将光反射至物体表面,故而它更适宜短距离参数的测量;而激光回波分析法更适宜进行长距离参数的测量,因为回波的距离相比可见红光波长要更长些。2.测量所依据的工作原理差别较大激光位移传感器应用率较高的三角测量法指的是利用可见红光激光射向待测物体,再通过物体反射激光并且由接收器镜头进行接收。比如CCD线性相机就是通过不同角度获得光点探测激光和相机的距离;而激光回波分析法主要是基于发射的脉冲碰到障碍物返回所需时间再进行测量。3. 测量所得精度不同据众多用户反馈表明激光位移传感器的三角测量法和激光回波分析法两者拥有不同的测量精度。很多人经大量的试验发现三角测量法在进行机械加工以及上下料装配作业中拥有更高的测量精度,而激光回波分析法由于测距较长,故而其测量精度略低于三角测量的精度。据调查反馈表明激光位移传感器在市场上的应用率逐年递增,那些激光位移传感器厂家的地位也因此水涨船高。据这些厂家分享表明激光位移传感器的三角测量法和激光回...
  • 122
    2020 - 10 - 22
    激光位移传感器可在生产线上进行灌装水平的检测,在制造过程中当灌装产品通过传感器时可以检测是否灌装完毕,当生产线与传感器的安装线平行时,传感器测得的距离差越大物体的直线度越差,该传感器利用激光束反射面的扩展程序,可以准确识别灌装产品的灌装是否合格以及产品的数量是否正确。1、尺寸测定机关位移传感器在进行尺寸测量的时候采用振动分析,可以对汽车等高等级产品进行相关的测试和实验,另外对于一些工业产品可以实现实时的动态监测,另外一些中高等级的器件状态与产品的性价比和价位息息相关,激光位移传感器可以与机械手或其他的工业附加品相互配合形成一整套的监控系统,既可以对生产器械进行监控来避免其发生故障,又可以对产品进行质量检验避免厚度或长度等参数异常。2、均匀度的检查激光位移传感器的使用方法相对来说要更加简单,尤其在测量工件运动的倾斜方向时可以一次性测量多个运动工件,另外它可以迅速甚至实时的将测量值进行输出,另外它使用软件计算出的度量值误差相对来说较小,并可以根据数据输出情况实时的优化和调整数据的结果以保证结果的长期稳定,除此之外激光位移传感器还可以与各类扫描仪相互配合使用,一个负责读出数据另外一个可以及时的对其他的原件尺寸和完整性及精准度进行测试。这对于同类的位移传感器来说均不可能实现,然而激光位移传感器除了可以测量单组数据外,甚至多组数据共同测量时也可以保证精准性。激光位移传感器还可测量物体的直线度...
  • 123
    2020 - 10 - 23
    关于激光位移传感器有诸多那单元和细节,比如它可以分为内部处理单元、发射回传单元、激光接收器的接收单元和分析单元等,由于它可以在单位时间内发出大量的激光脉冲,因此需要同样快速的接收脉冲返回到接收器当中,近些年来为了大幅缩减激光位移传感器的处理时间,在传感器接收器上做了多重优化,使其在长距离检测时也可以短时间内完成。1、为什么用激光位移传感器激光位移传感器发展趋势‍极快,为了维持玻璃的平坦性,必须在更宽广的范围内进行精准的控制温度,这是因为如果在玻璃基板内产生温度差,那么将会产生残留应力,而造成为弯曲等玻璃变形的,或者在切割时让玻璃出现变形,影响了玻璃基板的稳定性,并且还有可能因为残留应力的结果,在制程中贴付偏光板之后,会产生光的相位差,造成LCD模组出现漏光的现象。国产激光位移传感器‍厂家称应力作用会造成于玻璃表面的伤痕,也会让基板产生破损的结果。2、使用激光位移传感器有什么技术优势通过使用激光位移传感器可以成功测量透明材质的平坦度,从而弥补了传统激光位移传感器在透明材质或镜面反射测量上的不足,增加了激光位移传感器新的应用领域。全息传感器基于独特的锥光全息专利技术,优于现有各种工业应用的标准距离测量方法。该传感器可靠、准确,不包含运动部件。与标准的三角法相比,在测量系统中有共线性和低电子噪声依赖性两大优势。非接触式距离传感器用于激光打标、焊接、钻孔和切割系统的自动对焦。另外关于激光位...
  • 124
    2020 - 10 - 26
    激光测距传感器‍可以做到不接触测量快速出结果,在实际的测量过程当中有许多物体会出现间歇性的位移变化,一些变化并不是匀速变化,同时变化也不具有规律性,所以传感器需要快速的捕捉变化的情况对被测物体进行移动速度的测量,在不允许接触的情况下仍可对其实行重点监控,那么长距激光测距传感器‍的工作原理是怎样的呢?1、收光激光三角反射式的测量原理基于简单的几何关系,来自激光二极管的激光束照射在被测量物表面。 由激光测距传感器反射的光线通过一组透镜投影到受光元件矩阵上,受光元件可以是CCD/CMOS或PSD元件。反射光线的强度取决于被测物体的表面特性。为此模拟元件PSD的敏感度需要进行调节,而对数字元件CCD传感器,使用激光测距传感器‍实时表面补光技术可以瞬时改变接收光强。2、分析解读小量程激光测距传感器‍探头到被测物体的距离可以由三角计算法则精准得到,采用这种方法能够得到微米级的分辨率。根据不同型号,测量得到的数据会由外置或内置控制器通过多种接口进行评估。点激光传感器投射到被测物体上形成一个可见光斑,通过这个光斑可以非常简便的安装调试探头,因此激光测距传感器‍被应用到非常多的领域,成为精密距离测量的热门选择。根据不同设计,光学测量允许测量距离较宽。根据测量任务的需要,可以选择非常小的量程,但是具有极高测量精度。或者选择大量程激光测距传感器‍,但是测量精度会有所下降。在激光测距传感器‍工作过程当中会...
  • 125
    2022 - 10 - 23
    细说光谱共焦传感器相对三角回差原理激光位移传感器的优点      更小的测量盲区:同轴式测量配置, 避免了激光三角传感器的角度限制, 缩小测量盲区,适合复杂细微结构(如深沟槽结构等) 的测量。更高精度的尺寸及位移复现能力。      高灵敏度光学非接触测量:针对光谱共焦位移传感器研制开发的TS-CC物镜能够实现最小10微米的成像光斑, 同时提高测量线性精度。      多膜层/多层玻璃测厚能力:针对光谱共焦位移传感器定制开发的杂散光抑制优化光谱仪以及高亮度彩色光源, 都能够大幅提高传感器的测量灵敏度, 能够对表面返回的极弱的光强(如薄膜等透明物体) 完成测量。      光谱共焦传感器适合各种材料的测量, 并能确保对不同材料的测量性能, 同时支持多膜层/胶合玻璃的多层厚度测量。不受电噪声干扰的探头:安装于测量现场的探头是纯光学器件, 通过光纤与控制器连接, 因此可以避免现场电磁干扰对测量精度的影响。 探头口径可以设计到Φ10mm以下, 适合并排布置进行多个关键位置的测量。 同时探头可以设计到±60°的测量角度, 满足曲面玻璃的测量。 光谱共焦拥有适用于任何材质的高精度测量能力 :对不同结构特征的物体实现精确测量 :1...
  • 126
    2023 - 08 - 21
    目前国内激光位移传感器在锂电行业的应用种类和方案情况主要包括以下几个方面:电池生产:激光位移传感器可以用于电池生产过程中的位置测量和定位。在锂电池生产线上,传感器可以用于测量电池极片、电池盖板和电池内部构件的位置,以确保组装过程的准确性和一致性。电池测试:激光位移传感器可以用于锂电池的测试过程中,例如测量电池的厚度、容量和内部电阻等参数。传感器的高精度和稳定性能可以保证测试结果的准确性,帮助优化电池设计和质量控制。电池管理:激光位移传感器在锂电池管理系统中的应用较为广泛。传感器可以用于测量电池的瞬时电压、温度和电流等参数,以实时监测电池状态,帮助控制电池的充放电过程,保证电池的安全和性能。国内激光位移传感器和进口传感器相比,存在以下优势和劣势:优势:价格优势:国内激光位移传感器的价格相对较低,可以降低锂电行业的成本。技术逐步提升:国内激光位移传感器的技术水平正在逐步提升,性能在不断改善,已经能够满足大部分应用需求。定制化能力:国内激光位移传感器生产商根据用户的需求可以进行定制开发,提供更符合特定应用场景的解决方案。劣势:目前进口传感器在精度和稳定性方面仍具有一定优势。进口传感器品牌在长期的技术沉淀和市场认可度上较为占优势。部分高端应用场景对传感器的要求非常严苛,国内激光位移传感器在这些领域还需要不断提升技术水平。市场前景展望:随着锂电行业的长期发展和智能化需求的增加,激光位移传感器...
  • 127
    2020 - 09 - 15
    据调查反馈激光测距传感器既可以采用脉冲测距法,也可以采用相位测距法,这两者各有各的优势。但是绝大多数的激光测距传感器应用都是优先考虑脉冲测距法,但是这时的光脉冲需要符合相应的条件方可执行,现在就用于激光测距传感器的光脉冲应符合哪些要求作简要阐述:1.光脉冲要有足够的强度激光测距传感器的脉冲激光测距指的是向被测目标发射一个光脉冲,再由接收系统接收目标反射回来的光脉冲,由此通过测算光脉冲往返的时间来推算目标的距离。但是若是测量距离较远,那么激光器所发射的光脉冲必须要有足够的强度,以免强度不够无法支撑反射来回。2.光脉冲的方向性和单色性要好用于激光测距传感器的光脉冲还应符合光脉冲的方向性和单色性要好等要求。因为测程的精度与光脉冲的方向性和单色性息息相关,若是光脉冲的方向性和单色性较差,那么便不利于迅速捕捉待测物体的信息,同时也会大大影响待测精度的高低。3.光脉冲的宽度要窄据众多专家分析表明光脉冲的宽度也会大大影响激光测距传感器的测量精度。因为它的测量主要是通过时钟脉冲进行计数,若是光脉冲的宽度越宽,那么其测量精度也会随之变高;反之,若是光脉冲的宽度较窄,那么时钟脉冲也会因此受到影响。激光测距传感器拥有可靠的距离测量功能,且不惧风雨以及其它恶劣环境的影响。但是若想准确掌握激光测距传感器范围,那么激光测距传感器所用的光脉冲除了需要符合满足强度的要求外,还需要满足方向性和单色性好以及光脉冲的宽...
  • 128
    2019 - 05 - 09
    激光位移传感器作为一种精密的设备正悄然取代传统的传感器设备,面对专业提供激光位移传感器厂家以及复杂的激光位移传感器型号能选择到恰到好处的产品是每位用户的需求。下面就先来介绍一下激光位移传感器的用途有哪些?1、工程机械以及高附加值产品行业现在对激光位移传感器的应用领域和用户提出的技术要求,激光位移传感器未来的发展方向无疑是大功率、大表面,高效率。激光位移传感器在机车行业中一般应用重工业给用户带来高效、优质的生产率,对工艺外观各方面的检查也需要伴随着对相关参数数据的了解,这是评价激光位移传感器设备核心内部手工艺质量的关键。对这两个方面的研究有助于对激光位移传感器的基本质量和质量标准进行综合评价,高销量的激光位移传感器是好的选择。2、机器人和汽车行业激光位移传感器与机器人配对的柔性加工系统在汽车工业和配套行业有着悠久的历史,过去被国外集成商垄断。特别是国内激光技术高端厂家在范围内的支持下政策上的技术,许多外国汽车在高端品牌和民族品牌尝试,近年来激光位移传感器为汽车用户提供汽车白色车身焊接、汽车仪表板激光减弱、汽车安全气囊激光焊接、汽车保险杠、门、中柱等机器人柔性切割机、汽车可变套筒激光自动切割设备等。因此激光位移传感器生产是高科技的具体应用和体现,传感器是否具有高技术增值体,现在包括在技术含量和加工技术上都不是高技术。总而言之,激光位移传感器的用途分别是工程机械以及高附加值产品行业、机器...
Message 最新动态
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
Copyright ©2005 - 2013 无锡泓川科技有限公司

1

犀牛云提供企业云服务
Our Link
X
3

SKYPE 设置

4

阿里旺旺设置

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

5

电话号码管理

  • 0510-88155119
6

二维码管理

等待加载动态数据...

等待加载动态数据...

展开