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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8KHz 的采样频率,可同时满足 4 个工位的同步检测需求,且单次测量误差控制在微米级,完美适配 “高效量产 + 高精度质控” 的高端制造场景(如新能源电池多极片同步厚度检测、半导体封装多工位尺寸监控)。从技术原理看,32KHz 高速采样的实现依赖泓川科技对 “光源驱动 - 信号采集 - 数据处理” 链路的深度优化:激光光源版本(LT-CPS-L/LT-CPD-L/LT-CPF-L)采用高功率密度单...
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更新日期: 2025 - 08 - 30
一、引言1.1 研究背景与意义在现代工业生产与精密测量领域,对高精度、高可靠性位移测量技术的需求与日俱增。激光位移传感器凭借其非接触测量、高精度、高响应速度以及抗干扰能力强等显著优势,已成为实现自动化生产、质量控制与精密检测的关键技术手段,广泛应用于汽车制造、电子生产、机械加工、航空航天等众多行业。optoNCDT 1420 系列激光位移传感器作为德国米铱(Micro-Epsilon)公司推出的微型化、高精度位移测量解决方案,在尺寸、性能与功能集成等方面展现出独特的优势。其紧凑的设计使其能够轻松集成到空间受限的设备与系统中,满足了现代工业对设备小型化、集成化的发展需求;同时,该系列传感器具备出色的测量精度与稳定性,可实现对微小位移变化的精确检测,为精密测量与控制提供了可靠的数据支持。深入研究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器的技术原理、性能特点及应用场景,对于推动激光位移测量技术的发展,拓展其在各行业的应用范围,提升工业生产的自动化水平与产品质量具有重要的理论与实际意义。通过对该系列传感器的全面剖析,能够为相关领域的工程师、技术人员提供有价值的参考依据,帮助他们更好地选择与应用激光位移传感器,解决实际工程中的测量难题。1.2 研究目标与范围本研究旨在全面深入地探究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器,具体目标包括:详细阐述该传感器的工作原理,深入分析其技术...
发布时间: 2025 - 04 - 02
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1. 引言在工业自动化领域,激光位移传感器是实现高精度非接触测量的核心器件。基恩士 IL-S025 作为市场主流产品,以其 1μm 重复精度和稳定性能著称。然而,随着国产传感器技术的突破,泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 型号凭借更高的性能参数和经济性,为用户提供了新的选择。本文将从技术参数、性能表现、应用场景等方面,深入对比分析两者的替代可行性。 2. 核心技术参数对比参数基恩士 IL-S025泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W对比结论重复精度1μm0.25μm(LTM3-030)/ 0.25μm(LTM3-030W)LTM3 系列更优(4 倍精度提升)线性误差±0.075% F.S.(±5mm 范围)LTM3-030W 更优(接近 IL-S025)测量范围±5mm(参考距离 25mm)±5mm(参考距离 30mm)等效采样频率3kHz(采样周期 0.33ms)10kHzLTM3 系列更优(3倍速度提升)光斑尺寸25×1200μm(线性光斑)Φ35μm(M3-030)/ Φ35×400μm(M3-030W)LTM3 系列光斑更小(点光斑更聚焦)光源类型660nm 激光(Class 2)655nm 激光(Class 2)等效接口配置需外接放大器单元(支持 EtherNet/IP 等)...
发布时间: 2025 - 03 - 27
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一、核心性能参数对比:精度与场景适配性参数泓川科技LTC2600(标准版)泓川LTC2600H(定制版)基恩士CL-P015(标准版)参考距离15 mm15 mm15 mm测量范围±1.3 mm±1.3 mm±1.3 mm光斑直径9/18/144 μm(多模式)支持定制(最小φ5 μm)ø25 μm(单点式)重复精度50 nm50 nm100 nm线性误差±0.49 μm(标准模式)分辨率0.03 μm0.03 μm0.25 μm(理论值)防护等级IP40IP67(定制)IP67耐温范围0°C ~ +50°C-20°C ~ +200°C(定制)0°C ~ +50°C真空支持不支持支持(10^-3 Pa,定制)支持(10^-6 Pa,标准版)重量228 g250 g(高温版)180 g性能深度解析精度碾压:LTC2600的重复精度(50 nm)显著优于CL-P015(100 nm),线性误差(光斑灵活性:LTC2600支持多光斑模式(最小φ5 μm定制),可兼顾微小目标检测与粗糙面稳定性;CL-P015仅提供单点式光斑(ø25 μm),适用场景受限。环境适应性:CL-P015标准版支持超高真空(10^-6 Pa),但C2600通过...
发布时间: 2025 - 03 - 22
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泓川科技LTP系列激光位移传感器全面匹配您的技术需求尊敬的客户: 感谢您对泓川科技产品的关注!针对您提出的高精度激光位移传感器需求,我司LTP系列产品凭借卓越性能与灵活定制能力,可完全满足您的技术要求,具体对应如下:一、核心参数精准匹配需求项LTP400(200mm)LTP450(500mm)量程200mm(±100mm)500mm(±250mm)线性度±0.03%F.S.(优于要求)±0.05%F.S.(达标)重复精度(静态)±0.03%F.S.±0.05%F.S.采样频率50kHz全量程(达标)50kHz全量程(达标)输出信号-10V~10V(选配模块)-10V~10V(选配模块)技术优势说明:超高采样频率:LTP400/LTP450全量程下支持50kHz采样(48kHz),且可缩短量程至20%时提升至160kHz,满足高速动态测量需求(如振动检测、高速产线)。响应时间最低6.25μs(通过参数表*6可选配置),确保实时数据捕获能力。纳米级标定精度:基于纳米级激光干涉仪标定技术(参数表*3),线性度与重复性指标通过严格验证,确保长期稳定性。多输出模式兼容:支持**-10V~10V模拟输出**(需选配模块)、4~20mA电流输出、RS485及TCP/IP通讯,适配各类工业控制系统。48kHz、±0.05%线性度...
发布时间: 2025 - 03 - 14
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Hot News / 热点新闻
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
2025 - 08 - 30
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泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETH...
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  • 33
    2025 - 01 - 04
    在工业生产的众多环节中,板材厚度测量的重要性不言而喻。无论是建筑领域的钢梁结构、汽车制造的车身板材,还是电子设备的外壳,板材的厚度都直接关乎产品质量与性能。哪怕是微小的厚度偏差,都可能引发严重的安全隐患或使用问题。传统的板材厚度测量方法,如卡尺测量、超声波测量等,各有弊端。卡尺测量效率低、易受人为因素干扰;超声波测量则在精度和稳定性上有所欠缺,面对高精度需求时常力不从心。而激光位移传感器的出现,为板材厚度测量带来了革命性的变化。它宛如一位精准的 “测量大师”,凭借先进的激光技术,实现非接触式测量,不仅精度极高,还能快速、稳定地获取数据,有效规避了传统测量方式的诸多问题。接下来,让我们一同深入探究,两台激光位移传感器是如何默契配合,精准测量板材片材厚度的。激光位移传感器测厚原理大揭秘当谈及利用两台激光位移传感器对射安装测量板材片材厚度的原理,其实并不复杂。想象一下,在板材的上下方各精准安置一台激光位移传感器,它们如同两位目光犀利的 “卫士”,紧紧 “盯” 着板材。上方的传感器发射出一道激光束,这束激光垂直射向板材的上表面,而后经板材上表面反射回来。传感器凭借内部精密的光学系统与信号处理单元,迅速捕捉反射光的信息,并通过复杂而精准的算法,计算出传感器到板材上表面的距离,我们暂且将这个距离记为 。与此同时,下方的传感器也在同步运作。它发射的激光束射向板材的下表面,同样经过反射、捕捉与计算...
  • 34
    2025 - 01 - 14
    一、引言1.1 激光位移传感器概述激光位移传感器,作为工业测量领域的关键设备,凭借其卓越的非接触测量特性,正日益成为众多行业实现高精度测量与自动化控制的核心技术。它主要利用激光的反射特性,通过精确测量反射光的相关参数,实现对目标物体的位移、距离、厚度等几何量的精准测定。这一技术的诞生,为现代制造业、科研实验以及诸多工业生产过程,提供了高效、可靠且精准的测量手段。其工作原理基于激光三角测量法和激光回波分析法。激光三角测量法常用于高精度、短距离测量场景。在该方法中,激光位移传感器发射出一束激光,射向被测物体表面,物体表面反射的激光经由特定的光学系统,被传感器内部的探测器接收。根据激光发射点、反射点以及探测器接收点之间所构成的三角几何关系,通过精密的计算,能够精确得出物体与传感器之间的距离 。激光回波分析法更适用于远距离测量,传感器以每秒发射大量激光脉冲的方式,向被测物体发送信号,随后依据激光脉冲从发射到被接收的时间差,精确计算出物体与传感器之间的距离。在工业测量领域,激光位移传感器的重要地位不容小觑。在汽车制造行业,它被广泛应用于车身零部件的尺寸检测、装配精度控制等环节。通过对汽车零部件的精确测量,能够确保各个部件的尺寸符合设计要求,从而提升整车的装配质量和性能。在电子制造领域,激光位移传感器可用于检测芯片的尺寸、平整度以及电子元件的贴装精度等。在芯片制造过程中,其微小的尺寸和极高的精...
  • 35
    2025 - 01 - 29
    五、光谱共焦传感器测量厚度的局限性及解决措施5.1 局限性分析5.1.1 测量范围限制光谱共焦传感器的测量范围相对有限,一般在几毫米到几十毫米之间。这是由于其测量原理基于色散物镜对不同波长光的聚焦特性,测量范围主要取决于色散物镜的轴向色差范围以及光谱仪的工作波段。在实际应用中,对于一些大尺寸物体的厚度测量,如厚壁管材、大型板材等,可能需要多次测量拼接数据,增加了测量的复杂性和误差来源。例如,在测量厚度超过传感器量程的大型金属板材时,需要移动传感器进行多次测量,然后将测量数据进行拼接处理,但在拼接过程中可能会因测量位置的定位误差、测量角度的变化等因素导致测量结果的不准确。5.1.2 对被测物体表面状态的要求虽然光谱共焦传感器对多种材料具有良好的适用性,但被测物体表面的粗糙度、平整度等因素仍会对测量精度产生一定影响。当被测物体表面粗糙度较大时,表面的微观起伏会导致反射光的散射和漫反射增强,使得反射光的强度分布不均匀,从而影响光谱仪对反射光波长的准确检测,导致测量误差增大。对于表面平整度较差的物体,如存在明显翘曲或弯曲的板材,会使传感器与物体表面的距离在不同位置发生变化,超出传感器的测量精度范围,进而影响厚度测量的准确性。例如,在测量表面粗糙的橡胶板材时,由于橡胶表面的微观纹理和不规则性,测量精度会明显下降,难以达到对光滑表面测量时的高精度水平。5.1.3 成本相对较高光谱共焦传感器作为...
  • 36
    2023 - 02 - 20
    相位法激光测距传感器是一种用于测量距离的传感器,它使用衰减激光来测量距离。激光在一个激光发射器中发出,并由一个接收器接收。激光发射持续一段时间,称为测量时间,根据接收信号的强度和相位推导出一般的相对距离和数据。       激光距离传感器的原理有点像各种闪烁的表盘表,只是发射的激光光源更小而且激光传播时间更短,所以更快。传感器通过测量当激光发出后多久接收到信号来测量物体之间的相对位置,也就是距离。由于抛物线和容积衰减,激光越远越弱,为了准确测量距离,必须使用准确的激光,并且随着距离的增加接收性能衰减越多,因此必须调整传感器的接收阈值,以确保可以正确测量所需的距离。       当激光被发射出去时,传感器会记录发射的时间,当激光被接收时,传感器记录激光接收的时间。然后,将发射时间和接收时间相减,就可以得到大约的信号传播时间,就可以用它来测量形成到目标物体的距离。       然而,如果电路中的任何一部分停顿,传感器就不能正确测量距离,可能会产生一些不准确的测量。因此,为了防止这种情况的发生,许多传感器使用了自适应滤波器,可以有效地滤除由尘埃、碰撞或干扰引起的杂散信号,从而确保测量准确。       相位法激光测距传感器具有较低...
  • 37
    2024 - 12 - 01
    标题:泓川科技:破冰之旅——LTP系列激光位移传感器,全国产化的辉煌篇章在科技日新月异的今天,每一个微小的进步都可能成为推动行业变革的巨大力量。然而,在高端激光位移传感器领域,长期以来,我国一直面临着国外技术的严密封锁与市场垄断。西克SICK、米铱、基恩士、奥泰斯等国际品牌如同难以逾越的高山,让国内企业在这一关键领域步履维艰。但在这片看似无望的疆域中,泓川科技有限公司却以一腔热血和不懈追求,书写了一段打破垄断、实现全国产化替代的传奇故事。破冰之始:挑战与决心面对国际巨头的强势地位,泓川科技没有选择退缩,而是迎难而上。他们深知,要在这片被外资品牌牢牢掌控的市场中开辟新天地,就必须拿出过硬的产品和技术。于是,LTP系列高精度激光位移传感器的研发项目应运而生,这不仅是泓川科技对技术创新的执着追求,更是对国家科技自立自强战略的积极响应。技术攻坚:细节决定成败在LTP系列的研发过程中,泓川科技团队对每一个部件、每一个环节都进行了极致的打磨和优化。从激光器的选择到激光检测器的设计,从测量电路的构建到光学元件的精密调校,每一步都凝聚着科研人员的智慧和汗水。激光器:为了确保激光束的高方向性和集中度,泓川科技与国内顶尖的光电子企业合作,共同研发出适用于LTP系列的定制化激光器,其性能指标直追国际先进水平。激光检测器与测量电路:通过引进先进的信号处理技术和算法,泓川科技大幅提升了检测器的灵敏度和测量电...
  • 38
    2025 - 08 - 30
    泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
  • 39
    2023 - 10 - 20
    面对反射率不同的目标物时,激光位移传感器需要调整以下方面以确保测量的稳定性:根据目标物的反射率变化,调整接收光量。反射率较高的目标物可能导致光量饱和,而反射率较低的目标物可能无法获得足够的接收光量。因此,需要根据目标物的反射特性,适时调整激光位移传感器的接收光量,以使其处于最佳工作状态。使用光量控制范围调整功能。这种功能可以预先决定接收光量的上限和下限,缩短获取最佳光量的时间,从而可以更快地调整光量。针对反射率较高的目标物,需要减小激光功率和缩短发射时间,以避免光量饱和。而对于反射率较低的目标物,则应增大激光功率和延长发射时间,以确保获得足够的接收光量。在调整过程中,需要注意测量反射率急剧变化位置的稳定程度,以及使用光量调整功能以外功能时的稳定程度。如果无法稳定测量反射率不同的目标物,可能是由于目标物的反射光因颜色、反光、表面状况(粗度、倾斜度)等因素而发生变化,导致感光元件(接收光波形)上形成的光点状态也会随之变化。这种情况下,需要通过反复试验和调整,找到最佳的激光位移传感器工作参数。总结来说,激光位移传感器需要根据目标物的反射率变化,调整接收光量、激光发射时间、激光功率和增益等参数,以确保测量的稳定性和准确性。同时,需要注意目标物的反射特性及其变化情况,以便及时调整激光位移传感器的参数。
  • 40
    2025 - 01 - 19
    一、引言1.1 研究背景与意义在科技飞速发展的当下,半导体和电子部件制造行业正经历着深刻的变革。随着电子产品的功能不断增强,尺寸却日益缩小,对半导体和电子部件的性能、精度以及可靠性提出了极为严苛的要求。从智能手机、平板电脑到高性能计算机、物联网设备,无一不依赖于先进的半导体和电子部件技术。而这些部件的质量与性能,在很大程度上取决于制造过程中的测量、检测和品质管理环节。光学测量技术作为一种先进的测量手段,凭借其高精度、非接触、快速测量等诸多优势,在半导体和电子部件制造领域中发挥着愈发关键的作用。它能够精确测量微小尺寸、复杂形状以及表面形貌等参数,为制造过程提供了不可或缺的数据支持。举例来说,在半导体芯片制造中,芯片的线宽、间距等关键尺寸的精度要求已经达到了纳米级别,光学测量技术能够准确测量这些尺寸,确保芯片的性能符合设计标准。再如,在电子部件的封装过程中,光学测量可以检测焊点的形状、尺寸以及位置,保障封装的可靠性。光学测量技术的应用,不仅能够有效提高产品的质量和性能,还能显著降低生产成本,增强企业在市场中的竞争力。通过实时监测和精确控制制造过程,能够及时发现并纠正生产中的偏差,减少废品率和返工率,提高生产效率。因此,深入研究光学测量在半导体和电子部件制造中的典型应用,对于推动行业的发展具有重要的现实意义。1.2 研究目的与方法本报告旨在深入剖析光学测量在半导体和电子部件制造测量、检测...
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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题? 2025 - 08 - 12 在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中,一个棘手的矛盾始终存在:一方面,设备内部空间日益紧凑,毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”;另一方面,随着产品结构复杂化,对测量量程的需求不断提升,5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量?无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜,以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”,既节省安装空间,又兼容大量程需求,重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点:空间与量程难以两全在精密测量领域,侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号,凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计,其量程多集中在 2.5mm 以内(如 LTCR4000 量程为 ±2mm),难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择传统端面出光的大量程传感器(如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm),虽能覆盖测量需求,却因轴向出光设计需预留足够安装高度,在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程,似乎成了不可调和的矛盾。光学转折镜:让大量程探头 “直角转身”,释放空间潜力泓川科技创新研发的光学转折镜...
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