光谱共焦传感器 - 同轴光位移传感器 - 激光位移传感器

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非接触式激光传感器在生产线上的应用有哪些优势？

2024 - 03 - 05

非接触式激光位移传感器在生产线上的应用具有多方面的优势，下面将从精度、速度、可靠性、灵活性和安全性等方面进行逐一分析，并通过具体的应用场景来说明其应用价值。同时，还会与传统的接触式传感器进行比较，以突显非接触式激光位移传感器的独特优势。精度：非接触式激光位移传感器采用激光三角测量法，具有极高的测量精度。例如，在半导体制造过程中，需要精确控制薄膜的厚度，非接触式激光位移传感器可以实现微米级的测量精度，从而确保产品质量。相比之下，传统接触式传感器可能会因为接触力度的不同而影响测量精度。速度：非接触式激光位移传感器具有快速响应的特点，可以在生产线上实现高速测量。例如，在包装机械中，需要实时监测包装材料的位置和速度，非接触式激光位移传感器可以迅速捕捉到这些变化，从而确保包装过程的顺利进行。而传统接触式传感器可能会因为接触摩擦等因素而影响测量速度。可靠性：非接触式激光位移传感器无需与目标物体直接接触，因此可以避免因摩擦、磨损等因素导致的传感器损坏。此外，非接触式传感器还具有较好的抗干扰能力，可以在恶劣的生产环境中稳定工作。相比之下，传统接触式传感器更容易受到环境因素的影响而出现故障。灵活性：非接触式激光位移传感器可以适应不同的测量需求，通过调整激光发射角度、接收透镜焦距等参数，可以实现不同距离、不同角度的测量。此外，非接触式传感器还可以与计算机、PLC等设备进行连接，实现自动化控制和数据处理...
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泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 国产激光位移传感器替代进口基恩士 IL-S025 的技术可行性研究

2025 - 03 - 27

1. 引言在工业自动化领域，激光位移传感器是实现高精度非接触测量的核心器件。基恩士 IL-S025 作为市场主流产品，以其 1μm 重复精度和稳定性能著称。然而，随着国产传感器技术的突破，泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 型号凭借更高的性能参数和经济性，为用户提供了新的选择。本文将从技术参数、性能表现、应用场景等方面，深入对比分析两者的替代可行性。 2. 核心技术参数对比参数基恩士 IL-S025泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W对比结论重复精度1μm0.25μm（LTM3-030）/ 0.25μm（LTM3-030W）LTM3 系列更优（4 倍精度提升）线性误差±0.075% F.S.（±5mm 范围）LTM3-030W 更优（接近 IL-S025）测量范围±5mm（参考距离 25mm）±5mm（参考距离 30mm）等效采样频率3kHz（采样周期 0.33ms）10kHzLTM3 系列更优（3倍速度提升）光斑尺寸25×1200μm（线性光斑）Φ35μm（M3-030）/ Φ35×400μm（M3-030W）LTM3 系列光斑更小（点光斑更聚焦）光源类型660nm 激光（Class 2）655nm 激光（Class 2）等效接口配置需外接放大器单元（支持 EtherNet/IP 等）...
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激光测量技术在（ADAS）驾驶辅助系统的应用案例（二）

2025 - 01 - 16

四、彩色激光同轴位移计应用实例洞察4.1 镜面相关测量4.1.1 镜面的倾斜及运动检测在众多光学设备以及对镜面精度要求极高的工业场景中，准确检测镜面的倾斜及运动状态是确保设备正常运行和产品质量的关键环节。彩色激光同轴位移计 CL 系列在这一领域展现出了卓越的性能。该系列位移计主要基于同轴测量原理，其独特之处在于采用了彩色共焦方式。在工作时，设备发射出特定的光束，这些光束垂直照射到镜面上。由于镜面具有良好的反射特性，光束会被垂直反射回来。CL 系列位移计通过精确分析反射光的波长、强度以及相位等信息，能够精准计算出镜面的倾斜角度以及运动的位移变化。在实际应用场景中，以高端投影仪的镜头镜面检测为例。投影仪镜头镜面的微小倾斜或运动偏差都可能导致投影画面出现变形、模糊等问题，严重影响投影效果。使用 CL 系列彩色激光同轴位移计，在投影仪生产线上，对每一个镜头镜面进行实时检测。当镜面发生倾斜时，位移计能够迅速捕捉到反射光的变化，并通过内置的算法立即计算出倾斜角度。一旦检测到倾斜角度超出预设的标准范围，系统会及时发出警报，提示操作人员进行调整。对于镜头镜面在使用过程中的微小运动，该位移计同样能够敏锐感知，并将运动数据精确反馈给控制系统，以便对投影画面进行实时校正，确保投影质量始终保持在最佳状态。 4.1.2 MEMS 镜倾斜检测在微机电系统（MEMS）领域，MEMS 镜作为核心部件，其...
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泓川科技 LTC 光谱共焦传感器：全系列 200℃耐高温定制，突破高温测量精度瓶颈

2025 - 04 - 08

在高温工业环境中，精密测量设备的稳定性与精度始终是行业难题。传统传感器在高温下易出现信号漂移、材料老化等问题，导致测量数据失真，甚至设备故障。作为工业测量领域的创新者，泓川科技推出的 LTC 光谱共焦传感器系列，突破性实现全型号 200℃耐高温定制，以 “精度不妥协、性能无衰减” 的核心优势，为高温场景测量树立新标杆，成为替代基恩士等进口品牌高温版本的理想之选。一、全系列耐高温定制：200℃环境下精度如初，打破行业局限区别于市场上仅部分型号支持高温的传感器，泓川科技 LTC 系列全系产品均可定制 200℃耐高温版本，涵盖 LTC100B、LTC400、LTC2000、LTCR 系列等数十款型号，满足从微米级精密测量到超大范围检测的多样化需求。通过材料升级与结构优化：核心部件耐高温设计：采用航空级耐高温光学元件及特殊封装工艺，确保光源发射、光谱接收模块在 200℃长期运行下无热漂移，重复精度保持 3nm-850nm（依型号），线性误差≤±0.03μm 起，与常温环境一致。耐高温光纤传输：标配专用耐高温光纤，可承受 200℃持续高温，抗弯曲性能提升 30%，有效避免传统光纤在高温下的信号衰减与断裂风险，保障长距离测量信号稳定。相较基恩士等品牌仅部分型号支持高温（通常最高 150℃且精度下降 10%-20%），泓川 LTC 系列实现温度范围、型号覆盖、精度保持三大突破，成为高温...
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一场穿越空间的光电舞蹈: TOF激光测距传感器解码记

2023 - 09 - 20

首先，让我们对TOF进行一次短暂的“速读”——它全称叫'time-of-flight'，中文怎么说呢？风格洒脱地称之为“飞行时间”。你没听错，就是“飞行时间”。所有的颠覆与创新始于赤裸裸的想象，对吧？再来回过头，看看我们的主角TOF激光测距传感器。激光这东西，我想你肯定不陌生。科幻大片，医美广告里都被频繁提及。对这位明星，我们暂时按下暂停键，我们聊一聊测距传感器——那可是能把复杂的三维世界，硬是证明成一串串精准数据的硬核工具。当然，他俩的组合，并不是偶然撞壁造成的火花。在“鹰眼”TOF的身上，激光变得更加酷炫，传感器技术也变得更为深邃。他们共舞的主线，就是光的飞行时间。想象一下，要在现实世界计算出光从物体发射出来，然后反射回传感器的时间。你愣了一秒，觉得好像进入了'黑洞'的领域。实则不然，TOF激光测距传感器就是这样“耳提面命”。它以光速旅行者的姿态，穿越空间，告诉我们物体与之间的距离。亲，你有听说过光速吗？大约每秒走30万公里哦，这个速度足够你在一秒钟内去绕地球七点五圈了！TOF激光测距传感器就是他们利用这么一个迅疾的光速，再加上高精度的时钟，来高效精确地计算出飞行时间并转化为距离数据。小编想说，TOF不仅玩科技，他更玩智谋，战胜了同类的超声波、红外线等测距设备。毕竟，被物的颜色、亮度、表面材质，或者环境的温湿度对他来说都不构成锁链。准确到“下毛...
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案例应用 | 基于光谱共焦技术的DPC陶瓷基板金属层测厚方案

2025 - 03 - 06

背景与挑战随着电子封装技术的快速发展，直接镀铜陶瓷基板（DPC）因具备优异的导热性、机械强度及耐高温性能，被广泛应用于大功率LED、IGBT模块等领域。然而，其表面金属镀层的厚度均匀性直接影响器件的散热效率与可靠性。某客户需对一批DPC基板进行全检，要求**在正反面各选取10个金属块（含2个重复基准点）**进行高精度厚度测量，并同步获取表面轮廓与中心区高度数据，以满足严格的工艺质量控制标准。解决方案针对客户需求，我们采用LTC1200系列光谱共焦传感器（配套高精度运动平台与测控软件），设计了一套非接触式三维测厚方案：设备选型量程：±600μm（覆盖金属层典型厚度范围）重复精度：0.03μm（静态，确保基准点数据一致性）线性误差：＜±0.3μm（满足亚微米级公差要求）采样频率：10kHz（高速扫描提升检测效率）选用LTC1200B型号传感器（光斑直径约19μm），兼顾测量精度与金属表面反射特性需求，其技术参数如下：搭配亚微米级定位平台，确保扫描路径精确控制。基准点设定以陶瓷基板裸露区域作为基准面，在正反面各设置2个重复测量点，通过传感器实时比对基准高度数据，消除基板翘曲或装夹误差对厚度计算的影响。实施流程数据采集：沿预设路径扫描金属块，同步记录轮廓点云与中心区高度（软件自动拟合最高点作为厚度参考值）。厚度计算：基于公式：\text{金属层厚度} = \text{金...
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如何利用光谱共焦传感器来检测薄膜生产中的薄厚偏差？

2023 - 09 - 25

在高精度的生产工序中，薄膜偏差是一项极为重要的控制指标。由于微观材料结构的敏感性，稍有偏差就可能会导致产品的细微变形，从而引发性能下降、使用寿命缩短等一系列问题。因此，对薄膜偏差的精确检测与实时调控具有至关重要的意义。对于这样的需求，光谱共焦位移传感器便能发挥出它重要的作用。通过实现对薄膜厚度的非接触式实时监视，它可以有效地预防或及时地调整可能发生的偏差，提高生产过程中的精准度和稳定性。原理上，光谱共焦位移传感器利用光源通过物体后的干涉进行测量，借助高精度的光学系统和高灵敏的光电检测设备，最终得出偏差情况。另一方面，光谱共焦位移传感器具有小型化的优势。它采用集成设计，尺寸小巧，可以安装在设备内的有限空间中，且不会影响主机性能。这大大扩展了其使用场景，让即使是较为狭小的环境也能实现精确的监控。总结来说，光谱共焦位移传感器代表着未来高精密度生产领域的主流趋。其不仅具备高精度、快反应、难以受到环境干扰等优点，还由于其小型化、适用于狭窄环境等特性，使其逐渐被更多的高科技领域所接受和采纳。
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激光三角测量法是如何实现对透明物体测量的？折射率校正在这个过程中起到了什么作用？

2024 - 03 - 05

激光三角测量法：精确测量透明物体的科技新突破在精密测量领域，激光三角测量法已成为一种非常重要的技术手段。这种测量方法尤其适用于透明物体的测量，因为它可以有效地解决透明物体测量中的诸多难题。本文将详细介绍激光三角测量法的原理、步骤，以及折射率校正在此过程中所起到的关键作用。一、激光三角测量法的原理激光三角测量法是一种基于光学三角测量原理的非接触式测量方法。其基本原理是：半导体激光器发出的激光束照射在目标物体上，接收器透镜聚集目标物体反射的光线并聚焦到感光元件上。当目标物体与测量设备之间的距离发生改变时，通过接收器透镜的反射光的位置也会相应改变，光线聚焦在感光元件上的部分也会有所不同。通过精确测量这些变化，就可以得出目标物体的位移、形状等参数。二、激光三角测量法的步骤设定参照距离：首先，需要设定一个参照距离，即在此距离下，激光束与感光元件之间的位置关系已知且稳定。照射激光：然后，通过半导体激光器发出激光束，照射在待测的透明物体上。接收反射光：接收器透镜会聚集从透明物体反射回来的光线，并将其聚焦到感光元件上。分析数据：当透明物体移动或形状发生变化时，反射光在感光元件上的位置也会发生变化。通过精确分析这些变化，就可以得出透明物体的位移、形状等参数。三、折射率校正的作用在测量透明物体时，一个关键的问题是需要考虑光的折射现象。由于透明物体的折射率与空气不同，光线在从空气进入透明物体时会发生折射...

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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...

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