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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
现如今,激光焊接机器人的应用已然是越来越广泛,之所以如此,就是因为其中使用了激光焊缝跟踪系统。激光焊缝跟踪系统是可以在焊接时对焊缝轨迹进行严密跟踪控制的,所以能够确保焊接更加精准。那么口碑好的激光焊缝跟踪系统是如何跟踪焊缝的呢?1、对焊缝轮廓预测量激光焊缝跟踪系统会通过视觉系统预先对工件进行测量,其目的就是为了更好地利用焊缝轮廓信息。在做这一步时,激光焊缝跟踪系统会控制机器人以较低的速度沿着焊缝的延伸方向运动,再通过机械手末端的相机来捕获和识别图像的特征点以及坐标,然后将空间坐标信息传送到控制器进行预测量。2、拐点识别与拐角辨认焊缝轮廓由拐角与直线段组成,为了获得更好的跟踪性能,激光焊缝跟踪系统会在不同的轮廓段使用不同的控制策略,并且,为了辨认拐角区域的位置,还会快速有效地对拐点进行识别,以保证可以对焊缝进行有效跟踪。3、实时焊缝跟踪激光焊缝跟踪系统会根据视觉系统的检测和判断进行跟踪运动。每一次的检测循环都会识别一个特征点,检测过后系统会进行判断,并根据不同的轮廓部分采用不同的控制策略。为了使激光焊缝跟踪系统更加稳定,在两个相邻的检测点之间插补合适个数的插补点以确保相邻的运动点之间的距离足够小。使用激光焊接不仅有效降低材料消耗,也能大幅提高焊接的效率,所以在现代化的生产过程中激光焊接应用的越来越普遍,为了让激光焊接的质量更好,厂家往往会配合专业的激光焊缝跟踪系统来使用,通过各种手段...
发布时间: 2019 - 11 - 28
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激光焊接具有能量密度高、加热区小以及可以进行长距离焊接,还拥有激光焊缝跟踪系统,能够更加精准的对各种材料进行焊接,所以已经逐渐被机械制造、航空航天等行业所应用。那么,专业的激光焊缝跟踪系统为什么可以保证焊接的精确度呢?1、跟踪传感器精确定位在激光焊接自动实施的过程中,测量系统必须要具有很强的实时性,否则就无法对焊接过程进行控制,而激光焊缝跟踪系统当中拥有精度很高的跟踪传感器,此传感器能够快速的识别出焊缝,而且还能将焊缝的实际位置准确定位出来,为焊缝的跟踪提供有效目标。2、拥有专业的运动控制器若是只有跟踪传感器,那么激光焊缝跟踪系统只能识别并定位出焊缝的具体位置,但是无法对焊枪的运动实施控制。为此,激光焊缝跟踪系统中配备了运动控制器,利用专业的硬件结构以及运动控制原理和方法,对焊接过程实施有效控制,从而确保可以实时跟踪焊缝。3、执行机构对偏差进行适时调整激光焊缝跟踪系统是一个完整而且是结构十分严谨的相同,在对焊缝进行有效跟踪的过程中,除了有跟踪传感器和运动控制器之外,激光焊缝跟踪系统还有机械结构合理的执行机构,从而可以保证对跟踪结果的偏差进行实时调整,让系统能够对焊缝进行有效的实时跟踪。通过此篇文章的介绍大家就能了解,为什么现在激光焊缝跟踪系统在各个行业中会大受欢迎。毕竟,每个需要对产品进行焊接处理的企业都希望获得更加精准和省时省力的焊接,而使用口碑好的激光焊缝跟踪系统就可以完美实现...
发布时间: 2019 - 11 - 25
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激光焊缝跟踪系统之所以能够精确的对焊缝进行跟踪,是因为在焊接传感器提供焊缝的形状和位置信息以后,专业的激光焊缝跟踪系统会利用这些信息去控制执行机构,完成焊接的动态调整。那么激光焊缝跟踪系统有哪些控制方法呢?1、专家控制所谓专家控制,是指智能的利用控制对着控制规律的各种专家知识,让受控系统尽可能的优化和实用化。在激光焊缝跟踪系统中,专家控制有知识库和推理机两个主要组成要素,系统会利用这两个要素自动获取和利用各种专业知识,再将其应用在焊缝成形的控制中,以取得有效的焊缝跟踪。2、神经网络控制神经网络设计的控制系统具有良好的适应性和鲁棒性,对于处理焊接这样的高维数、非线性、强干扰、不确定以及难建模的复杂过程是很有优势的。激光焊缝跟踪系统利用神经网络控制,可以对焊缝图像进行处理并利用软件来计算,获得控制量去控制跟踪执行机构,从而可以有效跟踪焊缝。3、模糊控制在激光焊缝跟踪系统当中,模糊控制是非常早的一种智能控制方法,这种控制方法吸取了人的思维中具有模糊性的特点,在一定程度上了模仿了人的控制,并且利用偏差和偏差的变化作为输入量,通过偏差和偏差变化率来自动调整辩论论域,从而提高激光焊缝跟踪系统的响应速度和跟踪精度。这些均是激光焊缝跟踪系统中使用的控制方法,通过这行控制方法的使用,受欢迎的激光焊缝跟踪系统公司就能够为广大客户提供更为精准高效的焊缝跟踪系统,让激光焊接机器人能够更加智能化的去执行焊接...
发布时间: 2019 - 11 - 25
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众所周知激光位移传感器的测量频率极为宽泛,在保证高精度的前提之下使动态范围进一步扩大,与此同时在测量过程当中尽量的减小其他发散光的影响,所以在暴露光照条件下这种位移传感器也能表现出优异的测量效果,它的功能并非单一,那么可以使用激光位移传感器进行哪些测量工作呢?1、激光测长在精密制造业中光学工业极为关键,它是测量精密长度的关键手段之一,现代长度测量中利用光波测量会大大的削弱外在因素的影响,而使用光波测量时关键在于光的单色性的好坏,有相关的业内人士称激光位移传感器为理想光源,相比于单色光源更加纯正,通常同类条件下它的量程和精度更高。2、激光测距耐用的激光位移传感器的原理与无线电雷达相同,将激光对准目标发射出去后测量它的往返时间,再乘以光速即得到往返距离。由于激光具有高方向性和高单色性及高功率等优点,这对于测远距离和判定目标方位和提高接收系统的信噪比、保证测量精度等都很关键,因此激光测距日益受到重视。激光位移传感器不仅能测距而且还可以测目标方位和加速度等,已成功地用于人造卫星的测距和跟踪。3、激光测振它基于多普勒原理测量物体的振动速度,质量有保证的激光位移传感器在测量时由光学部分将物体的振动转换为相应的多普勒频移,并由光检测器将此频移转换为电信号,再由电路部分作适当处理后送往多普勒信号处理器将多普勒频移信号变换为与振动速度相对应的电信号,激光位移传感器的优点是使用方便不需要固定参考系不影...
发布时间: 2019 - 11 - 23
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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