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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
迄今为止高品质的激光位移传感器已经实现了更加广泛的检测效果,其本身的检测频率和相应的技术结果拥有更强的适用性,为现如今高精密度的工业领域发展带来了更好的技术前提。而购置精准度更高且寿命更长的激光位移传感器设备,更需要考虑到实际应用的功能和这种设备的具体情况。1.注意考虑被测的结构和材质通常情况下,优质放心的激光位移传感器会采用完整的三角光路作为检测的依据,而被测物品如果存在复杂的表面,可能会导致光束受到限制无法得出精准结果,与此同时其相应检测材料的吸光程度也决定了激光反馈的效果,对于用户而言,只有保证这种好评的激光位移传感器需要满足相应材质的检测情况,预先告知其材质的表面结构和相应的反光特性,根据被测物品的特性推荐更加靠谱的产品。2.终于考虑设备的参数和技术情况通常情况下,优质的激光位移传感器拥有多个级别的检测精准度,而相应的线性度和误差等都是评估产品质量的关键,因此用户在挑选品质保证的激光位移传感器时,需要对这种设备的检测速度和相关传感器的性能指标进行了解,保证高品质的激光位移传感器能够承受环境变化和复杂的检测条件。只有保证高品质的激光位移传感器相关品牌和技术参数符合要求才能够真正有效提升检测结果的可信度。简言之购买性能可靠的激光位移传感器设备时,需要考虑的重点便是自身应用的需求,而如今激光位移传感器技术日渐纯熟,本身的精准度和其性价比日渐提升,用户可以通过高品质的机构进行了解和...
发布时间: 2019 - 10 - 29
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据悉目前专业的激光位移传感器能够借助激光技术的优势进行测量,在使用的过程之中激光位移传感器精准的实现非接触物品位置和位移变化的测量。而如今高品质的激光位移传感器本身的检测技术拥有激光传感的技术优势,同时相关的检测过程和实际的功能等也有着自身的独特内容。1.高精度数据的检测毋庸置疑如今根据位移尺寸进行检测需要考虑到其本身物品的尺寸,而如今性能可靠的激光位移传感器能够有效的实现各种细微物品的测量,例如金属薄片和一系列薄板的厚度测量等,都可以利用这种可靠的激光位移传感器进行检测。与此同时其更高的测量精准度能够有效的提高检测效果,利用这种高品质的激光位移传感器精准的得知相应物品的直线位移变化情况。2.射线技术的远程非接触式测量不难得知如今相关物体的位移变化需要依赖于专业的远程测量方式,而如今备受好评的激光位移传感器能够支持各种特殊量程的检测,既能够实现近距离的检验,也能够实现远距离的数据分析,让这种高品质的激光位移传感器实现了各种不同物品的精准测量。而由于激光技术本身的非接触式效果更稳定不受干扰,在使用的过程之中,所能够检测的物品内容更加多样,无需接触产品检测位移变化便能够获得相关数据。简言之高品质的激光位移传感器能够有效的实现各种多样化的检测得知精准的数据结果,与此同时其多个传感器可以同步采集数据,利用这种性能可靠激光位移传感器能够有效的提高检测的效果,让目前零件的尺寸厚度等各种数据检测...
发布时间: 2019 - 10 - 29
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随着科技手段的不断更新,现在进行测量工作的时候已经不需要直接接触被测物体。评价高的激光位移传感器就是一种应用广泛且准确度高的非接触型测量工具。依据不同的设计制作原理而生产出来的激光位移传感器,能够满足市场上近距离的高精度测量以及远距离测量的需求。那么具体来说什么样的激光位移传感器更加值得信赖?一、产品性能稳定的有些客户的生产车间内部可能是高温环境或者震动性比较强的,所以从这方面来说激光位移传感器能否在多样化的工作场所中保持性能稳定,是判断激光位移传感器是否值得信赖的一个关键因素。毕竟只有具备稳定的性能表现才能够在高效工作的同时保持更长的使用寿命。二、产品功能可靠的专业人士在评价激光位移传感器是否值得选择的时候,另一个重要的考量指标就是产品的功能是否可靠。通常来说质量好的激光位移传感器不但能够迅速捕捉微小部件的位置动态,而且还能够测量圆柱形产品的偏心度和圆锥度等方面的精准数据信息。三、产品性价比高的只有满足较高性价比标准的激光位移传感器才是值得客户信赖的。众所周知,性价比是大部分客户在选购时的必须注意事项之一。因此在考察的时候可以重点关注产品的检测能力和效率,检测结果的误差指数以及操作的简易性等方面从而做一个综合判断。激光位移传感器是否可以忽略工作环境的影响从而保持住稳定的运行状态,以及产品的检测功能是否能够与客户的具体要求相协调,再加上在同类产品的综合比较中的性价比表现这三个方面,...
发布时间: 2019 - 09 - 29
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激光指的是原子在受激辐射之后所产生的蕴含着巨大能量的一种光。长期以来激光因为自身的定向发光的特性在工业领域中获得了广泛的应用,比如说激光焊接和切割以及激光扫描等诸多生产作业方式。现在建立在激光测距基础上的激光位移传感器越来越多的出现在市场上,那么激光位移传感器都能够用于哪些不同的领域中?一、超小细缝的焊接检测激光位移传感器的一个主要应用领域就是跟踪检查细小缝隙的焊接质量。配备了激光位移传感器的焊接跟踪系统,一方面抗焊接弧光干扰的性能可以保证检测的全面性,另一方面比较强大的抗反光的性能,可以避免因焊接材料的强反光性而发生的误差。二、透明材料的计数检测使用透明材料制造出来的产品比如说塑料瓶和玻璃瓶,在生产线上一直很难计算出来产品的数量。而有了激光位移传感器的帮助就能够准确且轻松的统计出来具体数量。可以说针对透明容器的检测计数是质量好的激光位移传感器的一个主要用途。三、金属板材的厚度检测高品质的激光位移传感器的另一个主要用途就是检测金属板的厚度,特别是一些用于制造零部件产品的金属板材料。只有确保这些板材的厚度一致,才能够生产出来同等质量和规格的机器零部件。而激光位移传感器就能够准确检测出来板材的厚度数据。总的来说,性能很好的激光位移传感器能够良好适用的领域比较多。比如说能够有效的协助进行比较细小的缝隙的焊接工作,也能够准确的计算出来流水线上透明玻璃瓶的总体数量。此外,激光位移传感器还能够...
发布时间: 2019 - 09 - 29
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2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如...
 公司总机:0510-88155119  图文传真:0510-88152650  销售移动电话:13301510675  
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8...
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