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有!LTM 系列三款国产激光位移传感器满足需求在工业检测领域,量程 1 米、精度误差 1mm、频率 5KHz 以上的激光位移传感器是高端测量的刚需,而国产传感器常因精度或频率不足被进口品牌垄断。无锡泓川科技的 LTM2-800W、LTM3-800W、LTM5-800W 三款产品,不仅全面覆盖上述指标,更以进口品牌一半的成本优势,成为国产替代的优选方案。以下从性能参数、优劣分析、场景适配及成本对比展开详细介绍。一、核心性能参数对比型号LTM2-800WLTM3-800WLTM5-800W参考距离800mm800mm800mm测量范围±500mm(总量程 1000mm)±500mm(总量程 1000mm)±500mm(总量程 1000mm)光斑尺寸450×6000μm450×6000μm450×6000μm重复精度45μm45μm45μm线性误差采样频率5KHz10KHz31.25KHz工业接口485 串口 / 模拟信号(二选一)以太网 / 485 串口 / 模拟信号以太网 / 485 串口 / 模拟信号光源660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW防护等级IP67IP67IP67工作温度0~+50℃0~+50℃0~+50℃功耗约 2.0W约 2.0W约 2.0W二、产品优势分析(一)性能优势:高精度与高频率兼具量程与精度双重达标三款产品均以 800mm 为参考距离,±500mm 的测量范围覆盖 1 米量程,线性误差控制在 ±1mm 以内,重复精度达 45μm,满足精密测量需求。例如在建筑材料缝隙检测中,可精准捕捉 0.1mm 级的细微形变。高频采样适配动态场景LTM2-800W:5KHz 采样频率适用于常规动态测量,如瓶盖高度在线检测;LTM3-800W:...
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更新日期: 2025 - 06 - 19
在工业自动化领域,精密测量是保障产品质量与生产效率的核心环节。泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 作为两款主流的中短距离激光位移传感器,在电子制造、精密加工、自动化检测等领域应用广泛。本文将从技术参数、核心性能、应用场景等维度展开深度对比,揭示 HC8-050 在特定场景下的显著优势及高性价比。一、基础技术参数:精准定位性能差异参数HC8-050HG-C1050差异分析测量范围50±15mm(35-65mm)50±15mm(35-65mm)两者一致,覆盖中短距离精密测量场景。重复精度15μm30μmHC8-050 的重复精度比 HG-C1050 提升 50%,适用于对微小位移敏感的精密检测(如芯片封装、精密轴承测量)。光点直径70μm约 70μm光斑尺寸相同,但 HC8-050 通过光学优化,在低反射率表面的光斑识别能力更强。线性度±0.1%F.S.±0.1%F.S.线性度一致,满足工业级测量精度要求。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1050 理论温漂略优,但 HC8-050 通过硬件散热与软件温补算法,实际在高温环境(如 80℃)下稳定性更优。工作温度-10~50℃(支持 80℃长期使用)-10~45℃HC8-050 突破行业常规,通过特殊设计可在 80℃高温环境稳定运行,而 HG-C1050 在超过 45℃时需额外散热措施。采样频率100/200/1000Hz(可选)未明确标注(固定 5ms 响应时间)HC8-050 支持高速采样,适配动态测量场景(如高速振动位移检测),而 HG-C1050 更适合静态或低速测量。二、核心性能对比:HC8-050 的技术突破1. 深色物体检测:打破 “测不准” 行业难题在电子元件、汽车内饰等行业,深色材料(如黑色塑料、深色橡胶)的高精...
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更新日期: 2025 - 04 - 13
现如今激光位移传感器在很多领域当中都有了广泛的应用,这与激光位移传感器功能的强大是密不可分的,再加上其维护简单、更加耐用等特点加持更是成为了某些领域当中必不可少的重要倚赖。不过用户们要想让激光位移传感器能够更好的满足自身实际测量需求,那么在选购时应着重关注这几点才行。一、确认测量时是否需要直接接触激光位移传感器的测量过程需要一个完整的三角光路,而在测量过程当中能否形成完整的三角光路则决定着能否带来精准的数据结果。如果测量时需要直接接触到测量目标就会不可避免的产生印记或者划痕,这样就会对测量数据的精准度带来影响,因此这个问题要事先明确。二、确认各项主要指标的误差值用户选择激光位移传感器正是看中了其高精度测量的显著特点,而这个显著特点也正是某些对零部件生产有着高精度要求的领域所必不可少的,比如说汽车零部件及航空飞行器零部件等都对于精度要求很高。在这个前提之下在选择激光位移传感器的时候就需要确认好各项主要指标的误差值,因为在使用的过程当中测量频率、量程以及分辨率和精度等指标都会产生相互的影响进而影响到测量数据结果的精准度,所以尤其是对测量精度要求更高的用户更是要提前做好了解才行,尽管前些年激光位移传感器都是进口产品主导着整个市场,但是随着激光位移传感器国产化进程的不断加快,尤其在以上这几个方面都进行了不断的优化与创新,如今已经能够为广大用户带来了日臻完善的使用功能与进口产品之间的差距已经...
发布时间: 2020 - 09 - 23
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激光位移传感器作为一种在工业生产当中很常用的精密测量仪器有着重要的作用,因为激光位移传感器功能强大所以得到了愈来愈广泛的应用,那么激光位移传感器到底都有哪些功能呢?接下来就这个问题做个详细的介绍。功能一、尺寸的测定在激光位移传感器众多的实用功能当中尺寸的测定无疑是更基本且更为具有代表性的功能之一,比如说能够对微小的零部件进行精准的位置识别;能够对生产过程当中传送带的上面有无零件进行准备的监测与识别;对于机械化操作重要组建的工具中心位置进行准确检测的等等从而确保生产过程的顺利无障碍的进行。功能二、电子元件的检查在电子领域的生产当中对于电子元件的生产及使用过程是有着极高要求的,而激光位移传感器就能够更好的执行对电子元件的检查任务,一般会采用两个激光位移传感器来对置于中间的电子元件进行检查然后通过读出的数据来确定该元件尺寸是够精准及完整。功能三、均匀度的检查在某些工业领域当中对于产品或者零部件的均匀度有着极高要求,为了保证这些产品或者零部件具有合格的均匀度就需要激光位移传感器来完成了,可以沿测量目标的倾斜方向摆置几个激光位移传感器来进行检查然后根据其读数的数据来判断结果。概括来说,目前应用愈加广泛的激光位移传感器受到了更多用户们的高度关注,虽然进口的激光位移传感器多年来始终占据着市场当中的主导,但是随着激光位移传感器国产化脚步的不断加快,也将会给用户们带来价格更加实惠功能更加强大的产品。
发布时间: 2020 - 09 - 22
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激光位移传感器的作用原理主要是利用激光的高方向性、高单色性以及高亮度等特点来实现无接触测量,它有助于大幅度提升位移测量的精度和可靠性。故而现今越来越多的应用场所都在积极寻求可靠性更高的国产激光位移传感器,现在就机器人控制为什么更适宜选用激光位移传感器作简要阐述:1.确保机器人拥有更强的抗振冲击能力据相关介绍表明现今越来越多的机器人在结构设计之初都会优先考虑使用激光位移传感器。因为这种位移传感器具有更强的抗振冲击能力,众所周知机器人在行驶过程中可能会因为碰到障碍物而导到受到重大冲击,为了能确保它在大冲击下仍拥有稳定的性能,那么选用抗振冲击能力较强的激光位移传感器是较为明智的选择。2.促使机器人控制拥有更加稳定的输出信号机器人控制优先选用激光位移传感器的原因还在于,它可促使机器人在控制作业中拥有更加稳定的输出信号。因为位移传感器是基于三角测量原理而设计并且大量应用了数字化背景抑制技术,因此有助于大幅度提升抗干扰能力,确保输出信号稳定且无干扰。3. 确保机器人拥有EMI屏蔽特性机器人控制载入激光位移传感器的原因在于它有助于实现EMI屏蔽功能。因为激光位移传感器是利用红光激光以及小清晰的光斑实现位移移动控制,在机器人控制中基本不会出现EMI干扰现象,将它应用于机器人控制也助于提升其EMI屏蔽特性。激光位移传感器的普及与应用逐步取代了旧时的位移测量方式,事实上这是激光位移传感器发展的新思路。...
发布时间: 2020 - 09 - 21
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据相关科技资讯反馈表明激光测距传感器应用的身影遍及汽车、海事以及生产等多个领域,它借助激光光束与待测点之间的传播时间来确认其距离的远近。事实上激光测距传感器应用性能已得到众多用户的广泛肯定与认可,现在就选择激光测距传感器应用于地震预报可实现哪些作用作简要阐述:1.便于及时掌握地震源的距离远近激光测距传感器可基于不同的波长对地震源进行准确测量,从而便于监测者能及时掌握地震源的距离远近。这种激光测距传感器具有探测距离远以及远距离测距精度高等特性,故而将其对准地震源或地震带便于准确获知地震源的距离远近,同时它的这些特性还便于进行大地控制测量。2.便于实时动态监测地震状况激光测距传感器之所以能在地震预报中实现高频应用,还在于它可实时动态监测地震状况。因为激光测距拥有更快的反应速度,它只要从被测物体中获得一个回波就可进行距离测量,而周边环境所产生的回波将被忽略,因此监测人员就可根据实时的回波信息了解地震源的移动状况。3.便于提前预防以及转移人群据相关调查反馈表明选择激光测距传感器应用于地震预报有助于大幅度降低地震损失。因为通过地震源的预报与探测便于监控根据地震的移动速度以及移动距离调整计划,并且根据地震的强度提前进行预防与转移人群。据了解部分激光测距传感器还被广泛应用于测量导弹以及人造卫星等空间目标的距离大小,但是这需要订购特定的激光测距传感器型号方可使用。据了解现今越来越多的地震预报选择应...
发布时间: 2020 - 09 - 18
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Hot News / 热点新闻
2025 - 10 - 21
点击次数: 4
在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655n...
2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
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  • 97
    2025 - 01 - 14
    六、应用案例深度解析6.1 光伏压延玻璃厚度监测案例6.1.1 案例背景与需求在全球积极推动清洁能源发展的大背景下,光伏产业迎来了蓬勃发展的黄金时期。光伏压延玻璃作为光伏电池板的关键封装材料,其质量直接关系到光伏电池板的性能与使用寿命。在光伏压延玻璃的生产过程中,厚度的精确控制是确保产品质量的核心要素之一。光伏压延玻璃的厚度对光伏电池板的性能有着至关重要的影响。若玻璃厚度过薄,可能无法为电池片提供足够的机械保护,在运输、安装及使用过程中容易出现破裂等问题,降低电池板的可靠性;而厚度过厚,则会增加光伏电池板的重量,不仅提高了运输成本,还可能影响电池板的光电转换效率。此外,玻璃厚度的均匀性也不容忽视。不均匀的厚度会导致光线在玻璃内部传播时产生折射和散射差异,进而影响光伏电池板对光线的吸收和利用效率,降低整体发电性能。传统的光伏压延玻璃厚度检测方法,如人工抽样测量,不仅效率低下,无法满足大规模生产的实时监测需求,而且受人为因素影响较大,测量精度难以保证。在这种情况下,迫切需要一种高精度、高效率的测量技术,以实现对光伏压延玻璃厚度的实时、精确监测,确保产品质量的稳定性和一致性。 6.1.2 传感器选型与安装在本案例中,经过对多种测量技术的综合评估与测试,最终选用了一款具有卓越性能的光谱共焦传感器。该传感器具备高精度测量能力,能够满足光伏压延玻璃对厚度测量精度的严苛要求;同时,其具...
  • 98
    2025 - 02 - 09
    摘要为提高激光位移传感器在机测量工件特征的精度,本文针对其关键误差源展开研究并提出补偿策略。实验表明,激光位移传感器的测量误差主要由传感器倾斜误差与数控机床几何误差构成。通过设计倾斜误差实验,利用Legendre多项式建立误差模型,补偿后倾斜误差被控制在±0.025 mm以内;针对机床几何误差,提出基于球杆仪倾斜安装的解耦方法,结合参数化建模对X/Y轴误差进行辨识与补偿。实验验证表明,补偿后工件线性尺寸测量误差小于0.05 mm,角度误差小于0.08°,显著提升了在机测量的精度与可靠性。研究结果为高精度在机测量系统的误差补偿提供了理论依据与实用方法。关键词:工件特征;在机测量;激光位移传感器;误差建模;Legendre多项式1. 引言在机测量技术通过集成测量与加工过程,避免了传统离线测量的重复装夹与搬运误差,成为精密制造领域的关键技术之一。非接触式激光位移传感器凭借其高精度、高采样率及非损伤性等优势,被广泛应用于复杂曲面、微结构等工件的在机测量中。然而,实际测量中,传感器倾斜误差与机床几何误差会显著影响测量结果。现有研究多聚焦单一误差源,缺乏对多误差耦合影响的系统性分析。本文结合理论建模与实验验证,提出一种综合误差补偿方法,为提升在机测量精度提供新的解决方案。2. 误差源分析与建模2.1 激光位移传感器倾斜误差当激光束方向与被测表面法线存在夹角时,倾斜误差会导致...
  • 99
    2023 - 03 - 09
    激光位移传感器被广泛应用于各种领域中。其中一个很有用的应用是测量薄膜厚度。这种传感器可以在离表面很近的距离下进行高精度测量,因此非常适合这种应用。本文将介绍激光位移传感器如何用于测量薄膜厚度,包括测量方法、测量原理和市场应用。一、测量方法测量薄膜厚度的基本思路是利用激光位移传感器测量薄膜前后表面的距离差,然后通过几何公式计算出薄膜厚度。在实际操作中,测量方法大致可分为以下几种:1. 手持式测量手持式测量通常用于快速的现场检测。用户只需要将激光位移传感器靠近待测表面,然后通过读取显示屏上的数值判断薄膜厚度是否符合要求。这种方法不需要复杂的设备和步骤,非常易于使用。但是由于人手的震动和误差等因素,手持式测量的精度相对较低,只适用于需求不是特别高的场合。2. 自动化在线测量自动化在线测量一般用于工业生产线上的质量控制。这种方法需要将激光位移传感器与自动化设备相连接,将测量数据传递给计算机进行分析。在这种情况下,测量过程可以完全自动化,精度也可以得到保证。但是相对于手持式测量来说,这种方法需要的设备和技术要求更高,成本也更高。3. 显微镜下测量显微镜下测量常用于对细小薄膜厚度的测量。在这种情况下,用户需要将激光位移传感器与显微镜相结合进行测量。由于显微镜的存在,可以大大增强测量精度。但是相对于其他两种方法,这种方法需要的设备更多,并且技巧要求也更高。二、测量原理激光位移传感器利用的是激光三...
  • 100
    2025 - 01 - 14
    四、光学传感器应用对薄膜涂布生产的影响4.1 提升生产效率4.1.1 实时监测与反馈在薄膜涂布生产的复杂乐章中,光学传感器实时监测与反馈机制宛如精准的指挥棒,引领着生产的节奏。凭借其卓越的高速数据采集能力,光学传感器能够如同闪电般迅速捕捉涂布过程中的关键参数变化。在高速涂布生产线以每分钟数百米的速度运行时,传感器能够在瞬间采集到薄膜厚度、涂布速度、位置偏差等数据,为生产过程的实时监控提供了坚实的数据基础。这些采集到的数据如同及时的情报,被迅速传输至控制系统。控制系统则如同智慧的大脑,对这些数据进行深入分析。一旦发现参数偏离预设的理想范围,控制系统会立即发出指令,如同指挥官下达作战命令,对涂布设备的相关参数进行精准调整。当检测到薄膜厚度略微超出标准时,控制系统会迅速调整涂布头的压力,使涂布量精确减少,确保薄膜厚度回归正常范围。这种实时监测与反馈机制的存在,使得生产过程能够始终保持在最佳状态。它避免了因参数失控而导致的生产中断和产品质量问题,如同为生产线安装了一个智能的 “稳定器”。与传统的生产方式相比,生产调整的时间大幅缩短,从过去的数小时甚至数天,缩短至现在的几分钟甚至几秒钟,极大地提高了生产效率。4.1.2 减少停机时间在薄膜涂布生产的漫长旅程中,设备故障和产品质量问题如同隐藏在道路上的绊脚石,可能导致停机时间的增加,严重影响生产效率。而光学传感器的实时监测功能,就像一位警惕的卫...
  • 101
    2023 - 08 - 21
    摘要:基膜厚度是许多工业领域中重要的参数,特别是在薄膜涂覆和半导体制造等领域。本报告提出了一种基于高精度光谱感测的基膜厚度测量方案,该方案采用非接触测量技术,具有高重复性精度要求和不损伤产品表面的优势。通过详细的方案设计、设备选择和实验验证,展示了如何实现基膜厚度的准确测量,并最终提高生产效率。引言基膜厚度的精确测量对于许多行业来说至关重要。传统测量方法中的接触式测量存在损伤产品表面和对射测量不准确的问题。相比之下,高精度光谱感测技术具有非接触、高重复性和高精度的优势,因此成为了基膜厚度测量的理想方案。方案设计基于高精度光谱感测的基膜厚度测量方案设计如下:2.1 设备选择选择一台高精度光谱感测仪器,具备以下特点:微米级或亚微米级分辨率:满足对基膜厚度的高精度要求。宽波长范围:覆盖整个感兴趣的波长范围。快速采集速度:能够快速获取数据,提高生产效率。稳定性和重复性好:确保测量结果的准确性和可靠性。2.2 光谱感测技术采用反射式光谱感测技术,原理如下:在感测仪器中,发射一个宽光谱的光源,照射到待测样品表面。根据不同厚度的基膜对光的反射率不同,形成一个光谱反射率图像。通过对反射率图像的分析和处理,可以确定基膜的厚度。2.3 实验设计设计实验验证基膜厚度测量方案的准确性和重复性。选择一系列已知厚度的基膜作为标准样品。使用高精度光谱感测仪器对标准样品进行测量,并记录测量结果。重复多次测量,并计...
  • 102
    2023 - 12 - 23
    摘要:圆筒内壁的检测在工业生产中具有重要意义,传统方法存在诸多问题。本文介绍了一种新型的检测系统,该系统结合了改进的激光三角测距法和机器视觉技术,旨在解决传统方法的不足。新方法可以在高温环境下工作,对小径圆筒进行测量,且测量精度高、速度快。通过实验验证,该系统能够实现圆筒内壁的高质量、高速度的在线检测,为现代工业生产提供了有力支持。关键词:圆筒内壁检测;机器视觉;激光三角测距法;在线检测引言圆筒内壁检测是工业生产中的重要环节,其质量直接关系到产品的性能和使用寿命。传统的检测方法存在诸多问题,如检测精度不高、速度慢、无法在线检测等。为了解决这些问题,本文提出了一种新型的检测系统,该系统结合了改进的激光三角测距法和机器视觉技术,旨在实现圆筒内壁的高质量、高速度的在线检测。工作原理本系统采用激光三角测距法作为主要测量手段。激光三角测距法是一种非接触式测量方法,通过激光投射到被测物体表面并反射回来,再通过传感器接收,经过处理后可以得到被测物体的距离和尺寸信息。本系统对传统的激光三角测距法进行了改进,使其能够在高温环境下工作,并对小径圆筒进行测量。同时,本系统还采用了机器视觉技术进行辅助测量和判断。机器视觉技术是通过计算机模拟人类的视觉功能,实现对图像的采集、处理和分析。本系统利用机器视觉技术对圆筒内壁表面进行图像采集和处理,通过算法识别和判断内壁表面的缺陷和尺寸信息。通过将激光三角测距法和...
  • 103
    2025 - 03 - 05
    在工业自动化领域,激光位移传感器是精密测量的核心器件。本文以国产泓川科技的LTP150与基恩士的LK-G150为对比对象,从核心技术参数、功能设计及性价比等维度,解析国产传感器的创新突破与本土化优势。一、核心参数对比:性能旗鼓相当,国产线性度更优精度与稳定性LTP150的线性度为±0.02%F.S.,优于LK-G150的±0.05%F.S.,表明其全量程范围内的测量一致性更佳。重复精度方面,LK-G150(0.5μm)略高于LTP150(1.2μm),但需注意LK-G150数据基于4096次平均化处理,而LTP150在无平均条件下的65536次采样仍保持1.2μm偏差,实际动态场景下稳定性更可靠。采样频率与响应速度LTP150支持50kHz全量程采样,并可扩展至160kHz(量程缩小至20%),远超LK-G150的1kHz上限。高频采样能力使其在高速生产线(如电池极片、半导体晶圆检测)中可捕捉更多细节,避免数据遗漏。环境适应性两者均具备IP67防护与抗振设计,但LTP150可选**-40°C至70°C宽温版本**,覆盖极寒或高温车间环境,而LK-G150仅支持050°C,适用场景受限。以下是 LTP150(泓川科技) 与 LK-G150(基恩士) 激光位移传感器的核心参数对比表格,重点突出国产...
  • 104
    2025 - 01 - 14
    一、引言1.1 研究背景与意义在工业制造、科研等众多领域,精密测量技术如同基石,支撑着产品质量的提升与科学研究的深入。光谱共焦传感器作为精密测量领域的关键技术,正以其独特的优势,在诸多行业中发挥着无可替代的作用。它能精确测量物体的位移、厚度、表面轮廓等参数,为生产过程的精确控制与产品质量的严格把控提供了关键数据支持。基恩士作为传感器领域的佼佼者,其推出的光谱共焦传感器在市场上备受瞩目。基恩士光谱共焦传感器凭借卓越的性能,如高精度、高稳定性、快速响应等,在精密测量领域中脱颖而出。在半导体制造过程中,芯片的生产对精度要求极高,基恩士光谱共焦传感器可精准测量芯片的厚度、线宽等关键参数,保障芯片的性能与质量。在光学元件制造领域,其能够精确测量透镜的曲率、厚度等参数,助力生产出高质量的光学元件。研究基恩士光谱共焦传感器,对于推动精密测量技术的发展具有重要意义。通过深入剖析其原理、结构、性能以及应用案例,能够为相关领域的技术创新提供参考,促进测量技术的不断进步。在实际应用中,有助于用户更合理地选择和使用该传感器,提高生产效率,降低生产成本。在汽车制造中,利用基恩士光谱共焦传感器对零部件进行精密测量,可优化生产流程,减少废品率。 1.2 研究现状在国外,光谱共焦传感器的研究起步较早,技术也相对成熟。法国的STIL公司作为光谱共焦传感器的发明者,一直处于该领域的技术前沿。其研发的光谱共焦...
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蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
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