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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应时间20us/50us/100us/125us/200us/500us/1ms,最高 6.25us 可选-性能参数采样频率Max. 50kHz(全量程)/Max. 160kHz(全量程缩小到 20%)-外部输入功能激光关闭、采样保持、单脉冲触发、归零等-环境与结构防护等级IP67(IEC)-工作温度0°C+50℃(不可结露、结冰);保存温度:-20℃+70℃(可订制 - 40℃70℃...
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更新日期: 2025 - 09 - 02
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器,32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日,工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器(含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号,含普通光源与高亮激光光源版本)。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点,填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白,为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破:32KHz 高速采样,破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡,而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz,意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量,相当于对动态移动的被测物体(如高速传输的电池极片、晶圆)实现 “无遗漏” 的高频捕捉,测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是,该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限:即使在双通道模式(最高 16KHz)、四通道模式(最高 8KHz)下,仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例,其每通道 8KHz 的采样频率,可同时满足 4 个工位的同步检测需求,且单次测量误差控制在微米级,完美适配 “高效量产 + 高精度质控” 的高端制造场景(如新能源电池多极片同步厚度检测、半导体封装多工位尺寸监控)。从技术原理看,32KHz 高速采样的实现依赖泓川科技对 “光源驱动 - 信号采集 - 数据处理” 链路的深度优化:激光光源版本(LT-CPS-L/LT-CPD-L/LT-CPF-L)采用高功率密度单...
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更新日期: 2025 - 08 - 30
四、光学传感器应用对薄膜涂布生产的影响4.1 提升生产效率4.1.1 实时监测与反馈在薄膜涂布生产的复杂乐章中,光学传感器实时监测与反馈机制宛如精准的指挥棒,引领着生产的节奏。凭借其卓越的高速数据采集能力,光学传感器能够如同闪电般迅速捕捉涂布过程中的关键参数变化。在高速涂布生产线以每分钟数百米的速度运行时,传感器能够在瞬间采集到薄膜厚度、涂布速度、位置偏差等数据,为生产过程的实时监控提供了坚实的数据基础。这些采集到的数据如同及时的情报,被迅速传输至控制系统。控制系统则如同智慧的大脑,对这些数据进行深入分析。一旦发现参数偏离预设的理想范围,控制系统会立即发出指令,如同指挥官下达作战命令,对涂布设备的相关参数进行精准调整。当检测到薄膜厚度略微超出标准时,控制系统会迅速调整涂布头的压力,使涂布量精确减少,确保薄膜厚度回归正常范围。这种实时监测与反馈机制的存在,使得生产过程能够始终保持在最佳状态。它避免了因参数失控而导致的生产中断和产品质量问题,如同为生产线安装了一个智能的 “稳定器”。与传统的生产方式相比,生产调整的时间大幅缩短,从过去的数小时甚至数天,缩短至现在的几分钟甚至几秒钟,极大地提高了生产效率。4.1.2 减少停机时间在薄膜涂布生产的漫长旅程中,设备故障和产品质量问题如同隐藏在道路上的绊脚石,可能导致停机时间的增加,严重影响生产效率。而光学传感器的实时监测功能,就像一位警惕的卫...
发布时间: 2025 - 01 - 14
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一、引言1.1 研究背景与意义在现代工业的广阔版图中,薄膜涂布生产工艺宛如一颗璀璨的明星,闪耀于包装、电子、光学等诸多关键领域。从日常生活中轻盈便捷的食品包装,到电子产品里精细入微的电子元件,再到光学仪器中不可或缺的光学镜片,薄膜涂布工艺的身影无处不在,它以独特的方式赋予产品卓越的性能与品质。在包装领域,经过精心涂布的薄膜,能够摇身一变成为食品的忠诚守护者,有效阻挡氧气、水汽等外界因素的侵袭,极大地延长食品的保鲜期,确保其新鲜美味。在电子领域,薄膜涂布工艺如同神奇的魔法,为电子元件披上一层特殊的 “外衣”,显著提升其绝缘性、导电性等关键性能,为电子产品的高效稳定运行奠定坚实基础。而在光学领域,它更是大展身手,通过精确控制涂布的厚度与均匀度,制造出具有高透光率、低反射率等优异光学性能的薄膜,让我们的视野更加清晰,成像更加精准。然而,传统的薄膜涂布生产工艺在发展过程中逐渐遭遇瓶颈。涂布厚度的均匀性难以精准把控,这就如同在一幅精美的画卷上出现了瑕疵,不仅会影响产品的性能,还可能导致产品的废品率居高不下。同时,生产过程中的实时监测与调控也面临诸多挑战,就像在茫茫大海中航行的船只,难以准确把握前进的方向。而光学传感器的横空出世,宛如一道曙光,为薄膜涂布生产工艺带来了全新的变革契机。凭借其高精度、非接触、响应速度快等一系列卓越特性,光学传感器能够像敏锐的探测器一样,实时、精准地监测涂布过程中的...
发布时间: 2025 - 01 - 14
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一、引言:解锁工业测量新 “视” 界在工业测量的广袤天地里,精度与可靠性犹如基石,支撑着生产的每一个环节。今天,我们将为您揭开 HC26 系列激光位移传感器的神秘面纱,它宛如一位精准的 “测量大师”,正悄然改变着工业测量的格局。从精密制造到智能检测,HC26 系列凭借其卓越性能,成为众多行业的得力助手。想知道它是如何做到的吗?让我们一同深入探寻。二、HC26 系列:性能优势大揭秘(一)超高集成,小巧灵活HC26 系列采用一体式机身设计,展现出令人惊叹的超高集成度 。其身形小巧玲珑,宛如工业领域的 “灵动精灵”,能够轻松适配各种复杂环境。无论是狭窄的机械内部空间,还是对安装空间要求苛刻的自动化生产线,它都能巧妙融入,为测量工作提供便利。这种紧凑的设计不仅节省了宝贵的安装空间,还简化了安装流程,大大提高了工作效率。(二)智能调光,精准测量光亮自动调节功能是 HC26 系列的一大亮点。它如同一位敏锐的观察者,能够实时感测被测表面的情况,并将激光强度精准控制到最佳状态。在面对不同材质、颜色和粗糙度的被测物体时,该功能确保了激光始终以最适宜的强度照射,从而实现稳定且精准的测量。这一特性不仅提升了测量精度,还拓宽了传感器的应用范围,使其在各种复杂工况下都能应对自如。(三)防护卓越,适应严苛具备 IP67 防护等级的 HC26 系列,犹如一位身披坚固铠甲的勇士,无惧恶劣环境的挑战。在潮湿的环境中...
发布时间: 2025 - 01 - 14
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一文读懂白光干涉测厚仪在工业生产、科研领域,精准测量材料厚度常常起着决定性作用。从电子设备的精细薄膜,到汽车制造的零部件,再到航空航天的关键组件,材料厚度的精准把控,直接关系到产品质量与性能。而在众多测厚技术中,白光干涉测厚仪凭借其超高精度与先进原理,脱颖而出,成为众多专业人士的得力助手。今天,就让我们一起深入了解这款神奇的仪器。原理:光学魔法精准测厚白光干涉测厚仪的核心原理,宛如一场精妙的光学魔法。仪器内部的光源发出的白光,首先经过扩束准直,让光线更加整齐有序。随后,这束光抵达分光棱镜,被巧妙地分成两束。一束光射向被测物体表面,在那里发生反射;另一束光则投向参考镜,同样被反射回来。这两路反射光如同久别重逢的老友,再次汇聚,相互干涉,形成了独特的干涉条纹。这些干涉条纹就像是大自然书写的密码,它们的明暗程度以及出现的位置,与被测物体的厚度紧密相关。当薄膜厚度发生细微变化时,光程差也随之改变,干涉条纹便会相应地舞动起来。通过专业的探测器接收这些条纹信号,并运用复杂而精准的算法进行解析,就能精确地计算出薄膜的厚度值,就如同从神秘的密码中解读出关键信息一般。打个比方,想象白光如同一场盛大的交响乐,不同波长的光如同各种乐器发出的声音。当它们在物体表面反射并干涉时,就像是乐器合奏,产生出独特的 “旋律”—— 干涉条纹。而我们的测厚仪,便是那位精通音律的大师,能从这旋律中精准听出薄膜厚度的 “音...
发布时间: 2025 - 01 - 10
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Hot News / 热点新闻
2025 - 10 - 21
点击次数: 51
在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655n...
2025 - 09 - 05
点击次数: 53
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
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  • 25
    2024 - 03 - 05
    激光三角测量法:精确测量透明物体的科技新突破在精密测量领域,激光三角测量法已成为一种非常重要的技术手段。这种测量方法尤其适用于透明物体的测量,因为它可以有效地解决透明物体测量中的诸多难题。本文将详细介绍激光三角测量法的原理、步骤,以及折射率校正在此过程中所起到的关键作用。一、激光三角测量法的原理激光三角测量法是一种基于光学三角测量原理的非接触式测量方法。其基本原理是:半导体激光器发出的激光束照射在目标物体上,接收器透镜聚集目标物体反射的光线并聚焦到感光元件上。当目标物体与测量设备之间的距离发生改变时,通过接收器透镜的反射光的位置也会相应改变,光线聚焦在感光元件上的部分也会有所不同。通过精确测量这些变化,就可以得出目标物体的位移、形状等参数。二、激光三角测量法的步骤设定参照距离:首先,需要设定一个参照距离,即在此距离下,激光束与感光元件之间的位置关系已知且稳定。照射激光:然后,通过半导体激光器发出激光束,照射在待测的透明物体上。接收反射光:接收器透镜会聚集从透明物体反射回来的光线,并将其聚焦到感光元件上。分析数据:当透明物体移动或形状发生变化时,反射光在感光元件上的位置也会发生变化。通过精确分析这些变化,就可以得出透明物体的位移、形状等参数。三、折射率校正的作用在测量透明物体时,一个关键的问题是需要考虑光的折射现象。由于透明物体的折射率与空气不同,光线在从空气进入透明物体时会发生折射...
  • 26
    2025 - 04 - 02
    一、引言1.1 研究背景与意义在现代工业生产与精密测量领域,对高精度、高可靠性位移测量技术的需求与日俱增。激光位移传感器凭借其非接触测量、高精度、高响应速度以及抗干扰能力强等显著优势,已成为实现自动化生产、质量控制与精密检测的关键技术手段,广泛应用于汽车制造、电子生产、机械加工、航空航天等众多行业。optoNCDT 1420 系列激光位移传感器作为德国米铱(Micro-Epsilon)公司推出的微型化、高精度位移测量解决方案,在尺寸、性能与功能集成等方面展现出独特的优势。其紧凑的设计使其能够轻松集成到空间受限的设备与系统中,满足了现代工业对设备小型化、集成化的发展需求;同时,该系列传感器具备出色的测量精度与稳定性,可实现对微小位移变化的精确检测,为精密测量与控制提供了可靠的数据支持。深入研究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器的技术原理、性能特点及应用场景,对于推动激光位移测量技术的发展,拓展其在各行业的应用范围,提升工业生产的自动化水平与产品质量具有重要的理论与实际意义。通过对该系列传感器的全面剖析,能够为相关领域的工程师、技术人员提供有价值的参考依据,帮助他们更好地选择与应用激光位移传感器,解决实际工程中的测量难题。1.2 研究目标与范围本研究旨在全面深入地探究 optoNCDT 1420 系列激光位移传感器,具体目标包括:详细阐述该传感器的工作原理,深入分析其技术...
  • 27
    2025 - 01 - 16
    七、声纳传感器应用案例深析7.1 外壳相关检测7.1.1 外壳的外观检测在声纳传感器的实际应用中,对外壳的外观检测是确保产品质量的关键步骤。在进行外壳外观检测时,声纳传感器并非仅依赖传统的图像明暗判断方式,而是借助先进的技术,利用 3D 形状的图像来实现精准的形状变化识别。其工作过程如下:传感器发射特定频率和模式的声波,这些声波以特定的角度和范围向外传播,当遇到外壳表面时,会根据外壳表面的形状、材质以及纹理等特征产生不同的反射模式。反射回来的声波被传感器的接收装置高效捕捉,然后转化为电信号。系统对这些电信号进行复杂的处理和分析,通过独特的算法将其转换为详细的 3D 形状数据。在这个过程中,系统会对 3D 形状数据进行精确的分析和比对,与预先设定的标准外壳模型进行细致的匹配。一旦发现外壳的形状与标准模型存在差异,系统会立即识别出这些变化,从而确定外壳是否存在缺陷或不符合规格的情况。这种利用 3D 形状图像进行外观检测的方式具有诸多显著优势。它极大地提高了检测的准确性和可靠性。传统的基于图像明暗判断的方法,容易受到环境光、外壳表面光泽度以及颜色等多种因素的干扰,导致检测结果出现偏差。而 3D 形状图像检测技术能够直接获取外壳的真实形状信息,不受这些外部因素的影响,从而能够更准确地发现外壳表面的细微瑕疵,如划痕、凹陷、凸起等,以及形状上的偏差。该技术具有较强的稳定性。无论环境光如何变化,...
  • 28
    2025 - 05 - 26
    一、引言在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能与成本直接影响设备的竞争力。本文聚焦泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列,从技术参数、应用场景及成本等维度展开深度对比,揭示 LTM3 系列如何以卓越性能和显著成本优势成为更具性价比的选择。二、核心参数对比指标泓川科技 LTM3 系列米铱 ILD1750 系列测量频率最高 10kHz,适用于高速动态测量场景最高 7.5kHz,满足常规工业速度需求重复性精度0.25μm 起(如 LTM3 - 030),达到亚微米级精度0.1μm 起,精度表现优异线性误差低至 0.06% FSO 起,基于百分比的误差控制防护等级IP67,可抵御粉尘、液体喷射及短时浸水IP65,防护性能良好但略逊于 LTM3外形尺寸605020.4mm,体积小巧,适配狭窄空间未明确标注,但工业通用设计体积较大重量约 150g,轻便易安装未明确标注,推测重于 LTM3 系列输出接口以太网、485 串口、模拟信号(±10V/4 - 20mA),支持工业网络集成模拟量(U/I)、数字量(RS422),传统工业接口配置光源655nm/660nm 红光激光,稳定可靠670nm 红光激光,测量光斑控制优秀工作温度0 - 50°C,适应多数工业环境0 - 50°C,环境适应性相当三、LTM3 系列核心优势解析(一)性能...
  • 29
    2022 - 12 - 03
    激光测距传感器的功能,你了解多少呢?大家好,我是无锡宏川传感学堂的李同学。激光测距传感器的功能可分为距离测量和窗口测量。其中距离测量在测距应用中传感器可以随时投入使用。直接给出与物体之间的距离。测量值可用于系统控制或者物体的精准定位。此外还可以选择对数字量模拟,量输出进行调整。如果需要检测尺寸较小的物体。可直接进行窗口测量。通过对参照物进行自学习,传感器可直接测得与标称尺寸的偏差。在这种情况下,数字量输出也可以进行相应的参数进行。除了传感器的尺寸和测量范围。光斑的形状也尤其重要,点击光代表精准聚焦。能精确测量小尺寸的物体。线激光能可靠测量粗糙度比较大的表面积。带纹理的彩色表面。在光泽不均匀或极其粗糙的表面上也能进行稳定的测量。
  • 30
    2023 - 10 - 01
    '新吴科之匠',泓川科技有限公司全新打造的传感器新标杆,我们凝聚高端技术力量,专注于高精度、高性能的激光位移传感器LTP系列,光谱共焦传感器LTC系列,白光干涉测厚传感器,线光谱共焦传感器,以及3D结构光和3D线激光。 强大的研发能力和对细节无穷追求,让我们的产品在每个细微处都彰显出卓越品质。'新吴科之匠'不仅寓意着尖端科技的集中体现,更代表着对品质的极致追求。我们相信,只有最好,才能过硬。
  • 31
    2025 - 04 - 02
    以下为HC16-15国产激光位移传感器与进口ILD1420-10的对比分析报告,重点围绕技术参数、性能指标及国产替代可行性展开:一、核心参数对比指标HC16-15(泓川科技)ILD1420-10(Micro-Epsilon)测量范围±5mm(总10mm)10mm(SMR 20mm至EMR 30mm)线性度±0.1% F.S.±0.08% F.S.重复精度1μm0.5μm采样频率3000Hz(最高)4000Hz(最高)光源波长655nm(可见红光)670nm(可见红光)输出接口RS485(Modbus RTU)、0-10V/4-20mARS422、4-20mA/1-5V工作温度-10°C ~ +50°C0°C ~ +50°C防护等级IP67IP65尺寸(mm)44×31×18约47.5×14(主体)重量70g(含线缆)60g(含线缆)激光安全等级Class 2Class 2(ILD1420)/ Class 1(CL1版本)二、性能深度分析1. 精度与稳定性HC16-15:线性度±0.1% F.S.(优于多数国产传感器),1μm重复精度满足工业级需求,温度特性0.05% F.S/°C,适合宽温环境。ILD1420-10:线性度±0.08% F.S....
  • 32
    2023 - 09 - 26
    1 激光光热技术测厚:原理是利用激光照射材料,产生的热量使材料产生变化,再通过光学方式检测这种变化以确定材料的厚度。优点是非接触式、无损伤、准确;缺点也是显而易见的,对于颜色、形状、表面纹理等都有不同程度的影响。2 白光干涉测厚:原理是使用白光干涉仪产生干涉图案,然后通过分析干涉图案得材料厚度。优点是测量精度高、灵敏度高;缺点是设备复杂且成本高昂。3 激光干涉测厚:主要是利用激光波的相干性,测量物体的干涉条纹来反推出物体的厚度。优点是测量精度高、速度快;但激光源的稳定性和调节技术要求比较高。4 光谱共聚焦测厚:该方法是根据材料对不同波长光的反射、折射和吸收特性,同时探测所有波长的光谱,从而计算出材料厚度。优点是测量准确、适用范围广;缺点是设备复杂、操作要求高。5 椭圆偏光法测厚:原理是利用光的偏振特性对材料进行测量,根据计算出材料厚度。优点是接触、无损伤,但适用范围有限。6 红外吸收法测厚:红外吸收法是指通过测定红外光在材料中吸收的程度来推断优点是测量过程简单、直观、精度高;缺点是对材料的红外吸收特性有严格要求。7 X/β射线测厚:主要是利用X射线或者β射线穿透材料时,穿透的射线强度和物体的厚度之间存在一定的关系。优点是精确、可靠;缺点是人体安全需要考虑。8 电容测厚:原理是利用两极板间的电容量与介质厚度成正比,通过测量电容量来测量厚度。优点是设备简单、便宜;缺点是精度较低。9 反...
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蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
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