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Case 激光位移

高精度激光测距传感器在非接触测量变形与平面度中的应用研究报告(一)

日期: 2025-02-01
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一、引言

1.1 研究背景与意义

在现代工业生产和科学研究的广袤版图中,高精度的测量技术宛如基石,支撑着各个领域的蓬勃发展。而高精度激光测距传感器,作为非接触测量领域的璀璨明星,正以其卓越的性能和独特的优势,在变形和平面度测量领域掀起一场技术革新的风暴。
在工业生产领域,无论是汽车制造中对车身面板平整度的严苛要求,还是电子设备制造中对电路板微小变形的精细把控,高精度激光测距传感器都扮演着不可或缺的角色。以汽车制造为例,车身面板的平面度直接影响到汽车的外观美感和空气动力学性能。哪怕是极其细微的变形,都可能在高速行驶时引发气流紊乱,增加风阻,进而影响燃油经济性和行驶稳定性。而借助高精度激光测距传感器,能够实现对车身面板全方位、高精度的检测,及时发现并纠正微小的变形缺陷,确保每一辆出厂的汽车都拥有完美的车身线条和卓越的性能表现。在电子设备制造中,电路板的微小变形可能导致电子元件之间的连接出现故障,影响设备的正常运行。高精度激光测距传感器可以精确测量电路板的变形情况,为生产工艺的优化提供关键数据支持,保障电子产品的质量和可靠性。
在科学研究领域,高精度激光测距传感器同样大显身手。在材料科学研究中,研究人员需要深入了解材料在不同应力条件下的变形特性,以开发出性能更优异的新材料。高精度激光测距传感器能够实时、准确地测量材料的变形过程,为材料力学性能的研究提供精准的数据,推动材料科学的不断进步。在天文学观测中,对天体表面的平整度和变形的研究有助于我们深入了解天体的演化过程和物理特性。高精度激光测距传感器可以帮助天文学家实现对遥远天体的高精度测量,拓展人类对宇宙的认知边界。

1.2 研究目的与内容

本研究旨在深入剖析高精度激光测距传感器在非接触测量变形和平面度测量中的核心技术,为相关领域的技术升级和应用拓展提供坚实的理论基础和实践指导。具体而言,将围绕以下几个关键方面展开深入探究。
其一,全面且深入地研究高精度激光测距传感器的测量方式。细致梳理不同类型的激光测距传感器,如脉冲式、相位式和三角测量式等,深入分析它们各自的工作原理、适用场景以及独特的优势与局限性。以脉冲式激光测距传感器为例,它通过测量激光脉冲从发射到接收的时间差来计算距离,具有测量距离远的显著优势,适用于对大型物体或远距离目标的变形和平面度测量;而相位式激光测距传感器则利用调制后的连续波激光束,通过检测发射光和反射光之间的相位差来计算距离,在中短距离测量中展现出高精度和稳定性的特点,常用于对精度要求极高的精密部件测量。
其二,深入钻研基于激光测距数据的变形和平面度测量算法。这些算法如同精密的工匠,能够从原始的激光测距数据中精准提炼出物体的变形和平面度信息。研究内容将涵盖经典算法的原理剖析、性能评估以及在实际应用中的优化策略。同时,密切关注前沿的算法研究动态,探索将机器学习、深度学习等新兴技术融入测量算法的可能性,以进一步提升测量的精度和效率。例如,通过机器学习算法对大量的测量数据进行学习和分析,能够自动识别出测量数据中的异常值和噪声,并进行有效的处理,从而提高测量结果的准确性和可靠性。
其三,详细推导并阐释测量过程中所涉及的关键公式。这些公式是理解测量原理和数据处理过程的关键密码,它们清晰地展示了激光测距传感器的测量参数与物体变形、平面度之间的内在数学关系。通过对公式的深入解读和实际应用案例的分析,帮助读者更好地掌握测量技术的核心要点,为实际工程应用提供有力的数学工具。

1.3 研究方法与创新点

本研究综合运用了多种科学研究方法,以确保研究的全面性、深入性和可靠性。
文献研究法是本研究的重要基石。通过广泛查阅国内外相关领域的学术文献、技术报告和专利资料,全面梳理高精度激光测距传感器的发展历程、研究现状和前沿动态。深入剖析已有的研究成果和实践经验,汲取其中的精华,为后续的研究提供坚实的理论基础和丰富的思路启发。同时,通过对文献的综合分析,敏锐洞察当前研究中存在的不足之处和亟待解决的问题,明确本研究的重点和方向。
案例分析法为研究注入了丰富的实践内涵。深入研究工业生产和科学研究中的实际应用案例,详细分析高精度激光测距传感器在不同场景下的测量方案、实施过程和应用效果。通过对实际案例的深入剖析,总结成功经验和失败教训,揭示实际应用中可能遇到的问题和挑战,并提出针对性的解决方案和优化策略。例如,在分析某汽车制造企业使用高精度激光测距传感器进行车身面板平面度测量的案例时,详细了解其测量系统的选型、安装调试过程以及在生产过程中遇到的问题和解决方法,为其他企业提供宝贵的参考经验。
在研究过程中,本研究力求在多个方面实现创新突破。
在测量算法优化方面,提出了一种融合多尺度特征提取和自适应加权融合的新型算法。该算法能够充分利用激光测距数据中的多尺度信息,通过自适应加权融合策略,有效提高测量结果的精度和稳定性。在处理复杂形状物体的变形测量时,传统算法往往难以兼顾全局和局部的特征信息,导致测量精度受限。而本算法通过多尺度特征提取,能够同时捕捉物体的宏观和微观变形特征,并根据不同尺度特征的重要性进行自适应加权融合,从而实现更精准的测量。
在测量系统集成方面,创新性地提出了一种基于分布式传感器网络的高精度测量系统架构。该架构通过将多个激光测距传感器组成分布式网络,实现对大型物体或复杂场景的全方位、多角度测量。各个传感器之间通过无线通信技术进行数据交互和协同工作,能够实时共享测量数据,提高测量的覆盖范围和精度。同时,该架构还具备良好的扩展性和灵活性,能够根据实际测量需求方便地增减传感器节点,适应不同的测量场景和应用需求。

二、高精度激光测距传感器基础

2.1 工作原理

高精度激光测距传感器作为现代测量技术的关键设备,其工作原理基于激光的独特特性,通过巧妙的光学设计和精密的信号处理,实现对目标物体距离的精确测量。目前,常见的工作原理主要包括激光三角测量法和激光回波分析法,它们各自凭借独特的优势,在不同的应用场景中发挥着重要作用。

2.1.1 激光三角测量法

激光三角测量法,犹如一位精密的几何大师,巧妙地利用光线空间传播过程中的光学反射规律和相似三角形原理,在接收透镜的物空间与像空间构建起相似三角形关系,从而精准地计算出待测位移。这一方法根据入射激光和待测物体表面法线之间的夹角,可细分为倾斜式和直射式两种类型,它们各自有着独特的光路结构和数学推导。
先看倾斜式激光三角测距法。其光路图宛如一幅精心绘制的几何画卷,由激光器发射的激光束,以与物体表面法线成一定角度 α 的姿态,入射到被测物体表面。这束激光在物体表面发生反射和散射后,反射光经特定位置的透镜汇聚成像,最终被光敏单元敏锐地采集。在这个精心设计的光路系统中,有几个关键参数起着决定性作用。AB 表示激光器中心与 CCD 中心的基线距离,BF 代表透镜的焦距 f,D 则是被测物体距离基线无穷远处时反射光线在光敏单元上成像的极限位置。而 DE,这个光斑在光敏单元上偏离极限位置的位移,被记为 x,它承载着物体位移的关键信息。
当系统的光路确定后,这些参数便如同定海神针,为后续的距离计算提供了坚实的基础。根据光路图中清晰的几何关系,我们可以欣喜地发现△ABO 与△DEB 呈现出相似的美妙特性。利用这一相似关系,我们能够推导出边长关系,进而得出物体距离 y 与光斑位移 x 之间的紧密联系。在实际的测量过程中,我们可以巧妙地将 CCD 位置传感器的一个轴与基线 AB 平行(假设为 y 轴),通过先进的算法,从激光光点的像素坐标(Px,Py)中准确地获取 x 的值。当被测物体与基线 AB 产生相对位移时,x 会相应地改变为 x′,此时,通过之前推导得出的公式,我们就能轻松地计算出被测物体的距离 y,从而实现对物体位移的精确测量。
再观直射式激光三角测距法。当激光光束以垂直入射的姿态照射到被测物体表面时,即入射光线与被测物体表面法线完美共线,这便是直射式激光三角法的独特场景。在这种情况下,其光路图同样蕴含着独特的几何奥秘。仿照斜射式激光三角测距法的推导思路,我们可以通过严谨的几何分析,得出相应的距离计算公式。在实际应用中,直射式激光三角法凭借其在几何算法上的简洁性,展现出明显的优势。它的误差相较于斜射式更小,而且在结构设计上,体积可以更加紧凑小巧,这使得它在工程应用中备受青睐,成为众多测量场景中的首选方案。

倾斜式和直射式激光三角测距法在实际应用中各有千秋。斜射式激光三角法虽然成像的光斑较大,光强分布不够集中,且随入射角度的变化存在差异,导致体积相对较大,测量范围也受到一定限制,但其分辨率表现出色,在对分辨率要求较高的场景中发挥着重要作用;而直射式激光三角法,光斑与位置呈现出一一对应的清晰关系,在几何算法上更为简单直接,误差较小,体积小巧的特点使其在对测量精度和设备体积有严格要求的场合中大放异彩。 这两种方法均为高精度激光测距传感器在变形和平面度测量领域的广泛应用提供了坚实的技术支撑。

高精度激光测距传感器在非接触测量变形与平面度中的应用研究报告(一)

2.1.2 激光回波分析法

激光回波分析法,恰似一位时间的精密记录者,其原理基于激光的传播速度恒定这一物理特性,通过精确测量激光从发射到被目标物体反射回接收器的时间差,来巧妙地计算出目标物体与传感器之间的距离。在实际工作过程中,激光发射器如同一位不知疲倦的信使,每秒向检测对象发射出一百万个激光脉冲,这些脉冲以光速在空间中飞驰,直至遇到目标物体后发生反射,反射光迅速返回接收器。处理器则如同一位严谨的数学家,精准地计算出激光脉冲从发射到返回所需的时间,这个时间差与光速相结合,就能准确地计算出距离值。为了确保测量结果的准确性和稳定性,输出值通常是经过上千次测量结果的平均输出,这种严谨的处理方式有效地减少了测量误差,提高了测量的可靠性。
激光回波分析法在远距离检测领域展现出独特的优势,其最远检测距离可达令人惊叹的 250m,这使得它在诸如大型建筑结构的变形监测、矿山开采中的地形测量等需要远距离测量的场景中发挥着不可或缺的作用。然而,与激光三角测量法相比,激光回波分析法在测量精度上稍显逊色。这主要是因为在测量过程中,激光脉冲的传播时间极短,对时间测量的精度要求极高,而目前的技术水平在时间测量的精度上仍存在一定的限制,导致测量误差相对较大。此外,激光回波分析法还受到环境因素的影响较大,例如在多尘、多雨等恶劣天气条件下,激光脉冲在传播过程中会发生散射和衰减,使得接收到的反射光信号减弱,从而影响测量精度。

在实际应用中,我们需要根据具体的测量需求和场景特点,合理选择激光三角测量法或激光回波分析法。对于高精度、短距离的测量任务,如电子芯片制造中的微小尺寸测量、精密机械加工中的零部件精度检测等,激光三角测量法凭借其高分辨率和高精度的优势,能够满足严苛的测量要求;而对于远距离测量任务,如大型桥梁的变形监测、地质勘探中的地形测绘等,激光回波分析法虽然精度相对较低,但能够实现远距离的测量,为相关领域的研究和工程应用提供了重要的数据支持。

高精度激光测距传感器在非接触测量变形与平面度中的应用研究报告(一)

2.2 关键技术与参数

高精度激光测距传感器能够实现高精度的测量,离不开其背后一系列关键技术的支撑,同时,其测量性能也受到诸多重要参数的影响。深入了解这些关键技术和参数,对于优化传感器性能、提高测量精度以及拓展应用领域具有至关重要的意义。

2.2.1 关键技术

激光发射技术是高精度激光测距传感器的关键环节之一。激光器作为激光发射的核心部件,其选型与设计直接影响着传感器的性能。目前,常见的激光器类型包括半导体激光器、气体激光器和固体激光器。半导体激光器以其体积小、功耗低、易于集成等优势,在小型化激光测距传感器中得到了广泛应用。在设计激光器时,需要综合考虑多个因素,如激光的波长、功率、发散角和稳定性等。波长的选择需根据具体应用场景来确定,不同波长的激光在穿透能力、抗干扰能力等方面存在差异。例如,在一些需要穿透烟雾或灰尘的环境中,较长波长的激光可能具有更好的性能。功率的大小决定了激光的传播距离和反射光的强度,足够的功率能够保证在远距离测量时仍能接收到清晰的反射信号。发散角则影响着激光束的聚焦程度和光斑大小,较小的发散角有助于提高测量精度。稳定性也是至关重要的,稳定的激光输出能够确保测量结果的可靠性和重复性。
激光调制与控制技术同样不可或缺。激光调制是实现距离精确测量和抑制背景光干扰的关键手段。常见的调制方法有幅度调制、频率调制和相位调制。幅度调制通过改变激光的强度来携带信息,实现相对简单,在一些对测量精度要求不是特别高的场合得到了广泛应用。频率调制则通过改变激光的频率来传递信息,具有较高的抗干扰能力,在对测量精度要求较高的应用中表现出色。相位调制通过检测激光的相位变化来测量距离,精度极高,但实现较为复杂。在控制方面,精确控制激光脉冲的宽度和间隔是提高测距分辨率和距离范围的关键。通过合理调整脉冲宽度,可以控制激光的能量分布,提高测量的准确性;而精确控制脉冲间隔,则能够避免脉冲之间的相互干扰,确保测量的稳定性。
光学接收技术是高精度激光测距传感器的另一重要组成部分。光学系统负责收集由目标反射回来的微弱激光信号,其设计直接影响着传感器的灵敏度和测量精度。在设计光学系统时,需要充分考虑视场角、孔径、透光率和杂散光抑制等因素。视场角决定了传感器能够观测的范围,合适的视场角能够确保目标物体始终在传感器的观测范围内。孔径影响着光学系统收集光线的能力,较大的孔径能够收集更多的反射光,提高信号强度。透光率则关系到光学元件对激光的传输效率,高透光率的光学元件能够减少光线的损失,提高信号质量。杂散光抑制技术能够有效地减少外界杂散光对测量信号的干扰,提高测量的准确性。
光电探测器作为将光信号转换为电信号的核心部件,其选型与优化至关重要。根据不同的应用需求,可选择 PIN 型、APD(雪崩光电二极管)或 MPD(多元素光电二极管)等不同类型的光电探测器。PIN 型光电探测器具有结构简单、成本低的优点,但响应速度相对较慢,适用于一些对响应速度要求不高的场合。APD 具有较高的增益和快速的响应速度,能够检测到微弱的光信号,在远距离测量和对测量精度要求较高的场景中得到广泛应用。MPD 则适用于需要同时检测多个光斑或对光斑位置精度要求较高的应用。优化探测器的工作条件,如偏置电压和温度,是提高探测效率和信号质量的关键。合适的偏置电压能够使探测器工作在最佳状态,提高其灵敏度和响应速度;而控制好温度,则可以减少探测器的噪声,提高测量的稳定性。
信号处理与解算技术是高精度激光测距传感器实现高精度测量的关键环节。信号处理包括放大、滤波、脉冲整形等步骤,旨在提高信号的质量和解析度。现代激光测距传感器常采用数字信号处理技术,通过快速傅里叶变换(FFT)和数字滤波器等手段,能够有效地去除噪声干扰,提高信号的准确性。距离解算算法直接关系到测距结果的准确性,常见的算法包括直接飞行时间(TOF)测量法、相位差测量法和干涉测量法等。这些算法通过处理返回信号的时域或频域信息来确定目标距离,算法的选择取决于测量的精度、范围和速度等要求。随着计算技术的不断发展,更复杂的算法如模糊度解析和噪声抑制技术被应用于提高测距性能,这些先进的算法能够进一步提高测量的精度和可靠性,满足日益增长的高精度测量需求。

2.2.2 主要参数

精度是高精度激光测距传感器最为关键的参数之一,它直接反映了测量结果与真实值之间的接近程度。精度受到多种因素的综合影响,包括激光发射的稳定性、光学系统的精度、信号处理的准确性以及测量环境的干扰等。在激光发射环节,激光器的波长稳定性、功率波动等因素都会对测量精度产生影响。如果激光器的波长发生漂移,那么在测量过程中,根据波长计算的距离值也会出现偏差。功率波动则可能导致反射光信号的强度不稳定,从而影响信号处理的准确性。光学系统的精度同样至关重要,透镜的制造精度、安装误差等都可能导致光线的聚焦不准确,进而影响测量精度。信号处理过程中的噪声干扰、算法的精度等也会对最终的测量结果产生影响。在实际应用中,为了提高精度,需要采取一系列措施,如选用高质量的激光器和光学元件、优化信号处理算法、对测量环境进行严格控制等。
分辨率是指传感器能够区分的最小距离变化,它体现了传感器对微小变化的敏感程度。分辨率的高低直接影响着传感器在高精度测量任务中的表现。在一些对微小变形或平面度要求极高的应用中,如半导体芯片制造、精密光学元件加工等,高分辨率的传感器能够准确地检测到微小的变化,为生产过程提供精确的反馈。分辨率受到多种因素的制约,其中光学系统的设计和探测器的性能起着关键作用。光学系统的分辨率决定了其能够分辨的最小光斑尺寸,而探测器的分辨率则决定了其能够检测到的最小光信号变化。此外,信号处理算法也会对分辨率产生影响,先进的算法能够有效地提高分辨率,从噪声中提取出微小的信号变化。
测量范围是指传感器能够测量的距离区间,它在不同的应用场景中具有重要的意义。在一些大型结构的变形测量中,如桥梁、建筑等,需要传感器具有较大的测量范围,以便能够覆盖整个结构的测量区域。而在一些精密零部件的测量中,虽然测量范围相对较小,但对精度和分辨率的要求却极高。测量范围与激光的功率、探测器的灵敏度以及信号处理能力密切相关。较高的激光功率能够使激光传播更远的距离,从而扩大测量范围。探测器的高灵敏度则能够检测到远距离反射回来的微弱光信号。信号处理能力则决定了传感器能够有效地处理不同距离下的信号,确保测量的准确性。
测量速度是指传感器完成一次测量所需的时间,它在动态测量场景中起着至关重要的作用。在一些需要实时监测物体运动状态或变形过程的应用中,如机器人运动控制、振动测量等,快速的测量速度能够及时捕捉到物体的变化,为后续的控制和分析提供准确的数据支持。测量速度受到激光发射频率、信号处理速度以及数据传输速度等因素的限制。提高激光发射频率可以增加单位时间内的测量次数,从而提高测量速度。快速的信号处理算法和高效的数据传输接口能够减少信号处理和数据传输的时间,进一步提高测量速度。在实际应用中,需要根据具体的测量需求,在测量速度、精度和其他参数之间进行合理的权衡,以选择最合适的传感器。

三、非接触测量变形的测量方式与算法

3.1 测量方式

在高精度激光测距传感器用于非接触测量变形的领域中,发展出了多种各具特色的测量方式,每种方式都依据其独特的原理和技术优势,在不同的应用场景中发挥着关键作用。这些测量方式的不断创新和完善,为实现高精度、高效率的变形测量提供了坚实的技术支撑。

3.1.1 移动工件或传感器头测量

移动工件或传感器头进行测量,是一种基础且应用广泛的测量方式。其操作过程蕴含着精密的测量逻辑。在实际操作时,可通过机械传动装置,如高精度的直线导轨和伺服电机,来实现工件或传感器头的稳定移动。以测量液晶表面弯曲为例,将液晶面板放置在高精度的移动工作台上,通过计算机控制工作台的移动,使液晶表面依次经过激光测距传感器的测量区域。在移动过程中,激光测距传感器以极高的频率发射激光束,精确测量液晶表面与传感器之间的距离。这些距离数据被实时采集并传输至数据处理系统,系统根据预先设定的算法,对这些数据进行分析和处理。通过对不同位置距离数据的对比和计算,能够准确地确定液晶表面的弯曲程度和弯曲方向。
这种测量方式在实际应用中展现出诸多显著优势。它能够适应不同尺寸的工件,无论是小型的电子元件,还是大型的机械部件,都能进行有效的变形测量。这得益于其灵活的测量方式,只需根据工件的大小和形状,合理调整移动装置和传感器的参数,即可实现对不同工件的测量。它还可以使用多种类型的测量仪器,如常见的三角测量式激光测距传感器、相位式激光测距传感器等,这使得测量方式具有更强的适应性和选择性。在一些对测量精度要求极高的场合,可以选择精度更高的相位式激光测距传感器;而在对测量速度要求较高的场合,则可以选择测量速度更快的三角测量式激光测距传感器。
然而,这种测量方式也存在一些不可忽视的缺点。在移动过程中,由于机械装置的精度限制和外界环境的干扰,可能会产生起伏和振动,这些微小的变化会导致测量误差的产生。如果直线导轨的精度不够高,或者伺服电机的控制不够精准,就会使工件或传感器头在移动过程中出现微小的晃动,从而影响测量结果的准确性。移动过程需要一定的时间,这在一些对测量效率要求极高的生产线上,可能会成为制约生产效率的因素。移动还需要额外的设备,如高精度的移动工作台、传动装置和控制系统等,这不仅增加了设备成本,还增加了系统的复杂性和维护难度。

3.1.2 使用 2D 传感器测量

基于 2D 传感器测量变形的原理,建立在其独特的光学成像和信号处理技术之上。2D 传感器通常采用激光三角测量原理,通过柱面物镜将激光光束扩大为条状,随后激光在目标物上产生漫射。反射光在 HSE3 - CMOS 上成像,通过检测位置、形状的变化来测量位移和形状。以冲压部件平坦度测量为案例,将 2D 激光传感器安装在固定支架上,使其测量方向垂直于冲压部件的表面。当冲压部件在生产线上匀速通过传感器下方时,传感器发射的激光条照射在冲压部件表面,反射光被传感器接收并转化为电信号。传感器内部的信号处理电路对这些电信号进行放大、滤波和数字化处理,然后将数字化的数据传输至计算机。计算机通过专门的算法,对这些数据进行分析和处理,通过计算指定点之间的高度差,来检测冲压部件的变形状况。
使用 2D 传感器进行测量具有独特的优势。它能够瞬间进行测量,无需移动工件或传感器,这大大提高了测量效率,特别适合在高速生产线上对产品进行实时检测。在汽车零部件生产线上,冲压部件的生产速度非常快,使用 2D 传感器可以在瞬间完成对冲压部件平坦度的测量,及时发现不合格产品,提高生产效率和产品质量。它无需复杂的移动机构,减少了设备成本和维护难度。由于 2D 传感器结构相对简单,安装和调试也比较方便,只需要将其固定在合适的位置,即可进行测量。
但这种测量方式也存在一定的局限性。它无法测量传感器测量范围以上的大型工件,如果冲压部件的尺寸超出了 2D 传感器的测量范围,就无法完整地测量其变形情况。在一些大型机械部件的生产中,由于部件尺寸较大,2D 传感器可能无法满足测量需求。对于复杂形状的工件,2D 传感器的测量精度可能会受到影响,因为复杂形状的工件表面反射光的分布较为复杂,可能会导致传感器接收的信号不准确,从而影响测量精度。

3.1.3 使用多个传感器测量

多个传感器测量变形的方法,通过巧妙的布局和数据融合算法,能够实现对物体变形状况的全面、准确测量。在实际应用中,通常会根据物体的形状和测量要求,合理布置多个传感器。以测量底盘的平面度为例,在底盘的关键位置,如四个角和中心位置,分别安装激光测距传感器。这些传感器同时工作,实时测量各自位置与底盘表面之间的距离。通过计算各传感器测得的高度数据,能够准确获得底盘的变形和平面度状况。
在计算变形状况时,可采用以下公式:假设三个传感器的测量值分别为 A、B、C,则测量值 1 = A - (B + C) / 2,测量值 2 = B - (A + C) / 2,测量值 3 = C - (A + B) / 2。通过这些公式,可以计算出每个点相对于其他点的变形情况,从而全面了解底盘的变形状况。在计算平面度时,可通过计算测量值最大值和最小值的差来确定,如测量值 1 = 最大值 (A, B, C) - 最小值 (A, B, C),这个差值越小,说明底盘的平面度越好。
使用多个传感器进行测量具有显著的优点。它能够立即测量目标,无需移动工件或传感器,提高了测量效率和便捷性。在工业生产中,可以在生产线上直接安装多个传感器,对产品进行实时监测,及时发现产品的变形问题。它能够测量较大的工件,通过合理布置传感器,可以覆盖大型工件的各个部位,实现对大型工件的全面测量。多个传感器同时测量,能够提供更丰富的数据,通过数据融合算法,可以提高测量的准确性和可靠性。
但这种测量方式也存在一些缺点。需要使用多个传感器,这无疑增加了设备成本和系统复杂度。每个传感器都需要独立的信号传输线路和数据处理单元,这不仅增加了硬件成本,还增加了系统的布线和调试难度。由于只能获得测量点的变形状况,无法确认全部目标的变形情况,对于一些形状复杂、变形不均匀的工件,可能无法全面准确地反映其变形状况。在一些具有不规则形状的机械部件中,仅通过几个测量点的数据,可能无法准确描述整个部件的变形情况。

3.2 算法分析

在高精度激光测距传感器用于非接触测量变形的技术体系中,算法作为核心要素,如同精密的大脑,对测量数据进行深度处理和分析,从而实现对物体变形的精确测量和分析。随着技术的不断发展,各种先进的算法不断涌现,为提高测量精度和效率提供了强大的支持。

3.2.1 理想光斑定位算法

理想光斑定位算法在高精度激光测距传感器测量变形的过程中,扮演着至关重要的角色,是实现高精度测量的关键环节。其实现高精度光斑定位的过程,融合了先进的光学原理和复杂的数学算法。在激光测距传感器工作时,发射的激光束照射到目标物体表面后,会形成反射光斑。理想光斑定位算法首先通过高分辨率的光学成像系统,将反射光斑清晰地成像在图像传感器上。图像传感器将光信号转换为电信号,并传输至信号处理单元。信号处理单元采用先进的边缘检测算法,如 Canny 算法,对光斑图像进行处理。Canny 算法能够准确地检测出光斑的边缘,通过对边缘像素点的坐标进行精确计算,能够确定光斑的大致位置。为了进一步提高定位精度,算法还会采用亚像素定位技术,如基于灰度矩的亚像素定位算法。该算法通过计算光斑图像的灰度矩,将光斑的定位精度提高到亚像素级别,从而实现高精度的光斑定位。
通过实现高精度的光斑定位,理想光斑定位算法能够有效提升测量精度。在测量物体变形时,光斑位置的微小变化都反映了物体表面的变形情况。通过精确确定光斑位置,能够准确测量出物体表面的位移和变形量。在测量液晶表面的弯曲时,高精度的光斑定位能够检测到液晶表面纳米级别的变形,为液晶显示器的生产和质量控制提供了重要的数据支持。高精度的光斑定位还能够减少测量误差,提高测量的可靠性和重复性。在多次测量同一物体时,由于光斑定位的准确性,能够保证每次测量结果的一致性,从而提高测量数据的可信度。

3.2.2 不同表面自适应分类控制算法

不同表面自适应分类控制算法,是一种针对不同材质表面测量适应性调整的智能算法,它能够根据目标物体表面的材质特性,自动调整测量参数和算法策略,以实现高精度的测量。该算法的工作原理基于对不同材质表面光学特性的深入研究和分析。不同材质的表面对激光的反射、散射和吸收特性各不相同,这些特性会直接影响测量信号的质量和测量精度。对于金属表面,由于其具有较高的反射率,反射光信号较强,但可能会存在镜面反射,导致信号的干扰和失真;而对于塑料表面,其反射率较低,信号相对较弱,且可能存在漫反射,使信号的分布较为分散。
针对这些不同的特性,算法首先通过对测量信号的初步分析,判断目标物体表面的材质类型。算法可以通过分析反射光的强度、光谱特性和偏振特性等参数,结合预先建立的材质特征数据库,快速准确地识别出表面材质。一旦确定了材质类型,算法会根据该材质的特性,自动调整测量参数,如激光的发射功率、脉冲宽度和频率等。对于反射率较低的塑料表面,算法会适当提高激光的发射功率,以增强反射光信号的强度;对于容易产生镜面反射的金属表面,算法会调整激光的偏振方向,减少镜面反射的影响。算法还会根据材质特性选择合适的信号处理算法和数据拟合模型。对于信号分布较为分散的塑料表面,采用更适合处理噪声和数据分散的算法,如基于最小二乘法的数据拟合算法,能够更好地提取出物体的变形信息;而对于信号较强但可能存在干扰的金属表面,采用更注重抗干扰能力的算法,如基于卡尔曼滤波的信号处理算法,能够有效去除噪声和干扰,提高测量精度。
通过这种针对不同材质表面的自适应调整策略,不同表面自适应分类控制算法能够显著提高测量的适应性和准确性。在实际应用中,无论是金属、塑料、陶瓷还是其他材质的物体,都能够通过该算法实现高精度的变形测量。在电子制造领域,对于不同材质的电子元件和电路板,该算法能够准确测量其变形情况,为电子产品的质量检测和生产工艺优化提供了有力的支持。在汽车制造、航空航天等领域,对于各种金属和复合材料的零部件,该算法同样能够发挥重要作用,确保产品的质量和性能符合要求。


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2025 - 05 - 06
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一、PCB 生产痛点:超薄板叠片检测难在电子制造中,PCB 板厚度仅 0.1-1.6mm,高速传输时极易出现多层重叠,传统检测手段却力不从心:接触式测量:机械探针易压弯薄板,且每秒仅测百次,跟不上产线速度;视觉检测:依赖稳定光源,机台振动(±50μm 级)让图像模糊,漏检率高达 5%。这些问题导致 3%-5% 的废料率,更可能让不良品流入下工序,引发焊接短路等连锁故障,成为产线效率和质量...
2025 - 03 - 22
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一、传感器选型与技术优势对比颠覆性成本结构传统激光多普勒测振仪价格区间:¥150,000~¥500,000LTP080系列成本:¥11,000~¥15,000(视配置),降低设备投入90%以上维护成本对比:无光学镜片损耗,寿命>50,000小时,年维护费用低于¥500性能参数解析指标LTP080参数传统测振仪典型值采样频率50kHz(全量程)/160kHz(20%量程)1MHz~10MHz线性度&...
2025 - 03 - 19
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一、项目背景与需求随着智慧交通和道路养护数字化的发展,对路面病害(如裂缝、车辙、坑槽)的高效检测需求日益迫切。传统人工巡检效率低、主观性强,而车载激光雷达方案成本高昂(单套设备超百万元)。因此,某省级公路养护中心采用泓川科技LTP系列传感器,构建低成本、高精度的路面扫描系统,目标如下:全幅覆盖:单次扫描覆盖3.5m标准车道,横向分辨率≤5mm,纵向分辨率≤2mm(车速60km/h时)。抗干扰能力:...
2025 - 03 - 11
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在光伏硼扩散工艺中,石英舟(石墨舟)到位检测是确保工艺精准度和产品质量的关键环节。然而,该工况面临着两大技术难题:一是高温环境,普通传感器难以承受;二是石英舟的透光材质特性,常规检测手段无法有效检测其位置。泓川科技的 HC8-400 系列激光位移传感器凭借其卓越的性能,成功攻克这些难题,在 85°C 的石英舟工况环境下发挥了关键作用。一、项目背景在光伏产业蓬勃发展的当下,提高电池片转换效...
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关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
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  • 1
    2023 - 09 - 11
    在真空环境下应用光谱共焦位移传感器的可行性一直是一个备受关注的问题。真空环境的特殊性决定了对传感器的要求与常规环境有所不同。本篇文章将围绕真空环境下光谱共焦位移传感器的应用可行性展开讨论,并进一步深入探讨传感器在不同真空环境下的要求和变化。首先,真空环境下的应用对传感器的热产生要求较高。由于真空环境的热传导性能较差,传感器不能产生过多的热量,以避免影响传感器的正常工作和对样品的测量。光谱共焦位移传感器由于采用了被动元件,不会产生热量,因此非常适合在真空环境中应用。其次,在真空环境下使用传感器时,配件的耐真空能力也是一个重要的考虑因素。传感器配件如胶水、光纤、线缆等都必须能够耐受真空环境的特殊条件,例如低压和缺氧。为此,无锡泓川科技提供了专门用于真空环境的配件,以确保传感器的正常运行和稳定性。这些配件经过特殊处理,具有耐真空的特性,可以在真空环境中长时间使用。此外,从高真空(HV)环境到超高真空(UHV)环境,传感器对环境的要求也会发生变化。在HV环境下,传感器必须具备抗气压、抗水汽和抗粒子沉积等特性。而在UHV环境中,由于气氛更为稀薄,传感器还需要具备更高的抗气压和更低的气体释放性能。因此,传感器在HV到UHV环境的过渡中,需要经过更严格的测试和优化,以保证其在不同真空级别下的稳定性和可靠性。综上所述,真空环境下应用光谱共焦位移传感器具有可行性。传感器需要满足不产生热量的要求,并配...
  • 2
    2025 - 03 - 04
    在工业自动化领域,激光位移传感器是精密测量的核心器件,而进口品牌长期占据市场主导地位。然而,国产传感器技术近年来飞速发展,无锡泓川科技推出的 LTP系列激光位移传感器,凭借不输国际品牌基恩士LK-G系列的性能表现,以及仅为其一半的成本优势,为国产替代提供了极具竞争力的选择。本文将从核心技术、性能参数、应用场景及综合成本四大维度,对两者进行深度对比分析。 一、核心技术对比:自主创新突破瓶颈技术维度泓川LTP系列基恩士LK-G系列光学设计投受光分离型设计,支持同轴测量与镜面材料检测Li-CCD接收技术,优化像素边缘误差抗干扰能力蓝宝石防护镜+特殊滤波,抗强光(20000Lux)ND滤镜选件,适应镜面/高反光环境光斑控制宽光斑/聚焦光斑可选,适配粗糙表面与微小目标小光斑(最小20μm)与宽光斑(圆柱镜头扩展)算法优化半透明材料漫反射算法,消除内部散射干扰RPD/MRC算法,处理多重反射与透明材料分层测量光源定制405nm蓝光定制,适用于有机材料与红热金属标准655nm红光,可选ND滤镜适配高反射场景    技术亮点: LTP系列通过投受光分离设计实现与执行器(如工业相机、点胶针头)的同轴集成,解决了传统传感器空间干涉问题;其蓝光定制技术针对基恩士红光方案的局限性,在透明/半透明材料(如薄膜、玻璃)及高温金属表面测量中表现更优。二、性能参数对标:...
  • 3
    2023 - 09 - 30
    一、介绍在许多须要进行精确检查的工业生产领域,视觉系统的高度定位已成为一项关键技术。尤其在物料变化情况复杂或需要精确测量的应用场景中,如何通过视觉系统稳定地执行Z轴方向定位是个重要议题。而在这方面,高精度激光测距传感器无疑可以提供解决方法。二、解决方案1、测量初始化首先提供一个安全并且可控的环境以保证传感器的测量工作。将目标工件放在固定的位置上,并确保其稳固不动来为测量过程提供准确的基础。2、高精度激光测距传感器启动测量启动高精度激光测距传感器对目标进行测量。传感器会发出一束红外激光,该激光会瞄准工件并反射回传感器,创建出一个明确的测量路径。传感器具有强大的抗干扰能力,即使目标工件材质变化,也能够维持稳定的测量结果。3、数据处理与分析接下来进入数据处理阶段。传感器会捕捉反射回来的激光,然后利用内部的光学组件和测量算法进行数据分析,计算出其对应的Z轴坐标值。4、结果反馈与定位最后,我们将测量结果(即Z轴的坐标值)传递给工业相机,一旦接收到数据,相机就能在Z轴上进行精确的位置定位。在这个过程中,即使工件移动或者改变位置,我们的系统也能实时根据新的测量结果进行调整,保证视觉系统始终在正确的位置对工件进行检测。5、持续追踪与更新系统会持续监测工件的位置,并根据需要实时更新Z轴的高度信息。这样,在整个生产过程中,无论工件如何变化或移动,我们的视觉系统都能进行稳定、准确的检测。三、行业应用1....
  • 4
    2024 - 12 - 11
    激光位移传感器作为一种高精度、非接触式的测量工具,在工业自动化、科研、医疗等多个领域发挥着重要作用。其制造过程涉及多个环节和专业技术,以下将详细介绍激光位移传感器的制造全过程及所使用的零部件。一、设计与研发激光位移传感器的制造首先始于设计与研发阶段。根据市场需求和技术趋势,设计团队会确定传感器的主要性能指标,如测量范围、精度、分辨率等。接着,选择合适的激光发射器和接收器,设计光学系统和信号处理电路。这一阶段的关键在于确保传感器能够满足预期的测量要求,并具备良好的稳定性和可靠性。二、原材料采购在设计完成后,进入原材料采购阶段。激光位移传感器的主要零部件包括:激光器:产生高方向性的激光束,用于照射被测物体。激光器的选择直接影响传感器的测量精度和稳定性。光电二极管或CCD/CMOS图像传感器:作为接收器,接收被测物体反射回来的激光,并将其转换为电信号。光学透镜组:包括发射透镜和接收透镜,用于调整激光束的形状和发散角,确保精确照射和接收反射光。电路板:搭载信号处理电路,对接收到的电信号进行处理和分析。外壳:保护传感器内部组件,并提供安装接口。三、加工与制造在原材料到位后,进入加工与制造阶段。这一阶段包括:零部件加工:对金属外壳进行切割、钻孔和打磨等处理,以满足设计要求。同时,对光学透镜进行精密加工,确保其光学性能。组件组装:将激光器、光电二极管、光学透镜组等零部件组装到电路板上,形成完整的...
  • 5
    2025 - 04 - 12
    在工业自动化领域,激光位移传感器的性能直接影响测量精度和系统稳定性。本文针对泓川科技 LTM2-800W 与美国邦纳 BANNER LE550 系列传感器,从技术参数、性能指标、应用场景等维度进行深度对比,探讨 LTM2-800W 替代 LE550 系列的可行性,尤其突出其更高的测量精度和更快的采样频率优势。一、核心技术参数对比参数LTM2-800WBANNER LE550 系列对比结论测量原理激光三角测量法激光三角测量法原理相同,均通过激光光斑在感光元件上的位置变化计算距离。参考距离800mm100-1000mm(LE550)LTM2-800W 以 800mm 为中心,覆盖更广的远距离测量场景,适合大尺寸物体检测。测量范围±500mm(300-1300mm)100-1000mmLTM2-800W 测量范围更宽,尤其在 800mm 以上远距离仍能保持高精度,而 LE550 在 1000mm 处精度下降。重复精度45μm±0.5-8mm(随距离变化,1000mm 处约 ±8mm)LTM2-800W 优势显著,重复精度达 45μm(0.045mm),较 LE550 的毫米级精度提升两个数量级,适合精密测量场景。线性误差±4.5mm(0.5%FS)LTM2-800W 线性误差仅为 LE550 的 1/4.5,测量线性度更优,数据一致...
  • 6
    2025 - 01 - 20
    一、引言1.1 研究背景与意义在当今数字化时代,IC 芯片作为现代电子设备的核心部件,其重要性不言而喻。从智能手机、电脑到汽车电子、工业控制,乃至新兴的人工智能、物联网等领域,IC 芯片无处不在,如同电子设备的 “大脑”,掌控着设备的运行与功能实现。其发展水平不仅是衡量一个国家科技实力的重要标志,更在全球经济竞争中占据着关键地位。近年来,IC 芯片产业呈现出蓬勃发展的态势。随着摩尔定律的持续推进,芯片的集成度不断提高,尺寸愈发微小,性能却实现了质的飞跃。与此同时,5G、人工智能、大数据等新兴技术的迅猛发展,为 IC 芯片产业注入了强大的发展动力,市场对芯片的需求呈现出爆发式增长。在 IC 芯片制造的复杂流程中,精确测量起着举足轻重的作用,如同工匠手中精准的量具,确保每一个环节都达到极高的精度标准。从芯片设计阶段的版图测量,到制造过程中的光刻、蚀刻、沉积等工艺的尺寸控制,再到封装测试阶段对芯片外形、引脚等的精确测量,每一步都离不开高精度测量技术的支撑。只有通过精确测量,才能保证芯片的性能、良率以及可靠性,满足市场对高质量芯片的严苛要求。光谱共焦传感器作为一种先进的测量技术,凭借其独特的工作原理和卓越的性能优势,在 IC 芯片测量领域展现出了巨大的潜力。它能够实现对芯片表面形貌、厚度、尺寸等参数的高精度非接触测量,为芯片制造提供了可靠的数据支持。这种高精度测量对于提高芯片制造工艺的精度...
  • 7
    2022 - 12 - 01
    在烟草分级及仓储环节中有大量的自动化设备,比如高速往复运动的穿梭车堆垛机等,如何建立完善的安全预防措施,保障作业人员的人身安全是企业在思考的方向,我们在烟草工业内部系统里面已经积累了众多的成功案例,我们会通过机械安全控制以及电器这三个维度来帮助企业进行评估,具体的改造场景有,立库输送管道出入口防护百度极速可在经过现场评估后我们会给客户出具评估报告和推荐的安全整改。                机械设备,例如马舵机,泄漏机缠绕机等在快消品行业是广泛存在的,特别是码作机器,经常需要操作人员频繁介入该区域应用的工业机器人运行速度快存在着较高的安全隐患,在转运站码垛技术入口,经常采用一套光幕和光电传感器来实现屏蔽功能,从而实现人物分离,在这个应用中,以物体在传中带上面时,车场光电传感器,从而激活,屏蔽功能,当你为触发屏蔽功能很简单,有些操作人员会拿纸箱或者其他东西遮挡这个光电传感器,从而很容易就操纵了这个屏蔽功能,存在着很大的安全隐患,针对这个问题,我们开发出创新高效的是入口防护替代方案,智能门控系统,无锡屏蔽传感器就和实现pp功能,这项专利技术是基于。             专利技术是激光幕,使出入口防务变得更加高效...
  • 8
    2023 - 09 - 11
    非接触测量涂布厚度的行业报告摘要:本报告将介绍非接触测量涂布厚度的行业应用场景及解决方案。涂布厚度的准确测量在多个行业中至关重要,如带钢、薄膜、造纸、无纺布、金属箔材、玻璃和电池隔膜等行业。传统的测量方法存在一定的局限性,而非接触测量技术的应用可以提供更准确、高效的测量解决方案。本报告将重点介绍X射线透射法、红外吸收法和光学成像测量方法这三种主要的非接触测量解决方案,并分析其适用场景、原理和优势。引言涂布厚度是涂覆工艺中的一个重要参数,对于保证产品质量和性能具有重要意义。传统的测量方法,如接触式测量和传感器测量,存在一定局限性,如易受污染、操作复杂和不适用于特定行业。而非接触测量方法以其高精度、实时性和便捷性成为行业中的理想选择。行业应用场景涂布厚度的非接触测量方法适用于多个行业,包括但不限于以下领域:带钢:用于热镀锌、涂覆和镀铝等行业,对涂层和薄膜的厚度进行测量。薄膜:用于光学、电子、半导体等行业,对各种功能薄膜的厚度进行测量。造纸:用于测量纸张的涂布、涂胶和覆膜等工艺中的厚度。无纺布:用于纺织和过滤行业,对无纺布的厚度进行测量。金属箔材:用于食品包装、电子器件等行业,对箔材的厚度进行测量。玻璃:用于建筑和汽车行业,对玻璃的涂层厚度进行测量。电池隔膜:用于电池制造行业,对隔膜的厚度进行测量。解决方案一:X射线透射法X射线透射法是一种常用的非接触涂布厚度测量方法,其测量原理基于射线...
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泓川科技HC26激光位移传感器:高性价国产比替代奥泰斯CD33的优选方案 2025 - 06 - 09 在工业精密测量领域,无锡泓川科技的HC26系列激光位移传感器凭借出色的性能参数与显著的成本优势,成为替代奥泰斯CD33系列的高竞争力选择。以下从核心性能、特殊应用适配性及成本三方面进行对比分析:一、核心性能参数对标(HC26 vs CD33)参数泓川HC26系列奥泰斯CD33 (行业标准)HC26优势重复精度2μm (30mm款) → 50μm (195mm款)通常1~3μm (高端款)接近主流精度线性度±0.1%F.S.±0.05%~0.1%F.S.达到同级水平响应时间最快333μs (多档可调)通常500μs~1ms速度更快输出接口RS485(Modbus RTU)+模拟量(4-20mA/0-10V)类似接口组合同等兼容性防护等级IP67 (防尘防水)IP67/IP65同等工业防护温度特性0.05%F.S/℃0.03~0.05%F.S/℃稳定性接近注:HC26提供4种基准距离型号(30/50/85/195mm),覆盖小量程高精度(±4mm@30mm)至大量程(±99.98mm@195mm)场景,满足CD33主流应用范围。二、核心替代优势:全系支持正反射安装HC26系列所有型号均内置正反射光路设计,解决CD33在特殊材质检测中的痛点:镜面材料:通过正反射接收强光信号,避免漫反射信号微弱导致的测量失效。透明材质(如玻璃、薄...
泓川科技激光位移传感器HC16系列全方位国产替代OPTEX的CD22系列 2025 - 06 - 09 一、核心参数深度对比维度泓川科技 HC16 系列奥泰斯 CD22 系列差异影响分析型号覆盖15/35/100/150mm(4 款)15/35/100mm(3 款)HC16 新增150mm 基准距离型号(HC16-150),测量范围 ±100mm,填补 CD22 无远距离型号空白。重复精度(静态)15mm:1μm;35mm:6μm;100mm:20μm;150mm:60μm15mm:1μm;35mm:6μm;100mm:20μmHC16-150 精度较低(60μm),适合远距离低精度场景(如放卷料余量粗测),CD22 无对应型号需搭配中继。通讯扩展性支持 EtherCAT 模块(文档提及)、RS485、模拟量仅 RS485、模拟量HC16 对 ** 工业总线系统(如 PLC 集成)** 兼容性更强,可减少额外通讯模块成本。电源适应性全系列 DC12-24V 统一输入模拟量电压型需 DC18-24V,电流 / 485 型 DC12-24V若用户系统电源为12-18V,HC16 电压输出型(如 HC16-15-485V)可直接替代 CD22 电压型,避免电源升级成本。功耗≤100mA(全系列)≤700mA(CD22-15A 为例)HC16 功耗仅为 CD22 的1/7,适合电池供电设备、多传感器阵列场景,降低散热和电源设计压力。体积与重量尺寸未明确标注(参考 CD22 为紧凑型...
泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列激光位移传感器深度对比:高性价比之选 2025 - 05 - 26 一、引言在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能与成本直接影响设备的竞争力。本文聚焦泓川科技 LTM3 系列与米铱 ILD1750 系列,从技术参数、应用场景及成本等维度展开深度对比,揭示 LTM3 系列如何以卓越性能和显著成本优势成为更具性价比的选择。二、核心参数对比指标泓川科技 LTM3 系列米铱 ILD1750 系列测量频率最高 10kHz,适用于高速动态测量场景最高 7.5kHz,满足常规工业速度需求重复性精度0.25μm 起(如 LTM3 - 030),达到亚微米级精度0.1μm 起,精度表现优异线性误差低至 0.06% FSO 起,基于百分比的误差控制防护等级IP67,可抵御粉尘、液体喷射及短时浸水IP65,防护性能良好但略逊于 LTM3外形尺寸605020.4mm,体积小巧,适配狭窄空间未明确标注,但工业通用设计体积较大重量约 150g,轻便易安装未明确标注,推测重于 LTM3 系列输出接口以太网、485 串口、模拟信号(±10V/4 - 20mA),支持工业网络集成模拟量(U/I)、数字量(RS422),传统工业接口配置光源655nm/660nm 红光激光,稳定可靠670nm 红光激光,测量光斑控制优秀工作温度0 - 50°C,适应多数工业环境0 - 50°C,环境适应性相当三、LTM3 系列核心优势解析(一)性能...
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