LTCS-100 白光干涉测厚控制器高精度薄膜厚度测量仪

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产品名称：
LTCS-100 白光干涉测厚控制器聚焦光斑，测厚 2μm~100μm，重复精度 1nm

上市日期： 2026-04-19

型号：LTCS-100
适配探头：IRVP-TVF
可测厚度：2μm~100μm（折射率 1.5）
重复精度：1nm
线性误差：＜20nm
采样频率：Max.10kHz
光斑直径：Φ100μm
工作距离：55mm±2mm
测量角度：±5°
探头防护：IP40
电源：24VDC±10%
通讯接口：Ethernet、RS485、USB2.0

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LTCS-100 白光干涉测厚控制器测厚 2μm~100μm重复精度 1nm

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