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专业从事激光位移传感器，激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司

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在测量被透明物体覆盖的目标时，环境照明补偿和透视测量是如何帮助提高测量准确性的？

2024 - 03 - 05

在测量被透明物体覆盖的目标时，环境照明补偿和透视测量是提高测量准确性的重要手段。这些技术的应用，在智能手机等电子设备的制造过程中，具有至关重要的作用。首先，让我们来探讨一下环境照明补偿的作用。在生产线环境中，照明条件往往并不稳定，这会对测量精度产生严重影响。环境照明补偿技术通过自动调整传感器参数，以补偿外部光照条件的变化，使得测量系统能在不同的照明条件下都能保持稳定的测量性能。这就使得我们在测量被透明物体（如手机屏幕）覆盖的目标时，能够得到更为准确的结果。其次，透视测量技术则能够解决透明物体对测量造成的干扰。由于透明物体会让部分光线穿过，使得传统的测量技术难以准确捕捉目标的位置和形状。而透视测量技术则能够通过特殊的光学设计和算法处理，使得传感器能够“看透”透明物体，直接对其背后的目标进行测量。这样，我们就可以在不接触目标的情况下，对其进行准确的测量。在智能手机等电子设备的制造过程中，这两种技术都有着广泛的应用。例如，在手机屏幕的生产过程中，环境照明补偿技术可以帮助我们确保屏幕在各种光线条件下都能显示清晰。而透视测量技术则可以用于测量手机屏幕下的各种元器件，如触摸屏、摄像头等，确保它们的位置和尺寸都符合设计要求。此外，这两种技术还可以结合使用，以提高测量的精度和效率。例如，我们可以先使用透视测量技术确定目标的位置，然后使用环境照明补偿技术对其进行精确测量。这样，我们不仅可以得到更准确...
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深度解析国产平替：泓川科技 HC8-400 与松下 HG-C1400 激光位移传感器的技术对比与应用价值

2025 - 04 - 12

在工业自动化领域，激光位移传感器作为精密测量的核心部件，其性能直接影响生产精度与效率。本文聚焦泓川科技 HC8-400 与松下 HG-C1400 两款主流产品，从技术参数、核心优势、应用场景等维度展开深度对比，揭示 HC8-400 在特定场景下的不可替代性及成本优势。一、技术参数对比：细节见真章1. 基础性能指标参数HC8-400HG-C1400差异分析测量范围400±200mm（200-600mm）400±200mm（200-600mm）两者一致，覆盖中长距离测量场景。重复精度200-400mm:150μm 400-600mm:400μm200-400mm:300μm 400-600mm:800μmHC8-400 在全量程精度表现更优，尤其在 400-600mm 远距段，重复精度提升 50%，适合对稳定性要求高的精密测量。线性度200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.线性度一致，满足工业级测量标准。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1400 理论温漂略优，但 HC8-400 通过独特热稳设计，实际在高温环境（如 80℃）下表现更可靠，弥补参数...
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光学测量传感器在存储硬盘HDD检测中的应用研究报告（上）

2025 - 01 - 17

一、引言1.1 研究背景与意义在当今数字化信息爆炸的时代，数据存储的重要性愈发凸显。硬盘驱动器（HDD）作为一种传统且广泛应用的大容量存储设备，在数据存储领域占据着举足轻重的地位。从个人计算机中的数据存储，到企业级数据中心的海量数据管理，HDD 都发挥着不可替代的作用。随着科技的飞速发展，各行业对数据存储的容量、速度、稳定性以及可靠性等方面的要求不断提高。例如，在影视制作行业，4K、8K 等高分辨率视频的编辑和存储需要大容量且读写速度快的存储设备；在金融行业，大量交易数据的实时存储和快速检索对 HDD 的性能和可靠性提出了严苛要求。为了确保 HDD 能够满足这些日益增长的需求，其制造过程中的质量控制至关重要。而光学传感器检测技术在 HDD 的质量控制中扮演着关键角色。通过运用光学传感器，可以对 HDD 的多个关键参数进行精确检测。比如，检测盘片的平整度，盘片平整度的微小偏差都可能导致磁头与盘片之间的距离不稳定，进而影响数据的读写准确性和稳定性；测量磁头的位置精度，磁头定位不准确会使数据读写出现错误，降低 HDD 的性能；监测电机的转速均匀性，电机转速不稳定会导致数据读取速度波动，影响用户体验。光学传感器能够以非接触的方式进行高精度检测，避免了对 HDD 部件的损伤，同时还能实现快速、高效的检测，大大提高了生产效率和产品质量。 1.2 研究目的与方法本研究旨在深入探究不同类...
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泓川科技激光位移传感器HC16系列全方位国产替代OPTEX的CD22系列

2025 - 06 - 09

一、核心参数深度对比维度泓川科技 HC16 系列奥泰斯 CD22 系列差异影响分析型号覆盖15/35/100/150mm（4 款）15/35/100mm（3 款）HC16 新增150mm 基准距离型号（HC16-150），测量范围 ±100mm，填补 CD22 无远距离型号空白。重复精度（静态）15mm:1μm；35mm:6μm；100mm:20μm；150mm:60μm15mm:1μm；35mm:6μm；100mm:20μmHC16-150 精度较低（60μm），适合远距离低精度场景（如放卷料余量粗测），CD22 无对应型号需搭配中继。通讯扩展性支持 EtherCAT 模块（文档提及）、RS485、模拟量仅 RS485、模拟量HC16 对 ** 工业总线系统（如 PLC 集成）** 兼容性更强，可减少额外通讯模块成本。电源适应性全系列 DC12-24V 统一输入模拟量电压型需 DC18-24V，电流 / 485 型 DC12-24V若用户系统电源为12-18V，HC16 电压输出型（如 HC16-15-485V）可直接替代 CD22 电压型，避免电源升级成本。功耗≤100mA（全系列）≤700mA（CD22-15A 为例）HC16 功耗仅为 CD22 的1/7，适合电池供电设备、多传感器阵列场景，降低散热和电源设计压力。体积与重量尺寸未明确标注（参考 CD22 为紧凑型...
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激光位移传感器再高温或者低温环境，真空耐腐蚀环境下如何工作

2022 - 12 - 03

无论是半导体加工过程中还是锂电池制造过程中总是伴随着腐蚀，高温振动等恶劣环境，为了保证生产的高效稳定，无锡泓川科技推出了多种具有不同钢铁不锈钢金属外壳的激光位移传感器，具有高防护性，可以从容的面对各种复杂的环境。在生产过程中总是在恶劣的环境中进行。在当今的环境中，自动化解决方案有时会暴露在非常困难的生产条件下。而且还必须具有可靠的功能，这对传感器技术来说是一个挑战。无锡泓川科技有限公司广泛的测试程序，确保了我们的激光位移传感器能够承受恶劣的环境要求。例如在电子行业中电子产品在我们日常生活中扮演着重要的角色。无论是在电动巴士和汽车的电池中，还是在太阳能发电模块中。自动化生产在电子工业的许多领域都是非常复杂的。真空和高温环境是随处可见的。使用的化学物质具有腐蚀性。这不仅影响生产条件和机器在许多应用领域，传感器解决方案也面临着新的挑战。那么能满足这些挑战的出色的激光位移传感器是什么样的呢？在某些情况他必须能抗抵抗至少70度到100度的高温。或者他必须能承受真空环境并且具有腐蚀性，化学物质的过程中也能抗拒。他应该有特别耐用的材料制成如不锈钢甚至特氟龙材料。无锡泓川科技有限公司提供范围广泛的激光位移传感器和激光位移传感器技术，尤其适用于恶劣环境。
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论激光测距传感器在锂电池生产中的应用

2024 - 01 - 21

摘要：本文将详细阐述高精度激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中的应用情况。我们使用的激光测距传感器能够准确测量涂层厚度在1-10μm之间的极片，而且其精度能达到0.15μm。并且，通过特殊的同步计算过程和测厚技术，我们成功解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差。我们的传感器还具有定制化的宽光斑特性，能够应对涂层厚度不均匀的情况，从而得到极片全表面的平均值。1. 导言锂电池在移动设备、电动汽车等领域的应用日益广泛，其中极片的涂层厚度对电池性能影响显著。传统的接触式和机械式测量方法经常无法满足需求，而我们的高精度激光测距传感器正好拥有非接触测量和高精度测量的优势。2. 测量系统与技术我们使用的是一种高精度激光测距传感器，它可以准确测量出微米级别的厚度，并且精度能够达到0.15μm。我们通过使用专业的同步运算程序和射测厚技术，成功地解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差问题。此外，该传感器还具有定制化的宽光斑特性，能够应对涂层厚度不均匀的情况，从而得到极片全表面的平均值。3. 实验结果与效果分析多次实验结果证明，我们使用的激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中展现出了可靠性和准确性。实验结果显示，该传感器能够稳定地测量出微米级别的涂层厚度。通过专业的同步运算程序和射测厚技术，我们成功地解决了测量误差问题。定制化的宽光斑特性使得传感器可以应对涂层厚度不均匀的情况，从而...
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无锡泓川科技PD50激光位移传感器：中空同轴+50mm长距测量，0.05μm精度开启工业检测新维度

2025 - 04 - 07

在大型工件检测、锂电池极片测厚、航空航天等高精度长距测量场景中，传感器需兼具大范围扫描能力与微米级精度，同时解决多设备空间协同难题。无锡泓川科技LTPD50激光位移传感器创新采用中空分体式结构设计，以50mm超长参考距离、0.05μm重复精度及进口半价成本，突破进口设备在长距高精度领域的垄断，为工业用户提供“远距精准测量+多设备同轴集成”的国产化标杆方案。核心优势：中空架构+超长量程，重构工业检测边界中空同轴设计，赋能多设备协同φ25mm贯通孔：传感器主体中空，支持工业相机、激光打标头等外设直接穿过，实现测量点与操作中心零偏差同轴，解决传统长距传感器体积大、遮挡视野的痛点。超薄机身：紧凑型设计（74205110mm），适配机器人导轨、自动化产线等空间受限场景，安装灵活性提升60%。长距高精度，性能对标进口50mm参考距离±0.8mm量程：覆盖锂电池极片、金属板材等大尺寸工件的高精度厚度检测需求，减少传感器移动频次。0.05μm重复精度：媲美基恩士LK-G系列，线性误差**成本颠覆：售价仅为进口同类产品的40%~50%，且无需外置控制器，综合成本降低70%。硬核参数：长距测量的性能标杆参数LTPD50（无锡泓川）进口竞品（如基恩士LK-G500）参考距离50mm50mm测量范围±0.8mm±0.5mm重复精度0.05μm（无平均）0.1μm采样频率160...
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高精度激光测距传感器是如何为工业视觉检测系统Z轴高度定位的？

2023 - 09 - 30

一、介绍在许多须要进行精确检查的工业生产领域，视觉系统的高度定位已成为一项关键技术。尤其在物料变化情况复杂或需要精确测量的应用场景中，如何通过视觉系统稳定地执行Z轴方向定位是个重要议题。而在这方面，高精度激光测距传感器无疑可以提供解决方法。二、解决方案1、测量初始化首先提供一个安全并且可控的环境以保证传感器的测量工作。将目标工件放在固定的位置上，并确保其稳固不动来为测量过程提供准确的基础。2、高精度激光测距传感器启动测量启动高精度激光测距传感器对目标进行测量。传感器会发出一束红外激光，该激光会瞄准工件并反射回传感器，创建出一个明确的测量路径。传感器具有强大的抗干扰能力，即使目标工件材质变化，也能够维持稳定的测量结果。3、数据处理与分析接下来进入数据处理阶段。传感器会捕捉反射回来的激光，然后利用内部的光学组件和测量算法进行数据分析，计算出其对应的Z轴坐标值。4、结果反馈与定位最后，我们将测量结果（即Z轴的坐标值）传递给工业相机，一旦接收到数据，相机就能在Z轴上进行精确的位置定位。在这个过程中，即使工件移动或者改变位置，我们的系统也能实时根据新的测量结果进行调整，保证视觉系统始终在正确的位置对工件进行检测。5、持续追踪与更新系统会持续监测工件的位置，并根据需要实时更新Z轴的高度信息。这样，在整个生产过程中，无论工件如何变化或移动，我们的视觉系统都能进行稳定、准确的检测。三、行业应用1....

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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...

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