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白光干涉测厚仪
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3D线激光轮廓仪
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜厚度测量，广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点：极薄检测能力：最小测量厚度低至 20nm，20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景；超高准确度：±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度，精准捕捉极细微厚度变化，严控工艺偏差；在线适配：最高 100Hz 采样速度，可融入生产线实现快速在线检测，不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器：复杂环境测...
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更新日期： 2025 - 09 - 05
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泓川科技HC26激光位移传感器：高性价国产比替代奥泰斯CD33的优选方案
泓川科技HC26激光位移传感器：高性价国产比替代奥泰斯CD33的优选方案
在工业精密测量领域，无锡泓川科技的HC26系列激光位移传感器凭借出色的性能参数与显著的成本优势，成为替代奥泰斯CD33系列的高竞争力选择。以下从核心性能、特殊应用适配性及成本三方面进行对比分析：一、核心性能参数对标（HC26 vs CD33）参数泓川HC26系列奥泰斯CD33 (行业标准)HC26优势重复精度2μm (30mm款) → 50μm (195mm款)通常1~3μm (高端款)接近主流精度线性度±0.1%F.S.±0.05%~0.1%F.S.达到同级水平响应时间最快333μs (多档可调)通常500μs~1ms速度更快输出接口RS485(Modbus RTU)+模拟量(4-20mA/0-10V)类似接口组合同等兼容性防护等级IP67 (防尘防水)IP67/IP65同等工业防护温度特性0.05%F.S/℃0.03~0.05%F.S/℃稳定性接近注：HC26提供4种基准距离型号（30/50/85/195mm），覆盖小量程高精度（±4mm@30mm）至大量程（±99.98mm@195mm）场景，满足CD33主流应用范围。二、核心替代优势：全系支持正反射安装HC26系列所有型号均内置正反射光路设计，解决CD33在特殊材质检测中的痛点：镜面材料：通过正反射接收强光信号，避免漫反射信号微弱导致的测量失效。透明材质（如玻璃、薄膜）：激光束穿透后由背景物体反射，传感器仍可稳定捕捉距离数据。高反光表面：自动亮度调节功能优化激光强度，防止过曝（手册P1特性）。此特性使HC26在半导体（石英舟检测）、液晶面板、金属抛光件等场景可直接替代CD33。三、成本优势显著，降本可达30-40%据市场反馈，HC26系列采购成本仅为CD33同规格型号的60%~70%，核心原因包括：国产化供应链：核心光学组件与电子元件本土化，降低制造成本。高...
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更新日期： 2025 - 06 - 09
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泓川科技国产工业拾取指示灯：点亮智能制造之光pick to light
泓川科技国产工业拾取指示灯：点亮智能制造之光pick to light
工业拾取指示灯 —— 智能工厂的得力助手在现代制造业蓬勃发展的浪潮中，工业拾取指示灯宛如一颗璀璨的明星，正逐渐成为众多工厂不可或缺的关键配置。它绝非普通的指示灯，而是集高效、精准、智能于一身的生产利器，能够显著优化物料拾取流程，大幅提升生产效率，为企业在激烈的市场竞争中脱颖而出提供坚实助力。泓川科技，作为国内工业自动化与智能化领域的佼佼者，始终专注于工业拾取指示灯的研发与创新。公司凭借深厚的技术积累、卓越的研发团队以及对市场需求的敏锐洞察，精心打造出一系列性能卓越、品质可靠的工业拾取指示灯产品，旨在为广大制造企业提供全方位、定制化的优质解决方案。接下来，让我们一同深入探寻泓川科技工业拾取指示灯的独特魅力与卓越优势。泓川科技：国产之光，品质领航泓川科技作为国内工业自动化与工业智能化领域的领军企业，多年来始终专注于为制造型企业提供高品质的产品与系统解决方案。公司凭借深厚的技术沉淀、强大的研发实力以及对市场趋势的精准把控，在工业拾取指示灯领域取得了斐然成就，成功助力众多企业迈向智能化生产的新征程。身为一家国产企业，泓川科技深谙本土客户需求，能够提供更贴合国情的定制化服务。与国外品牌相比，泓川科技在性价比、响应速度、售后服务等方面优势显著。公司拥有完备的自主研发与生产体系，不仅能确保产品质量的稳定性，还能有效控制成本，为客户带来实实在在的价值。而且，泓川科技建立了覆盖全国的销售与服务网络，...
发布时间: 2025 - 01 - 10
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By Aleksandar Nikcevic
彩色同轴激光位移器在非接触式厚度测量中的应用研究
彩色同轴激光位移器在非接触式厚度测量中的应用研究
摘要 随着制造业对高精度、高效率检测需求的提升，非接触式测量技术逐渐成为工业检测领域的重要发展方向。本文以基恩士CL-3000系列彩色激光同轴位移计为研究对象，通过树脂板、胚料和玻璃薄膜三类典型应用案例，系统分析了其技术原理、测量优势及实际应用效果。研究表明，该技术通过共焦光路设计、光轴校准算法及多传感器融合技术，能够实现±0.2μm级测量精度，解决了传统接触式测量存在的效率低、误差大、损伤工件等痛点，为工业检测智能化转型提供了有效解决方案。1. 引言 在精密制造领域，厚度作为关键尺寸参数直接影响产品质量。传统接触式测量工具（如千分尺、接触式传感器）存在检测效率低（单次测量耗时3-5秒）、人为误差率高（约0.5%-1.2%）、易损伤工件等问题。非接触式激光测量技术因具有无磨损、高速度（可达10kHz采样率）等优势，逐渐成为行业主流方案。基恩士CL-3000系列通过彩色同轴共焦技术，在复杂表面适应性、测量稳定性等方面实现突破，本文通过具体案例验证其应用价值。2. 技术原理与创新 2.1 彩色共焦测量系统 CL-3000采用同轴光路设计，通过分光棱镜将多波长激光束（红、绿、蓝）聚焦于被测物表面。各波长对应不同焦距（图1），当目标物高度变化时，反射光经针孔滤光后在Quad CMOS阵列上形成特征光谱。通过解析光谱峰值波长，系统可计算物距变化量，实现0.1μm级分辨率。相较于传统...
发布时间: 2025 - 03 - 05
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By Aleksandar Nikcevic
泓川科技对市面上非接触激光测量传感器的方案研究报告
泓川科技对市面上非接触激光测量传感器的方案研究报告
一、引言1.1 研究背景与目的在现代工业生产与科学研究中，精确测量物体的尺寸、形状、位置及位移等参数至关重要，其对于保证产品质量、提高生产效率、推动技术创新有着不可或缺的作用。传统接触式测量方法因需与被测物体直接接触，容易对物体表面造成损伤，在面对柔软、易变形、高精度或特殊材质的物体时，测量精度与效率大打折扣。此外，在高速运动物体测量以及复杂环境下的测量任务中，接触式测量方法更是难以满足需求。随着激光技术、光电探测技术以及信号处理技术的迅猛发展，非接触激光测量传感器应运而生。非接触激光测量传感器凭借高精度、高速度、非接触、抗干扰能力强等显著优势，在工业自动化、航空航天、汽车制造、电子半导体、医疗等众多领域得到广泛应用，成为现代测量技术的重要发展方向。本研究旨在深入剖析非接触激光测量传感器的工作原理、关键技术、性能特点以及应用领域，全面评估其在不同场景下的测量精度与可靠性，通过对市场上主流产品的对比分析，为相关行业在选择和应用非接触激光测量传感器时提供科学、系统的参考依据，推动该技术在更多领域的推广与应用，助力产业升级与技术创新。1.2 研究方法与数据来源本研究综合运用了多种研究方法，以确保研究的全面性与深入性。在理论研究方面，广泛查阅国内外相关文献资料，涵盖学术期刊论文、专利文献、技术报告等，深入研究非接触激光测量传感器的工作原理、技术发展历程以及最新研究成果，构建起系统的理论框架...
发布时间: 2025 - 03 - 05
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By Aleksandar Nikcevic
Hot News / 热点新闻
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器
2025 - 09 - 02
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泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户： 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如...
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  • 57
    激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南（下）
    激光位移传感器测量技巧深度解析与应用指南（下）
    2025 - 01 - 14
    四、关键测量技巧4.1 特殊环境测量对策4.1.1 高温环境应对在高温环境中使用激光位移传感器时，需采取有效措施以确保其正常运行和测量精度。将传感头远离热源是一种简单有效的方法。由于距离热源越近，温度越高，在不影响安装及测量精度的前提下，应优先选择可远距离测量的传感头 。在钢铁冶炼厂的高温炉旁，若需测量炉内工件的位置，可选用具有较长测量距离的激光位移传感器，将传感头安装在远离高温炉的位置，既能避免高温对传感器的直接影响，又能实现对工件的准确测量。当测量仪周边温度较规定环境温度略高时，可采用传感头用气洗方式隔热。通过向传感头周围吹拂空气，能够将热量带走，从而将温度降至规定环境温度以下。在玻璃制造车间，熔炉附近的温度较高，可在激光位移传感器的传感头处设置气洗装置，持续向传感头输送冷空气，有效降低传感头的温度，保证传感器的稳定工作。若测量仪的周边温度较高，可采用传感头用外壳或空气隔热的方法。以耐热箱包覆传感头，并向箱内输送空气，使温度控制在测量仪的环境温度范围内。在航空发动机的高温部件测试中，由于部件表面温度极高，可使用陶瓷材料制成的耐热箱将传感头包裹起来，并通过管道向箱内输送冷却空气，确保传感头在高温环境下能够正常工作 。4.1.2 强光反射环境处理在测量反射较强的镜面时，传感头的安装方式至关重要。为获取反射光，需将传感头倾斜角度设定为反射角度α的一半，角度α在激光位移传感器的尺寸上有...
  • 58
    利用对射超声波传感器监测工业生产中单双张重叠问题的技术应用案例
    利用对射超声波传感器监测工业生产中单双张重叠问题的技术应用案例
    2025 - 02 - 01
    一、背景与需求在印刷、包装、金属加工等行业中，材料（如纸张、薄膜、金属薄板等）通过传送带或滚筒输送时，常因机械振动、静电吸附或操作失误导致单张材料与双张材料重叠。若未及时检测，重叠材料可能造成设备卡顿、加工精度下降甚至产品报废。传统的检测方法（如光电传感器或机械触头）易受材料透明度、颜色或表面特性的干扰，而对射式超声波传感器凭借其非接触、高适应性及强抗干扰能力，成为解决此类问题的理想选择。二、对射超声波传感器的工作原理对射式超声波传感器由发射器和接收器组成，发射器发出高频声波（通常40kHz~200kHz），接收器检测穿透材料的声波信号。声波在穿透材料时会发生以下变化：信号衰减：单张材料厚度较薄，声波衰减较小；双张材料因厚度增加，声波能量被吸收或散射更多，接收端信号强度显著降低。飞行时间（ToF）：声波穿透材料的传播时间与材料厚度正相关，双张材料会延长传播时间。通过分析接收信号的强度或传播时间差异，可精准判断材料是否为单张或双张。三、传感器选型与参数优势根据用户提供的传感器参数（HUA单双张检测系列），推荐以下型号及配置：推荐型号：HUA-18GM55-200-3E1（M18尺寸，3路PNP常开输出）关键参数：检测范围：发射器与接收器间距20-60mm，盲区7mm，适应厚度0.01mm~3mm的材料。输出类型：3路开关量输出（支持单双张状态分通道指示）。响应延时：10ms，匹配生产...
  • 59
    带您了解激光位移传感器的原理、应用和由来
    带您了解激光位移传感器的原理、应用和由来
    2023 - 02 - 21
    激光位移传感器是一种用于测量距离和轮廓表面的自动光学传感技术。它的工作原理是发射激光束，激光束被目标表面或区域反射，然后光束返回所需的时间被转换为距离测量。它的主要应用是尺寸计量，可以精确测量长度、距离和粗糙度轮廓。激光位移传感器也用于工业自动化、机器人和机器视觉应用。什么是激光位移传感器？       激光位移传感器是一种用于测量距离和轮廓表面的自动光学传感技术。该系统通过从激光源发射激光来工作。然后，该激光束从目标表面或区域反射回来。然后，光束覆盖距离和返回所花费的时间被转换为距离测量或轮廓。激光位移传感器通常由三个主要部分组成：*激光源*光学探测器*处理器      激光源通常是激光二极管，其波长适合于目标区域及其光学特性。激光二极管产生激光束，该激光束被引导到目标表面或区域上。然后光束被反射回检测器。根据应用，可以用一定范围的脉冲频率调制光束。光束由光学检测器检测。检测器将光转换成电信号，然后将其发送到处理器。然后处理器处理信息并将测量数据发送到数字显示器或计算机。然后，数据可用于进一步分析或控制自动化过程。历史：       激光位移传感器最初是在20世纪70年代开发的，是麻省理工学院研究项目的一部分。这项研究由美国陆军研究实验室和美国空军赖特实验室赞助。该技术最...
  • 60
    深度解析泓川科技HCY系列高速高精光谱共焦传感器性能优势
    深度解析泓川科技HCY系列高速高精光谱共焦传感器性能优势
    2025 - 01 - 09
    一、光谱共焦传感技术解密光谱共焦技术的起源，要追溯到科学家们对传统成像精度局限的深刻洞察。在 20 世纪 70 年代，传统成像在精密测量领域遭遇瓶颈，为突破这一困境，基于干涉原理的光谱共焦方法应运而生，开启了高精度测量的新篇章。进入 80 年代，科研人员不断改进仪器设计，引入特殊的分光元件，如同给传感器装上了 “精密滤网”，精准分辨不同波长光信号；搭配高灵敏度探测器，将光信号转化为精确数字信息。同时，计算机技术强势助力，实现数据快速处理、动态输出测量结果，让光谱共焦技术稳步走向成熟。90 年代，纳米技术、微电子学蓬勃发展，对测量精度要求愈发苛刻。科研团队迎难而上，开发新算法、模型优化测量，减少误差；增设温度控制、机械振动抑制功能，宛如为传感器打造 “稳定护盾”，确保在复杂实验环境下结果稳定可靠，至此，光谱共焦技术成为精密测量领域的关键力量。添加图片注释，不超过 140 字（可选）二、HCY 光谱共焦传感器工作原理（一）核心原理阐释HCY 光谱共焦传感器的核心在于巧妙运用光学色散现象。当内部的白光点光源发出光线后，光线会迅速射向精密的透镜组。在这里，白光如同被解开了神秘面纱，依据不同波长被精准地色散开来，形成一道绚丽的 “彩虹光带”。这些不同波长的光，各自沿着独特的路径前行，最终聚焦在不同的高度之上，构建起一个精密的测量范围 “标尺”。当光线抵达物体表面，会发生反射，其中特定波长的光...
  • 61
    多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器
    多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器
    2025 - 09 - 02
    泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户： 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...
  • 62
    当目标物的反射率发生急剧变化时，激光位移传感器的测量稳定性会受到怎样的影响？
    当目标物的反射率发生急剧变化时，激光位移传感器的测量稳定性会受到怎样的影响？
    2023 - 10 - 20
    当目标物的反射率发生急剧变化时，激光位移传感器的测量稳定性会受到影响。反射率较高的目标物可能会达到光饱和状态，这会导致无法正确检测接收光光点位置，从而影响测量的稳定性。对于反射率较低的目标物，可能会因为接收到的光量不足而无法正确检测接收光光点位置，进而影响测量的稳定性。在这种情况下，激光位移传感器需要根据反射率的变化，将接收光量调整到最佳状态后，才能进行稳定的测量。具体来说，针对反射率较高的目标物，可以减小激光功率和缩短发射时间；针对反射率较低的目标物，可以增大激光功率和延长发射时间。这种方法可以帮助调整激光位移传感器的精度，以适应目标物反射率的变化。然而，调整也并非一个简单的过程，需要考虑到测量反射率急剧变化位置的稳定程度以及使用光量调整功能以外功能时的稳定程度。因此，在实际操作过程中，可能需要多次取样和调整才能获取最佳的测量效果。
  • 63
    LTC系列侧向出光光谱共焦探头（LTCR系列）：狭小空间精密测量的终极解决方案
    LTC系列侧向出光光谱共焦探头（LTCR系列）：狭小空间精密测量的终极解决方案
    2025 - 02 - 17
    泓川科技LTC系列光谱共焦传感器中的侧向出光探头（LTCR系列），凭借其独特的90°出光设计与紧凑结构，彻底解决了深孔、内壁、微型腔体等复杂场景的测量难题。本文深度解析LTCR系列的技术优势、核心型号对比及典型行业应用，为精密制造提供全新测量视角。一、侧向出光探头技术优势1. 空间适应性革命90°侧向出光：光路与探头轴线垂直，避免传统轴向探头因长度限制无法深入狭窄空间的问题。超薄探头设计：最小直径仅Φ3.8mm（LTCR1500N），可深入孔径≥4mm的深孔/缝隙。案例对比：场景传统轴向探头限制LTCR系列解决方案发动机喷油孔内壁检测探头长度＞50mm，无法伸入LTCR1500N（长度85mm，直径Φ3.8mm）直达孔底微型轴承内圈粗糙度轴向光斑被侧壁遮挡LTCR4000侧向光斑精准照射测量面2. 精度与稳定性兼具纳米级静态噪声：LTCR1500静态噪声80nm，线性误差＜±0.3μm，媲美轴向探头性能。抗振动设计：光纤与探头刚性耦合，在30m/s²振动环境下，数据波动＜±0.1μm。温漂抑制：全系温漂＜0.005%FS/℃，-20℃~80℃环境下无需重新校准。3. 多场景安装适配万向调节支架：支持±15°偏转角度微调，兼容非垂直安装场景。气密性封装：IP67防护等级，可直接用于切削...
  • 64
    《泓川科技大讲堂》--通用传感器基础技术知识：原理、类型与应用的深度剖析（上）
    《泓川科技大讲堂》--通用传感器基础技术知识：原理、类型与应用的深度剖析（上）
    2025 - 01 - 14
    一、引言1.1 传感器在现代科技中的重要地位在当今科技飞速发展的时代，传感器作为获取信息的关键设备，已然成为现代科技体系中不可或缺的重要一环。其犹如人类的感官，能够敏锐地感知周围环境的各种物理量、化学量和生物量，并将这些信息转化为电信号或其他便于处理的形式，为后续的分析、决策和控制提供了基础数据。在工业自动化领域，传感器的身影无处不在。以汽车制造为例，生产线上的各类传感器能够实时监测零部件的加工精度、装配位置以及设备的运行状态。通过精确测量工件的尺寸、形状和位置，传感器可以确保每一个零部件都符合严格的质量标准，从而提高产品的一致性和可靠性。压力传感器可以监测液压系统的压力变化，及时发现潜在的故障隐患，保障生产过程的安全稳定。在智能家居领域，传感器让家居环境变得更加智能和舒适。温度传感器能够实时感知室内温度，自动调节空调的运行模式，使室内始终保持在最适宜的温度范围内。而光照传感器则可根据外界光线的强弱，自动控制窗帘的开合以及灯光的亮度，不仅节省了能源，还为用户营造了温馨舒适的居住氛围。传感器在医疗领域的应用也极为广泛，为医疗诊断和治疗提供了有力的支持。在医疗设备中，传感器能够精准测量患者的生理参数，如心电图传感器可实时监测心脏的电活动情况，为医生诊断心脏疾病提供了重要依据。而血压传感器则能准确测量患者的血压值，帮助医生及时了解患者的心血管健康状况。在药物研发过程中，传感器可用于监测药...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户： 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...
泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...
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