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产品名称:

LTM-400激光位移400mm量程400um线性精度,15um重复精度,50Khz响应速度

上市日期: 2025-03-24
Detail
细节展示

核心系列差异

特性

LTM2系列

LTM3系列

LTM5系列

采样速度

5kHz

10kHz

以太网31.25kHz
模拟量50kHz

软件支持

不支持电脑连接

支持TSLaserStudio软件及数据保存

支持TSLaserStudio软件及数据保存

接口类型

RS485/模拟信号(二选一)

以太网+RS485+模拟信号

以太网+RS485+模拟信号




详细参数对比(400mm量程型号)

型号

测量范围

光斑尺寸

重复精度

线性误差

重量

采样频率

核心功能

LTM2-400

400±200mm

Φ250μm

15μm

<±600μm

230g

5kHz

经济型,独立工作

LTM2-400W

400±200mm

Φ250*4500μm

15μm

<±400μm

230g

5kHz

宽光斑优化,更高精度

LTM3-400

400±200mm

Φ250μm

15μm

<±600μm

150g

10kHz

中速采样,支持软件调试

LTM3-400W

400±200mm

Φ250*4500μm

15μm

<±400μm

150g

10kHz

宽光斑+软件调试

LTM5-400

400±200mm

Φ250μm

15μm

<±600μm

150g

50kHz(模拟量)

超高速采样,数据存储

LTM5-400W

400±200mm

Φ250*4500μm

15μm

<±400μm

150g

50kHz(模拟量)

高速+宽光斑优化




产品亮点

  1. LTM2系列

    • 经济实用:无需控制器,独立工作,适合超长距离基础测量(如大型机械结构位移监测)。

    • 宽光斑型号(W型):光斑扩展至4500μm,大幅提升对高反光或粗糙表面的适应性(线性误差优化至<±400μm)。

  2. LTM3系列

    • 中速采样+软件支持:10kHz采样频率,搭配以太网接口,可连接电脑实时调试和数据记录。

    • 超宽光斑(W型):适配复杂表面(如喷涂面、铸造毛坯),减少噪点干扰。

  3. LTM5系列

    • 超高速动态测量:模拟量输出下可达50kHz,适用于高速场景(如机器人动态轨迹追踪)。

    • 数据存储与开发:支持TSLaserStudio软件保存历史数据,并提供C++/C#开发包,便于集成至自动化系统。




共同优势

  • 工业级防护:IP67防护等级,耐粉尘、油污及潮湿环境,适应严苛工业场景。

  • 多接口兼容:支持RS485、模拟量(±10V/4-20mA),M3/M5额外配备以太网,适配复杂工业网络。

  • 低功耗稳定运行:9-36V宽电压输入,功耗仅2.0W,支持长期连续工作。

  • 人机交互便捷:数字屏显+物理按键,实时显示测量值,支持阈值报警设置。




选型建议

  • 基础长距离测量:选择LTM2系列(如LTM2-400W),成本低且宽光斑适配性强。

  • 中端调试需求:LTM3系列(如LTM3-400W)兼顾速度与软件功能,适合产线质检或复杂表面检测。

  • 高端动态监测:LTM5系列(如LTM5-400W)50kHz超高速采样,适配高速自动化产线或科研实验。


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  • 发布时间: 2023 - 12 - 09
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  • 发布时间: 2021 - 09 - 06
    基于调频连续波(FMCW)的相干接收原理,高精度的测距。实现微米级的远距准确测距。通过集成光学原理实现超高精度的测量硅基光电集成技术,一体化的光学封装技术,实现半导体激光器和探测器集成统一光学传感模组。非凡的抗干扰性和稳定性不受材质颜色、环境光等干扰同轴测量无死角轻量、便携无需控制器、放大器等,只一个传感器即可测量。数字化 可与多个开放式现场网络兼容。检测不受限通过物体的表面反射或遮光量进行检测,可检测大多数物体(玻璃、金属、塑料、木料及液体等)。长距离 高功率传感器,轻松进行长距离检测。非接触采用激光非接触测量方法,对被测设备无任何影响且不会产生接触划痕。寿命较长,无需进行维护。同轴回光 支持狭小空间间隙检测。高精度 小光斑可精确检测小微型物体。稳定检测 根据工件设置最优的激光发射功率以及增益。
  • 发布时间: 2021 - 08 - 12
    泓川科技LTC全系列光谱共焦传感器,量程横跨±0.05mm至±25mm,0.02%FS线性精度+30kHz超高速采样,支持Φ1.7μm~Φ400μm三级光斑配置。深孔内壁(LTCR侧向出光)、透明多层测厚(LTC7000S)、超高温场景(200°C定制)全覆盖,适配21kHz高速控制器(LT-CCH)及16通道同步系统。专为半导体晶圆、新能源极片、航空航天精密件、医疗植入物等高端制造领域提供国产高性价比替代方案,重新定义工业检测新标准!
  • 发布时间: 2021 - 04 - 20
    高韧性线缆,配备至机器人时也可放心使用。完全符合 IP67 标准的连接器,在潮湿或粉尘较多的现场环境中也可放心使用,传感头也完全符合 IP67 标准。光量自动调节功能,有效提高光亮调整的灵敏度,自动根据不同被测物的反光度调节激光亮度范围。定制物镜可将不规则的光束消除,同时将畸变的影响降至最低,大幅提高测量系统的线性精度。
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关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
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  • 1
    2023 - 09 - 20
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  • 2
    2025 - 03 - 06
    背景与挑战随着电子封装技术的快速发展,直接镀铜陶瓷基板(DPC)因具备优异的导热性、机械强度及耐高温性能,被广泛应用于大功率LED、IGBT模块等领域。然而,其表面金属镀层的厚度均匀性直接影响器件的散热效率与可靠性。某客户需对一批DPC基板进行全检,要求**在正反面各选取10个金属块(含2个重复基准点)**进行高精度厚度测量,并同步获取表面轮廓与中心区高度数据,以满足严格的工艺质量控制标准。解决方案针对客户需求,我们采用LTC1200系列光谱共焦传感器(配套高精度运动平台与测控软件),设计了一套非接触式三维测厚方案:设备选型量程:±600μm(覆盖金属层典型厚度范围)重复精度:0.03μm(静态,确保基准点数据一致性)线性误差:<±0.3μm(满足亚微米级公差要求)采样频率:10kHz(高速扫描提升检测效率)选用LTC1200B型号传感器(光斑直径约19μm),兼顾测量精度与金属表面反射特性需求,其技术参数如下:搭配亚微米级定位平台,确保扫描路径精确控制。基准点设定以陶瓷基板裸露区域作为基准面,在正反面各设置2个重复测量点,通过传感器实时比对基准高度数据,消除基板翘曲或装夹误差对厚度计算的影响。实施流程数据采集:沿预设路径扫描金属块,同步记录轮廓点云与中心区高度(软件自动拟合最高点作为厚度参考值)。厚度计算:基于公式:\text{金属层厚度} = \text{金...
  • 3
    2023 - 09 - 30
    引言:在搬送薄片材料时,准确辨别材料的单双张对于生产流程的顺利进行至关重要。即使材料的材质发生了变化,我们仍然可以利用非接触传感器实现稳定的检测。本文介绍了两种常用方式:激光位移传感器和超声波传感器,在机械搬运过程中通过测量材料的厚度来判断其单双张状态。主体:1. 激光位移传感器方案:(a)准备工作:安装两个激光位移传感器,使其形成对射式布置。在中间放置一张标准厚度的材料,并通过上位机软件进行校准设定。(b)测量与校准:激光位移传感器通过测量材料的厚度,获得距离总和,并与设定的固定差值进行比较。当机械搬运过程中出现误差导致厚度与之前的距离数据明显不同时,激光位移传感器将发出错误信号,指示材料为双张状态。2. 超声波传感器方案:(a)准备工作:使用对射式超声波传感器,并先安装一张标准材料来校准基准能量。(b)测量与判断:超声波传感器利用能量穿透原理,通过测量接收端收取到的能量来判断材料的状态。当材料为单张时,接收端将收到接近基准值的能量;而当材料为双张或多张时,接收端收到的能量明显小于标准值,此时超声波传感器将发出报警信号。3. 激光位移传感器方案的优势:- 高精度测量:激光位移传感器具有高精度,可以精确测量材料的厚度变化,从而能够准确判断材料的单双张状态。- 实时监测:传感器反应速度快,并可以实时检测材料的厚度变化,确保在搬运过程中能够及时发现错误信号并进行处理。- 非接触式:激光...
  • 4
    2024 - 12 - 22
    引言光谱共焦传感器凭借非接触、高精度、高效率等优势,成为几何量精密测量的前沿技术。本文将从原理到应用,系统解析这一技术的核心价值与发展趋势。一、核心工作原理:当光波成为标尺1.1 光波与位移的精准映射通过色散物镜将宽光谱光源分解为不同波长的光,各波长光在轴向形成阶梯状焦点阵列。当物体表面反射特定波长时,光谱仪捕捉该波长,通过预设的波长-位移对应模型实现亚微米级定位。1.2 关键技术突破轴向色散线性度:通过组合SKIO、H-ZLAF52A等特殊玻璃材料,实现波长与位移判定系数R²0.97的线性关系衍射极限优化:ZEMAX仿真优化后,焦点RMS半径低至1.552μm(文献案例)抗干扰设计:棱镜-光栅分光技术消除谱线弯曲,提升检测稳定性二、核心组件架构组件功能特性技术指标案例宽光谱光源覆盖450-700nm波段色散范围达3.9mm(超大量程型号)色散物镜正负透镜组分离结构2mm量程下数值孔径0.3,FWHM光谱检测仪高速CCD/CMOS传感器线扫描速率达24mm/s,分辨率0.8μm三、扫描方式演进3.1 点扫描(传统方案)优势:单点精度达纳米级局限:10mm线长扫描耗时分钟级,数据重构复杂3.2 线扫描(革新方案)效率提升:单次扫描覆盖24mm线长,较点扫描提速300%工业适配:3mm轴向量程满足多数工业件检测需求四、应用场景全景图4.1 当前主流应用微观检测:半导体晶圆表面...
  • 5
    2025 - 06 - 19
    有!LTM 系列三款国产激光位移传感器满足需求在工业检测领域,量程 1 米、精度误差 1mm、频率 5KHz 以上的激光位移传感器是高端测量的刚需,而国产传感器常因精度或频率不足被进口品牌垄断。无锡泓川科技的 LTM2-800W、LTM3-800W、LTM5-800W 三款产品,不仅全面覆盖上述指标,更以进口品牌一半的成本优势,成为国产替代的优选方案。以下从性能参数、优劣分析、场景适配及成本对比展开详细介绍。一、核心性能参数对比型号LTM2-800WLTM3-800WLTM5-800W参考距离800mm800mm800mm测量范围±500mm(总量程 1000mm)±500mm(总量程 1000mm)±500mm(总量程 1000mm)光斑尺寸450×6000μm450×6000μm450×6000μm重复精度45μm45μm45μm线性误差采样频率5KHz10KHz31.25KHz工业接口485 串口 / 模拟信号(二选一)以太网 / 485 串口 / 模拟信号以太网 / 485 串口 / 模拟信号光源660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW防护等级IP67IP67IP67工作温度0~+50℃0~+50℃0~+50℃功耗约 2.0W约 2.0W约 2.0W二、产品优势分析(一)...
  • 6
    2025 - 01 - 20
    五、应用优势深度解析5.1 提升测量精度与效率光谱共焦传感器在 IC 芯片测量中,能够实现快速、高精度的测量,这一特性极大地提升了生产效率。其工作原理基于独特的光学共焦成像和光谱解析技术,使其能够精准地捕捉到芯片表面的细微特征和尺寸变化。在测量芯片关键尺寸时,如线宽和间距,光谱共焦传感器可以达到亚微米级甚至更高的精度,能够精确测量出极其微小的尺寸偏差,为芯片制造工艺的精细控制提供了有力保障。同时,该传感器具备快速的数据采集和处理能力。在实际生产线上,它可以在短时间内对大量芯片进行测量,大大减少了检测时间。与传统测量方法相比,光谱共焦传感器能够实现自动化、连续测量,无需人工频繁干预,有效提高了生产效率,满足了大规模生产对测量速度和精度的双重要求。 5.2 降低成本与风险采用光谱共焦传感器进行 IC 芯片测量,有助于显著降低生产成本与风险。一方面,高精度的测量能够有效减少因尺寸偏差或其他质量问题导致的废品率。在芯片制造过程中,废品的产生不仅意味着原材料的浪费,还会增加后续的返工成本和时间成本。光谱共焦传感器通过精确检测,能够及时发现芯片制造过程中的问题,帮助制造商在早期阶段采取纠正措施,避免生产出大量不合格产品,从而降低了废品率,节约了生产成本。另一方面,通过对芯片制造过程的实时监测和反馈,光谱共焦传感器能够帮助制造商优化生产工艺,提高生产效率,减少不必要的资源浪费。例如,在...
  • 7
    2022 - 12 - 03
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  • 8
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