无锡泓川科技 LT-R 系列反射膜厚仪基于光干涉原理，
采用高强度氘灯（190-400nm）与卤素灯（350-2500nm）组合光源，
光谱覆盖紫外可见光到近红外范围。
适配探头包括 LT-IVP-T10-UV-VIS（弥散光斑）、
LT-IRVP-TVF（聚焦光斑）等型号，不同探头参考距离、测量角度、
光斑直径等参数有所差异。其重复精度达 0.05nm，
准确度为 <±1nm 或 ±0.3%（取较大值），
采样频率最高 100Hz（视求解参数复杂度而定），
测厚范围约 20nm~50μm（折射率 1.5 时）。
具备抗干扰能力强、纳米级测量精度等特点，
支持自定膜结构测量、多层透明测厚、硬薄膜测量等，
可应用于液晶显示膜厚测量、喷涂膜厚测量、光伏硅片 Poly 层膜厚测量、
精密涂布膜层测厚等场景。测控软件为 WLIStudio，
提供二次开发包 WLI-SDK，工作温度 10-40℃，
相对湿度 20%-85% RH（无冷凝），电源电压 220V±20V 50Hz AC，
最大功率 50W。