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激光位移传感器在建材板厚度及宽度测量中的应用技术方案

2023 - 09 - 30

1. 引言：随着科技的迅猛发展和市场需求的不断提升，对建材板的厚度与宽度尺寸精确测量变得越来越关键。因此，选用高精度激光位移传感器来实现，既可以提高产量，又能保证质量。2. 技术原理：激光位移传用光干涉测量技术，发出红外激光束并接收反射回仪器的光阴影，通过光敏元件将其转换成电信号，经过放大处理后输出相应的标准信号来实现位移的测量。其中，红外激光束可以达到丝级别的精度，准确度极高。3. 技术方案：- 挤出流程结束后，立即利用激光位移传感器进行厚度和宽度的测量，效率高；厚度调整功能的使用，可以显著缩短安装和产品更换所需的工时。- 高精度激光位移传感器设置于生产线上，根据实际产品的厚度和宽度需要，选定合适的光束焦距和安装位置。传感器投射出激光束，反射回传感器的发射率会随着测量对象的位移变化而变动。- 传感器内部的电路系统将接收到的电信号进行处理，根据预设的参数，输出标准信号。- 通过对数据的实时监测和分析，可以找出生产中存在的问题并及时进行调整，以确保建材板的质量。4. 应用行业：因为对射的高精度激光位移传感器具有精度和效率高、可靠性强等优点，被广泛用于建材、塑料制品、金属材料、石材加工、生物医疗、微电子等范围。特别是在板材生产等领域，可以有效提高产品质量与生产效率，满足市场对精密制造的需求。结论：利用激光位移传感器在建材板的厚度和宽度测量中，可以实现精准测量，促进生产效率，同时保证产品...
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光谱共焦位移传感器制造技术详解

2024 - 12 - 11

摘要光谱共焦位移传感器是一种高精度、非接触式的光电位移传感器，广泛应用于光学镜片检测、半导体制造、医疗器械生产等多个领域。本文详细阐述了光谱共焦位移传感器的制造技术，包括生产技术细节、工艺流程以及需要注意的具体事项，为相关领域的研发和生产提供参考。引言随着精密仪器制造业的发展，对于工业生产测量的要求越来越高。光谱共焦位移传感器以其高精度、非接触式、实时无损检测等特性，成为解决这一问题的有效手段。本文旨在详细介绍光谱共焦位移传感器的制造技术，包括关键零部件的选择、生产工艺流程以及制造过程中需要注意的事项。一、光谱共焦位移传感器的基本原理光谱共焦位移传感器由光源、分光镜、光学色散镜头组、小孔以及光谱仪等部分组成。传感器通过色散镜头将位移信息转换成波长信息，再利用光谱仪进行光谱分解，反解得出被测位移。其中，色散镜头作为光学部分完成了波长和位移的一一映射，是传感器的核心部件。二、关键零部件的选择1. 光源选择白光LED作为光源，其光谱分布范围广泛，能够满足不同测量需求。同时，白光LED具有寿命长、稳定性好等优点，适合用于工业生产环境。2. 色散镜头色散镜头是光谱共焦位移传感器的关键部件，其性能直接影响传感器的测量精度和分辨率。在选择色散镜头时，需要考虑其轴向色散与波长之间的线性度、色散范围以及镜头材料等因素。3. 光谱仪光谱仪用于接收通过小孔的光信号，并确定其波长，从而实现位移分辨。在选择...
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国产替代深度解析：泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 激光位移传感器的技术对比与应用价值

2025 - 04 - 13

在工业自动化领域，精密测量是保障产品质量与生产效率的核心环节。泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 作为两款主流的中短距离激光位移传感器，在电子制造、精密加工、自动化检测等领域应用广泛。本文将从技术参数、核心性能、应用场景等维度展开深度对比，揭示 HC8-050 在特定场景下的显著优势及高性价比。一、基础技术参数：精准定位性能差异参数HC8-050HG-C1050差异分析测量范围50±15mm（35-65mm）50±15mm（35-65mm）两者一致，覆盖中短距离精密测量场景。重复精度15μm30μmHC8-050 的重复精度比 HG-C1050 提升 50%，适用于对微小位移敏感的精密检测（如芯片封装、精密轴承测量）。光点直径70μm约 70μm光斑尺寸相同，但 HC8-050 通过光学优化，在低反射率表面的光斑识别能力更强。线性度±0.1%F.S.±0.1%F.S.线性度一致，满足工业级测量精度要求。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1050 理论温漂略优，但 HC8-050 通过硬件散热与软件温补算法，实际在高温环境（如 80℃）下稳定性更优。工作温度-10~50℃（支持 80℃长期使用）-10~45℃HC8-050 突破行业常规，通过特殊设计可在 80℃高温环境稳定运行，而 ...
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光学测量传感器在存储硬盘HDD检测中的应用研究报告（下）

2025 - 01 - 17

五、光学传感器测量技术5.1 高精度测量技术5.1.1 关键技术突破在存储硬盘 HDD 的检测领域，高精度测量技术的突破犹如一颗璀璨的明星，照亮了整个行业的发展道路。以基恩士 SI 系列微型传感头型分光干涉式激光位移计为代表，其在高精度测量技术方面实现了令人瞩目的突破。该系列产品成功打造出世界超一流的微型传感头，这一创新成果堪称技术领域的杰作。SI 系列的微型传感头采用了独特的光纤结构，这一结构设计犹如为传感器赋予了强大的 “魔力”。完全无电子部件的设计，使得传感器彻底摆脱了测量仪本身发热所产生的偏移或电磁干扰的困扰。在传统的测量设备中，测量仪发热往往会导致测量结果出现偏差，而电磁干扰更是如同隐藏在暗处的 “幽灵”，难以被彻底隔离和消除，严重影响测量的精度。但 SI 系列通过这一创新设计，成功避开了这些难题，为实现超高精度测量奠定了坚实的基础。其尺寸小、重量轻、耐高温的特点，更是为其在复杂的测量环境中施展 “身手” 提供了极大的便利。小巧的尺寸和轻盈的重量，使得它在选择安装区域时几乎不受限制，能够灵活地安装在传统设备无法触及的狭小空间内。在一些对空间要求极为苛刻的 HDD 生产环节中，SI 系列能够轻松找到合适的安装位置，实现对关键部件的精准测量。而耐高温的特性，则保证了传感器在高温环境下依然能够稳定工作，确保测量结果的准确性和可靠性。 5.1.2 对 HDD 检测的意义...
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泓川科技HC26激光位移传感器：高性价国产比替代奥泰斯CD33的优选方案

2025 - 06 - 09

在工业精密测量领域，无锡泓川科技的HC26系列激光位移传感器凭借出色的性能参数与显著的成本优势，成为替代奥泰斯CD33系列的高竞争力选择。以下从核心性能、特殊应用适配性及成本三方面进行对比分析：一、核心性能参数对标（HC26 vs CD33）参数泓川HC26系列奥泰斯CD33 (行业标准)HC26优势重复精度2μm (30mm款) → 50μm (195mm款)通常1~3μm (高端款)接近主流精度线性度±0.1%F.S.±0.05%~0.1%F.S.达到同级水平响应时间最快333μs (多档可调)通常500μs~1ms速度更快输出接口RS485(Modbus RTU)+模拟量(4-20mA/0-10V)类似接口组合同等兼容性防护等级IP67 (防尘防水)IP67/IP65同等工业防护温度特性0.05%F.S/℃0.03~0.05%F.S/℃稳定性接近注：HC26提供4种基准距离型号（30/50/85/195mm），覆盖小量程高精度（±4mm@30mm）至大量程（±99.98mm@195mm）场景，满足CD33主流应用范围。二、核心替代优势：全系支持正反射安装HC26系列所有型号均内置正反射光路设计，解决CD33在特殊材质检测中的痛点：镜面材料：通过正反射接收强光信号，避免漫反射信号微弱导致的测量失效。透明材质（如玻璃、薄...
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突破精度极限：LTC100光谱共焦位移传感器——国产高精度测量的新标杆30nm精度

2024 - 11 - 20

在当今精密制造与检测领域，对微小尺寸变化的精确测量需求日益增长。特别是在半导体制造、微纳加工、光学元件检测等高端应用中，对测量误差的严格要求往往达到纳米级。面对这一挑战，国内自主研发的LTC100光谱共焦位移传感器以其卓越的性能脱颖而出，不仅实现了30nm以下的测量误差，还保证了光斑直径小于2μm，为高精度测量领域树立了新的国产标杆。技术亮点：超高精度测量：LTC100采用先进的光谱共焦技术，通过精确控制光源发射的多波长光束与被测物体表面反射光之间的干涉现象，实现位移的高精度测量。其核心算法通过复杂的光谱分析与相位解调技术，有效消除了环境干扰和系统误差，确保测量误差稳定控制在30nm以下。微小光斑设计：传感器内置的精密光学系统采用高数值孔径物镜，结合优化的光束整形技术，实现了小于2μm的光斑直径，使得在微小结构或特征上的测量成为可能，显著提高了测量的空间分辨率。测试数据与算法公式：LTC100的性能验证基于严格的实验室测试与现场应用反馈。以下为其关键测试数据：线性度：在0-10mm测量范围内，线性偏差小于±5nm，确保测量的稳定性和可靠性。重复性：连续测量同一位置100次，标准差小于10nm，证明其高重复性和一致性。分辨率：理论上可达0.1nm，实际测量中受环境因素影响，但依旧保持在1nm左右，远超行业平均水平。核心算法公式简述如下：d=2λ0⋅2πΔϕ其中，d为被测位移...
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泓川科技 LTP 系列激光位移传感器全国产化制造流程细节全披露

2025 - 06 - 22

一、国产化背景与战略意义在全球供应链竞争加剧的背景下，激光位移传感器作为工业自动化核心测量部件，其国产化生产对打破技术垄断、保障产业链安全具有重要战略意义。泓川科技 LTP 系列依托国内完整的光学、电子、机械产业链体系，实现了从核心零部件到整机制造的全流程国产化，彻底解决了接口卡脖子问题，产品精度与稳定性达到国际先进水平，同时具备更强的成本竞争力与定制化服务能力。二、核心部件全国产化组成体系（一）光学系统组件激光发射单元激光二极管：采用深圳镭尔特光电 655nm 红光 PLD650 系列（功率 0.5-4.9mW）及埃赛力达 905nm 红外三腔脉冲激光二极管，支持准直快轴压缩技术，波长稳定性 ±0.1nm，满足工业级高稳定性需求。准直透镜：选用杭州秋籁科技 KEWLAB CL-UV 系列，表面粗糙度光学滤光片：深圳激埃特光电定制窄带滤光片，红外截止率 99.9%，有效消除环境光干扰。激光接收单元光电探测器：上海欧光电子代理 OTRON 品牌 PSD 位置敏感探测器，分辨率达 0.03μm（如 LTPD08 型号），北京中教金源量子点探测器正在实现自主替代。聚焦透镜组：福州合创光电高精度分光棱镜，偏振消光比 1000:1，配合广州明毅电子阳极氧化支架，确保光路同轴度≤5μm。（二）电子电路组件信号处理模块微处理器：龙芯中科 3A5000 工业级芯片，支持 - 40℃...
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基于非接触传感器的材料单双张检测方案

2023 - 09 - 30

引言：在搬送薄片材料时，准确辨别材料的单双张对于生产流程的顺利进行至关重要。即使材料的材质发生了变化，我们仍然可以利用非接触传感器实现稳定的检测。本文介绍了两种常用方式：激光位移传感器和超声波传感器，在机械搬运过程中通过测量材料的厚度来判断其单双张状态。主体：1. 激光位移传感器方案：（a）准备工作：安装两个激光位移传感器，使其形成对射式布置。在中间放置一张标准厚度的材料，并通过上位机软件进行校准设定。（b）测量与校准：激光位移传感器通过测量材料的厚度，获得距离总和，并与设定的固定差值进行比较。当机械搬运过程中出现误差导致厚度与之前的距离数据明显不同时，激光位移传感器将发出错误信号，指示材料为双张状态。2. 超声波传感器方案：（a）准备工作：使用对射式超声波传感器，并先安装一张标准材料来校准基准能量。（b）测量与判断：超声波传感器利用能量穿透原理，通过测量接收端收取到的能量来判断材料的状态。当材料为单张时，接收端将收到接近基准值的能量；而当材料为双张或多张时，接收端收到的能量明显小于标准值，此时超声波传感器将发出报警信号。3. 激光位移传感器方案的优势：- 高精度测量：激光位移传感器具有高精度，可以精确测量材料的厚度变化，从而能够准确判断材料的单双张状态。- 实时监测：传感器反应速度快，并可以实时检测材料的厚度变化，确保在搬运过程中能够及时发现错误信号并进行处理。- 非接触式：激光...

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蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...

泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

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