行业新闻 - 无锡泓川科技有限公司

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专业从事激光位移传感器，激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司

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如何在仓储物流锂电烟草等行业实现自动化生产的安全防护？

2022 - 12 - 01

在烟草分级及仓储环节中有大量的自动化设备，比如高速往复运动的穿梭车堆垛机等，如何建立完善的安全预防措施，保障作业人员的人身安全是企业在思考的方向，我们在烟草工业内部系统里面已经积累了众多的成功案例，我们会通过机械安全控制以及电器这三个维度来帮助企业进行评估，具体的改造场景有，立库输送管道出入口防护百度极速可在经过现场评估后我们会给客户出具评估报告和推荐的安全整改。机械设备，例如马舵机，泄漏机缠绕机等在快消品行业是广泛存在的，特别是码作机器，经常需要操作人员频繁介入该区域应用的工业机器人运行速度快存在着较高的安全隐患，在转运站码垛技术入口，经常采用一套光幕和光电传感器来实现屏蔽功能，从而实现人物分离，在这个应用中，以物体在传中带上面时，车场光电传感器，从而激活，屏蔽功能，当你为触发屏蔽功能很简单，有些操作人员会拿纸箱或者其他东西遮挡这个光电传感器，从而很容易就操纵了这个屏蔽功能，存在着很大的安全隐患，针对这个问题，我们开发出创新高效的是入口防护替代方案，智能门控系统，无锡屏蔽传感器就和实现pp功能，这项专利技术是基于。专利技术是激光幕，使出入口防务变得更加高效...
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涂布行业目前主流的非接触式测厚方案一览

2023 - 09 - 11

非接触测量涂布厚度的行业报告摘要：本报告将介绍非接触测量涂布厚度的行业应用场景及解决方案。涂布厚度的准确测量在多个行业中至关重要，如带钢、薄膜、造纸、无纺布、金属箔材、玻璃和电池隔膜等行业。传统的测量方法存在一定的局限性，而非接触测量技术的应用可以提供更准确、高效的测量解决方案。本报告将重点介绍X射线透射法、红外吸收法和光学成像测量方法这三种主要的非接触测量解决方案，并分析其适用场景、原理和优势。引言涂布厚度是涂覆工艺中的一个重要参数，对于保证产品质量和性能具有重要意义。传统的测量方法，如接触式测量和传感器测量，存在一定局限性，如易受污染、操作复杂和不适用于特定行业。而非接触测量方法以其高精度、实时性和便捷性成为行业中的理想选择。行业应用场景涂布厚度的非接触测量方法适用于多个行业，包括但不限于以下领域：带钢：用于热镀锌、涂覆和镀铝等行业，对涂层和薄膜的厚度进行测量。薄膜：用于光学、电子、半导体等行业，对各种功能薄膜的厚度进行测量。造纸：用于测量纸张的涂布、涂胶和覆膜等工艺中的厚度。无纺布：用于纺织和过滤行业，对无纺布的厚度进行测量。金属箔材：用于食品包装、电子器件等行业，对箔材的厚度进行测量。玻璃：用于建筑和汽车行业，对玻璃的涂层厚度进行测量。电池隔膜：用于电池制造行业，对隔膜的厚度进行测量。解决方案一：X射线透射法X射线透射法是一种常用的非接触涂布厚度测量方法，其测量原理基于射线...
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同轴测量利器：泓川科技国产LTPD08与基恩士LK-G08分体式激光位移传感器性能全解析

2025 - 03 - 04

一、核心参数对比表参数项LK-G08（基恩士）LTPD08（泓川科技国产）参考距离8 mm8 mm检测范围±0.8 mm±0.8 mm线性度±0.05% F.S.±0.03% F.S.重复精度0.02 μm0.03 μm采样频率20 μs1 ms（6档可调）6.25 μs1 ms（多档可调）激光类别1类（JIS C6802）2类（安全等级更高）光源功率0.3 mW0.5 mW（可定制更高功率）防护等级未标注IP67工作温度+10+40°C0+50°C（可定制-4070°C）通讯接口未标注RS485、TCP/IP、开发包支持供电电压-DC 936V（±10%波动兼容）重量245 g213 g二、性能差异深度解析1. 测量性能精度与速度： LK-G08在重复精度（0.02μm）上略优，适合超精密场景；而LTPD08的线性度（±0.03% F.S.）更优，且在采样频率上支持最高6.25μs（缩小量程时可达160kHz），动态响应能力更强。激光适应性： LTPD08提供405nm蓝光版本可选，可应对高反光或透明材质测量，基恩士仅支持655nm红光。2. 环境适应性防护等级： LTPD08的IP67防护显著优于未标注防护的LK-G08，适...
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光谱共焦传感器在激光隐切技术（激光隐形切割）晶圆切割中发挥了哪些作用？

2023 - 09 - 25

由于半导体生产工艺的复杂性和精密性，对晶圆切割的技术要求极高，传统的机械切割方式已经无法满足现代电子行业的需求。在这种情况下，光谱共焦位移传感器配合激光隐切技术（激光隐形切割）在晶圆切割中发挥了重要作用。以下将详细介绍这种新型高效切割技术的应用案例及其优势。原理：利用小功率的激光被光谱共焦位移传感器设定的预定路径所导，聚焦在直径只有100多纳米的光斑上，形成巨大的局部能量，然后根据这个能量将晶圆切割开。光谱共焦位移传感器在切割过程中实时检测切口深度和位置，确保切口的深广和位置的精确性。激光隐切与光谱共焦位移传感器结合的应用案例：以某种先进的半导体制程为例，晶圆经过深刻蚀、清洗、扩散等步骤后，需要进行精确切割。在这个过程中，首先，工程师根据需要的切割图案在软件上设定好切割路径，然后切割机通过光谱共焦位移传感器引导激光按照预定的路径且此过程工程师可以实时观察和测量切口深度和位置。优点：这种技术最大的优势就是它能够实现超微细切割，避免了大功率激光对芯片可能会带来的影响。另外，因为切割的深度和位置可以实时调控，这法也非常具有灵活性。同时，由于使用光谱共焦位移传感器精确控制切割的深度和位置，所以切割出来的晶圆表面平整，质量更好。总的来看，光谱共焦位移传感器配合激光隐切在晶圆切割中的应用，不仅提升了生产效率，减少了废品率，而且大幅度提升了产品质量，对于当前和未来的半导体行业都将是一个革新的技...
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非接触式激光传感器在生产线上的应用有哪些优势？

2024 - 03 - 05

非接触式激光位移传感器在生产线上的应用具有多方面的优势，下面将从精度、速度、可靠性、灵活性和安全性等方面进行逐一分析，并通过具体的应用场景来说明其应用价值。同时，还会与传统的接触式传感器进行比较，以突显非接触式激光位移传感器的独特优势。精度：非接触式激光位移传感器采用激光三角测量法，具有极高的测量精度。例如，在半导体制造过程中，需要精确控制薄膜的厚度，非接触式激光位移传感器可以实现微米级的测量精度，从而确保产品质量。相比之下，传统接触式传感器可能会因为接触力度的不同而影响测量精度。速度：非接触式激光位移传感器具有快速响应的特点，可以在生产线上实现高速测量。例如，在包装机械中，需要实时监测包装材料的位置和速度，非接触式激光位移传感器可以迅速捕捉到这些变化，从而确保包装过程的顺利进行。而传统接触式传感器可能会因为接触摩擦等因素而影响测量速度。可靠性：非接触式激光位移传感器无需与目标物体直接接触，因此可以避免因摩擦、磨损等因素导致的传感器损坏。此外，非接触式传感器还具有较好的抗干扰能力，可以在恶劣的生产环境中稳定工作。相比之下，传统接触式传感器更容易受到环境因素的影响而出现故障。灵活性：非接触式激光位移传感器可以适应不同的测量需求，通过调整激光发射角度、接收透镜焦距等参数，可以实现不同距离、不同角度的测量。此外，非接触式传感器还可以与计算机、PLC等设备进行连接，实现自动化控制和数据处理...
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泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 国产激光位移传感器替代进口基恩士 IL-S025 的技术可行性研究

2025 - 03 - 27

1. 引言在工业自动化领域，激光位移传感器是实现高精度非接触测量的核心器件。基恩士 IL-S025 作为市场主流产品，以其 1μm 重复精度和稳定性能著称。然而，随着国产传感器技术的突破，泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 型号凭借更高的性能参数和经济性，为用户提供了新的选择。本文将从技术参数、性能表现、应用场景等方面，深入对比分析两者的替代可行性。 2. 核心技术参数对比参数基恩士 IL-S025泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W对比结论重复精度1μm0.25μm（LTM3-030）/ 0.25μm（LTM3-030W）LTM3 系列更优（4 倍精度提升）线性误差±0.075% F.S.（±5mm 范围）LTM3-030W 更优（接近 IL-S025）测量范围±5mm（参考距离 25mm）±5mm（参考距离 30mm）等效采样频率3kHz（采样周期 0.33ms）10kHzLTM3 系列更优（3倍速度提升）光斑尺寸25×1200μm（线性光斑）Φ35μm（M3-030）/ Φ35×400μm（M3-030W）LTM3 系列光斑更小（点光斑更聚焦）光源类型660nm 激光（Class 2）655nm 激光（Class 2）等效接口配置需外接放大器单元（支持 EtherNet/IP 等）...
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激光测量技术在（ADAS）驾驶辅助系统的应用案例（二）

2025 - 01 - 16

四、彩色激光同轴位移计应用实例洞察4.1 镜面相关测量4.1.1 镜面的倾斜及运动检测在众多光学设备以及对镜面精度要求极高的工业场景中，准确检测镜面的倾斜及运动状态是确保设备正常运行和产品质量的关键环节。彩色激光同轴位移计 CL 系列在这一领域展现出了卓越的性能。该系列位移计主要基于同轴测量原理，其独特之处在于采用了彩色共焦方式。在工作时，设备发射出特定的光束，这些光束垂直照射到镜面上。由于镜面具有良好的反射特性，光束会被垂直反射回来。CL 系列位移计通过精确分析反射光的波长、强度以及相位等信息，能够精准计算出镜面的倾斜角度以及运动的位移变化。在实际应用场景中，以高端投影仪的镜头镜面检测为例。投影仪镜头镜面的微小倾斜或运动偏差都可能导致投影画面出现变形、模糊等问题，严重影响投影效果。使用 CL 系列彩色激光同轴位移计，在投影仪生产线上，对每一个镜头镜面进行实时检测。当镜面发生倾斜时，位移计能够迅速捕捉到反射光的变化，并通过内置的算法立即计算出倾斜角度。一旦检测到倾斜角度超出预设的标准范围，系统会及时发出警报，提示操作人员进行调整。对于镜头镜面在使用过程中的微小运动，该位移计同样能够敏锐感知，并将运动数据精确反馈给控制系统，以便对投影画面进行实时校正，确保投影质量始终保持在最佳状态。 4.1.2 MEMS 镜倾斜检测在微机电系统（MEMS）领域，MEMS 镜作为核心部件，其...
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泓川科技 LTC 光谱共焦传感器：全系列 200℃耐高温定制，突破高温测量精度瓶颈

2025 - 04 - 08

在高温工业环境中，精密测量设备的稳定性与精度始终是行业难题。传统传感器在高温下易出现信号漂移、材料老化等问题，导致测量数据失真，甚至设备故障。作为工业测量领域的创新者，泓川科技推出的 LTC 光谱共焦传感器系列，突破性实现全型号 200℃耐高温定制，以 “精度不妥协、性能无衰减” 的核心优势，为高温场景测量树立新标杆，成为替代基恩士等进口品牌高温版本的理想之选。一、全系列耐高温定制：200℃环境下精度如初，打破行业局限区别于市场上仅部分型号支持高温的传感器，泓川科技 LTC 系列全系产品均可定制 200℃耐高温版本，涵盖 LTC100B、LTC400、LTC2000、LTCR 系列等数十款型号，满足从微米级精密测量到超大范围检测的多样化需求。通过材料升级与结构优化：核心部件耐高温设计：采用航空级耐高温光学元件及特殊封装工艺，确保光源发射、光谱接收模块在 200℃长期运行下无热漂移，重复精度保持 3nm-850nm（依型号），线性误差≤±0.03μm 起，与常温环境一致。耐高温光纤传输：标配专用耐高温光纤，可承受 200℃持续高温，抗弯曲性能提升 30%，有效避免传统光纤在高温下的信号衰减与断裂风险，保障长距离测量信号稳定。相较基恩士等品牌仅部分型号支持高温（通常最高 150℃且精度下降 10%-20%），泓川 LTC 系列实现温度范围、型号覆盖、精度保持三大突破，成为高温...

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多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...

泓川科技的光学楞镜如何解决光谱共焦传感器在狭小空间中大量程测量的难题？ 2025 - 08 - 12 在半导体芯片制造、精密电子组装等高端工业场景中，一个棘手的矛盾始终存在：一方面，设备内部空间日益紧凑，毫米级的安装高度都可能成为 “禁区”；另一方面，随着产品结构复杂化，对测量量程的需求不断提升，5mm 以上的大量程检测已成为常态。如何在狭小空间内实现大量程精密测量？无锡泓川科技给出了突破性答案 ——光学转折镜，以创新设计让光谱共焦传感器的测量方向 “直角转向”，既节省安装空间，又兼容大量程需求，重新定义精密测量的空间可能性。传统方案的痛点：空间与量程难以两全在精密测量领域，侧出光传感器曾是狭小空间的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作为 90° 侧向出光型号，凭借紧凑设计广泛应用于深孔、内壁等特征测量。但受限于结构设计，其量程多集中在 2.5mm 以内（如 LTCR4000 量程为 ±2mm），难以满足半导体晶圆厚度、大型精密构件高度差等大量程场景的需求。若选择传统端面出光的大量程传感器（如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm），虽能覆盖测量需求，却因轴向出光设计需预留足够安装高度，在半导体设备的密闭腔室、精密仪器的紧凑模组中 “寸步难行”。空间与量程，似乎成了不可调和的矛盾。光学转折镜：让大量程探头 “直角转身”，释放空间潜力泓川科技创新研发的光学转折镜...

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