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1nm重复精度的白光干涉测厚仪LTS系列，可测厚度范围1-100um

2023 - 12 - 09

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带可见红色指引光的5Mhz高频激光测振传感器

2021 - 09 - 06

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光谱共焦位移传感器/同轴光位移传感器LT-C系列可替代基恩士CL-3000系列

2021 - 08 - 12

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高速高精度激光位移传感器LTP系列可替代keyence基恩士LK-G系列

2021 - 04 - 20

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纳米级分辨率超高精度激光干涉测距仪

2024 - 08 - 09

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微型数显的激光位移传感器HC16系列可替代OPTEX奥泰斯CD22系列

2019 - 07 - 07

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Case 光谱共聚焦

S3000在铝型材切割机的安全应用

日期： 2018-01-31

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S3000在铝型材切割机的安全应用

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Case / 相关推荐

基于国产泓川 LTC3000 光谱共焦传感器的手机相机镜头外观扫描测量案例

2025 - 08 - 30

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一、案例背景与核心测试需求手机相机镜头模组（以某型号 5P 光学镜头为例）的多镜片安装精度直接决定成像质量 —— 镜片间高度差过大会导致光路偏移，引发画面模糊、畸变；安装深度偏差超出阈值会改变焦距，影响自动对焦性能；镜筒与镜片的配合缝隙过大则易进灰、产生杂散光，甚至导致镜片松动。本案例针对该 5P 镜头模组的外观关键参数展开测量，具体需求如下：镜片间高度差：相邻镜片（如 1# 镜片与 2# 镜片、...

泓川科技 LTC7000 光谱共焦传感器在多晶硅太阳能电池厚度测量中的应用案例及技术科普

2025 - 08 - 06

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一、多晶硅太阳能电池厚度：发电效率与柔性的平衡艺术多晶硅太阳能电池作为光伏市场的主流产品，其厚度是影响性能的核心参数 —— 既需满足高效发电，又要适应柔性场景的需求，这种 "平衡" 背后是材料特性与工程技术的深度耦合。1. 厚度与发电效率：并非越厚越好的 "倒 U 型" 关系多晶硅太阳能电池的发电效率依赖于光吸收能力与载流子收集效率的协同。当厚度较小时（如＜...

基于泓川科技LTC4000F激光位移传感器的凸面镜面 3D 轮廓扫描技术案例

2025 - 07 - 13

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一、方案背景与需求凸面镜面作为光学系统中的关键元件，其 3D 轮廓精度直接影响光学性能（如成像质量、光路偏转精度）。传统接触式测量易划伤镜面，而普通光学测量受限于角度范围和量程，难以覆盖凸面的曲面变化（大段差、大曲率）。针对这一需求，本方案采用LTC4000F 光谱共焦传感器搭配LT-CCS 单通道控制器，利用其超大测量角度、超大量程及高精度特性，实现凸面镜面 3D 轮廓的非接触式精确扫描。二、方...

泓川科技光谱共焦位移传感器在医用玻璃瓶底倾斜度检测中的创新应用

2025 - 06 - 05

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一、行业挑战与泓川科技解决方案在医用玻璃瓶生产领域，透明 / 茶色瓶底的倾斜度检测一直是技术难点：传统接触式传感器（如电感式）因物理接触易划伤瓶底，且采样频率低（≤2kHz），无法满足高速产线需求；激光位移传感器则因光穿透性问题，对透明材料测量失效。泓川科技凭借 LTC7000 系列光谱共焦位移传感器与 LT-CPS/LT-CPS-L 控制器的创新组合，突破了上述瓶颈，为医用玻璃瓶质量管控提供了非...

手机油墨涂刷工艺高精度测量：泓川科技光谱共焦位移传感器应用方案

2025 - 06 - 04

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一、工艺挑战与技术需求在手机制造领域，油墨涂刷工序需完成 7 次精密涂布，单次涂层厚度控制在微米级（典型值 50-200μm），且要求各层平整度误差≤±5μm。传统接触式测量存在划伤风险，而普通光学传感器因光能利用率低（0.1% F.S/°C），难以满足高速在线全检需求。泓川科技基于LTC400 系列光谱共焦位移传感器与LT-CPS 控制器的组合方案，以0.012μm 静态重复...

光谱共焦传感器在透明玻璃材料中测厚的三大应用-透明瓶测厚，玻璃管测厚，柔性玻璃测厚

2025 - 05 - 21

点击次数: 37

一、玻璃管管壁单边测厚应用场景适用于透明玻璃管（如医用输液管、实验室玻璃器皿）的管壁厚度快速检测，尤其适合小管径、薄壁结构的单边非接触式测量。测试方案设备配置传感器：LTC7000S 激光位移传感器（聚焦光斑 Φ25μm，适合微小尺寸测量）。控制器：LT-CPF 系列控制器（单通道模式，采样频率≥1Hz，满足每秒 1 次数据采集需求）。测量模式：折射率模式（默认 K9 光学玻璃折射率，n=1.51...

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浅谈条码阅读器的冗余功能作用

2022 - 12 - 05

今天我们讨论的是条码阅读器的性能冗余，高性能条码阅读器有哪些优势呢？有时在使用中条码阅读器在调试时。不能很好的对准。或者条码阅读器在使用一段时间后出现故障和校准错误。纸箱和包裹也可能出现大幅度变形或者倾斜。或者定义范围不合适。或者超出质量标准，甚至有时还会达到，没有达到标准的class a，条码标准。例如条码印刷不清晰或者褪色。在所有的这种条件情况下，我们的条码阅读器的性能冗余就派上用场了。条码阅读器达到参数限制时。通常需要性的目的，也就是说即使阅读条件不在标准范围内，足够高的读取质量也能解决这个问题。即使在极端条件下，我们专门开发的光学和模拟电子装置也能可靠读取条码信息。我给大家演示一下，在这个简单的装置中，条码阅读器通过以太网连接到PC，可以使用web对口激活调节模式，然后通过图表显示质量，如果条码印刷质量较好，清洁角度高达±30度，也能保证实现可靠性，但您可以看到我们产品的检测范围远远超过低级的限制。我们将这个产品功能，称为性能荣誉，该功能可以实现非常高的录取质量和应用可靠性。您在应用中遇到哪些问题呢？请联系我们。
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关于光谱共焦位移传感器的暗校准（DARK）的步骤方式

2024 - 01 - 21

光谱共焦位移传感器是一种利用光谱干涉测量物体位移和形变的高精度测量设备。为了确保测量的准确性和稳定性，暗校准（DARK）操作的执行及其有效掌握是至关重要的。首先，我们需要明确什么时候需要进行暗校准。主要场景包括系统重新连接、环境温度变动10℃以上以及传感器图像出现异常跳动起伏等情况。对于这些情况，都建议重新进行暗校准操作，以修正任何可能的误差。暗校准操作的具体流程如下：1. 清洁光纤：在开始进行暗校准之前，务必要清洁光纤端，以消除灰尘和油脂的干扰。这是因为这些杂质会反射光线，增加背景光的影响。2. 插牢光纤：正确并且稳固地连接光纤，避免由于连接处的反射，导致背景光的增强。3. 遮挡**：在执行暗校准时，需要使用深色物体对**进行完全遮挡，避免环境光的干扰。如果环境没有强光源，只需将被测物体移出测量范围，就可以进行暗校准。4. 执行暗校准：完成上述流程后，便可进行暗校准操作。若暗校准效果不理想，需要重新检查并确保光纤清洁和连接正常。5. 温度变化时重新暗校准：由于环境温度的改变可能影响光源的亮度，因此当温度变化超过10℃时，应重新进行暗校准，以保证准确性。除此之外，某些厂商如立仪、基恩士及普雷茨特Mini型等采用了优化设计，通过将耦合器外置或使用棱镜耦合器以及收发光纤分离的方案，能有效降低接口污染对背景光的影响，提升传感器性能和稳定性。总的来说，暗校准是光谱共焦位移传感器获取准确稳定...
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泓川科技 HC26-30 与奥泰斯 OPTEX CD33-30 系列激光位移传感器对比分析：技术性能与可替代性探讨

2025 - 04 - 14

在工业自动化领域，激光位移传感器凭借高精度、非接触测量的优势，广泛应用于精密定位、尺寸检测等场景。本文针对泓川科技 HC26 系列与奥泰斯 OPTEX CD33-30 系列（含模拟量通讯版本）进行多维度技术对比，从安装尺寸、通讯格式、模拟量信号、精度、成本等关键指标分析两者的可替代性，为用户选型提供参考。一、结构设计与安装兼容性：尺寸与适配性对比泓川 HC26 系列外形尺寸为 60×50×22mm，重量约 120g（含线缆），采用紧凑式设计，支持螺丝安装，适配通用工业设备安装孔位（如文档 3 中提到的 2×4.4mm 贯穿孔）。防护等级为 IP67，可在粉尘、潮湿环境中稳定工作，环境温度范围 -10~50℃，适应性更强。奥泰斯 CD33-30 系列文档未明确标注具体尺寸，但从重量推测（约 65g，不含电缆），体积略小于 HC26，同样支持 M12 8 引脚接插式安装，防护等级 IP67，环境温度 -10~45℃。对比结论：两者安装方式均为工业标准，HC26 稍大但兼容性良好，适合对空间要求不苛刻的场景；CD33-30 系列体积更小巧，但 HC26 在温度适应性上略优。二、通讯与信号输出：灵活性与通用性差异通讯格式HC26：支持 RS485 Modbus RTU 协议，波特率...
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激光位移传感器在建材板厚度及宽度测量中的应用技术方案

2023 - 09 - 30

1. 引言：随着科技的迅猛发展和市场需求的不断提升，对建材板的厚度与宽度尺寸精确测量变得越来越关键。因此，选用高精度激光位移传感器来实现，既可以提高产量，又能保证质量。2. 技术原理：激光位移传用光干涉测量技术，发出红外激光束并接收反射回仪器的光阴影，通过光敏元件将其转换成电信号，经过放大处理后输出相应的标准信号来实现位移的测量。其中，红外激光束可以达到丝级别的精度，准确度极高。3. 技术方案：- 挤出流程结束后，立即利用激光位移传感器进行厚度和宽度的测量，效率高；厚度调整功能的使用，可以显著缩短安装和产品更换所需的工时。- 高精度激光位移传感器设置于生产线上，根据实际产品的厚度和宽度需要，选定合适的光束焦距和安装位置。传感器投射出激光束，反射回传感器的发射率会随着测量对象的位移变化而变动。- 传感器内部的电路系统将接收到的电信号进行处理，根据预设的参数，输出标准信号。- 通过对数据的实时监测和分析，可以找出生产中存在的问题并及时进行调整，以确保建材板的质量。4. 应用行业：因为对射的高精度激光位移传感器具有精度和效率高、可靠性强等优点，被广泛用于建材、塑料制品、金属材料、石材加工、生物医疗、微电子等范围。特别是在板材生产等领域，可以有效提高产品质量与生产效率，满足市场对精密制造的需求。结论：利用激光位移传感器在建材板的厚度和宽度测量中，可以实现精准测量，促进生产效率，同时保证产品...
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光谱共焦位移传感器制造技术详解

2024 - 12 - 11

摘要光谱共焦位移传感器是一种高精度、非接触式的光电位移传感器，广泛应用于光学镜片检测、半导体制造、医疗器械生产等多个领域。本文详细阐述了光谱共焦位移传感器的制造技术，包括生产技术细节、工艺流程以及需要注意的具体事项，为相关领域的研发和生产提供参考。引言随着精密仪器制造业的发展，对于工业生产测量的要求越来越高。光谱共焦位移传感器以其高精度、非接触式、实时无损检测等特性，成为解决这一问题的有效手段。本文旨在详细介绍光谱共焦位移传感器的制造技术，包括关键零部件的选择、生产工艺流程以及制造过程中需要注意的事项。一、光谱共焦位移传感器的基本原理光谱共焦位移传感器由光源、分光镜、光学色散镜头组、小孔以及光谱仪等部分组成。传感器通过色散镜头将位移信息转换成波长信息，再利用光谱仪进行光谱分解，反解得出被测位移。其中，色散镜头作为光学部分完成了波长和位移的一一映射，是传感器的核心部件。二、关键零部件的选择1. 光源选择白光LED作为光源，其光谱分布范围广泛，能够满足不同测量需求。同时，白光LED具有寿命长、稳定性好等优点，适合用于工业生产环境。2. 色散镜头色散镜头是光谱共焦位移传感器的关键部件，其性能直接影响传感器的测量精度和分辨率。在选择色散镜头时，需要考虑其轴向色散与波长之间的线性度、色散范围以及镜头材料等因素。3. 光谱仪光谱仪用于接收通过小孔的光信号，并确定其波长，从而实现位移分辨。在选择...
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国产替代深度解析：泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 激光位移传感器的技术对比与应用价值

2025 - 04 - 13

在工业自动化领域，精密测量是保障产品质量与生产效率的核心环节。泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 作为两款主流的中短距离激光位移传感器，在电子制造、精密加工、自动化检测等领域应用广泛。本文将从技术参数、核心性能、应用场景等维度展开深度对比，揭示 HC8-050 在特定场景下的显著优势及高性价比。一、基础技术参数：精准定位性能差异参数HC8-050HG-C1050差异分析测量范围50±15mm（35-65mm）50±15mm（35-65mm）两者一致，覆盖中短距离精密测量场景。重复精度15μm30μmHC8-050 的重复精度比 HG-C1050 提升 50%，适用于对微小位移敏感的精密检测（如芯片封装、精密轴承测量）。光点直径70μm约 70μm光斑尺寸相同，但 HC8-050 通过光学优化，在低反射率表面的光斑识别能力更强。线性度±0.1%F.S.±0.1%F.S.线性度一致，满足工业级测量精度要求。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1050 理论温漂略优，但 HC8-050 通过硬件散热与软件温补算法，实际在高温环境（如 80℃）下稳定性更优。工作温度-10~50℃（支持 80℃长期使用）-10~45℃HC8-050 突破行业常规，通过特殊设计可在 80℃高温环境稳定运行，而 ...
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光谱共焦传感器在IC芯片测量领域的应用剖析（上）

2025 - 01 - 20

一、引言1.1 研究背景与意义在当今数字化时代，IC 芯片作为现代电子设备的核心部件，其重要性不言而喻。从智能手机、电脑到汽车电子、工业控制，乃至新兴的人工智能、物联网等领域，IC 芯片无处不在，如同电子设备的 “大脑”，掌控着设备的运行与功能实现。其发展水平不仅是衡量一个国家科技实力的重要标志，更在全球经济竞争中占据着关键地位。近年来，IC 芯片产业呈现出蓬勃发展的态势。随着摩尔定律的持续推进，芯片的集成度不断提高，尺寸愈发微小，性能却实现了质的飞跃。与此同时，5G、人工智能、大数据等新兴技术的迅猛发展，为 IC 芯片产业注入了强大的发展动力，市场对芯片的需求呈现出爆发式增长。在 IC 芯片制造的复杂流程中，精确测量起着举足轻重的作用，如同工匠手中精准的量具，确保每一个环节都达到极高的精度标准。从芯片设计阶段的版图测量，到制造过程中的光刻、蚀刻、沉积等工艺的尺寸控制，再到封装测试阶段对芯片外形、引脚等的精确测量，每一步都离不开高精度测量技术的支撑。只有通过精确测量，才能保证芯片的性能、良率以及可靠性，满足市场对高质量芯片的严苛要求。光谱共焦传感器作为一种先进的测量技术，凭借其独特的工作原理和卓越的性能优势，在 IC 芯片测量领域展现出了巨大的潜力。它能够实现对芯片表面形貌、厚度、尺寸等参数的高精度非接触测量，为芯片制造提供了可靠的数据支持。这种高精度测量对于提高芯片制造工艺的精度...
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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览

2025 - 09 - 05

高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

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激光位移传感器

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光谱共焦位移传感器

激光测振动传感器

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泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户：感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品，现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明，为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列，各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证，确保数据精准可靠，具体参数如下表所示：表 1：LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算（*1）量程200mm-重复精度（静态）3μm测量标准白色陶瓷样件，50kHz 无平均，取 65536 组数据均方根偏差（*2）线性度±0.03%F.S.（F.S.=200mm）采用纳米级激光干涉仪标定（*3）光源与光斑光源类型-激光功率可定制，部分型号提供 405nm 蓝光版本（*4）光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径，两端相对变大（*5）电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出（选配）电压：0-5V/010V/-1010V；电流：420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出（*6）通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块（*7）响应...

泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业... 2025 - 08 - 30 泓川科技发布 LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦控制器，32KHz 高速采样引领工业高精度测量革新近日，工业高精度测量领域迎来技术突破 —— 泓川科技正式推出LT-CP 系列 ETHERCAT 总线高光谱共焦传感器控制器（含单通道 LT-CPS、双通道 LT-CPD、四通道 LT-CPF 三款型号，含普通光源与高亮激光光源版本）。该系列产品以 “32KHz 高速采样” 与 “ETHERCAT 工业总线” 为核心亮点，填补了行业内 “高频响应 + 实时协同” 兼具的技术空白，为新能源、半导体、汽车制造等高端领域的动态高精度测量需求提供了全新解决方案。一、核心突破：32KHz 高速采样，破解 “多通道降速” 行业痛点光谱共焦技术的核心竞争力在于 “高精度” 与 “响应速度” 的平衡，而 LT-CP 系列在速度维度实现了关键突破 ——单通道模式下最高采样频率达 32KHz，意味着每秒可完成 32000 次精准距离 / 厚度测量，相当于对动态移动的被测物体（如高速传输的电池极片、晶圆）实现 “无遗漏” 的高频捕捉，测量分辨率与动态响应能力远超行业常规 10-20KHz 级别控制器。更具稀缺性的是，该系列打破了 “多通道即降速” 的传统局限：即使在双通道模式（最高 16KHz）、四通道模式（最高 8KHz）下，仍保持高频响应的稳定性。以四通道 LT-CPF 为例，其每通道 8...

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