超高精度三角激光位移传感器LTP025 | 0.05μm重复精度正反射模式测量透明/镜面材料

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0.5um超高精度的激光位移传感器LTP025

上市日期： 2024-09-17

【±0.03%线性度 · 50kHz高速采样】LTP025激光位移传感器采用三角激光原理实现0.05μm超高重复精度，专为透明/镜面材料测量设计，支持正反射模式。配备405nm蓝光光源、IP67防护及-40℃宽温版选项，性能对标基恩士LK-H025。提供模拟量/RS485/TCP/IP多接口，适用于精密制造、半导体检测等高要求场景。立即获取C++/C#开发包，定制您的工业测量方案！

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0.5um超高精度的激光位移传感器LTP025

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1nm重复精度的白光干涉测厚仪

发布时间: 2023 - 12 - 09

10kHz的超快采样速度LT-ITS采用了高亮度的彩色光源、高效率的光学镜组和高灵敏度的电子器件，能够实现行业领先的采样速度，从而帮助客户提高测量效率和加快产线的节拍。+20nm的超高线性精度独立设计的高空间分辨率的白光干涉光学探头，能够带来极为出色的线性特性。基于干涉原理的测厚探头，无原理层面引入的非线性因素，只需要考虑光谱分析过程中的非线性误差。1nm的超高重复精度采用高灵敏度、高信噪比的元器件，同时在探头中实现内部信号数字化，大大减小了噪声干扰。同时基于干涉的测厚方式能够大大提高传感器对外部扰动的抑制能力。

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带可见红色指引光的5Mhz高频激光测振传感器

发布时间: 2021 - 09 - 06

基于调频连续波（FMCW）的相干接收原理，高精度的测距。实现微米级的远距准确测距。通过集成光学原理实现超高精度的测量硅基光电集成技术，一体化的光学封装技术，实现半导体激光器和探测器集成统一光学传感模组。非凡的抗干扰性和稳定性不受材质颜色、环境光等干扰同轴测量无死角轻量、便携无需控制器、放大器等，只一个传感器即可测量。数字化可与多个开放式现场网络兼容。检测不受限通过物体的表面反射或遮光量进行检测，可检测大多数物体（玻璃、金属、塑料、木料及液体等）。长距离高功率传感器，轻松进行长距离检测。非接触采用激光非接触测量方法，对被测设备无任何影响且不会产生接触划痕。寿命较长，无需进行维护。同轴回光支持狭小空间间隙检测。高精度小光斑可精确检测小微型物体。稳定检测根据工件设置最优的激光发射功率以及增益。

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光谱共焦位移传感器/同轴光位移传感器LT-C系列可替代基恩士CL-3000系列

发布时间: 2021 - 08 - 12

泓川科技LTC全系列光谱共焦传感器，量程横跨±0.05mm至±25mm，0.02%FS线性精度+30kHz超高速采样，支持Φ1.7μm~Φ400μm三级光斑配置。深孔内壁（LTCR侧向出光）、透明多层测厚（LTC7000S）、超高温场景（200°C定制）全覆盖，适配21kHz高速控制器（LT-CCH）及16通道同步系统。专为半导体晶圆、新能源极片、航空航天精密件、医疗植入物等高端制造领域提供国产高性价比替代方案，重新定义工业检测新标准！

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高速高精度激光位移传感器LTP系列可替代keyence基恩士LK-G系列

发布时间: 2021 - 04 - 20

高韧性线缆，配备至机器人时也可放心使用。完全符合 IP67 标准的连接器，在潮湿或粉尘较多的现场环境中也可放心使用，传感头也完全符合 IP67 标准。光量自动调节功能，有效提高光亮调整的灵敏度，自动根据不同被测物的反光度调节激光亮度范围。定制物镜可将不规则的光束消除，同时将畸变的影响降至最低，大幅提高测量系统的线性精度。

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非接触激光测量和接触式测量的优缺点分析及市场应用

2023 - 03 - 08

一、概述随着现代工业的不断发展和进步，精度对于工业生产过程中所需要的各种测试测量技术要求也越来越高。而激光测量技术则是在这种背景下得以应用的，这是利用激光作为工具进行测量分析的一种方法。激光测量可以分为非接触式和接触式两种方式。二、非接触激光测量非接触激光测量技术是指激光束在不与被测物体表面发生接触的情况下，对被测物体进行测量操作。它主要利用激光的高亮度、高单色性、高方向性等特点，将测量对象和激光之间的无线电辐射或光辐射联系起来，通过对测量信号的处理，来获得被测物体的相关参数。可以广泛应用于自动化制造、工业检测、生命科学、质量控制检测等领域。2.1 非接触式测量优点（1）不会对被测物体造成损伤。激光测量技术是无损伤性的，测量过程中不会对被测物体造成任何损伤，也不会影响被测物体的结构、形状和性能。（2）精度高。非接触激光测量技术具有高精密性、高灵敏性和高分辨力，能够以亚微米级的精度获得被测物体的相关参数，减小了人为误差和测量结果的不确定性。（3）高速度。非接触激光测量技术具有快速高效的特点，对于一些需要进行即时在线检测或高频率的质检要求，非接触激光测量技术具有独特的优势。（4）测量安全。由于非接触激光测量技术可以在安全距离的范围内进行，因此保障了测量人员的身体健康和安全。2.2 非接触式测量缺点（1）不适用于暗面测量。非接触激光测量技术无法对于有光线被挡住的部位进行测量，因此适用于透...
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光学传感器：薄膜涂布生产工艺的革新驱动力（上）

2025 - 01 - 14

一、引言1.1 研究背景与意义在现代工业的广阔版图中，薄膜涂布生产工艺宛如一颗璀璨的明星，闪耀于包装、电子、光学等诸多关键领域。从日常生活中轻盈便捷的食品包装，到电子产品里精细入微的电子元件，再到光学仪器中不可或缺的光学镜片，薄膜涂布工艺的身影无处不在，它以独特的方式赋予产品卓越的性能与品质。在包装领域，经过精心涂布的薄膜，能够摇身一变成为食品的忠诚守护者，有效阻挡氧气、水汽等外界因素的侵袭，极大地延长食品的保鲜期，确保其新鲜美味。在电子领域，薄膜涂布工艺如同神奇的魔法，为电子元件披上一层特殊的 “外衣”，显著提升其绝缘性、导电性等关键性能，为电子产品的高效稳定运行奠定坚实基础。而在光学领域，它更是大展身手，通过精确控制涂布的厚度与均匀度，制造出具有高透光率、低反射率等优异光学性能的薄膜，让我们的视野更加清晰，成像更加精准。然而，传统的薄膜涂布生产工艺在发展过程中逐渐遭遇瓶颈。涂布厚度的均匀性难以精准把控，这就如同在一幅精美的画卷上出现了瑕疵，不仅会影响产品的性能，还可能导致产品的废品率居高不下。同时，生产过程中的实时监测与调控也面临诸多挑战，就像在茫茫大海中航行的船只，难以准确把握前进的方向。而光学传感器的横空出世，宛如一道曙光，为薄膜涂布生产工艺带来了全新的变革契机。凭借其高精度、非接触、响应速度快等一系列卓越特性，光学传感器能够像敏锐的探测器一样，实时、精准地监测涂布过程中的...
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光谱共焦传感器在激光隐切技术（激光隐形切割）晶圆切割中发挥了哪些作用？

2023 - 09 - 25

由于半导体生产工艺的复杂性和精密性，对晶圆切割的技术要求极高，传统的机械切割方式已经无法满足现代电子行业的需求。在这种情况下，光谱共焦位移传感器配合激光隐切技术（激光隐形切割）在晶圆切割中发挥了重要作用。以下将详细介绍这种新型高效切割技术的应用案例及其优势。原理：利用小功率的激光被光谱共焦位移传感器设定的预定路径所导，聚焦在直径只有100多纳米的光斑上，形成巨大的局部能量，然后根据这个能量将晶圆切割开。光谱共焦位移传感器在切割过程中实时检测切口深度和位置，确保切口的深广和位置的精确性。激光隐切与光谱共焦位移传感器结合的应用案例：以某种先进的半导体制程为例，晶圆经过深刻蚀、清洗、扩散等步骤后，需要进行精确切割。在这个过程中，首先，工程师根据需要的切割图案在软件上设定好切割路径，然后切割机通过光谱共焦位移传感器引导激光按照预定的路径且此过程工程师可以实时观察和测量切口深度和位置。优点：这种技术最大的优势就是它能够实现超微细切割，避免了大功率激光对芯片可能会带来的影响。另外，因为切割的深度和位置可以实时调控，这法也非常具有灵活性。同时，由于使用光谱共焦位移传感器精确控制切割的深度和位置，所以切割出来的晶圆表面平整，质量更好。总的来看，光谱共焦位移传感器配合激光隐切在晶圆切割中的应用，不仅提升了生产效率，减少了废品率，而且大幅度提升了产品质量，对于当前和未来的半导体行业都将是一个革新的技...
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非接触式激光传感器在生产线上的应用有哪些优势？

2024 - 03 - 05

非接触式激光位移传感器在生产线上的应用具有多方面的优势，下面将从精度、速度、可靠性、灵活性和安全性等方面进行逐一分析，并通过具体的应用场景来说明其应用价值。同时，还会与传统的接触式传感器进行比较，以突显非接触式激光位移传感器的独特优势。精度：非接触式激光位移传感器采用激光三角测量法，具有极高的测量精度。例如，在半导体制造过程中，需要精确控制薄膜的厚度，非接触式激光位移传感器可以实现微米级的测量精度，从而确保产品质量。相比之下，传统接触式传感器可能会因为接触力度的不同而影响测量精度。速度：非接触式激光位移传感器具有快速响应的特点，可以在生产线上实现高速测量。例如，在包装机械中，需要实时监测包装材料的位置和速度，非接触式激光位移传感器可以迅速捕捉到这些变化，从而确保包装过程的顺利进行。而传统接触式传感器可能会因为接触摩擦等因素而影响测量速度。可靠性：非接触式激光位移传感器无需与目标物体直接接触，因此可以避免因摩擦、磨损等因素导致的传感器损坏。此外，非接触式传感器还具有较好的抗干扰能力，可以在恶劣的生产环境中稳定工作。相比之下，传统接触式传感器更容易受到环境因素的影响而出现故障。灵活性：非接触式激光位移传感器可以适应不同的测量需求，通过调整激光发射角度、接收透镜焦距等参数，可以实现不同距离、不同角度的测量。此外，非接触式传感器还可以与计算机、PLC等设备进行连接，实现自动化控制和数据处理...
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泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 国产激光位移传感器替代进口基恩士 IL-S025 的技术可行性研究

2025 - 03 - 27

1. 引言在工业自动化领域，激光位移传感器是实现高精度非接触测量的核心器件。基恩士 IL-S025 作为市场主流产品，以其 1μm 重复精度和稳定性能著称。然而，随着国产传感器技术的突破，泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W 型号凭借更高的性能参数和经济性，为用户提供了新的选择。本文将从技术参数、性能表现、应用场景等方面，深入对比分析两者的替代可行性。 2. 核心技术参数对比参数基恩士 IL-S025泓川科技 LTM3-030/LTM3-030W对比结论重复精度1μm0.25μm（LTM3-030）/ 0.25μm（LTM3-030W）LTM3 系列更优（4 倍精度提升）线性误差±0.075% F.S.（±5mm 范围）LTM3-030W 更优（接近 IL-S025）测量范围±5mm（参考距离 25mm）±5mm（参考距离 30mm）等效采样频率3kHz（采样周期 0.33ms）10kHzLTM3 系列更优（3倍速度提升）光斑尺寸25×1200μm（线性光斑）Φ35μm（M3-030）/ Φ35×400μm（M3-030W）LTM3 系列光斑更小（点光斑更聚焦）光源类型660nm 激光（Class 2）655nm 激光（Class 2）等效接口配置需外接放大器单元（支持 EtherNet/IP 等）...
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激光测量技术在（ADAS）驾驶辅助系统的应用案例（三）

2025 - 01 - 16

七、声纳传感器应用案例深析7.1 外壳相关检测7.1.1 外壳的外观检测在声纳传感器的实际应用中，对外壳的外观检测是确保产品质量的关键步骤。在进行外壳外观检测时，声纳传感器并非仅依赖传统的图像明暗判断方式，而是借助先进的技术，利用 3D 形状的图像来实现精准的形状变化识别。其工作过程如下：传感器发射特定频率和模式的声波，这些声波以特定的角度和范围向外传播，当遇到外壳表面时，会根据外壳表面的形状、材质以及纹理等特征产生不同的反射模式。反射回来的声波被传感器的接收装置高效捕捉，然后转化为电信号。系统对这些电信号进行复杂的处理和分析，通过独特的算法将其转换为详细的 3D 形状数据。在这个过程中，系统会对 3D 形状数据进行精确的分析和比对，与预先设定的标准外壳模型进行细致的匹配。一旦发现外壳的形状与标准模型存在差异，系统会立即识别出这些变化，从而确定外壳是否存在缺陷或不符合规格的情况。这种利用 3D 形状图像进行外观检测的方式具有诸多显著优势。它极大地提高了检测的准确性和可靠性。传统的基于图像明暗判断的方法，容易受到环境光、外壳表面光泽度以及颜色等多种因素的干扰，导致检测结果出现偏差。而 3D 形状图像检测技术能够直接获取外壳的真实形状信息，不受这些外部因素的影响，从而能够更准确地发现外壳表面的细微瑕疵，如划痕、凹陷、凸起等，以及形状上的偏差。该技术具有较强的稳定性。无论环境光如何变化，...
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激光位移传感器如何对薄膜进行测厚？

2023 - 03 - 09

激光位移传感器被广泛应用于各种领域中。其中一个很有用的应用是测量薄膜厚度。这种传感器可以在离表面很近的距离下进行高精度测量，因此非常适合这种应用。本文将介绍激光位移传感器如何用于测量薄膜厚度，包括测量方法、测量原理和市场应用。一、测量方法测量薄膜厚度的基本思路是利用激光位移传感器测量薄膜前后表面的距离差，然后通过几何公式计算出薄膜厚度。在实际操作中，测量方法大致可分为以下几种：1. 手持式测量手持式测量通常用于快速的现场检测。用户只需要将激光位移传感器靠近待测表面，然后通过读取显示屏上的数值判断薄膜厚度是否符合要求。这种方法不需要复杂的设备和步骤，非常易于使用。但是由于人手的震动和误差等因素，手持式测量的精度相对较低，只适用于需求不是特别高的场合。2. 自动化在线测量自动化在线测量一般用于工业生产线上的质量控制。这种方法需要将激光位移传感器与自动化设备相连接，将测量数据传递给计算机进行分析。在这种情况下，测量过程可以完全自动化，精度也可以得到保证。但是相对于手持式测量来说，这种方法需要的设备和技术要求更高，成本也更高。3. 显微镜下测量显微镜下测量常用于对细小薄膜厚度的测量。在这种情况下，用户需要将激光位移传感器与显微镜相结合进行测量。由于显微镜的存在，可以大大增强测量精度。但是相对于其他两种方法，这种方法需要的设备更多，并且技巧要求也更高。二、测量原理激光位移传感器利用的是激光三...
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光学传感器：薄膜涂布生产工艺的革新驱动力（下）

2025 - 01 - 14

四、光学传感器应用对薄膜涂布生产的影响4.1 提升生产效率4.1.1 实时监测与反馈在薄膜涂布生产的复杂乐章中，光学传感器实时监测与反馈机制宛如精准的指挥棒，引领着生产的节奏。凭借其卓越的高速数据采集能力，光学传感器能够如同闪电般迅速捕捉涂布过程中的关键参数变化。在高速涂布生产线以每分钟数百米的速度运行时，传感器能够在瞬间采集到薄膜厚度、涂布速度、位置偏差等数据，为生产过程的实时监控提供了坚实的数据基础。这些采集到的数据如同及时的情报，被迅速传输至控制系统。控制系统则如同智慧的大脑，对这些数据进行深入分析。一旦发现参数偏离预设的理想范围，控制系统会立即发出指令，如同指挥官下达作战命令，对涂布设备的相关参数进行精准调整。当检测到薄膜厚度略微超出标准时，控制系统会迅速调整涂布头的压力，使涂布量精确减少，确保薄膜厚度回归正常范围。这种实时监测与反馈机制的存在，使得生产过程能够始终保持在最佳状态。它避免了因参数失控而导致的生产中断和产品质量问题，如同为生产线安装了一个智能的 “稳定器”。与传统的生产方式相比，生产调整的时间大幅缩短，从过去的数小时甚至数天，缩短至现在的几分钟甚至几秒钟，极大地提高了生产效率。4.1.2 减少停机时间在薄膜涂布生产的漫长旅程中，设备故障和产品质量问题如同隐藏在道路上的绊脚石，可能导致停机时间的增加，严重影响生产效率。而光学传感器的实时监测功能，就像一位警惕的卫...

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国产替代深度解析：泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 激光位移传感器的技术对比与应用... 2025 - 04 - 13 在工业自动化领域，精密测量是保障产品质量与生产效率的核心环节。泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 作为两款主流的中短距离激光位移传感器，在电子制造、精密加工、自动化检测等领域应用广泛。本文将从技术参数、核心性能、应用场景等维度展开深度对比，揭示 HC8-050 在特定场景下的显著优势及高性价比。一、基础技术参数：精准定位性能差异参数HC8-050HG-C1050差异分析测量范围50±15mm（35-65mm）50±15mm（35-65mm）两者一致，覆盖中短距离精密测量场景。重复精度15μm30μmHC8-050 的重复精度比 HG-C1050 提升 50%，适用于对微小位移敏感的精密检测（如芯片封装、精密轴承测量）。光点直径70μm约 70μm光斑尺寸相同，但 HC8-050 通过光学优化，在低反射率表面的光斑识别能力更强。线性度±0.1%F.S.±0.1%F.S.线性度一致，满足工业级测量精度要求。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1050 理论温漂略优，但 HC8-050 通过硬件散热与软件温补算法，实际在高温环境（如 80℃）下稳定性更优。工作温度-10~50℃（支持 80℃长期使用）-10~45℃HC8-050 突破行业常规，通过特殊设计可在 80℃高温环境稳定运行，而 ...

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