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涂布行业目前主流的非接触式测厚方案一览

2023 - 09 - 11

非接触测量涂布厚度的行业报告摘要：本报告将介绍非接触测量涂布厚度的行业应用场景及解决方案。涂布厚度的准确测量在多个行业中至关重要，如带钢、薄膜、造纸、无纺布、金属箔材、玻璃和电池隔膜等行业。传统的测量方法存在一定的局限性，而非接触测量技术的应用可以提供更准确、高效的测量解决方案。本报告将重点介绍X射线透射法、红外吸收法和光学成像测量方法这三种主要的非接触测量解决方案，并分析其适用场景、原理和优势。引言涂布厚度是涂覆工艺中的一个重要参数，对于保证产品质量和性能具有重要意义。传统的测量方法，如接触式测量和传感器测量，存在一定局限性，如易受污染、操作复杂和不适用于特定行业。而非接触测量方法以其高精度、实时性和便捷性成为行业中的理想选择。行业应用场景涂布厚度的非接触测量方法适用于多个行业，包括但不限于以下领域：带钢：用于热镀锌、涂覆和镀铝等行业，对涂层和薄膜的厚度进行测量。薄膜：用于光学、电子、半导体等行业，对各种功能薄膜的厚度进行测量。造纸：用于测量纸张的涂布、涂胶和覆膜等工艺中的厚度。无纺布：用于纺织和过滤行业，对无纺布的厚度进行测量。金属箔材：用于食品包装、电子器件等行业，对箔材的厚度进行测量。玻璃：用于建筑和汽车行业，对玻璃的涂层厚度进行测量。电池隔膜：用于电池制造行业，对隔膜的厚度进行测量。解决方案一：X射线透射法X射线透射法是一种常用的非接触涂布厚度测量方法，其测量原理基于射线...
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同轴测量利器：泓川科技国产LTPD08与基恩士LK-G08分体式激光位移传感器性能全解析

2025 - 03 - 04

一、核心参数对比表参数项LK-G08（基恩士）LTPD08（泓川科技国产）参考距离8 mm8 mm检测范围±0.8 mm±0.8 mm线性度±0.05% F.S.±0.03% F.S.重复精度0.02 μm0.03 μm采样频率20 μs1 ms（6档可调）6.25 μs1 ms（多档可调）激光类别1类（JIS C6802）2类（安全等级更高）光源功率0.3 mW0.5 mW（可定制更高功率）防护等级未标注IP67工作温度+10+40°C0+50°C（可定制-4070°C）通讯接口未标注RS485、TCP/IP、开发包支持供电电压-DC 936V（±10%波动兼容）重量245 g213 g二、性能差异深度解析1. 测量性能精度与速度： LK-G08在重复精度（0.02μm）上略优，适合超精密场景；而LTPD08的线性度（±0.03% F.S.）更优，且在采样频率上支持最高6.25μs（缩小量程时可达160kHz），动态响应能力更强。激光适应性： LTPD08提供405nm蓝光版本可选，可应对高反光或透明材质测量，基恩士仅支持655nm红光。2. 环境适应性防护等级： LTPD08的IP67防护显著优于未标注防护的LK-G08，适...
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激光位移传感器应该怎样选择

2020 - 09 - 14

现如今在很多的行业里面都离不开激光位移传感器的应用，因为这种特殊激光位移传感器特点‍是能够对长度以及方位等来进行高精度的准确测量，而且用起来简便且很耐用所以受到了无数用户们的认可。而面对市场上众多的激光位移传感器品牌用户们究竟该怎么去选择呢？一、根据需要测量的目标结构与材质进行选择激光位移传感器虽然有着强大的测量功能，但是对于测量的目标结构与材质也是有着相应的需求的，因为激光位移传感器的测量过程是需要一个完整三角光路的，如果被测量目标的表面凹入不平就会造成三角光路无法形成，这样的话自然也就无法顺利的得到测量数据了。如果被测量目标的表面吸光这样也是无法形成完整三角光路进而无法完成测量工作的，因此用户们在选择激光位移传感器产品之时应着重考虑到这些问题才行。二、根据参数指标的实际要求进行选择激光位移传感器如今在制造业内有着很多的应用特别是对电子行业更是如此，而在选择这种产品时也应当根据具体所需的参数指标的来进行针对性选择才行。事实上这里所说的参数及指包含的面比较广比如说分辨率还有测量的速率等，因为对零部件生产的要求越是精密那么对它的要求也自然要更高也只有这样才能生产制造出真正的好产品。虽然激光位移传感器功能众多在生产过程当中的重要性是很明显的，但是在选择激光位移传感器的时候还是不能盲目应当遵循着上述这两个方面的原则，只有这样才能在众多的激光位移传感器品牌当中顺利地找到更能够满足自身实际需...
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利用高速高精度激光位移传感器测量低频物体振动以降低使用成本

2023 - 08 - 21

摘要：本报告提出了一种利用高精度激光位移传感器测量物体振动的方案。通过测量被测物的位移量，并确定振动的时间点，可以计算出振动频率和振动模式。相比多普勒测振仪，激光位移传感器具有更低的成本，在低频范围内（1000Hz以下）可以进行振动测量。本方案详细介绍了方案设计、设备选择、实验验证以及成本核算，并通过实验数据和算法验证了方案的可行性和准确性。引言物体振动是许多领域的重要研究对象，包括机械、汽车、航空航天等。传统的多普勒测振仪可以用于高频振动测量，但其成本较高，对于低频振动测量（1000Hz以下）不适用。因此，本方案提出了一种利用高精度激光位移传感器测量物体振动的方案，以满足低频振动测量的需求。方案设计利用高精度激光位移传感器测量物体振动的方案设计如下：2.1 设备选择选择一台高精度激光位移传感器，具备以下特点：高测量精度：具备亚微米级的测量精度，满足振动测量的要求。高响应频率：能够以高速响应的方式进行位移测量，捕捉到物体振动的细微变化。宽测量范围：具备较大的测量范围，适应不同物体振动的需求。2.2 传感器布置与测量原理将激光位移传感器布置在被测物体附近，并对其进行校准和调试。在物体振动过程中，传感器测量物体的位移量。传感器工作原理基于激光光束照射到物体表面，测量光斑的位置随时间的变化，从而获得物体的位移信息。2.3 数据处理与振动频率计算根据传感器测得的位移量数据，通过数据处理和信...
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白光干涉测厚传感器在晶圆水膜厚度测量中的应用及操作步骤详解

2024 - 01 - 21

白光干涉测厚仪是一种非接触式测量设备，广泛应用于测量晶圆上液体薄膜的厚度。其原理基于分光干涉原理，通过利用反射光的光程差来测量被测物的厚度。白光干涉测厚仪工作原理是将宽谱光（白光）投射到待测薄膜表面上，并分析返回光的光谱。被测物的上下表面各形成一个反射，两个反射面之间的光程差会导致不同波长（颜色）的光互相增强或者抵消。通过详细分析返回光的光谱，可以得到被测物的厚度信息。白光干涉测厚仪在晶圆水膜厚度测量中具有以下优势：1. 测量范围广：能够测量几微米到1mm左右范围的厚度。2. 小光斑和高速测量：采用SLD（Superluminescent Diode）作为光源，具有小光斑和高速测量的特点，能够实现快速准确的测量。下面是使用白光干涉测厚仪测量晶圆上水膜厚度的详细步骤：1. 准备工作：确保待测晶圆样品表面清洁平整，无杂质和气泡。2. 参数设置：调整白光干测厚涉仪到合适的工作模式，并确定合适的测量参数和光学系统设置。根据具体要求选择光谱范围、采集速度等参数。3. 样品放置：将待测晶圆放置在白光干涉测厚仪的测量台上，并固定好位置，使其与光学系统保持稳定的接触。确保样品与测量台平行，并避免外界干扰因素。4. 启动测量：启动白光干涉测厚仪，开始测量水膜厚度。通过记录和分析返回光的光谱，可以得到晶圆上水膜的厚度信息。可以通过软件实时显示和记录数据。5. 连续监测：对于需要连续监测晶圆上水膜厚度变...
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泓川科技LTC2600与基恩士CL-P015光谱共焦传感器全方位对比及国产替代

2025 - 03 - 22

一、核心性能参数对比：精度与场景适配性参数泓川科技LTC2600（标准版）泓川LTC2600H（定制版）基恩士CL-P015（标准版）参考距离15 mm15 mm15 mm测量范围±1.3 mm±1.3 mm±1.3 mm光斑直径9/18/144 μm（多模式）支持定制（最小φ5 μm）ø25 μm（单点式）重复精度50 nm50 nm100 nm线性误差±0.49 μm（标准模式）分辨率0.03 μm0.03 μm0.25 μm（理论值）防护等级IP40IP67（定制）IP67耐温范围0°C ~ +50°C-20°C ~ +200°C（定制）0°C ~ +50°C真空支持不支持支持（10^-3 Pa，定制）支持（10^-6 Pa，标准版）重量228 g250 g（高温版）180 g性能深度解析精度碾压：LTC2600的重复精度（50 nm）显著优于CL-P015（100 nm），线性误差（光斑灵活性：LTC2600支持多光斑模式（最小φ5 μm定制），可兼顾微小目标检测与粗糙面稳定性；CL-P015仅提供单点式光斑（ø25 μm），适用场景受限。环境适应性：CL-P015标准版支持超高真空（10^-6 Pa），但C2600通过...
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一场关于基恩士光谱共焦传感器：原理、特性与应用的深度全面剖析好文(下）

2025 - 01 - 14

四、与其他品牌光谱共焦传感器对比4.1 性能差异对比4.1.1 精度、稳定性等核心指标对比在精度方面，基恩士光谱共焦传感器展现出卓越的性能。以其超高精度型CL - L(P)015为例，直线性误差可达±0.49µm，这一精度在众多测量任务中都能实现极为精确的测量。相比之下，德国某知名品牌的同类型传感器，其精度虽也能达到较高水平，但在一些对精度要求极高的应用场景中，仍稍逊于基恩士。在测量高精度光学镜片的曲率时，基恩士传感器能够更精确地测量出镜片的微小曲率变化，确保镜片的光学性能符合严格标准。在稳定性上，基恩士光谱共焦传感器同样表现出色。其采用了先进的光学设计和稳定的机械结构，能够有效减少因环境因素和机械振动对测量结果的影响。即使在生产车间等振动较大的环境中，也能保持稳定的测量输出。而法国某品牌的传感器，在稳定性方面则存在一定的不足。在受到轻微振动时，测量结果可能会出现波动，影响测量的准确性和可靠性。在精密机械加工过程中，法国品牌的传感器可能会因为机床的振动而导致测量数据不稳定，需要频繁进行校准和调整，而基恩士传感器则能保持稳定的测量，为生产过程提供可靠的数据支持。响应速度也是衡量光谱共焦传感器性能的重要指标。基恩士光谱共焦传感器在这方面具备快速响应的优势，能够快速捕捉被测物体的位置变化。在对高速运动的物体进行测量时，能够及时反馈物体的位置信息，确保测量的实时性。相比...
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一场穿越空间的光电舞蹈: TOF激光测距传感器解码记

2023 - 09 - 20

首先，让我们对TOF进行一次短暂的“速读”——它全称叫'time-of-flight'，中文怎么说呢？风格洒脱地称之为“飞行时间”。你没听错，就是“飞行时间”。所有的颠覆与创新始于赤裸裸的想象，对吧？再来回过头，看看我们的主角TOF激光测距传感器。激光这东西，我想你肯定不陌生。科幻大片，医美广告里都被频繁提及。对这位明星，我们暂时按下暂停键，我们聊一聊测距传感器——那可是能把复杂的三维世界，硬是证明成一串串精准数据的硬核工具。当然，他俩的组合，并不是偶然撞壁造成的火花。在“鹰眼”TOF的身上，激光变得更加酷炫，传感器技术也变得更为深邃。他们共舞的主线，就是光的飞行时间。想象一下，要在现实世界计算出光从物体发射出来，然后反射回传感器的时间。你愣了一秒，觉得好像进入了'黑洞'的领域。实则不然，TOF激光测距传感器就是这样“耳提面命”。它以光速旅行者的姿态，穿越空间，告诉我们物体与之间的距离。亲，你有听说过光速吗？大约每秒走30万公里哦，这个速度足够你在一秒钟内去绕地球七点五圈了！TOF激光测距传感器就是他们利用这么一个迅疾的光速，再加上高精度的时钟，来高效精确地计算出飞行时间并转化为距离数据。小编想说，TOF不仅玩科技，他更玩智谋，战胜了同类的超声波、红外线等测距设备。毕竟，被物的颜色、亮度、表面材质，或者环境的温湿度对他来说都不构成锁链。准确到“下毛...

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LTP 系列激光位移传感器全国产化之路 —— 从技术依赖到自主可控的心路历程 2026 - 04 - 12 作为一名深耕精密传感行业十余年的从业者，我全程参与了泓川科技 LTP 系列高速高精度激光三角位移传感器的全国产化攻坚。这段从 “全盘进口” 到 “100% 自主可控” 的历程，不仅是一款产品的突围，更是中国高端工业传感器打破封锁、实现自立自强的真实缩影。当前，中国已是全球最大的制造业基地与工业传感器消费市场，智能制造、半导体、锂电、汽车电子等领域对纳米级位移测量的需求呈爆发式增长。而激光三角位移传感器作为精密测控的 “核心标尺”，长期被欧美日品牌垄断 —— 高端型号依赖进口核心器件，不仅采购成本高出 30%-50%，交期动辄 3-6 个月，更面临供应链断供、技术卡脖子的致命风险。在国产替代成为国家战略、产业链安全重于一切的今天，高端传感器的全国产化，早已不是选择题，而是关乎制造业根基的必答题。LTP 系列的国产化之路，正是在这样的时代背景下，一群中国传感人用坚守与突破，写下的硬核答卷。一、初心与觉醒：从 “拿来主义” 到 “必须自主” 的心路转折回望 LTP 系列的起点，我们和国内绝大多数同行一样，深陷核心部件全面依赖进口的困境。早年做激光位移传感器，我们奉行 “集成路线”：激光器选日本某品牌的 655nm 半导体激光管，光学镜头采购德国高精度玻璃透镜，信号处理芯片用美国 TI 的高精度 ADC，就连光电探测器、滤波片也全部依赖进口。这套方案成熟稳定，但代价沉重：核心部件被供应商卡...

蓝光光源激光位移传感器：优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中，传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制，而蓝光光源（405nm 波长）凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式，详解蓝光传感器的优势、原理构造，并结合泓川科技 LTP 系列定制方案，看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光，核心优势是什么？蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性，相比传统 655nm 左右的红光，主要体现在三方面：更高横向分辨率：根据瑞利判据，光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%（405nm/655nm≈0.62），相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%，能形成更小光斑（如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm），适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性：蓝光单光子能量达 3.06eV，远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料（如橡胶、有机涂层）表面，能激发出更强散射信号；同时穿透性更低，仅在材料表层作用，避免内部折射干扰，适合表面精准测量。更优抗干扰能力：蓝光波段与红热辐射（500nm 以上）、户外强光（可见光为主）重叠度低，搭配专用滤光片后，可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰，这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的？为何能实现高精度测量？蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...

泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列：赋能精密制造，适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点，我们推出全系列高性能测量传感器，覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景，以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心，为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍：1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器：半导体材料测厚专属核心用途：专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计，精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点：精度卓越：±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度，确保测量数据稳定可靠；量程适配：覆盖 10μm2mm 测厚范围，满足多数半导体材料检测需求；高效高速：40kHz 采样速度，快速捕捉厚度数据，适配在线检测节奏；灵活适配：宽范围工作距离设计，可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器：半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途：针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景，提供高速实时对焦支持，尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点：对焦速度快：50kHz 高速对焦，同步匹配缺陷检测的实时性需求；对焦精度高：0.5μm 对焦精度，保障缺陷成像清晰、检测无偏差；设计灵活：分体式结构，可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整，降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪：极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途：专注于极薄膜...

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