服务热线:
0510-88155119
13301510675@163.com
Language
Contact
首页
产品中心
高精度光谱共焦
高速高精度激光位移
通用激光位移
高性能激光位移
白光干涉测厚仪
激光测振传感器
激光干涉测距仪
3D线激光轮廓仪
项目案例
激光位移
光谱共聚焦
进口品替代
激光测振
白光干涉测厚
3D线激光
高速摄像机
新闻资讯
公司新闻
行业新闻
传感器知识大讲堂
关于我们
公司简介
联系我们
联系方式
高精度光谱共焦
高速高精度激光位移
通用激光位移
高性能激光位移
白光干涉测厚仪
激光测振传感器
激光干涉测距仪
3D线激光轮廓仪
产品中心
Products
高精度光谱共焦
高速高精度激光位移
通用激光位移
高性能激光位移
白光干涉测厚仪
激光测振传感器
激光干涉测距仪
3D线激光轮廓仪
Ordering
在线订购
您现在的位置:
首页
→
在线订购
→
如果您想订购产品请填写在线订购表
客户信息 >>
公司名称:
*
公司名称不能为空!
联系人:
*
联系人不能为空!
联系电话:
*
联系电话不能为空!
号码格式输入有误
手 机:
手机号码输入有误!
传 真:
所在区域:
联系地址:
*
联系地址不能为空!
邮政编码:
电子邮箱:
*
电子邮箱不能为空!
您输入的E-mail地址格式不正确,请重新输入
订购信息 >>
产品型号:
所属系列:
高精度光谱共焦
产品选择:
光谱共焦探头LTC400 测量范围10±0.2mm,线性精度0.12um
产品数量:
产品价格:
0
订单编号:
请记住您好的订单编号
产品选择:
请选择产品名称
激光位移传感器HC26系列可替代OPTEX奥泰斯CD33系列
微型数显的激光位移传感器HC16系列可替代OPTEX奥泰斯CD22系列
经济型国产激光位移传感器HC-Q系列可替代Panasonic松下HG-C系列
双张检测超声波传感器针对纸张、纸板箱、金属双层粘合检测HUA系列
高速高精度激光位移传感器LTP系列 可替代keyence基恩士LK-G系列
光谱共焦位移传感器/同轴光位移传感器LT-C系列 可替代基恩士CL-3000系列
激光测振传感器测量超声手术刀及换能器振动频率
光纤式激光多普勒测振仪
高精度便携式激光测振仪
带可见红色指引光的5Mhz高频激光测振传感器
手持式激光多普勒振动分析仪
6米大测量距离超声波测距传感器HU6000系列
4米大测量范围超声波测距传感器HU4000系列
2米测量距离超声波测距传感器HU2000系列
1米测量距离超声波测距传感器HU1000系列
500mm测量距离超声波测距传感器HU500系列
300mm测量距离超声波测距传感器HU300系列
不锈钢+PTFE外壳,耐腐蚀超声波测距传感器UCC系列
高精度短距离超声波测距传感器HU120/HU200系列
国产4K响应频率的激光位移传感器HCM系列
带RS485通讯的经济型激光位移传感器HC6系列
光谱共焦探头LTC400 测量范围10±0.2mm,线性精度0.12um
光谱共焦位移传感器LTC1200探头 测量范围20±0.6mm,线性误差0.3um
Φ8mm微型光谱共焦探头LTC3000 测量范围7±1.5mm,线性误差0.6um
光谱共焦位移探头LTC4000F 测量范围38±2mm,线性误差0.8um
光谱共焦位移探头LTC4000N 测量范围14.5±2mm,线性误差0.8um
光谱共焦位移探头LTC6000,测量范围40±3mm,线性误差1.2um
光谱共焦位移探头LTC7000 测量范围45±3.5mm,线性误差1.4um
10mm大量程光谱共焦位移探头LTC10000 测量范围50±5mm,线性误差2um
侧出光光谱共焦探头LTCR1500 测量范围5.75±0.75mm,线性误差0.3um
侧出光光谱共焦探头LTCR1500N 测量范围3±0.75mm,线性误差0.3um
显微激光测振仪
3D闪测传感器HPS-DBL60
3D线光谱共焦传感器HPS-LCX1000同轴光设计实现无盲区检测
小量程高精度3D线光谱共焦传感器HPS-LCF1000
中量程3D线光谱共焦传感器HPS-LCF2000
大量程3D线光谱共焦传感器HPS-LCF3000
3D视觉控制器
光谱干涉_白光干涉_膜厚测量_纳米膜厚测量 白光干涉测厚传感器LT-ITS系列
光谱共焦传感器探头LTC600,范围6.5±0.3mm,线性误差0.18um
1nm重复精度的白光干涉测厚仪LTS系列,可测厚度范围1-100um
光谱共焦传感器探头LTC2600,范围15±1.3mm,线性误差0.3um
超大角度光谱共焦探头LTC2400 测量范围9±1.2mm,测量角度60°
大量程光谱共焦位移探头LTC16000 测量范围55±8mm,线性误差2um
大量程光谱共焦位移探头LTC20000 测量范围55±10mm,线性误差2um
长距离光谱共焦位移探头LTC50000,测量范围100±25mm,线性误差5um
纳米级分辨率超高精度激光干涉测距仪
超高速相机/摄像机SH6系列
高速高清相机/高速高清相机摄像机SH6-2、SH6-5系列
超高清摄像机SH6-21系列具备210Gbps的有效带宽
精灵系列高速摄像机SH2-2系列 体积小巧性能强悍
Mini系列高速摄像机SH3-1系列
单通道光谱共焦控制器LT-CCS
双通道光谱共焦控制器LT-CCD
四通道光谱共焦控制器LT-CCF
8/12/16通道高速光谱共焦控制器LT-CCH
光谱共焦探头LTC100 测量范围8±0.05mm,线性精度0.03um
光谱共焦探头LTC2000测量范围50±1mm,线性精度0.6um
光谱共焦探头LTC7000L,测量范围47±3.5,线性精度1.4um
长距离光谱共焦探头LTC7000S,测量范围70±3.5mm,线性精度1.4um
侧面出光的光谱共焦探头LTCR4000,量程2mm,线性精度1.2um
侧面出光大量程光谱共焦传感器LTCR5000,量程5mm,线性精度2um
投受光分离型高精度激光位移传感器LTPD08
投受光分离型高精度激光位移传感器LTPD15
投受光分离型高精度激光位移传感器LTPD50
0.5um超高精度的激光位移传感器LTP025
可替代基恩士的LK-H系列激光位移传感器LTP030
160Khz采样频率的高速激光位移传感器LTP080
实现全零件国产化的高精度激光位移传感器LTP070
带网口通讯可连接上位机软件的高精度激光位移传感器LTP150
200mm量程的高精度高速激光位移传感器LTP400
可抗强光适用于户外的大量程高精度激光位移传感器LTP450
1米大量程,测量精度可达0.5mm的激光三角位移传感器LTP1000
2米超大量程 高精度高速激光位移传感器LTP1500
2D/3D线激光轮廓仪HL-8020,Z轴(高度) 26.6±3.2mm X轴(宽度) 13mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8040,Z轴(高度) 38±4.4mm X轴(宽度) 16mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8060,Z轴(高度) 62±11mm X轴(宽度) 32mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8080,Z轴(高度) 76.5±28.5mm X轴(宽度) 77mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8200,Z轴(高度) 248±58mm X轴(宽度) 105mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8400,Z轴(高度) 370-118/+350mm X轴(宽度) 239mm
2D/3D线激光轮廓仪HL-8900,Z轴(高度) 930±471mm X轴(宽度) 556mm
激光轮廓仪控制器HL-8000
汽车零件内孔内管壁缺陷激光检测系统
LTM-030激光位移10mm量程5um线性精度,0.25um重复精度,50Khz响应速度
LTM-050激光位移20mm量程10um线性精度,0.4um重复精度,50Khz响应速度
LTM-085激光位移40mm量程40um线性精度,0.8um重复精度,50Khz响应速度
LTM-150激光位移150mm量程150um线性精度,2um重复精度,50Khz响应速度
LTM-250激光位移300mm量程300um线性精度,10um重复精度,50Khz响应速度
LTM-400激光位移400mm量程400um线性精度,15um重复精度,50Khz响应速度
LTM-800激光位移1000mm量程100um线性精度,45um重复精度,50Khz响应速度
0.05nm超高重复精度的白光干涉测厚仪LT-R系列,最薄可测厚度20nm。
单通道高速32Khz光谱共焦控制器LT-CPS
双通道高速16Khz光谱共焦控制器LT-CPD
四通道高速光谱共焦控制器LT-CPF
3.8mm直径探针型光谱共焦传感器探头LTCR1500NZ
8mm直径微型光谱共焦传感器LTCR1500NZ 轴向出光
小体积大量程,8mm测量范围光谱共焦传感器LTC8000
小体积大量程,尾部短化设计光谱共焦传感器LTC8000W
可耐200度高温环境的光谱共焦传感器LTC2600H,重复精度30nm
可耐200℃高温环境的光谱共焦传感器LTC10000H,量程10mm,精度0.2um
20mm大量程耐高温200摄氏度光谱共焦传感器LTC20000H
可替代基恩士LK-H025的国产激光位移传感器LTP020
纳米级精度可测位移&厚度的LTS-I系列红外干涉传感器
网 站:
交货日期:
订购备注:
温馨提示:
有 “
*
“表示必填项
产品中心
项目案例
新闻资讯
关于我们
联系我们
About Us
关于泓川科技
专业从事激光位移传感器,激光焊缝跟踪系统研发及销售的科技公司
中国 · 无锡 · 总部地址:无锡新吴区天山路6号
销售热线:0510-88155119
图文传真:0510-88152650
Working Time
我们的工作时间
周一至周五:8:00-18:00
周六至周日:9:00-15:00
Shown
企业秀
More
1
激光位移传感器如何对薄膜进行测厚?
2023
-
03
-
09
激光位移传感器被广泛应用于各种领域中。其中一个很有用的应用是测量薄膜厚度。这种传感器可以在离表面很近的距离下进行高精度测量,因此非常适合这种应用。本文将介绍激光位移传感器如何用于测量薄膜厚度,包括测量方法、测量原理和市场应用。一、测量方法测量薄膜厚度的基本思路是利用激光位移传感器测量薄膜前后表面的距离差,然后通过几何公式计算出薄膜厚度。在实际操作中,测量方法大致可分为以下几种:1. 手持式测量手持式测量通常用于快速的现场检测。用户只需要将激光位移传感器靠近待测表面,然后通过读取显示屏上的数值判断薄膜厚度是否符合要求。这种方法不需要复杂的设备和步骤,非常易于使用。但是由于人手的震动和误差等因素,手持式测量的精度相对较低,只适用于需求不是特别高的场合。2. 自动化在线测量自动化在线测量一般用于工业生产线上的质量控制。这种方法需要将激光位移传感器与自动化设备相连接,将测量数据传递给计算机进行分析。在这种情况下,测量过程可以完全自动化,精度也可以得到保证。但是相对于手持式测量来说,这种方法需要的设备和技术要求更高,成本也更高。3. 显微镜下测量显微镜下测量常用于对细小薄膜厚度的测量。在这种情况下,用户需要将激光位移传感器与显微镜相结合进行测量。由于显微镜的存在,可以大大增强测量精度。但是相对于其他两种方法,这种方法需要的设备更多,并且技巧要求也更高。二、测量原理激光位移传感器利用的是激光三...
2
光学传感器:薄膜涂布生产工艺的革新驱动力(下)
2025
-
01
-
14
四、光学传感器应用对薄膜涂布生产的影响4.1 提升生产效率4.1.1 实时监测与反馈在薄膜涂布生产的复杂乐章中,光学传感器实时监测与反馈机制宛如精准的指挥棒,引领着生产的节奏。凭借其卓越的高速数据采集能力,光学传感器能够如同闪电般迅速捕捉涂布过程中的关键参数变化。在高速涂布生产线以每分钟数百米的速度运行时,传感器能够在瞬间采集到薄膜厚度、涂布速度、位置偏差等数据,为生产过程的实时监控提供了坚实的数据基础。这些采集到的数据如同及时的情报,被迅速传输至控制系统。控制系统则如同智慧的大脑,对这些数据进行深入分析。一旦发现参数偏离预设的理想范围,控制系统会立即发出指令,如同指挥官下达作战命令,对涂布设备的相关参数进行精准调整。当检测到薄膜厚度略微超出标准时,控制系统会迅速调整涂布头的压力,使涂布量精确减少,确保薄膜厚度回归正常范围。这种实时监测与反馈机制的存在,使得生产过程能够始终保持在最佳状态。它避免了因参数失控而导致的生产中断和产品质量问题,如同为生产线安装了一个智能的 “稳定器”。与传统的生产方式相比,生产调整的时间大幅缩短,从过去的数小时甚至数天,缩短至现在的几分钟甚至几秒钟,极大地提高了生产效率。4.1.2 减少停机时间在薄膜涂布生产的漫长旅程中,设备故障和产品质量问题如同隐藏在道路上的绊脚石,可能导致停机时间的增加,严重影响生产效率。而光学传感器的实时监测功能,就像一位警惕的卫...
3
光伏压延玻璃厚度监测中光谱共焦传感器的应用案例
2023
-
12
-
08
现代科技日新月异的发展,为我们带来了种种便利。光伏产业就是其中的一员。压延玻璃作为光伏电池板的关键材料,其厚度的精确控制直接影响到电池板性能。然而,传统的手动检测方法难以满足高精度测量的需要,光谱共焦传感器的出现彻底改变了这一问题。光谱共焦传感器,顾名思义,它利用光谱学原理和共焦技术,实现对物体的高精度,迅速,无损检测。在压延玻璃的生产过程中,我们可以使用它进行厚度的实时监测。具体步骤如下:首先,我们应该注意的是,由于压延玻璃两面的表面状态不同,一面平整光滑,另外一面则是由无数微小的半球面拼接而成。因此,在进行光学测量时,我们需要遵循激光的透光原理,从平整表面那一侧打光。这样做可以确保我们获得的数据稳定而准确。其次,由于压延玻璃在生产过程中可能会出现轻微的抖动,因此,我们需要选择具有较大测量范围的光谱共焦传感器,以弥补生产过程中的这种不确定性。一般来说,压延玻璃的厚度在2-3.5mm之间,因此我们尽量选用量程大于8mm的传感器。最后,光谱共焦传感器具有良好的穿透性能和大角度检测能力。我们可以通过检测透明物体的正反两面,以此来获取压延玻璃的厚度值。同时,由于其可以进行大角度测量,所以,即使玻璃表面存在凹凸不平的情况,也能得出稳定、准确的测量结果。本案例给我们展示了科技与生产的完美结合,使得生产过程更加精细,更加高效。我们有理由相信,随着科技的不断进步,未来生产出的光伏压延玻璃将更加完...
4
精度之王正面对决:国产泓川LTP025对比基恩士LK-G10激光位移传感器深度解析
2025
-
03
-
05
一、核心参数对比表参数项LK-G10(基恩士)LTP025(国产)参考距离10 mm25 mm(适用远距检测)检测范围±1 mm±1 mm线性度误差±0.03% F.S.±0.03% F.S.(同级性能)重复精度0.02 μm0.05 μm最高采样频率50 kHz(20 μs)160 kHz(6.25 μs可扩展)激光类型红色(655 nm,1类)蓝色(405 nm,2类)光源功率0.3 mW4.9 mW(穿透性更强)防护等级IP67IP67工作温度0+50°C0+50°C(可定制-4070°C)通讯接口未标注(依赖控制器)RS485、TCP/IP、开发包支持系统集成需外置控制器独立一体机(无需控制器)重量190 g372 g 二、性能与应用场景分析1. 正反射测量能力共同优势: 两款传感器均支持正反射模式,可精准测量镜面(如金属抛光件)和透明/半透明材料(如玻璃、薄膜),突破传统三角法传感器因漫反射失效的限制。差异点:LK-G10:采用655 nm红光,适用于常规镜面材料;LTP025:405 nm蓝光波长更短,对透明材质(如手机玻璃盖板)的穿透力更强,且光斑直径更小(Φ18 μm vs Φ20 μm),适合微结构检测。2. 精度与速度LK-G10:精度王者:0.02 μm的重复精度为...
5
泓川科技光谱共焦传感器于透明玻璃材料测量领域的应用深度剖析(上)
2025
-
01
-
14
一、引言1.1 研究背景与意义玻璃,作为一种用途极为广泛的材料,凭借其透明、坚硬且易于加工的特性,在建筑、汽车、电子、光学仪器等众多行业中占据着举足轻重的地位。在建筑领域,玻璃不仅被广泛应用于建筑物的窗户、幕墙,以实现采光与美观的效果,还能通过巧妙设计,增强建筑的整体通透感与现代感;在汽车行业,从挡风玻璃到车窗,玻璃的质量与性能直接关系到驾乘人员的安全与视野;在电子行业,显示屏、触摸屏等关键部件更是离不开玻璃,其质量和精度对电子产品的性能和用户体验有着深远影响。在玻璃的生产、加工以及应用过程中,对其进行精确测量显得至关重要。以玻璃基板为例,这一液晶显示器件的基本部件,主要厚度为 0.7mm 及 0.5mm,且未来制程将向更薄(如 0.4mm)迈进。如此薄的厚度,却要求严格的尺寸管控,一般公差在 0.01mm。玻璃厚度的均匀性、平整度以及表面的微观形貌等参数,直接决定了玻璃在各应用场景中的性能表现。例如,汽车挡风玻璃若厚度不均匀,可能导致光线折射异常,影响驾驶员视线;电子显示屏的玻璃基板若存在平整度问题,会影响显示效果,出现亮点、暗点或色彩不均等现象。传统的玻璃测量方法,如千分尺测量、激光三角法等,虽在一定程度上能满足部分生产需求,但在精度、效率以及适用范围等方面存在诸多局限。千分尺测量属于接触式测量,容易受到人工操作的影响,导致测量误差较大,且可能对玻璃表面造成损伤;激光三角法对透...
6
无锡泓川科技LTP400 激光位移传感器对比基恩士 LK-G400 与 米铱ILD1420-200 的综合分析
2025
-
02
-
09
1. 性能参数对比参数LTP400基恩士 LK-G400米铱 ILD1420-200测量范围±100 mm漫反射 ±100 mm200 mm(具体范围依型号)采样频率160 kHz(最高)50 kHz(对应 20 μs)8 kHz(可调)静态噪声1.5 μm(平均后)2 μm(再现性)8 μm(重复性)线性误差±0.05% F.S.(±100 μm)±160 μm光斑直径Φ300 μm(W型号更宽)ø290 μm750 x 1100 μm(末端)接口类型以太网、485、模拟输出未明确(可能基础)RS422、PROFINET、EtherCAT防护等级IP67IP67IP67重量438 g380 g(含线缆)145 g(带电缆)可定制性激光功率、蓝光版本、模拟模块无提及ASC(动态表面补偿)、多种工业接口2. LTP400 的核心优势超高采样频率(160 kHz)远超 LK-G400(50 kHz)和 ILD1420-200(8 kHz),适用于高速动态测量场景(如振动监测、快速产线检测)。优异的静态噪声与线性精度平均后静态噪声仅 1.5 μm,优于 LK-G400(2 μm)和 ILD1420-200(8 μm)。线性误差 ,显著优于 LK-G400(±100 μm)和 ILD1420-200(...
7
国产工业光学传感器大致现状
2023
-
03
-
20
介绍工业光电传感器是现代制造业中最常用的检测设备之一,广泛应用于自动化生产线、机械加工、装配、物流搬运等行业。随着国民经济的不断发展,中国的工业光电传感器制造业也不断发展壮大,成为制造业的一支重要力量。本文旨在对中国产的工业光电传感器现状进行描述。发展历史20世纪80年代初期,我国的工业自动化程度比较低,大部分生产线仍采用人力操作,制造业存在高人力成本、低效率、品质难以保证等问题。为了提高制造业的效率和品质,中国开始引入外国的工业自动化设备,其中就包括工业光电传感器。80年代中后期,国内开始试水制造工业光电传感器,并逐步发展壮大。90年代初期,随着国民经济的增长和工业自动化的加速推进,中国的工业光电传感器制造业进入快速发展期。如今,中国的工业光电传感器制造业已经处于全球领先地位,成为世界闻名的光电传感器生产基地之一。产业链分析商业模式中国的工业光电传感器制造业商业模式主要是以生产销售为主,较少采用研发生产销售一体化模式。生产企业主要供应给自动化设备制造商,然后这些自动化设备制造商销售给最终用户,最终用户则使用这些设备来自动化生产线。除此之外,还有一些企业将工业光电传感器产品应用到自己的设备制造中,以提高自己产品的品质和效率,然后再将自己的产品销售给最终用户。在商业模式上,中国的工业光电传感器制造业与欧美等发达国家还存在一定的差距。技术研发中国的工业光电传感器制造业在技术研发方面逐渐...
8
泓川科技国产激光位移传感器HCM系列深度剖析与前景洞察
2025
-
01
-
22
一、引言1.1 研究背景与目的在当今科技迅猛发展的时代,传感器作为获取信息的关键设备,在工业自动化、智能制造、航空航天、汽车制造等众多领域中发挥着不可或缺的重要作用。激光位移传感器凭借其高精度、非接触式测量、快速响应等显著优势,成为了现代精密测量领域的核心设备之一。近年来,随着国内制造业的转型升级以及对高精度测量需求的不断攀升,我国传感器市场呈现出蓬勃发展的态势。然而,长期以来,高端激光位移传感器市场大多被国外品牌所占据,这不仅限制了国内相关产业的自主发展,还在一定程度上影响了国家的产业安全。在此背景下,国产激光位移传感器的研发与推广显得尤为重要。本研究聚焦于国产激光位移传感器 HCM 系列,旨在深入剖析该系列产品的技术特点、性能优势、应用场景以及市场竞争力。通过对 HCM 系列产品的全面研究,期望能够为相关行业的企业提供有价值的参考依据,助力其在设备选型、技术升级等方面做出更为明智的决策。同时,本研究也希望能够为推动国产激光位移传感器行业的发展贡献一份力量,促进国内传感器产业的技术进步与创新,提升我国在高端传感器领域的自主研发能力和市场竞争力。1.2 研究方法与数据来源本研究综合运用了多种研究方法,以确保研究的全面性、准确性和可靠性。在研究过程中,首先进行了广泛的文献研究,收集并深入分析了国内外关于激光位移传感器的学术论文、行业报告、专利文献等资料,从而对激光位移传感器的发展历程...
Popular Tags
热搜词
本周热门搜索:
激光位移传感器
激光测距传感器
光谱共焦位移传感器
激光测振动传感器
Message
最新动态
蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制...
2025
-
10
-
21
在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览
2025
-
09
-
05
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器
2025
-
09
-
02
泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
查看更多》
Copyright ©2005 - 2013 无锡泓川科技有限公司
苏ICP备16036995号-2
苏公网安备 32021402001243号
网站地图
1
犀牛云提供企业云服务
Our Link
亲,扫一扫
浏览手机云网站