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在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + 机械结构” 的协同,以泓川 LTP 系列为例,构造可拆解为四部分:(1)光学模块:精准控光的 “核心”光源:定制 405nm 蓝色激光二极管(功率可定制,如 LTP025 蓝光版 Max 4.9mW),输出稳定单色光,避免多波长干扰;物镜系统:分 “聚焦型” 和 “宽光斑型”—— 聚焦型(如 LTPD08)用高精度透镜组形成 Φ20-35μm 小光斑,测细小组件;宽光斑型(如 LTP030W)用圆...
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更新日期: 2025 - 10 - 21
高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜厚度测量,广泛适用于光学膜、功能膜、半导体工艺中的极薄涂层 / 薄膜检测。性能优点:极薄检测能力:最小测量厚度低至 20nm,20nm 测厚范围覆盖多数极薄膜场景;超高准确度:±1nm 准确度 + 0.05nm 重复精度,精准捕捉极细微厚度变化,严控工艺偏差;在线适配:最高 100Hz 采样速度,可融入生产线实现快速在线检测,不影响生产节奏。4. LT-C 光谱共焦位移传感器:复杂环境测...
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更新日期: 2025 - 09 - 05
在工业自动化领域,精密测量是保障产品质量与生产效率的核心环节。泓川科技 HC8-050 与松下 HG-C1050 作为两款主流的中短距离激光位移传感器,在电子制造、精密加工、自动化检测等领域应用广泛。本文将从技术参数、核心性能、应用场景等维度展开深度对比,揭示 HC8-050 在特定场景下的显著优势及高性价比。一、基础技术参数:精准定位性能差异参数HC8-050HG-C1050差异分析测量范围50±15mm(35-65mm)50±15mm(35-65mm)两者一致,覆盖中短距离精密测量场景。重复精度15μm30μmHC8-050 的重复精度比 HG-C1050 提升 50%,适用于对微小位移敏感的精密检测(如芯片封装、精密轴承测量)。光点直径70μm约 70μm光斑尺寸相同,但 HC8-050 通过光学优化,在低反射率表面的光斑识别能力更强。线性度±0.1%F.S.±0.1%F.S.线性度一致,满足工业级测量精度要求。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1050 理论温漂略优,但 HC8-050 通过硬件散热与软件温补算法,实际在高温环境(如 80℃)下稳定性更优。工作温度-10~50℃(支持 80℃长期使用)-10~45℃HC8-050 突破行业常规,通过特殊设计可在 80℃高温环境稳定运行,而 ...
发布时间: 2025 - 04 - 13
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在工业自动化领域,激光位移传感器的性能直接影响测量精度和系统稳定性。本文针对泓川科技 LTM2-800W 与美国邦纳 BANNER LE550 系列传感器,从技术参数、性能指标、应用场景等维度进行深度对比,探讨 LTM2-800W 替代 LE550 系列的可行性,尤其突出其更高的测量精度和更快的采样频率优势。一、核心技术参数对比参数LTM2-800WBANNER LE550 系列对比结论测量原理激光三角测量法激光三角测量法原理相同,均通过激光光斑在感光元件上的位置变化计算距离。参考距离800mm100-1000mm(LE550)LTM2-800W 以 800mm 为中心,覆盖更广的远距离测量场景,适合大尺寸物体检测。测量范围±500mm(300-1300mm)100-1000mmLTM2-800W 测量范围更宽,尤其在 800mm 以上远距离仍能保持高精度,而 LE550 在 1000mm 处精度下降。重复精度45μm±0.5-8mm(随距离变化,1000mm 处约 ±8mm)LTM2-800W 优势显著,重复精度达 45μm(0.045mm),较 LE550 的毫米级精度提升两个数量级,适合精密测量场景。线性误差±4.5mm(0.5%FS)LTM2-800W 线性误差仅为 LE550 的 1/4.5,测量线性度更优,数据一致...
发布时间: 2025 - 04 - 12
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在工业自动化领域,激光位移传感器作为精密测量的核心部件,其性能直接影响生产精度与效率。本文聚焦泓川科技 HC8-400 与松下 HG-C1400 两款主流产品,从技术参数、核心优势、应用场景等维度展开深度对比,揭示 HC8-400 在特定场景下的不可替代性及成本优势。一、技术参数对比:细节见真章1. 基础性能指标参数HC8-400HG-C1400差异分析测量范围400±200mm(200-600mm)400±200mm(200-600mm)两者一致,覆盖中长距离测量场景。重复精度200-400mm:150μm 400-600mm:400μm200-400mm:300μm 400-600mm:800μmHC8-400 在全量程精度表现更优,尤其在 400-600mm 远距段,重复精度提升 50%,适合对稳定性要求高的精密测量。线性度200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.200-400mm:±0.2%F.S. 400-600mm:±0.3%F.S.线性度一致,满足工业级测量标准。温度特性±0.05%F.S/℃±0.03%F.S/℃HG-C1400 理论温漂略优,但 HC8-400 通过独特热稳设计,实际在高温环境(如 80℃)下表现更可靠,弥补参数...
发布时间: 2025 - 04 - 12
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在高温工业环境中,精密测量设备的稳定性与精度始终是行业难题。传统传感器在高温下易出现信号漂移、材料老化等问题,导致测量数据失真,甚至设备故障。作为工业测量领域的创新者,泓川科技推出的 LTC 光谱共焦传感器系列,突破性实现全型号 200℃耐高温定制,以 “精度不妥协、性能无衰减” 的核心优势,为高温场景测量树立新标杆,成为替代基恩士等进口品牌高温版本的理想之选。一、全系列耐高温定制:200℃环境下精度如初,打破行业局限区别于市场上仅部分型号支持高温的传感器,泓川科技 LTC 系列全系产品均可定制 200℃耐高温版本,涵盖 LTC100B、LTC400、LTC2000、LTCR 系列等数十款型号,满足从微米级精密测量到超大范围检测的多样化需求。通过材料升级与结构优化:核心部件耐高温设计:采用航空级耐高温光学元件及特殊封装工艺,确保光源发射、光谱接收模块在 200℃长期运行下无热漂移,重复精度保持 3nm-850nm(依型号),线性误差≤±0.03μm 起,与常温环境一致。耐高温光纤传输:标配专用耐高温光纤,可承受 200℃持续高温,抗弯曲性能提升 30%,有效避免传统光纤在高温下的信号衰减与断裂风险,保障长距离测量信号稳定。相较基恩士等品牌仅部分型号支持高温(通常最高 150℃且精度下降 10%-20%),泓川 LTC 系列实现温度范围、型号覆盖、精度保持三大突破,成为高温...
发布时间: 2025 - 04 - 08
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Hot News / 热点新闻
2025 - 10 - 21
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在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655n...
2025 - 09 - 05
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高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料...
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  • 25
    2024 - 01 - 21
    摘要:本文将详细阐述高精度激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中的应用情况。我们使用的激光测距传感器能够准确测量涂层厚度在1-10μm之间的极片,而且其精度能达到0.15μm。并且,通过特殊的同步计算过程和测厚技术,我们成功解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差。我们的传感器还具有定制化的宽光斑特性,能够应对涂层厚度不均匀的情况,从而得到极片全表面的平均值。1. 导言锂电池在移动设备、电动汽车等领域的应用日益广泛,其中极片的涂层厚度对电池性能影响显著。传统的接触式和机械式测量方法经常无法满足需求,而我们的高精度激光测距传感器正好拥有非接触测量和高精度测量的优势。2. 测量系统与技术我们使用的是一种高精度激光测距传感器,它可以准确测量出微米级别的厚度,并且精度能够达到0.15μm。我们通过使用专业的同步运算程序和射测厚技术,成功地解决了由于极片在制造过程中的起伏变动带来的测量误差问题。此外,该传感器还具有定制化的宽光斑特性,能够应对涂层厚度不均匀的情况,从而得到极片全表面的平均值。3. 实验结果与效果分析多次实验结果证明,我们使用的激光测距传感器在锂电池极片厚度测量中展现出了可靠性和准确性。实验结果显示,该传感器能够稳定地测量出微米级别的涂层厚度。通过专业的同步运算程序和射测厚技术,我们成功地解决了测量误差问题。定制化的宽光斑特性使得传感器可以应对涂层厚度不均匀的情况,从而...
  • 26
    2025 - 04 - 07
    在大型工件检测、锂电池极片测厚、航空航天等高精度长距测量场景中,传感器需兼具大范围扫描能力与微米级精度,同时解决多设备空间协同难题。无锡泓川科技LTPD50激光位移传感器创新采用中空分体式结构设计,以50mm超长参考距离、0.05μm重复精度及进口半价成本,突破进口设备在长距高精度领域的垄断,为工业用户提供“远距精准测量+多设备同轴集成”的国产化标杆方案。核心优势:中空架构+超长量程,重构工业检测边界中空同轴设计,赋能多设备协同φ25mm贯通孔:传感器主体中空,支持工业相机、激光打标头等外设直接穿过,实现测量点与操作中心零偏差同轴,解决传统长距传感器体积大、遮挡视野的痛点。超薄机身:紧凑型设计(74205110mm),适配机器人导轨、自动化产线等空间受限场景,安装灵活性提升60%。长距高精度,性能对标进口50mm参考距离±0.8mm量程:覆盖锂电池极片、金属板材等大尺寸工件的高精度厚度检测需求,减少传感器移动频次。0.05μm重复精度:媲美基恩士LK-G系列,线性误差**成本颠覆:售价仅为进口同类产品的40%~50%,且无需外置控制器,综合成本降低70%。硬核参数:长距测量的性能标杆参数LTPD50(无锡泓川)进口竞品(如基恩士LK-G500)参考距离50mm50mm测量范围±0.8mm±0.5mm重复精度0.05μm(无平均)0.1μm采样频率160...
  • 27
    2023 - 09 - 30
    一、介绍在许多须要进行精确检查的工业生产领域,视觉系统的高度定位已成为一项关键技术。尤其在物料变化情况复杂或需要精确测量的应用场景中,如何通过视觉系统稳定地执行Z轴方向定位是个重要议题。而在这方面,高精度激光测距传感器无疑可以提供解决方法。二、解决方案1、测量初始化首先提供一个安全并且可控的环境以保证传感器的测量工作。将目标工件放在固定的位置上,并确保其稳固不动来为测量过程提供准确的基础。2、高精度激光测距传感器启动测量启动高精度激光测距传感器对目标进行测量。传感器会发出一束红外激光,该激光会瞄准工件并反射回传感器,创建出一个明确的测量路径。传感器具有强大的抗干扰能力,即使目标工件材质变化,也能够维持稳定的测量结果。3、数据处理与分析接下来进入数据处理阶段。传感器会捕捉反射回来的激光,然后利用内部的光学组件和测量算法进行数据分析,计算出其对应的Z轴坐标值。4、结果反馈与定位最后,我们将测量结果(即Z轴的坐标值)传递给工业相机,一旦接收到数据,相机就能在Z轴上进行精确的位置定位。在这个过程中,即使工件移动或者改变位置,我们的系统也能实时根据新的测量结果进行调整,保证视觉系统始终在正确的位置对工件进行检测。5、持续追踪与更新系统会持续监测工件的位置,并根据需要实时更新Z轴的高度信息。这样,在整个生产过程中,无论工件如何变化或移动,我们的视觉系统都能进行稳定、准确的检测。三、行业应用1....
  • 28
    2024 - 12 - 11
    激光位移传感器作为一种高精度、非接触式的测量工具,在工业自动化、科研、医疗等多个领域发挥着重要作用。其制造过程涉及多个环节和专业技术,以下将详细介绍激光位移传感器的制造全过程及所使用的零部件。一、设计与研发激光位移传感器的制造首先始于设计与研发阶段。根据市场需求和技术趋势,设计团队会确定传感器的主要性能指标,如测量范围、精度、分辨率等。接着,选择合适的激光发射器和接收器,设计光学系统和信号处理电路。这一阶段的关键在于确保传感器能够满足预期的测量要求,并具备良好的稳定性和可靠性。二、原材料采购在设计完成后,进入原材料采购阶段。激光位移传感器的主要零部件包括:激光器:产生高方向性的激光束,用于照射被测物体。激光器的选择直接影响传感器的测量精度和稳定性。光电二极管或CCD/CMOS图像传感器:作为接收器,接收被测物体反射回来的激光,并将其转换为电信号。光学透镜组:包括发射透镜和接收透镜,用于调整激光束的形状和发散角,确保精确照射和接收反射光。电路板:搭载信号处理电路,对接收到的电信号进行处理和分析。外壳:保护传感器内部组件,并提供安装接口。三、加工与制造在原材料到位后,进入加工与制造阶段。这一阶段包括:零部件加工:对金属外壳进行切割、钻孔和打磨等处理,以满足设计要求。同时,对光学透镜进行精密加工,确保其光学性能。组件组装:将激光器、光电二极管、光学透镜组等零部件组装到电路板上,形成完整的...
  • 29
    2025 - 04 - 12
    在工业自动化领域,激光位移传感器的性能直接影响测量精度和系统稳定性。本文针对泓川科技 LTM2-800W 与美国邦纳 BANNER LE550 系列传感器,从技术参数、性能指标、应用场景等维度进行深度对比,探讨 LTM2-800W 替代 LE550 系列的可行性,尤其突出其更高的测量精度和更快的采样频率优势。一、核心技术参数对比参数LTM2-800WBANNER LE550 系列对比结论测量原理激光三角测量法激光三角测量法原理相同,均通过激光光斑在感光元件上的位置变化计算距离。参考距离800mm100-1000mm(LE550)LTM2-800W 以 800mm 为中心,覆盖更广的远距离测量场景,适合大尺寸物体检测。测量范围±500mm(300-1300mm)100-1000mmLTM2-800W 测量范围更宽,尤其在 800mm 以上远距离仍能保持高精度,而 LE550 在 1000mm 处精度下降。重复精度45μm±0.5-8mm(随距离变化,1000mm 处约 ±8mm)LTM2-800W 优势显著,重复精度达 45μm(0.045mm),较 LE550 的毫米级精度提升两个数量级,适合精密测量场景。线性误差±4.5mm(0.5%FS)LTM2-800W 线性误差仅为 LE550 的 1/4.5,测量线性度更优,数据一致...
  • 30
    2025 - 01 - 17
    五、光学传感器测量技术5.1 高精度测量技术5.1.1 关键技术突破在存储硬盘 HDD 的检测领域,高精度测量技术的突破犹如一颗璀璨的明星,照亮了整个行业的发展道路。以基恩士 SI 系列微型传感头型分光干涉式激光位移计为代表,其在高精度测量技术方面实现了令人瞩目的突破。该系列产品成功打造出世界超一流的微型传感头,这一创新成果堪称技术领域的杰作。SI 系列的微型传感头采用了独特的光纤结构,这一结构设计犹如为传感器赋予了强大的 “魔力”。完全无电子部件的设计,使得传感器彻底摆脱了测量仪本身发热所产生的偏移或电磁干扰的困扰。在传统的测量设备中,测量仪发热往往会导致测量结果出现偏差,而电磁干扰更是如同隐藏在暗处的 “幽灵”,难以被彻底隔离和消除,严重影响测量的精度。但 SI 系列通过这一创新设计,成功避开了这些难题,为实现超高精度测量奠定了坚实的基础。其尺寸小、重量轻、耐高温的特点,更是为其在复杂的测量环境中施展 “身手” 提供了极大的便利。小巧的尺寸和轻盈的重量,使得它在选择安装区域时几乎不受限制,能够灵活地安装在传统设备无法触及的狭小空间内。在一些对空间要求极为苛刻的 HDD 生产环节中,SI 系列能够轻松找到合适的安装位置,实现对关键部件的精准测量。而耐高温的特性,则保证了传感器在高温环境下依然能够稳定工作,确保测量结果的准确性和可靠性。 5.1.2 对 HDD 检测的意义...
  • 31
    2025 - 06 - 09
    在工业精密测量领域,无锡泓川科技的HC26系列激光位移传感器凭借出色的性能参数与显著的成本优势,成为替代奥泰斯CD33系列的高竞争力选择。以下从核心性能、特殊应用适配性及成本三方面进行对比分析:一、核心性能参数对标(HC26 vs CD33)参数泓川HC26系列奥泰斯CD33 (行业标准)HC26优势重复精度2μm (30mm款) → 50μm (195mm款)通常1~3μm (高端款)接近主流精度线性度±0.1%F.S.±0.05%~0.1%F.S.达到同级水平响应时间最快333μs (多档可调)通常500μs~1ms速度更快输出接口RS485(Modbus RTU)+模拟量(4-20mA/0-10V)类似接口组合同等兼容性防护等级IP67 (防尘防水)IP67/IP65同等工业防护温度特性0.05%F.S/℃0.03~0.05%F.S/℃稳定性接近注:HC26提供4种基准距离型号(30/50/85/195mm),覆盖小量程高精度(±4mm@30mm)至大量程(±99.98mm@195mm)场景,满足CD33主流应用范围。二、核心替代优势:全系支持正反射安装HC26系列所有型号均内置正反射光路设计,解决CD33在特殊材质检测中的痛点:镜面材料:通过正反射接收强光信号,避免漫反射信号微弱导致的测量失效。透明材质(如玻璃、薄...
  • 32
    2022 - 12 - 05
    今天我们讨论的是条码阅读器的性能冗余,高性能条码阅读器有哪些优势呢?有时在使用中条码阅读器在调试时。不能很好的对准。或者条码阅读器在使用一段时间后出现故障和校准错误。纸箱和包裹也可能出现大幅度变形或者倾斜。或者定义范围不合适。或者超出质量标准,甚至有时还会达到,没有达到标准的class a,条码标准。例如条码印刷不清晰或者褪色。在所有的这种条件情况下,我们的条码阅读器的性能冗余就派上用场了。       条码阅读器达到参数限制时。通常需要性的目的,也就是说即使阅读条件不在标准范围内,足够高的读取质量也能解决这个问题。即使在极端条件下,我们专门开发的光学和模拟电子装置也能可靠读取条码信息。我给大家演示一下,在这个简单的装置中,条码阅读器通过以太网连接到PC,可以使用web对口激活调节模式,然后通过图表显示质量,如果条码印刷质量较好,清洁角度高达±30度,也能保证实现可靠性,但您可以看到我们产品的检测范围远远超过低级的限制。我们将这个产品功能,称为性能荣誉,该功能可以实现非常高的录取质量和应用可靠性。您在应用中遇到哪些问题呢?请联系我们。
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蓝光光源激光位移传感器:优势、原理与特殊场景解决方案 —— 泓川科技 LTP 系列 405nm 定制... 2025 - 10 - 21 在工业精密测量中,传统红光激光位移传感器常受高反射、半透明、高温红热等特殊场景限制,而蓝光光源(405nm 波长)凭借独特物理特性实现突破。以下通过 “一问一答” 形式,详解蓝光传感器的优势、原理构造,并结合泓川科技 LTP 系列定制方案,看其如何解决特殊环境测量难题。1. 蓝光光源激光位移传感器相比传统红光,核心优势是什么?蓝光传感器的核心优势源于 405nm 波长的物理特性,相比传统 655nm 左右的红光,主要体现在三方面:更高横向分辨率:根据瑞利判据,光学分辨率与波长成反比。蓝光波长仅为红光的 62%(405nm/655nm≈0.62),相同光学系统下横向分辨率可提升约 38%,能形成更小光斑(如泓川 LTP025 蓝光版光斑最小达 Φ18μm),适配芯片针脚、晶圆等微米级结构测量。更强信号稳定性:蓝光单光子能量达 3.06eV,远高于红光的 2.05eV。在低反射率材料(如橡胶、有机涂层)表面,能激发出更强散射信号;同时穿透性更低,仅在材料表层作用,避免内部折射干扰,适合表面精准测量。更优抗干扰能力:蓝光波段与红热辐射(500nm 以上)、户外强光(可见光为主)重叠度低,搭配专用滤光片后,可有效隔绝高温物体自发光、阳光直射等干扰,这是红光难以实现的。2. 蓝光激光位移传感器的原理构造是怎样的?为何能实现高精度测量?蓝光传感器的高精度的核心是 “光学设计 + 信号处理 + ...
泓川科技国产系列光谱共焦/激光位移传感器/白光干涉测厚产品性能一览 2025 - 09 - 05 高精度测量传感器全系列:赋能精密制造,适配多元检测需求聚焦半导体、光学膜、机械加工等领域的精密检测核心痛点,我们推出全系列高性能测量传感器,覆盖 “测厚、对焦、位移” 三大核心应用场景,以 “高精准、高速度、高适配” 为设计核心,为您的工艺控制与质量检测提供可靠技术支撑。以下为各产品系列的详细介绍:1.LTS-IR 红外干涉测厚传感器:半导体材料测厚专属核心用途:专为硅、碳化硅、砷化镓等半导体材料设计,精准实现晶圆等器件的厚度测量。性能优点:精度卓越:±0.1μm 线性精度 + 2nm 重复精度,确保测量数据稳定可靠;量程适配:覆盖 10μm2mm 测厚范围,满足多数半导体材料检测需求;高效高速:40kHz 采样速度,快速捕捉厚度数据,适配在线检测节奏;灵活适配:宽范围工作距离设计,可灵活匹配不同规格的检测设备与场景。2. 分体式对焦传感器:半导体 / 面板缺陷检测的 “高速对焦助手”核心用途:针对半导体、面板领域的高精度缺陷检测场景,提供高速实时对焦支持,尤其适配显微对焦类检测设备。性能优点:对焦速度快:50kHz 高速对焦,同步匹配缺陷检测的实时性需求;对焦精度高:0.5μm 对焦精度,保障缺陷成像清晰、检测无偏差;设计灵活:分体式结构,可根据检测设备的安装空间与布局灵活调整,降低适配难度。3. LT-R 反射膜厚仪:极薄膜厚检测的 “精密管家”核心用途:专注于极薄膜...
多方面研究泓川科技LTP系列大量程全国产激光位移传感器 2025 - 09 - 02 泓川科技激光位移传感器产品技术报告尊敬的客户: 感谢您对泓川科技激光位移传感器产品的关注与信任。为帮助您全面了解我司产品,现将激光位移传感器相关技术信息从参数指标、设计原理、结构设计等八大核心维度进行详细说明,为您的选型、使用及维护提供专业参考。一、参数指标我司激光位移传感器涵盖 LTP400 系列与 LTP450 系列,各型号核心参数经纳米级高精度激光干涉仪标定验证,确保数据精准可靠,具体参数如下表所示:表 1:LTP400EA参数表参数类别具体参数LTP400EA备注基础测量参数测量中心距离400mm以量程中心位置计算(*1)量程200mm-重复精度(静态)3μm测量标准白色陶瓷样件,50kHz 无平均,取 65536 组数据均方根偏差(*2)线性度±0.03%F.S.(F.S.=200mm)采用纳米级激光干涉仪标定(*3)光源与光斑光源类型-激光功率可定制,部分型号提供 405nm 蓝光版本(*4)光束直径聚焦点光斑 Φ300μm中心位置直径,两端相对变大(*5)电气参数电源电压DC9-36V-功耗约 2.5W-短路保护反向连接保护、过电流保护-输出与通信模拟量输出(选配)电压:0-5V/010V/-1010V;电流:420mA探头可独立提供电压、电流与 RS485 输出(*6)通讯接口RS485 串口、TCP/IP 网口可选配模拟电压 / 电流输出模块(*7)响应...
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