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破局透明体量测难点:基于AI补偿增强型与优化光路的非接触式平面度检测方案

来源:
时间: 2026-01-23


0. 概述 (Abstract)

随着高端制造业中3C玻璃面板、晶圆表面涂胶、透明薄膜以及光学透镜的广泛应用,透明材质的非接触式在线测量成为了视觉检测领域的“深水区”。传统的激光检测往往因透明物体的透射特性(光线穿透)和内部多重反射(“鬼影”杂波),导致测量数值漂移、精度下降。

针对透明物体平面度及倾斜度的高精度量测,** 本方案采用“收光模组改良+半透明算法消除机制”的双重技术架构**,依托 高速高精度激光三角位移传感器LTP系列(如LTP080/080U),即便在高达50kHz的采样下,也能实现亚微米级的精密监控。


1. 核心技术痛点解析

对于玻璃、胶水、晶圆表面等透明/半透明物体,常规激光传感器面临三大问题:

透射致弱:激光直接穿透工件,表面反射光极弱,信号难捕获。

内部多重反射:折射光在材料内部不仅发生即次反射,还会与底层产生干涉,在传感器接收端(光电元件)上形成伪峰值。

漫反射光晕:激光穿透表面后产生漫射,导致成像光斑扩大,测量波形变宽,无法精准计算波峰位置。

2. 技术解决原理 (Technical Principles)

2.1 接收镜组模块的光学优化

为解决上述痛点,解决方案首选LTP系列。其并不遵循且行改良了常规三角位移法,在光学物理层面进行了特殊构造设计:

滤光切角优化:传统结构中滤光片容易产生二次折射。LTP系列通过改进接收镜组结构,优化了滤光片和光轴的角度。

信噪比提升:光线以微小且计算过的特定入射角通过滤光片,最大限度抑制透射后的内部散射杂光进入接收单元,确保感光元件聚焦的是真实的“第一外表面”位置,大幅减少了多重光斑造成的误判。

2.2 半透明/透明及其独有算法 (Algorithmic Core)

对于仍然进入传感器的内部漫射或内表面反射信号,必须依赖算法层面的二次过滤。

消除漫反射光晕:通常玻璃或微透材质会导致接收光波形像土丘一样微幅扩大。LTP系列内置的半透明物体测量算法,采用了波形峰极解析技术。

实际波峰检测:系统会自动抓取波形数据的边缘特征,通过二阶倒数或重心法计算逻辑消除扩大波形带来的边缘影响,锁定具有最高能量密度的“实际峰值”(即物体物理表面的准确反射点),而非内部反射的“虚像”。



3. 数据与算法实施模型 (Data & Computational Model)

在工业流水线上测量平整度和倾斜度,通常采用多探头阵列(至少3点确立一平面)单探头扫描模式。以下以LTP080/U为例对高精度数据处理进行定义:

3.1 核心选型与规格

建议采用 LTP080(一般精度要求)或 LTP080U(高端要求)型传感器:

参考距离:80mm(远离对光学镜头的物理碰撞)

检测范围:±15mm(容许产品有一定抖动)

反应速度:最高 50kHz(数据更新周期仅20μs)

线性度精度:±0.02% F.S.(针对透明曲面、平面实现微米级跟随)

光斑特性:选取光斑约Φ70μm/或宽光斑模式,适应镜面或粗糙透明涂层。

3.2 平面度计算数据模型

由于LTP系列支持50kHz高速采样并可以通过RS485直接与上位机握手。使用扫描法获取点云数据Pi(xi,yi,zi)

平面度 (Flatness) 算法逻辑:

最小二乘法拟合平面
构造理想基准平面方程 z=ax+by+c。目标是最小化误差平方和 S
S=i=1n(axi+byi+czi)2

误差范围计算
计算测得点到拟合平面的垂直距离 d。平面度 F 定义为峰值探测(Peak)与谷值探测(Valley)之差:
F=max(di)min(di)

3.3 倾斜度 (Inclination) 计算

利用LTP080双头或三头布置检测,设探头距离水平轴间距为D。读取两点高度差 ΔH=Z1Z2
倾角 θ 通过反三角函数迅速求得:
θ=arcsin(ΔHD)
得益于LTP系列0.5um级别的重复精度,Z1,Z2数据极度稳定,即便是透明玻璃微小的0.01度装配歪斜也能精准检出。



4. 市场应用场景与优势 (Use Cases)

本解决方案以各种 High Speed (50kHz) X Auto-Correction Algorithm 的特性,适用于以下场景:

高端智能手机检测

应用:手机封面3D玻璃、曲面屏(OLED)表面的轮廓度及倾复检测。

优势:解决AMOLED屏幕层间气泡和透明玻璃反光导致的跳数问题。

新能源光伏与锂电

应用:涂布厚度测量及对射测厚(需透明计算)。通常涂布层呈现半透明湿膜状态。

优势:LTP内部处理芯片有效剥离基材与胶水的两次反射,直接输出湿膜表面的真实高度。

光学模具加工

应用:透明注塑镜片磨损程度,微米级模具沉降。

优势:利用窄光斑 Φ70μm 精确勾勒细微划痕,不受透光折射干扰。

5. 总结

采用LTP080/080U高速激光位移传感器替代传统人工塞尺或视觉相机,通过其特有的“抗多虑折射镜组结构”与“半透明波峰算法”,实现了对透明平面极高难度的亚微米测量。这不只是一次硬件升级,更是一种基于物理光学与数字信号纠偏的综合计算量测革命。


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